CN111596201B - 一种用数字通道供电的方法 - Google Patents

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    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31721—Power aspects, e.g. power supplies for test circuits, power saving during test

Abstract

本发明公开了一种用数字通道供电的方法，包括以下步骤：在SOC测试机和SOC芯片之间设置测试接口板，在测试接口板上安装继电器开关，利用测试机内部的直流测量单元量测Vin，通过公式计算得出lout，再利用公式计算新的Voutx，并进行编程设置Voutx，使得Vinx等于Vout，执行功能测试。本发明中，通过在SOC测试机和SOC芯片之间设置安装有继电器开关的测试接口板，利用测试机内部的直流测量单元量测Vin，且保证继电器开关处于闭合状态，通过公式计算得出lout，再利用公式计算新的Voutx，并进行编程设置Voutx，使得Vinx等于Vout，避免一些SOC芯片在测试低电压功能时，造成供电不准的情况发生。

Description

一种用数字通道供电的方法
技术领域
本发明涉及数字通道供电相关领域，尤其涉及一种用数字通道供电的方法。
背景技术
当前IC测试领域，ATE(automatic testing equipment)被越来越多用于量产测试，用的比较多的是SOC(System On Chip)测试机，SOC芯片特点是引脚多，电源引脚多，但一般SOC测试机给电源引脚供电的DPS(Device Power Supply)资源不多，如果要增加DPS资源，费用也比较高，DPS资源特点是输出电阻小，驱动能力强。但现在一般的SOC芯片要求电源驱动力不高，因此大家考虑采用数字通道来供电，但数字通道和DPS相比，输出电阻有差异，数字通道普遍采用50欧姆输出电阻，编程电压和实际输出到电源管脚的电压会有差别，如果要用做供电电源，则会有这种电压差异的情况。
如图1所示，数字通道编程电压Vout，输出到SOC芯片电源管脚上，管脚上电压Vin，Vin＝Vout-lout*Rout，因此当lout越大时，Vin和Vout的差别就越大，当一些SOC芯片在测试低电压功能时，会造成供电不准。
为此，我们提出了一种用数字通道供电的方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用数字通道供电的方法，以解决上述背景技术中提出的问题。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
一种用数字通道供电的方法，包括以下步骤：在SOC测试机和SOC芯片之间设置测试接口板，在测试接口板上安装继电器开关，利用测试机内部的直流测量单元量测Vin，通过公式计算得出lout，再利用公式计算新的Voutx，并进行编程设置Voutx，使得Vinx等于Vout，执行功能测试。
优选地，所述直流测量单元为电压测量单元。
优选地，所述继电器开关安装在直流测量单元与数字通道的连接电路上。
优选地，测Vin时，应保持继电器开关为闭合状态。
优选地，所述lout的计算公式为lout＝(Vout-Vin)/Rout。
优选地，所述Voutx的计算公式为Voutx＝Vinx+lout*Rout。
与现有技术相比，本发明的有益效果是:
本发明中，通过在SOC测试机和SOC芯片之间设置安装有继电器开关的测试接口板，利用测试机内部的直流测量单元量测Vin，且保证继电器开关处于闭合状态，通过公式计算得出lout，再利用公式计算新的Voutx，并进行编程设置Voutx，使得Vinx等于Vout，避免一些SOC芯片在测试低电压功能时，造成供电不准的情况发生。
附图说明
图1为现有数字通道供电的结构示意图；
图2为本发明提出的一种用数字通道供电的方法的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图2，本发明还提出了一种用数字通道供电的方法，包括以下步骤：在SOC测试机和SOC芯片之间设置测试接口板，在测试接口板上安装继电器开关，利用测试机内部的直流测量单元量测Vin，通过公式计算得出lout，再利用公式计算新的Voutx，并进行编程设置Voutx，使得Vinx等于Vout，执行功能测试。
进一步地，所述直流测量单元为电压测量单元。
进一步地，所述继电器开关安装在直流测量单元与数字通道的连接电路上。
进一步地，测Vin时，应保持继电器开关为闭合状态。
进一步地，所述lout的计算公式为lout＝(Vout-Vin)/Rout。
进一步地，所述Voutx的计算公式为Voutx＝Vinx+lout*Rout。
本发明中，通过在SOC测试机和SOC芯片之间设置安装有继电器开关的测试接口板，利用测试机内部的直流测量单元量测Vin，且保证继电器开关处于闭合状态，通过公式计算得出lout，再利用公式计算新的Voutx，并进行编程设置Voutx，使得Vinx等于Vout，避免一些SOC芯片在测试低电压功能时，造成供电不准的情况发生。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种用数字通道供电的方法，其特征在于，包括以下步骤：在SOC测试机和SOC芯片之间设置测试接口板，在测试接口板上安装继电器开关，利用测试机内部的直流测量单元量测Vin，通过公式计算得出lout，再利用公式计算新的Voutx，并进行编程设置Voutx，使得Vinx等于Vout，执行功能测试，所述直流测量单元为电压测量单元；所述lout的计算公式为lout＝(Vout-Vin)/Rout，所述Voutx的计算公式为Voutx＝Vinx+lout*Rout。
2.根据权利要求1所述的一种用数字通道供电的方法，其特征在于，所述继电器开关安装在直流测量单元与数字通道的连接电路上。
3.根据权利要求1所述的一种用数字通道供电的方法，其特征在于，测Vin时，应保持继电器开关为闭合状态。
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