CN102193008A - 探头 - Google Patents

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Abstract

一种探头，用以测试待测主板上的差分信号，所述探头包括一第一输入端、一第二输入端、一第三输入端、一第一输出端、一第二输出端及一第三输出端、所述第一输入端和第一输出端通过一第一电阻相连，所述第二输入端和第二输出端通过一第二电阻相连，所述第三输入端和第三输出端通过一第三电阻相连，所述第一、第二输出端之间连接一第一开关，所述第一、第三输出端之间连接一第二开关，所述第二、第三输出端之间连接一第三开关，所述第一、第二输入端用于接收所述差分信号，所述第三输入端用于连接所述待测主板上的一接地端，测试时，所述第一至第三开关中的一个断开，另外两个闭合。所述探头节省了测试时间，且可保护待测主板不受损坏。

Description

探头
技术领域
本发明涉及一种信号测试工具，特别涉及一种探头。
背景技术
在主板上测试差分信号时，需要分别进行差分测试和单端测试，差分测试是将主板上的两根差分信号线作为整体进行测试，而单端测试则是针对每一根单独的差分信号线进行测试。进行差分测试和单端测试时在主板上焊接的用以连接探棒的配件不同，因而在完成差分测试时，需要重新焊接配件，以进行单端测试，不仅花费较多时间，还有可能损坏测试主板。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种探头，既可进行差分测试，又可进行单端测试。
一种探头，用以测试待测主板上的差分信号，所述探头包括一第一输入端、一第二输入端、一第三输入端、一第一输出端、一第二输出端及一第三输出端，所述第一输入端和第一输出端通过一第一电阻相连，所述第二输入端和第二输出端通过一第二电阻相连，所述第三输入端和第三输出端通过一第三电阻相连，所述第一、第二输出端之间连接一第一开关，所述第一、第三输出端之间连接一第二开关，所述第二、第三输出端之间连接一第三开关，所述第一、第二输入端用于接收所述差分信号，所述第三输入端用于连接所述待测主板上的一接地端，测试时，所述第二及第三开关断开、第一开关闭合以对待测主板的差分信号进行差分测试；所述第一及第三开关断开、第二开关闭合或者第一及第二开关断开、第三开关闭合以对待测主板的差分信号进行单端测试。
一种探头，用以测试待测主板上的差分信号，所述探头包括一第一输入端、一第二输入端、一第三输入端、一第一输出端、一第二输出端及一第三输出端、所述第一、第二、第三输出端分别包括一正接点及一负接点，所述第一输入端和第一输出端的正接点通过一第一电阻相连，所述第二输入端和第一输出端的负接点通过一第二电阻相连，所述第三输入端和第二输出端的负接点通过一第三电阻相连，所述第三输入端和第三输出端的负接点通过一第四电阻相连，所述第一、第二输出端的正接点通过一第五电阻相连，所述第一输出端的负接点和第三输出端的正接点通过一第六电阻相连，所述第一、第二输入端用于接收所述差分信号，所述第三输入端用于连接所述待测主板上的一接地端，测试时，所述第二及第三输出端空置，所述第一输入端的正、负接点分别连接至一探棒的两输入接点以对待测主板的差分信号进行差分测试；所述第一及第三输出端空置、第二输出端的正、负接点分别连接至所述探棒的两个输入接点或者第一及第二输出端空置、第三输出端的正、负接点分别连接至所述探棒的两个输入接点以对待测主板的差分信号进行单端测试。
所述探头具有三个输入端，通过选择不同的输出端传输信号即可选择性地进行差分测试或单端测试，不需要分别在待测主板上焊接不同的配件，节省了时间，还可保护测试主板不受损坏。
附图说明
图1是本发明探头的第一较佳实施方式连接于一待测主板及一第一探棒之间的模块示意图。
图2是图1中的探头的内部电路图。
图3是本发明探头的第二较佳实施方式连接于图1中的待测主板及一第二探棒之间的模块示意图。
图4是图3中的探头的内部电路图。
主要元件符号说明
  探头   10
  输入端   12、14、16
  输出端   11、13、15、17、18、19
  开关   S1-S3
  电阻   R1-R3、R11-R16
  待测主板   20
  触点   22、24、26
  第一探棒   30
  示波器   40
  第二探棒   50
  输入接点   32、34、36、51、52
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
请参考图1及图2，本发明探头10的第一较佳实施方式包括输入端12、14、16及输出端17、18、19，所述输入端12、14、16分别用于连接一待测主板20上的三个触点22、24、26，所述输出端17、18、19分别连接至一第一探棒30的三个输入接点32、34、36，所述第一探棒30的输出接点连接至一示波器40。本实施方式中，所述触点22、24用于输出一差分信号，所述触点26用于接地，所述探头10可选择性地将所述触点22或/和24上的信号通过输出端17或/和18传输至所述第一探棒30，以及将触点26上的信号通过输出端19传输至第一探棒30，所述第一探棒30将接收的信号传输至所述示波器40，以进行差分信号的单端测试或差分测试。
请参考图2，所述探头10的第一较佳实施方式包括三个开关S1-S3以及三个电阻R1-R3，所述电阻R1连接在输入端12以及输出端17之间，所述电阻R2连接在输入端14以及输出端18之间，所述电阻R3连接在输入端16以及输出端19之间，所述开关S1连接在所述输出端17、18之间，所述开关S2连接在输出端17、19之间，所述开关S3连接在输出端18、19之间。
测试时，所述探头10的输入端12、14、16分别与所述待测主板20上的触点22、24、26电接触。当对所述待测主板20进行差分测试时，所述开关S1闭合，开关S2和S3断开，此时，所述触点22、24上的差分信号传输至所述探头10的输出端17、18，进而通过所述第一探棒30传输至所述示波器40。当对所述触点22进行单端测试时，所述开关S2闭合，所述开关S1和S3断开，此时，所述触点22、26上的信号通过所述输出端17、19传输至所述探棒30。当对所述触点24进行单端测试时，所述开关S3闭合，所述开关S1和S2断开，此时，所述触点24、26上的信号通过所述输出端18、19传输至所述探棒30。
请参考图3及图4，所述探头10的第二较佳实施方式可与一具有两个输入接点51、52的第二探棒50配合使用，所述探头10的第二较佳实施方式包括包括三个输入端12、14、16、三个输出端11、13、15以及六个电阻R11-R16，每一输出端11、13、15包括一正接点“+”及一负接点“-”，所述电阻R11连接在所述输入端12以及输出端11的正接点之间，所述电阻R12连接在输入端14以及输出端11的负接点之间，所述电阻R13连接在所述输入端16和输出端13的负接点之间，所述电阻R14连接在所述输出端11、13的正接点之间，所述电阻R15连接在所述输入端16和输出端15的负接点之间，所述电阻R16连接在所述输出端15的正接点和输出端11的负接点之间。
测试时，所述探头10的输入端12、14、16分别与所述待测主板20上的触点22、24、26电接触。当对所述触点22、24进行差分测试时，所述输出端13、15空置，所述输出端11的正、负接点分别连接至所述第二探棒50的两个输入接点51、52，此时，所述触点22、24上的差分信号通过所述输入接点51、52传输至所述第二探棒50，进而传输至所述示波器40。当对所述触点22进行单端测试时，所述输出端11、15空置，所述输出端13的正、负接点分别连接至所述第二探棒50的两个输入接点51、52，此时，所述触点22、26上的信号通过所述输入接点51、52传输至所述第二探棒50。当对所述触点24进行单端测试时，所述输出端11、13空置，所述输出端15的正、负接点分别连接至所述第二探棒50的两个输入接点51、52，此时，所述触点24、26上的信号通过所述输入接点51、52传输至所述第二探棒50。
使用所述探头10对差分信号进行差分和单端测试时，不需要分别在主板上焊接不同的配件，节省了时间，还可保护测试主板不受损坏。

