CN102915287A - 读写控制电路 - Google Patents
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Abstract
一种读写控制电路,用于防止当CPU插接至CPU插槽时通过系统管理总线来更改数字集成芯片的参数,CPU插槽包括一存在信号引脚,读写控制电路包括一PMOS管、一NMOS管、第一至第二电源及第一至第三电阻,第一电阻的一端与第一电源相连,另一端通过第二电阻接地,CPU插槽的存在信号引脚及NMOS管的栅极均连接于该第一、第二电阻之间的节点,源极接地,漏极通过第三电阻连接于第二电源,第四电阻的一端与NMOS管的漏极相连,另一端与PMOS管的栅极相连,PMOS管的漏极与数字集成芯片相连,源极连接至系统管理总线的数据传输线。本发明读写控制电路避免了错误的更改集成芯片的参数而导致数字集成芯片的损坏。
Description
技术领域
本发明涉及一种读写控制电路。
背景技术
在伺服器的主板设计时,常常使用数字集成芯片(Digital Integrated Chip)来用于控制伺服器主板上的各芯片的工作参数,如可用一数字脉冲集成芯片(Digital PWM IC)控制主板上的内存工作电压的参数。对伺服器的主板进行调试时,一般需将该伺服器主板上的CPU取下,之后,经由一上位机通过SMBus总线(System Management Bus,系统管理总线)来对该数字集成芯片的各参数进行设置,以调试整个伺服器主板上的各芯片的工作参数,进而可控制主板上各芯片均可工作在正常的状态下,如设置内存的正常工作电压为1.5V。然而,当调试时,若该伺服器主板上的CPU没有取下,通过上位机错误的修改了该数字集成芯片的参数,则有可能会导致该数字集成芯片与CPU的损坏,更有可能导致其他芯片的损坏,如通过上位机错误的修改了内存的工作电压为1.7V,而在此电压下,内存可能因工作电压过高而损坏。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种防止CPU设置于主板上时更改数字集成芯片参数的读写控制电路。
一种读写控制电路,用于防止当CPU插接至CPU插槽时通过系统管理总线来更改数字集成芯片的参数,该CPU插槽包括一存在信号引脚,其中当所述CPU插接至CPU插槽时,所述存在信号引脚为低电平,当所述CPU未插接至CPU插槽时,所述存在信号引脚为高电平,该读写控制电路还包括一第一电子开关、一第二电子开关、第一至第二电源及第一至第三电阻,该第一电阻的一端与第一电源相连,另一端通过第二电阻接地,该第二电子开关的第一端连接于该第一、第二电阻之间的节点上,第二电子开关的第二端接地,第二电子开关的第三端通过该第三电阻连接于该第二电源,该第四电阻的一端与该第二电子开关的第三端相连,该第四电阻的另一端与该第一电子开关的第一端相连,该第一电子开关的第三端与该数字集成芯片相连,该第一电子开关的第二端连接于该系统管理总线的数据传输线,当该CPU未插接至CPU插槽时,该第一及第二电子开关均导通;当该CPU插接至CPU插槽时,第一及第二电子开关截止,该系统管理总线的数据传输线与该数字集成芯片的连接断开。
上述读写控制电路通过获知该CPU插槽的存在信号是否为低电平,即当CPU插接于该CPU插槽时,防止用户更改该数字集成芯片的参数,从而避免了因可能的错误更改该集成芯片的参数而导致该数字集成芯片的损坏。
附图说明
图1是本发明读写控制电路的较佳实施方式的电路图。
主要元件符号说明
CPU插槽 | 10 |
数字集成芯片 | 20 |
电阻 | R1-R4 |
P沟道MOS管 | Q1 |
N沟道MOS管 | Q2 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述:
请参考图1,本发明读写控制电路用于当一插接于一CPU插槽10上的CPU(图未示)时,防止用户由一上位机(图未示)通过SMBus总线来更改一数字集成芯片20的参数而导致CPU及数字集成芯片20的损坏,该读写控制电路的较佳实施方式包括一P沟道MOS管(PMOS)Q1、一N沟道MOS管(NMOS)Q2、两电源P3V3、P5V_SB、及四个电阻R1-R4。该电阻R1的一端与该电源P3V3相连,另一端通过该电阻R2接地,该N沟道MOS管Q2的栅极连接于该电阻R1、R2之间的节点上,源极接地,漏极通过该电阻R3与该电源P5V_SB相连,该电阻R4的一端与该N沟道MOS管Q2的漏极相连,另一端与该P沟道MOS管Q1的栅极相连,该P沟道MOS管Q1的漏极与该数字集成芯片20相连,源极连接至SMBus总线的数据传输线SMBDAT。
