CN201392383Y

CN201392383Y - 测试制具

Info

Publication number: CN201392383Y
Application number: CN200920069368U
Authority: CN
Inventors: 孙铭毓; 陈志丰
Original assignee: Inventec Pudong Technology Corp; Inventec Corp
Current assignee: Inventec Pudong Technology Corp; Inventec Corp
Priority date: 2009-03-25
Filing date: 2009-03-25
Publication date: 2010-01-27
Anticipated expiration: 2019-03-25

Abstract

本实用新型提出一种测试制具，适于与配置在主板上的PCIE插槽电性连接。所述测试制具包括载板、多个电阻、切换单元与二连接器。所述载板具有金手指，以插入所述PCIE插槽。所述电阻配置于所述载板上，并电性连接所述金手指。所述切换单元配置于所述载板上，并电性连接多个电阻。二连接器配置于所述载板上，并透过所述切换单元电性连接所述电阻的其中之二。藉此，可以避免外加噪声引起对信号品质的错误判断，还可以提高信号测试效率以及减少对主板的损害。

Description

测试制具

技术领域

本实用新型是有关于一种测试制具，且特别是有关于一种PCIE信号的测试制具。

背景技术

一般来说，当主板(Motherboard)制作完成后，都需要进行一些测试，例如测试PCIE X16插槽的信号，以便于得知主板的状况。然而，在测试PCIE插槽的PCIE-G1信号时，所使用传统PCIE X16测试卡的测试制具只能测试PCIE插槽上的信道(Lane)0、5、9、15的信号。而在测试其余PCIE插槽上的信道1、2、3、4、6、7、8、10、11、12、13、14的PCIE-G1信号时，则必须在主板对应的位置上将电容焊下移除，并接着焊上50欧姆匹配电阻，以便于利用差分探头进行信号测量。

如此一来，由于需要更换电路元件，将会使得测量PCIE-G1信号的效率下降，还会影响信号稳定性及其质量。另外，在信号测量的过程中需要更换电路元件，会增加主板损坏的可能性。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试制具，藉此可以避免外加噪声引起对信号品质的错误判断，还可以提高信号测试效率以及减少对主板的损害。

本实用新型提出一种测试制具，适于与配置在主板上的PCIE插槽电性连接。所述测试制具包括载板、多个电阻、切换单元与二连接器。所述载板具有金手指，以插入所述PCIE插槽。所述电阻配置于所述载板上，并电性连接所述金手指。所述切换单元配置于所述载板上，并电性连接多个电阻。所述二连接器配置于所述载板上，并透过所述切换单元的切换，而电性连接所述电阻的其中之二。

在本实用新型一实施例中，所述电阻的电阻值为0欧姆。

在本实用新型一实施例中，所述二连接器为SMA(Sub-Minature type A)连接器。

在本实用新型一实施例中，所述切换单元为4路开关。

在本实用新型一实施例中，所述PCIE插槽为PCIE X16插槽。

在本实用新型一实施例中，所述载板为PCIE X16卡。

在本实用新型一实施例中，所述二连接器是透过二SMA电缆(Cable)进行连接示波器。

在本实用新型一实施例中，所述二SMA电缆各自具有50欧姆的电阻。

本实用新型通过切换单元的切换，而将PCIE插槽各信道的信号引出至二连接器，以便于进行测量。藉此，可以提高信号测试的效率。另外，由于在信号测量的过程中，不需要更换主板上的电路元件，可以有效地减少损坏主板的可能性。

为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1绘示为本实用新型一实施例的测试制具的示意图。

具体实施方式

图1绘示为本实用新型一实施例的测试制具的示意图。本实用新型所提供的测试制具100适于与配置在主板(未绘示)上的PCIE插槽(未绘示)电性连接，以便于测量PCIE插槽的PCIE-G1信号。请参照图1，测试制具100包括载板110、电阻120_1～120_n、切换单元130与连接器140、141，其中，n为大于1的正整数。

载板110具有金手指，以插入所述PCIE插槽，以便于载板110可以透过金手指接收PCIE插槽的信号。在本实施例中，所述PCIE插槽为PCIE X16插槽，而载体110为PCIE X16卡，因此，载板110会具有16个信道(Lane)，且分别以L0～L15表示之。

电阻120_1～120_n会配置于载板110上，且电性连接金手指上，以便于传导金手指所接收的信号。在本实施例中，载板110上的每一个信道会与两个电阻电性连接，由于载板上110具有16个信道，因此，电阻的数量n为16*2＝32个。而信道与电阻的连接关系为：信道L0与电阻120_1、120_2电性连接；信道L1与电阻120_3、120_4电性连接；信道L2与电阻120_5、120_6电性连接。其余信道L3～L15与电阻120_7～120_32的连接关系则类推，在此不再赘述之。另外，本实施例的电阻120_1～120_32的电阻值为0欧姆。

