CN110501554A - 一种存储芯片安装的检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种存储芯片安装的检测方法及装置，当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。其中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。在本申请中，在存储芯片上电时，利用电流监控芯片和滞回比较器判断存储芯片输出电流是否异常，若输出电流异常，确定存储芯片安装错误，从而掌握存储芯片的安装情况，避免存储芯片因安装错误而意外受损。

Description

一种存储芯片安装的检测方法及装置

技术领域

本申请涉及电子电路技术领域，尤其涉及一种存储芯片安装的检测方法及装置。

背景技术

在服务器的生产研发过程中，需要对服务器中的flash存储芯片进行检测调试。在对存储芯片进行检测调试时，需将存储芯片安装在存储芯片底座上，由于存储芯片的引脚是双列对称分布的，调试人员可能会将存储芯片颠倒安装在存储芯片底座上，致使存储芯片安装错误。存储芯片安装错误，会导致存储芯片工作异常，影响服务器的使用。若不及时发现存储芯片安装错误，存储芯片会因异常工作而发热烧毁。

因此，亟需一种存储芯片安装的检测方法，用于检测存储芯片的安装情况，避免存储芯片因安装错误而意外受损。

发明内容

本申请提供了一种存储芯片安装的检测方法及装置，目的在于解决因无法及时发现存储芯片安装错误，导致存储芯片意外受损的问题。

为了实现上述目的，本申请提供了以下技术方案：

本申请实施例第一方面公开了一种存储芯片安装的检测装置，所述存储芯片安装的检测装置包括：

电流监控芯片，滞回比较器和处理芯片；

所述电流监控芯片的输入端与存储芯片供电端相连，输出端与滞回比较器的输入端相连，当所述存储芯片上电时，所述电流监控芯片获取所述存储芯片供电端的输出电流，将所述输出电流转换为第一电平信号，并将所述第一电平信号发送给所述滞回比较器；

所述滞回比较器的输出端与所述处理芯片相连，所述滞回比较器将所述第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给所述处理芯片，使得所述处理芯片依据所述第二电平信号确定所述存储芯片的安装情况，其中，所述预设第一阈值小于所述预设第二阈值，所述第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。

可选的，在上述存储芯片安装的检测装置中，所述滞回比较器，将所述第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，若所述第一电平信号的电压值大于所述预设第一阈值且小于所述预设第二阈值，则向所述处理芯片发送所述高电平信号。

可选的，在上述存储芯片安装的检测装置中，所述滞回比较器，将所述第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，若所述第一电平信号的电压值小于所述预设第一阈值和/或大于所述预设第二阈值，则向所述处理芯片发送低电平信号。

可选的，在上述存储芯片安装的检测装置中，所述处理芯片依据所述第二电平信号确定所述存储芯片的安装情况，若所述第二电平信号为高电平信号，则确定所述存储芯片安装正确。

可选的，在上述存储芯片安装的检测装置中，所述处理芯片依据所述第二电平信号确定所述存储芯片的安装情况，若所述第二电平信号为低电平信号，则确定所述存储芯片安装错误。

可选的，在上述存储芯片安装的检测装置中，所述处理芯片还用于：

在确定所述存储芯片安装错误的情况下，所述处理芯片向电源发送关闭指令，使得所述电源依据所述关闭指令停止为所述存储芯片供电。

可选的，在上述存储芯片安装的检测装置中，所述处理芯片还用于：

在确定所述存储芯片安装错误的情况下，向预设指示灯发送启动指令，使得所述预设指示灯依据所述启动指令亮起。

可选的，在上述存储芯片安装的检测装置中，所述处理芯片还用于：

在确定所述存储芯片安装错误的情况下，向预设蜂鸣器发送启动指令，使得所述预设蜂鸣器依据所述启动指令响起。

本申请实施例第二方面公开了一种存储芯片安装的检测方法，所述存储芯片安装的检测方法应用于存储芯片安装的检测装置，所述装置包括电流监控芯片、滞回比较器和处理芯片，所述方法包括：

当存储芯片上电时，所述电流监控芯片获取所述存储芯片供电端的输出电流，将所述输出电流转换为第一电平信号，并将所述第一电平信号发送给所述滞回比较器；

所述滞回比较器将所述第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给所述处理芯片，其中，所述预设第一阈值小于所述预设第二阈值，所述第二电平信号包括高电平信号或低电平信号；

所述处理芯片依据所述第二电平信号确定所述存储芯片的安装情况。

本申请提供了一种存储芯片安装的检测方法及装置，当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。其中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。可见本申请，在存储芯片上电时，利用电流监控芯片和滞回比较器判断存储芯片输出电流是否异常，若输出电流异常，则确定存储芯片安装错误，从而能够及时掌握存储芯片的安装情况，避免存储芯片因安装错误而意外受损。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种存储芯片安装的检测装置的结构示意图；