该CPU插槽10包括一存在信号引脚SKTOCC,该存在信号引脚SKTOCC连接于该电阻R1与R2之间的节点上。
现有的CPU都规范定义了一存在信号引脚,如Intel的CPU定义了一SKTOCC引脚,当CPU插入CPU插槽10时,该存在信号引脚SKTOCC为低电平;否则,该存在信号引脚SKTOCC的电平为高电平。本发明读写控制电路根据该存在信号引脚SKTOCC的电平来判断是否有CPU插接于该CPU插槽10,进而来防止在CPU插接于该CPU插槽10后更改该数字集成芯片的参数。
当CPU未插接至该CPU插槽10时,该存在信号引脚SKTOCC为高电平,此时,该N沟道MOS管Q2与P沟道MOS管Q1均导通,用户可由上位机通过SMBus总线来更改该数字集成芯片20的参数,即通过SMBus总线来调试该数字集成芯片20的工作参数。
当CPU插接至该CPU插槽10时,该存在信号引脚SKTOCC为低电平,此时,该N沟道MOS管Q2与P沟道MOS管Q1均截止,该数字集成芯片20则无法通过SMBus总线来传输数据,即当CPU插接至该CPU插槽10后,用户无法通过上位机来更改该数字集成芯片20的参数。如此防止了因可能的错误更改该集成芯片20的参数而导致该数字集成芯片20的损坏。
从上述描述可知,该P沟道MOS管Q1及N沟道MOS管Q2均起到电子开关的作用,因此,其它实施方式中,该P沟道MOS管Q1及N沟道MOS管Q2亦可采用其它类型的晶体管来代替,甚至其它的具有电子开关功能的电子组件均可。比如,当使用一NPN型三极管来代替该N沟道MOS管Q2,一PNP型三极管来代替该P沟道MOS管Q1时,该NPN型三极管的基极连接于该电阻R1、R2之间的节点处,发射极接地,集电极通过该电阻R3与电源P5V_SB相连,该PNP型三极管基极、发射极、集电极分别相当于该P沟道MOS管Q1的栅极、源极、漏极。如此,当CPU未插接至该CPU插槽10时,该存在信号引脚SKTOCC为高电平,该NPN型三极管及PNP型三极管均导通;当CPU插接至该CPU插槽10时,该存在信号引脚SKTOCC为低电平,该NPN型三极管及PNP型三极管均截止。
上述读写控制电路通过获知该CPU插槽的存在信号是否为低电平,即当CPU插接于该CPU插槽10时,防止用户通过上位机来更改该数字集成芯片20的参数,从而避免了因可能的错误更改该数字集成芯片20的参数而导致该数字集成芯片20的损坏。
Claims (4)
1.一种读写控制电路,用于防止当CPU插接至CPU插槽时通过系统管理总线来更改数字集成芯片的参数,该CPU插槽包括一存在信号引脚,当所述CPU插接至CPU插槽时,所述存在信号引脚为低电平,当所述CPU未插接至CPU插槽时,所述存在信号引脚为高电平,其特征在于:该读写控制电路还包括一第一电子开关、一第二电子开关、第一至第二电源及第一至第三电阻,该第一电阻的一端与第一电源相连,另一端通过第二电阻接地,该存在信号引脚及该第二电子开关的第一端连接于该第一、第二电阻之间的节点上,第二电子开关的第二端接地,第二电子开关的第三端通过该第三电阻连接于该第二电源,该第四电阻的一端与该第二电子开关的第三端相连,该第四电阻的另一端与该第一电子开关的第一端相连,该第一电子开关的第三端与该数字集成芯片相连,该第一电子开关的第二端连接于该系统管理总线的数据传输线,当该CPU未插接至CPU插槽时,该第一及第二电子开关均导通;当该CPU插接至CPU插槽时,第一及第二电子开关截止,该系统管理总线的数据传输线与该数字集成芯片的连接断开。
2.如权利要求1所述的读写控制电路,其特征在于:该第一电子开关为一P沟道场效应管或一PNP三极管,该第一电子开关的第一端、第二端及第三端分别为该场效应管的栅极、源极及漏极,或该第一电子开关的第一端、第二端及第三端分别为该三极管的基极、发射极及集电极。
3.如权利要求1所述的读写控制电路,其特征在于:所述第二电子开关为一N沟道场效应管或一NPN三极管,该第二电子开关的第一端、第二端及第三端分别为该场效应管的栅极、源极及漏极,或该第一电子开关的第一端、第二端及第三端分别为该三极管的基极、发射极及集电极。
4.如权利要求1所述的读写控制电路,其特征在于:该数字集成芯片为一数字脉冲集成芯片。
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