CN210534199U - 一种半导体标准器件特性测试盒 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体标准器件特性测试盒，具有与测试仪器四个测试接口相对应的四个三同轴插座，所述四个三同轴插座设置在一个金属屏蔽盒上，所述金属屏蔽盒至少设置有一个引线卡槽，在金属屏蔽盒内设置有线路板，线路板上安装有处理器芯片，引线卡槽的引线脚插入线路板，引线卡槽的引线脚中的部分引脚在线路板通过印刷线路与处理器芯片的引脚相连接，引线卡槽配有可更换的多个半导体标准器件插板，在不同的半导体标准器件插板上设置有对应不同半导体标准器件的插脚短接线，在引线卡槽中插入不同的半导体标准器件插板，不同插脚短接线通过卡槽引线脚与处理器芯片的连接形成输出不同半导体标准器件参数的测试电路。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种半导体标准器件特性测试盒。
背景技术
半导体科学在现代科学技术中占有极其重要的地位，它广泛应用于国民经济的各个领域中，它的发展推动着人类社会的进步和物质文化水平的提高，如今兴起的半导体产业越来越受到各国的重视。中国已经成为全球第一大半导体市场，并保持着持续的增长速度。随着半导体产业的兴起，随之产生了许多的半导体公司以及各式各样的半导体参数测试仪器，它们的功能、使用方法、都不相同。
对于半导体测试仪器人们注重的是它测量结果的准确性，校准是每个半导体参数测试仪器必不可少的过程。而多数半导体参数仪器的校准都是通过特定的校准片来完成的。由于半导体器件分析仪自身体积过大，精度高，拆卸繁琐，送往计量机构过程中难免会遇到磕碰等各种问题,可能会导致测量结果不准确，因此，急需一种可匹配多种半导体参数测试仪器的校准器件测试盒来提供校准和标准器件测试。
发明内容
本实用新型的目的在于提出一种半导体标准器件特性测试盒，半导体标准器件特性测试盒测试标准器件测试出的数据参数可以为校准参数，从而可实现对半导体参数测试仪器的校准。
为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是：一种半导体标准器件特性测试盒，具有与测试仪器四个测试接口相对应的四个三同轴插座，其中，所述四个三同轴插座设置在一个金属屏蔽盒上，所述金属屏蔽盒至少设置有一个引线卡槽，在金属屏蔽盒内设置有线路板，线路板上安装有处理器芯片，引线卡槽的引线脚插入线路板，引线卡槽的引线脚中的部分引脚在线路板通过印刷线路与处理器芯片的引脚相连接，三同轴插座的屏蔽线和中心信号引线通过线路板印刷线路连接引线卡槽的引线脚，引线卡槽配有可更换的多个半导体标准器件插板，半导体标准器件插板设置有与引线卡槽相配的插脚，在不同的半导体标准器件插板上设置有对应不同半导体标准器件的插脚短接线，在引线卡槽中插入不同的半导体标准器件插板，不同插脚短接线通过卡槽引线脚与处理器芯片的连接形成输出不同半导体标准器件参数的测试电路。
方案进一步是：所述引线卡槽是带有方向识别槽口的防误插卡槽。
方案进一步是：所述集成电路芯片是型号为LQFP128处理器芯片。
方案进一步是：在所述金属屏蔽盒上还设置有一个分离器件接入端子，分离器件接入端子引线连接至线路板上的引线卡槽引线脚。
本实用新型的有益效果：
1.插槽式结构，将要测量的标准器件插入对应的卡槽，检测仪输出的半导体标准器件参数即可实现对多种标准器件的测量，包括封装好的PMOS、NMOS、RESISTOR、NPN、PNP、DIODE、CMIM、CAPACITOR、等标准器件，同时也可以测量分立外接器件如陶瓷电容、电解电容、电阻、2N7000类型MOS管等等，只需将要测量的分立器件固定到我们配备的外接夹具上，然后将夹具插入到接线端子在将测量卡插入对应卡槽即可测量。
2.测试盒通过金属外壳来屏蔽有效信号和一系列物理设计和PCB设计从而达到屏蔽保护的作用，可测量极小电流。屏蔽使金属导体壳内的处理器工作环境不受外部电场影响，也不对外部电场产生影响。
下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细描述。
附图说明
图1为本实用新型结构外部示意图；
图2为本实用新型结构内部示意图。
具体实施方式
一种半导体标准器件特性测试盒，如图1和图2所示，所述半导体标准器件特性测试盒具有与半导体参数测试仪器1四个测试接口相对应的四个三同轴插座2，半导体参数测试仪器1是型号为HP4284 LCR或FS-Pro或B1500或Agilent E4980或IM3536半导体参数测试仪器，三同轴插座是BJ77三同轴过壁插座，其中，所述四个三同轴插座设置在一个金属屏蔽盒3上，如图1所示，在金属屏蔽盒3两侧分别各设置有两个，所述金属屏蔽盒至少设置有一个引线卡槽4，图1和图2中表示有两个引线卡槽4，是根据测试的需要增加的。