图2a为本申请实施例提供的一种电流监控芯片的电路结构示意图；

图2b为本申请实施例提供的一种滞回比较器电路的结构示意图；

图2c为本申请实施例提供的一种滞回比较器的波形图；

图3为本申请实施例提供的一种存储芯片安装的检测方法的示意图；

图4为本申请实施例提供的另一种存储芯片安装的检测方法的示意图；

图5为本申请实施例提供的另一种存储芯片安装的检测方法的示意图；

图6为本申请实施例提供的另一种存储芯片安装的检测方法的示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如图1所示，为本申请实施例提供的一种存储芯片安装的检测装置的结构示意图，该装置包括：

电流监控芯片100，滞回比较器200和处理芯片300。

其中，电流监控芯片100的输入端与存储芯片供电端相连，输出端与滞回比较器200的输入端相连。当存储芯片上电时，电流监控芯片100获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器200。

需要说明的是，存储芯片用来存储固件和配置文件，当服务器的主控芯片初始化时，主控芯片会读取存储芯片存储的固件和配置文件直至初始化结束。在主控芯片初始化过程中，存储芯片供电端为存储芯片提供工作电压。当存储芯片上电时，存储芯片供电端的输出电流会发生变化，第一电平信号的电压值也会相应的发生变化。换而言之，存储芯片供电端的输出电流的电流值增大，第一电平信号的电压值也会相应的增大。

需要说明的是，电流监控芯片100的具体型号可由技术人员根据实际情况进行设置，例如，如图2a所示的AD8217电流监控芯片。

滞回比较器200的输出端与处理芯片300相连，滞回比较器200将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片300，使得处理芯片300依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。

其中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。预设第一阈值和预设第一阈值的具体大小可由技术人员根据实际情况进行设置。

需要说明的是，滞回比较器200的具体形式可由技术人员根据实际情况进行设置，例如，如图2b所示的滞回比较器电路，或者，任意型号的滞回比较器芯片等。

需要说明的是，当存储芯片安装错误时，存储芯片供电端输出电流的电流值与存储芯片正常安装时的电流值是不同的。当存储芯片正常安装时，存储芯片供电端输出电流的电流值会处于一定阈值范围内，该阈值范围由存储芯片的型号所决定。然而，当存储芯片错误安装时，存储芯片供电端输出电流的电流值会超出该阈值范围，或者电流值未达到阈值范围，或者电流值为零。

具体的，以MT25QU256存储芯片为例，在确定MT25QU256存储芯片正常安装的情况下，检测MT25QU256存储芯片供电端输出电流的电流值。当服务器启动时，MT25QU256存储芯片供电端输出电流的电流值会在10A～20A范围内变化波动。然而，在MT25QU256存储芯片错误安装的情况下，当服务器启动时，MT25QU256存储芯片供电端输出电流的电流值会在0A～9A的范围内波动变化。

需要说明的是，上述具体实现过程仅仅用于举例说明。

由于输出电流与第一电平信号呈正比关系，因此，当存储芯片安装正确时，第一电平信号的电压值会在规定的阈值范围内波动变化。若第一电平信号的电压值不在该规定的阈值范围内，则可以确定存储芯片安装错误。在本申请实施例中，规定的阈值范围由预设第一阈值和预设第二阈值所确定。

可选的，若第一电平信号的电压值大于预设第一阈值且小于预设第二阈值，滞回比较器200向处理芯片300发送高电平信号。

需要说明的是，第一电平信号的电压值大于预设第一阈值且小于预设第二阈值，代表第一电平信号的电压值在规定的阈值范围内。

若处理芯片300接收到滞回比较器200发送的高电平信号，则确定存储芯片安装正确。

可选的，若第一电平信号的电压值小于预设第一阈值和/或大于预设第二阈值，滞回比较器200向处理芯片300发送低电平信号。

需要说明的是，第一电平信号的电压值小于预设第一阈值和/或大于预设第二阈值，代表第一电平信号的电压值不在规定的阈值范围内。

若处理芯片300接收到滞回比较器200发送的低电平信号，则确定存储芯片安装错误。

需要说明的是，若存储芯片在安装错误的情况下继续给存储芯片上电，存储芯片会出现无法正常工作、或者超负载工作致使发热烧毁的问题。

具体的，以图2c示出的滞回比较器的波形图为例，预设第一阈值为UTH1电压阈值，预设第二阈值为UTH2电压阈值，第一电平信号的电压值为u。由此可知，当第一电平信号的电压值u变化时，若第一电平信号的电压值u的电压值处于UTH1电压阈值和UTH2电压阈值的范围内，则滞回比较器200向处理芯片300输出高电平信号。若第一电平信号的电压值u不处于UTH1电压阈值和UTH2电压阈值的范围内，则滞回比较器200向处理芯片300输出低电平信号。

