CN101162254A - Cpu插槽测试装置 - Google Patents

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Abstract

一种CPU插槽测试装置，用于测试一主板的CPU插槽，其包括一基板及一设于所述基板上的测试板，所述基板包括若干与所述CPU插槽的引脚相匹配的插接脚位，所述基板可通过所述插接脚位电性连接到所述CPU插槽上，所述测试板包括若干插孔，所述插孔与所述插接脚位中对应所述CPU插槽的关键信号引脚的插接脚位电性相连。所述CPU插槽测试装置可方便、快速的测试主板上的CPU插槽。

Description

CPU插槽测试装置
技术领域
本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种用于测试主板上CPU(Central Processing Unit，中央处理器)插槽的测试装置。
背景技术
在对计算机主板进行测试时，CPU插槽的测试是比较重要的一项测试。一般来讲，CPU插槽的测试分为静态测试和动态测试，当静态测试时，计算机主板不需上电，测试人员利用测试仪器对需要测试的CPU插槽的引脚一一进行测试，检查是否有空焊或者短路等现象，但此方式很不方便，测试人员需先对照图纸一一找到需要测试的引脚才能进行测试，需耗费一定的时间，有时还可能漏测某些引脚。当动态测试时，测试人员需先要在CPU插槽上插入对应的CPU并给主板上电，然后再对从CPU插槽引脚引出的一些关键信号引脚的测试点(一般设于CPU插槽的附近)进行测试，此方式也很不方便，由于CPU上的散热器的体积一般很大，这些需要测试的关键信号引脚的测试点大多被散热器盖住，以至于很难对这些关键信号引脚的测试点进行测试，而且这种方式需要直接插入CPU来测试，如果CPU插槽存在问题的话，很有可能会烧毁CPU，造成不必要的经济损失。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种方便、有效的测试主板上CPU插槽的测试装置。
一种CPU插槽测试装置，用于测试一主板的CPU插槽，其包括一基板及一设于所述基板上的测试板，所述基板包括若干与所述CPU插槽的引脚相匹配的插接脚位，所述基板可通过所述插接脚位电性连接到所述CPU插槽上，所述测试板包括若干插孔，所述插孔与所述插接脚位中对应所述CPU插槽的关键信号引脚的插接脚位电性相连。
相较于现有技术，将所述CPU插槽测试装置插接到需测试的主板的CPU插槽后，可通过所述插接脚位间接的测量所述CPU插槽上需测试的引脚，同时借助所述测试板上的插孔可测量所述CPU插槽上的关键信号引脚，以检查这些引脚是否有空焊或者短路等现象，十分方便，快捷。
附图说明
下面参考附图结合具体实施方式对本发明作进一步的说明。
图1为本发明CPU插槽测试装置的较佳实施方式的正面示意图。
图2为图1电路原理图。
具体实施方式
请共同参考图1及图2，本发明CPU插槽测试装置10用于测试一主板上的CPU插槽，其较佳实施方式包括一块基板12及一块测试板14。
所述基板12包括若干插接脚位122，所述插接脚位122与需要测试的CPU插槽上的引脚相匹配，通过所述插接脚位122可使所述基板12的一面(图1的反面)插接到所述CPU插槽上，所述插接脚位122的数量及位置关系可根据具体需要测试的CPU插槽来设计，本实施方式以775CPU插槽为例加以说明。根据测试要求，所述插接脚位122包括若干与所述CPU插槽中需要测试的引脚对应的特定插接脚位124，所述特定插接引脚124上设有标记(如方框)，所述标记可使测试人员不需对照图纸就能轻易的找到需测试的特定插接脚位124，十分方便、快捷。
所述测试板14设于所述基板12上，其包括一个电压控制部142及一个具有八个插孔的插座144，所述电压控制部142包括六个电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6及六个开关K1、K2、K3、K4、K5、K6。所述电压控制部142用于调整所述CPU插槽测试装置10的上电电压，以便代替具有不同上电电压的CPU进行动态测试，所述电阻及开关的数量也可根据实际CPU插槽中的VID(VoltageIdentification，电压识别)信号引脚的数量来配置。所述插座144的插孔电性连接于所述插接脚位122中与所述CPU插槽中需测试的关键信号引脚相对应的插接脚位122。
本实施方式中，所述CPU插槽的引脚中包括六个VID信号引脚，所述基板12上与所述VID信号引脚相对应的插接脚位122(在图2中用符号VID0′、VID1′、VID2′、VID3′、VID4′、VID5′标记)分别经由所述开关K1、K2、K3、K4、K5、K6中的一个开关后再经由所述电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6中的一个电阻后接地，通过调节与所述VID信号引脚对应的插接脚位122的电平高低(开关闭合，则对应插接脚位122为低电平；开关开启，则对应插接脚位122为高电平)，可使所述CPU插槽测试装置10的上电电压与需要代替CPU的上电电压相符合，以便使所述CPU插槽测试装置10能代替所述CPU插接到所述主板后使所述主板可以上电。所述插座144的八个插孔分别连接所述插接脚位122中与所述CPU插槽的关键信号引脚相对应的插接脚位122，所述CPU插槽的关键信号引脚包括GND、VCC、VTT、RST、PG、VREF、CLK、VDD引脚，本实施方式中与所述CPU插槽的关键信号引脚GND、VCC、VTT、RST、PG、VREF、CLK、VDD相对应的所述插接脚位122在图2中分别用符号GND′、VC C′、VTT′、RS T′、PG′、VREF′、CLK′、VDD′标记，所述插座144的插孔的数量不仅仅可以设为八个，其可根据所述CPU插槽中实际需测试的关键信号引脚的数量来确定。
当测试所述主板上的CPU插槽时，首先进行静态测试，将所述CPU插槽测试装置10插接到所述C PU插槽上，利用一个测试仪器，如万用表一一测试所述特定插接脚位124及所述插座144的八个插孔，由于所述特定插接脚位124对应连接到所述CPU插槽中需要测试的引脚上，所述插座144的八个插孔对应连接到与所述CPU插槽中需测试的关键信号引脚相对应的插接脚位122上，故可方便、快捷测试出所述CPU插槽中需要测试的引脚的焊接情况，从而判断这些引脚是否有空焊或者短路等现象。进行动态测试时，根据所述需代替的CPU的上电电压调节所述开关K1、K2、K3、K4、K5、K6的通断，以使所述CPU插槽测试装置10的上电电压与需要代替的CPU的上电电压相符合，给所述主板上电后，利用所述测试仪器一一测试所述插座144的八个插孔，即间接测试所述CPU插槽中的八个关键信号引脚，检查所述关键信号引脚上的信号是否符合规范要求，十分方便。
所述CPU插槽测试装置10可代替CPU来对CPU插槽进行动态测试，而不需直接插入CPU，消除了直接用CPU测试而损耗CPU的隐患。此外，由于所述CPU插槽测试装置10上安置了所述插座144，测试人员可通过所述插座144来插拔所述CPU插槽测试装置10，故也在一定程度上方便了测试人员的操作，可谓一举两得。

