CN103455400A - 一种测试内存smi2信号的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种测试内存SMI2信号的方法，步骤如下：用PCB印制板制作一个简便测试卡，该简便测试卡的金手指管脚数与真实内存板卡得金手指的管脚数完全一致，将简便测试卡上的金手指的每个管脚都通过PCB印制线路引出，然后串接一个电阻并对管脚做上标识，测试内存SMI2信号时，只要将简便测试卡代替内存板，将简便测试卡与内存板卡插槽通过金手指连接，由于测量信号在接电阻处是最好最准确的，然后直接在待测信号相应的端接电阻处测量即可获得内存SMI2信号，这样操作既方便又准确。
Description
技术领域
本发明涉及PCB设计以及制作技术领域,具体地说是一种测试内存SMI2信号的方法。
背景技术
随着现在科技的发展，信号速率越来越高，对于信号稳定性的要求也越来越高，因此，不仅局限于对单板信号的测量，系统信号测试显得尤为重要。由于服务器系统往往是由多种不同功能的板卡组装而成的，不同的系统架构，导致所测信号的位置不同。由于一些系统架构的限制，各种板卡插接组装在一起后，使用示波器探针测量某些特定的信号极其不方便。所以针对此种情况，设计一款便于特定信号测试的板卡。
在英特尔新平台的SMI2信号（Intel Scalable Memory Interface 2）测试过程中，如果想要测系统组装后SMI2总线进内存缓存之前的信号噪声，使用示波器探头探测非常困难，尤其当板卡连接器是贴片器件时，更没有探测点供示波器探头探测。本发明就是基于此类问题设计一款测试板来简便测试SMI2信号，解决测试操作困难的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种测试内存SMI2信号的方法。
本发明的目的是按以下方式实现的，步骤如下：用PCB 印制板制作一个简便测试卡，该简便测试卡的金手指管脚数与真实内存板卡得金手指的管脚数完全一致，将简便测试卡上的金手指的每个管脚都通过PCB 印制线路引出，然后串接一个电阻并对管脚做上标识，测试内存SMI2信号时，只要将简便测试卡代替内存板，将简便测试卡与内存板卡插槽通过金手指连接，由于测量信号在接电阻处是最好最准确的，然后直接在待测信号相应的端接电阻处测量即可获得内存SMI2信号，这样操作既方便又准确。
本发明的有益效果是：当系统组装后，想要测量SMI2信号在进内存缓存之前的信号，示波器探头无从探测，这给我们测量信号噪声造成了很大的困难。于是我们设计发明一种简便测试卡，该简便测板卡与内存插槽之间也通过金手指连接，简便测板卡金手指管脚数和真实内存板卡金手指的管脚数完全一致，在简便测板卡上将金手指的每个管脚都通过PCB 印制线路引出串接一电阻，并清晰标识。我们知道测量信号在端接电阻处测量是最好最准确的。因此在测量SMI2信号时，我们只要将内存板替换为SMI2测试卡，然后直接在待测信号相应的端接电阻处测量即可，这样操作既方便又能准确测量。
具体实施方式
方法步骤如下：用PCB 印制板制作一个简便测试卡，该简便测试卡的金手指管脚数与真实内存板卡得金手指的管脚数完全一致，将简便测试卡上的金手指的每个管脚都通过PCB 印制线路引出，然后串接一个电阻并对管脚做上标识，测试内存SMI2信号时，只要将简便测试卡代替内存板，将简便测试卡与内存板卡插槽通过金手指连接，由于测量信号在接电阻处是最好最准确的，然后直接在待测信号相应的端接电阻处测量即可获得内存SMI2信号，这样操作既方便又准确。
具体实施步骤如下：
1）根据内存板金手指管脚数设计同样管脚数的金手指简便测试卡；
2）在简便测试卡上将所有信号分别通过引线引出并端接一隔离电阻；
3）测试时，将简便测试卡插在系统中的内存插槽之中，直接将示波器探头点接在待测信号的端接电阻处即可。
除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
Claims (1)
1.一种测试内存SMI2信号的方法, 其特征在于步骤如下：用PCB 印制板制作一个简便测试卡，该简便测试卡的金手指管脚数与真实内存板卡得金手指的管脚数完全一致，将简便测试卡上的金手指的每个管脚都通过PCB 印制线路引出，然后串接一个电阻并对管脚做上标识，测试内存SMI2信号时，只要将简便测试卡代替内存板，将简便测试卡与内存板卡插槽通过金手指连接，由于测量信号在接电阻处是最好最准确的，然后直接在待测信号相应的端接电阻处测量即可获得内存SMI2信号，这样操作既方便又准确。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN2013104391194A CN103455400A (zh) | 2013-09-25 | 2013-09-25 | 一种测试内存smi2信号的方法 |
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