需要说明的是，上述具体实现过程仅仅用于举例说明。

可选的，在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片300向电源发送关闭指令，使得电源依据关闭指令停止为存储芯片供电。

需要说明的是，在确定存储芯片安装错误后，处理芯片300向电源发送关闭指令，使得电源依据关闭指令停止为存储芯片供电，能够避免存储芯片因安装错误而导致意外受损。

可选的，在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片300向预设指示灯发送启动指令，使得预设指示灯依据启动指令亮起。

可选的，在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片300向预设蜂鸣器发送启动指令，使得预设蜂鸣器依据启动指令响起。

需要说明的是，在确定存储芯片安装错误的情况下，通过指示灯或者蜂鸣器警告用户存储芯片安装错误，能够避免存储芯片因安装错误而导致意外受损。

在本申请实施例中，当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。其中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。可见本申请，在存储芯片上电时，利用电流监控芯片和滞回比较器判断存储芯片输出电流是否异常，若输出电流异常，则确定存储芯片安装错误，从而能够及时掌握存储芯片的安装情况，避免存储芯片因安装错误而意外受损。

与上述本申请实施例提供的存储芯片安装的检测装置相对应，本申请实施例还对应提供了一种存储芯片安装的检测方法的示意图，如图3所示，该方法应用于存储芯片安装的检测装置，所述装置包括电流监控芯片、滞回比较器和处理芯片，该方法包括如下步骤：

S301：当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。

S302：滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。

在S302中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。

需要说明的是，当第一电平信号的电压值大于预设第一阈值且小于预设第二阈值时，滞回比较器向处理芯片发送高电平信号。当第一电平信号的电压值小于预设第一阈值和/或大于预设第二阈值时，滞回比较器向处理芯片发送低电平信号。

S303：处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。

在S303中，若第二电平信号为高电平信号，处理芯片确定存储芯片安装正确。若第二电平信号为低电平信号，处理芯片确定存储芯片安装错误。

在本申请实施例中，当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。其中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。可见本申请，在存储芯片上电时，利用电流监控芯片和滞回比较器判断存储芯片输出电流是否异常，若输出电流异常，则确定存储芯片安装错误，从而能够及时掌握存储芯片的安装情况，避免存储芯片因安装错误而意外受损。

可选的，如图4所示，为本申请实施例提供的另一种存储芯片安装的检测方法的示意图，包括如下步骤：

S401：当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。

在S401中，S401的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S301的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S402：滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。

在S402中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。S402的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S302的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S403：处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。

在S403中，S403的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S303的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S404：在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片向电源发送关闭指令，使得电源依据关闭指令停止为存储芯片供电。

在S404中，若处理芯片接收到的是低电平信号，则确定存储芯片安装错误。处理芯片向电源发送关闭指令，使得电源依据关闭指令停止为存储芯片供电，能够避免存储芯片因安装错误而导致意外受损。

在本申请实施例中，当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。其中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。并在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片向电源发送关闭指令，使得电源依据关闭指令停止为存储芯片供电。可见本申请，在存储芯片上电时，利用电流监控芯片和滞回比较器判断存储芯片输出电流是否异常，若输出电流异常，则确定存储芯片安装错误，从而能够及时掌握存储芯片的安装情况，并且在确定存储芯片安装错误的情况下，及时停止为存储芯片供电，避免存储芯片因安装错误而意外受损。

可选的，如图5所示，为本申请实施例提供的另一种存储芯片安装的检测方法的示意图，包括如下步骤：

S501：当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。

在S501中，S501的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S301的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S502：滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。

在S502中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。S502的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S302的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S503：处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。

在S503中，S503的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S303的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S504：在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片向预设指示灯发送启动指令，使得预设指示灯依据启动指令亮起。

在S504中，若处理芯片接收到的是低电平信号，则确定存储芯片安装错误。处理芯片向预设指示灯发送启动指令，使得预设指示灯依据启动指令亮起，预设指示灯用于警告用户存储芯片安装错误，能够避免存储芯片因安装错误而导致意外受损。

在本申请实施例中，当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。其中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。并在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片向预设指示灯发送启动指令，使得预设指示灯依据启动指令亮起。可见本申请，在存储芯片上电时，利用电流监控芯片和滞回比较器判断存储芯片输出电流是否异常，若输出电流异常，则确定存储芯片安装错误，从而能够及时掌握存储芯片的安装情况。并且在确定存储芯片安装错误的情况下，指示灯亮起，警告用户存储芯片安装错误，从而避免存储芯片因安装错误而意外受损。