如图2所示，在金属屏蔽盒4内设置有线路板5，线路板上安装有处理器芯片6，所述集成电路芯,6是型号为LQFP128处理器芯片，是一种专用测量处理芯片；引线卡槽的引线脚插入线路板设置的引线脚插孔501，如图2所示，图2所示意的只是一种接线形式，所对应的并不是真正的管脚号和引线脚号，引线卡槽的引线脚中的部分引脚在线路板通过印刷线路与处理器芯片的引脚相连接，三同轴插座的屏蔽线和中心信号引线通过条线连接到线路板的跳线接口502，然后通过线路板印刷线路连接引线卡槽的引线脚，如图1所示，引线卡槽配有可更换的多个半导体标准器件插板7，半导体标准器件插板设置有与引线卡槽相配的插脚701，在不同的半导体标准器件插板上设置有对应不同半导体标准器件的插脚短接线702，在引线卡槽中插入不同的半导体标准器件插板，不同插脚短接线通过卡槽引线脚与处理器芯片的连接以及与三同轴插座的连接，进而形成输出不同半导体标准器件参数的测试电路。这样半导体标准器件插板就相当于半导体标准器件卡，在引线卡槽中插入不同的半导体标准器件插板就相当于插入了半导体标准器件卡。可以输出的不同半导体标准器件参数包括：IV、CV、Pulse、Transient、Noise多项测试类型参数。可以针对封装好的PMOS、NMOS、RESISTOR、NPN、PNP、DIODE、CMIM、CAPACITOR、等标准器件进行测量，测量标准器件时只需将半导体标准器件特性测试盒与半导体参数测试仪器正确连接在将要测量的标准器件卡插入对应的卡槽即可开始测量，在电路板上设置有提供处理器电源的电池8。
实施例中：所述引线卡槽是带有方向识别槽口401的防误插卡槽。
实施例中：在所述金属屏蔽盒上还设置有一个分离器件接入端子，分离器件接入端子引线连接至线路板上的引线卡槽引线脚。通过分离器件接入端子可以测量分立外接器件如陶瓷电容、电解电容、电阻、2N7000类型MOS管等等，只需将要测量的分立器件固定到我们配备的外接夹具上，然后将夹具插入到分离器件接入端子，将对应的标准器件卡插入对应的卡槽即可开始测量。
本实施例所采用的三同轴过壁插座，其具有的屏蔽保护功能可测量极小电流，屏蔽使金属导体壳内的处理器工作环境不受外部电场影响，也不对外部电场产生影响。假设我们要测量一个4端的PMOS标准器件，因为是4端的MOS标准器件，所以只要你将PMOS器件卡插入到对应的卡槽，那么这个PMOS标准器件的4端就会分别对应4个三同轴过壁插座，而此时在每一个三同轴过壁插座中，其屏蔽线和中间的signal引线是零电位差没有漏电流，从而实现可以提供小电流测试可到PA级小电流，对于其它类型器件也相同。
Claims (4)
1.一种半导体标准器件特性测试盒，具有与测试仪器四个测试接口相对应的四个三同轴插座，其特征在于，所述四个三同轴插座设置在一个金属屏蔽盒上，所述金属屏蔽盒至少设置有一个引线卡槽，在金属屏蔽盒内设置有线路板，线路板上安装有处理器芯片，引线卡槽的引线脚插入线路板，引线卡槽的引线脚中的部分引脚在线路板通过印刷线路与处理器芯片的引脚相连接，三同轴插座的屏蔽线和中心信号引线通过线路板印刷线路连接引线卡槽的引线脚，引线卡槽配有可更换的多个半导体标准器件插板，半导体标准器件插板设置有与引线卡槽相配的插脚，在不同的半导体标准器件插板上设置有对应不同半导体标准器件的插脚短接线，在引线卡槽中插入不同的半导体标准器件插板，不同插脚短接线通过卡槽引线脚与处理器芯片的连接形成输出不同半导体标准器件参数的测试电路。
2.根据权利要求1所述的半导体标准器件特性测试盒，其特征在于，所述引线卡槽是带有方向识别槽口的防误插卡槽。
3.根据权利要求1所述的半导体标准器件特性测试盒，其特征在于，所述处理器芯片是型号为LQFP128处理器芯片。
4.根据权利要求1所述的半导体标准器件特性测试盒，其特征在于，在所述金属屏蔽盒上还设置有一个分离器件接入端子，分离器件接入端子引线连接至线路板上的引线卡槽引线脚。
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| CN201921349459.7U CN210534199U (zh) | 2019-08-20 | 2019-08-20 | 一种半导体标准器件特性测试盒 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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ID=70601929
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN210534199U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112540251A (zh) * | 2020-11-30 | 2021-03-23 | 珠海格力电器股份有限公司 | 智能功率模块测试装置及系统 |
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2019
- 2019-08-20 CN CN201921349459.7U patent/CN210534199U/zh active Active
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