切换单元130配置于载板110上，且电性连接制电阻120_1～120_32。连接器140、141配置于载板110上，并且可以透过切换单元120的切换，而电性连接电阻120_1～120_32其中之二，使得连接器140、141可以将信道L0～L15上的信号传送到示波器160上，以便于测量PCIE插槽上的信号。

在本实施例中，切换单元130为4路开关，假设以“S1”、“S2”、“S3”、“S4”表示之，且当开端切换至关闭状态“OFF”时，则以“0”表示之，而当开关切换至开启状态为“ON”时，则以“1”表示之。因此，通过切换“S1”～“S4”的开启或关闭状态可产生16个不同的组合，且分别以“0000”、“0001”、“0010”、…、“1101”、“1110”、“1111”表示之，使得连接器140、141可以透过切换单元130而与不同的信道L0～L16进行连接，以便于传递信道L0～L16上的信号并进行测量。

举例来说，当“S1”～“S4”的状态为“0000”，表示“S1”～“S4”都为关闭状态，此时切换单元130会将电阻120_1～120_2切换与连接器140、141电性连接，使得金手指的信道L0的信号可以透过连接器140、141传送到示波器160，以便于测试PCIE插槽的信道L0上的信号。当“S1”～“S4”的状态改变为“0001”，表示“S1”～“S3”为关闭状态，而“S4”为开启状态，此时切换单元130会将电阻120_3～120_4切换与连接器140、141，使得金手指的信道L1的信号可以透过连接器140、141传送到示波器160，以便于测试PCIE插槽的信道L1上的信号。

而当“S1”～“S4”的状态改变为“0010”，表示“S1”、“S2”、“S4”为关闭状态，而“S3”为开启状态，此时切换单元130会将电阻120_5～120_6切换与连接器140、141，使得金手指的信道L1的信号可以透过连接器140、141传送到示波器160，以便于测试PCIE插槽的信道L1上的信号其余则类推，在此不在赘述。而其余“S1”～“S4”的状态改变以及切换单元130将电阻120_7～120_32与连接器140、141的配对关系则类推，在此不再赘述。

在本实施例中，连接器140、140为SMA(Sub-Minature type A)连接器。而连接器140、141是透过两根SMA电缆(Cable)连接制示波器160，且所述两根SMA电缆各自具有50欧姆的匹配电阻。藉此，本实施例的测试制具100不用考虑终端匹配的原则，也就是信号引出若是没有50欧母的匹配电阻时，会造成信号反射而产生失真的问题，可以减少设计的复杂度。另外，在测试制具100进行PCIE插槽上的信号测试时，不需要更换主板上的电路元件，如此将可以减少损坏主板的可能性，还可以提高信号测试的效率。

综上所述，本实用新型通过切换单元的切换，而将PCIE插槽各信道的信号引出至二连接器，以便于进行测量。藉此，可以提高测试信号的效率。另外，由于测试制具在信号测量的过程中，不需要更换主板上的电路元件，可以有效地减少损坏主板的可能性。此外，测试制具在制作的过程上，无须考虑终端匹配原则，还可以减少设计上的复杂度。

虽然本实用新型已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本实用新型的保护范围当以权利要求所界定的为准。

Claims

1.一种测试制具，适于与配置在一主板上的一PCIE插槽电性连接，其特征在于，所述测试制具包括：

一载板，具有一金手指，以插入所述PCIE插槽；

多个电阻，配置于所述载板上，并电性连接所述金手指；

一切换单元，配置于所述载板上，并电性连接多个电阻；以及

两个连接器，配置于所述载板上，并透过所述切换单元的切换，而电性连接所述电阻的其中之二。

2.如权利要求1所述的测试制具，其特征在于，其中所述电阻的电阻值为0欧姆。

3.如权利要求1所述的测试制具，其特征在于，其中所述两个连接器为SMA连接器。

4.如权利要求1所述的测试制具，其特征在于，其中所述切换单元为4路开关。

5.如权利要求1所述的测试制具，其特征在于，其中所述PCIE插槽为PCIE X16插槽。

6.如权利要求5所述的测试制具，其特征在于，其中所述载板为PCIE X16卡。

7.如权利要求1所述的测试制具，其特征在于，其中所述两个连接器是透过两根SMA电缆连接至一示波器。

8.如权利要求7所述的测试制具，其特征在于，其中所述两根SMA电缆各自具有一50欧姆的电阻。