可选的，如图6所示，为本申请实施例提供的另一种存储芯片安装的检测方法的示意图，包括如下步骤：

S601：当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。

在S601中，S601的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S301的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S602：滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。

在S602中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。S602的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S302的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S603：处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。

在S603中，S603的具体执行过程和实现原理与上述图3示出的S303的具体执行过程和实现原理一致，这里不再赘述。

S604：在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片向预设蜂鸣器发送启动指令，使得预设蜂鸣器依据启动指令响起。

在S604中，若处理芯片接收到的是低电平信号，则确定存储芯片安装错误。处理芯片向预设蜂鸣器发送启动指令，使得预设蜂鸣器依据启动指令响起，预设蜂鸣器用于警告用户存储芯片安装错误，从而能够避免存储芯片因安装错误而导致意外受损。

在本申请实施例中，当存储芯片上电时，电流监控芯片获取存储芯片供电端的输出电流，将输出电流转换为第一电平信号，并将第一电平信号发送给滞回比较器。滞回比较器将第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给处理芯片。其中，预设第一阈值小于预设第二阈值，第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。处理芯片依据第二电平信号确定存储芯片的安装情况。并在确定存储芯片安装错误的情况下，处理芯片向预设蜂鸣器发送启动指令，使得预设蜂鸣器依据启动指令响起。可见本申请，在存储芯片上电时，利用电流监控芯片和滞回比较器判断存储芯片输出电流是否异常，若输出电流异常，则确定存储芯片安装错误，从而能够及时掌握存储芯片的安装情况，并且在确定存储芯片安装错误的情况下，蜂鸣器响起，警告用户存储芯片安装错误，从而避免存储芯片因安装错误而意外受损。

本申请实施例方法所述的功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算设备可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算设备(可以是个人计算机，服务器，移动计算设备或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (9)

1.一种存储芯片安装的检测装置，其特征在于，包括：

电流监控芯片，滞回比较器和处理芯片；

所述电流监控芯片的输入端与存储芯片供电端相连，输出端与滞回比较器的输入端相连，当所述存储芯片上电时，所述电流监控芯片获取所述存储芯片供电端的输出电流，将所述输出电流转换为第一电平信号，并将所述第一电平信号发送给所述滞回比较器；

所述滞回比较器的输出端与所述处理芯片相连，所述滞回比较器将所述第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给所述处理芯片，使得所述处理芯片依据所述第二电平信号确定所述存储芯片的安装情况，其中，所述预设第一阈值小于所述预设第二阈值，所述第二电平信号包括高电平信号或低电平信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述滞回比较器，将所述第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，若所述第一电平信号的电压值大于所述预设第一阈值且小于所述预设第二阈值，则向所述处理芯片发送所述高电平信号。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述滞回比较器，将所述第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，若所述第一电平信号的电压值小于所述预设第一阈值和/或大于所述预设第二阈值，则向所述处理芯片发送低电平信号。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理芯片依据所述第二电平信号确定所述存储芯片的安装情况，若所述第二电平信号为高电平信号，则确定所述存储芯片安装正确。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理芯片依据所述第二电平信号确定所述存储芯片的安装情况，若所述第二电平信号为低电平信号，则确定所述存储芯片安装错误。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理芯片还用于：

在确定所述存储芯片安装错误的情况下，所述处理芯片向电源发送关闭指令，使得所述电源依据所述关闭指令停止为所述存储芯片供电。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理芯片还用于：

在确定所述存储芯片安装错误的情况下，向预设指示灯发送启动指令，使得所述预设指示灯依据所述启动指令亮起。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理芯片还用于：

在确定所述存储芯片安装错误的情况下，向预设蜂鸣器发送启动指令，使得所述预设蜂鸣器依据所述启动指令响起。

9.一种存储芯片安装的检测方法，其特征在于，应用于存储芯片安装的检测装置，所述装置包括电流监控芯片、滞回比较器和处理芯片，所述方法包括：

当存储芯片上电时，所述电流监控芯片获取所述存储芯片供电端的输出电流，将所述输出电流转换为第一电平信号，并将所述第一电平信号发送给所述滞回比较器；

所述滞回比较器将所述第一电平信号的电压值分别与预设第一阈值和预设第二阈值进行比较，将比较得到的第二电平信号发送给所述处理芯片，其中，所述预设第一阈值小于所述预设第二阈值，所述第二电平信号包括高电平信号或低电平信号；

所述处理芯片依据所述第二电平信号确定所述存储芯片的安装情况。