Claims (7)

1.一种CPU插槽测试装置，用于测试一主板的CPU插槽，其包括一基板及一设于所述基板上的测试板，所述基板包括若干与所述CPU插槽的引脚相匹配的插接脚位，所述基板可通过所述插接脚位电性连接到所述CPU插槽上，所述测试板包括若干插孔，所述插孔与所述插接脚位中对应所述CPU插槽的关键信号引脚的插接脚位电性相连。
2.如权利要求1所述的CPU插槽测试装置，其特征在于：所述插接脚位中包括若干与CPU插槽中需要测试的脚位对应的特定插接脚位，所述特定插接脚位上设有方便识别的标记。
3.如权利要求1所述的CPU插槽测试装置，其特征在于：所述测试板还包括若干开关及若干电阻，与所述CPU插槽中的电压识别信号引脚相对应的CPU插槽插接脚位分别通过一开关与一电阻组成的串联电路后接地。
4.如权利要求3所述的CPU插槽测试装置，其特征在于：所述开关及所述电阻的数量均为六个。
5.如权利要求1所述的CPU插槽测试装置，其特征在于：所述测试板包括一个具有所述插孔的插座。
6.如权利要求1所述的CPU插槽测试装置，其特征在于：所述插孔的数量为八个。
7.如权利要求1所述的CPU插槽测试装置，其特征在于：所述CPU插槽为775CPU插槽。
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