Claims (2)

1.一种探头，用以测试待测主板上的差分信号，所述探头包括一第一输入端、一第二输入端、一第三输入端、一第一输出端、一第二输出端及一第三输出端，所述第一输入端和第一输出端通过一第一电阻相连，所述第二输入端和第二输出端通过一第二电阻相连，所述第三输入端和第三输出端通过一第三电阻相连，所述第一、第二输出端之间连接一第一开关，所述第一、第三输出端之间连接一第二开关，所述第二、第三输出端之间连接一第三开关，所述第一、第二输入端用于接收所述差分信号，所述第三输入端用于连接所述待测主板上的一接地端，测试时，所述第二及第三开关断开、第一开关闭合以对待测主板的差分信号进行差分测试；所述第一及第三开关断开、第二开关闭合或者第一及第二开关断开、第三开关闭合以对待测主板的差分信号进行单端测试。
2.一种探头，用以测试待测主板上的差分信号，所述探头包括一第一输入端、一第二输入端、一第三输入端、一第一输出端、一第二输出端及一第三输出端、所述第一、第二、第三输出端分别包括一正接点及一负接点，所述第一输入端和第一输出端的正接点通过一第一电阻相连，所述第二输入端和第一输出端的负接点通过一第二电阻相连，所述第三输入端和第二输出端的负接点通过一第三电阻相连，所述第三输入端和第三输出端的负接点通过一第四电阻相连，所述第一、第二输出端的正接点通过一第五电阻相连，所述第一输出端的负接点和第三输出端的正接点通过一第六电阻相连，所述第一、第二输入端用于接收所述差分信号，所述第三输入端用于连接所述待测主板上的一接地端，测试时，所述第二及第三输出端空置，所述第一输入端的正、负接点分别连接至一探棒的两输入接点以对待测主板的差分信号进行差分测试；所述第一及第三输出端空置、第二输出端的正、负接点分别连接至所述探棒的两个输入接点或者第一及第二输出端空置、第三输出端的正、负接点分别连接至所述探棒的两个输入接点以对待测主板的差分信号进行单端测试。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109738786A (zh) * 2018-12-26 2019-05-10 郑州云海信息技术有限公司 一种gpu测试治具的设计方法与系统
CN110324078A (zh) * 2018-03-30 2019-10-11 迈普通信技术股份有限公司 一种光接口差分信号故障检测系统及方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104297664A (zh) * 2013-07-19 2015-01-21 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 主板时序测量装置及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040056103A (ko) * 2002-12-23 2004-06-30 삼성전기주식회사 차동 임피던스 측정 프로브장치
JP2004257830A (ja) * 2003-02-25 2004-09-16 Fujikura Ltd 測定用アダプタ
US7019544B1 (en) * 2001-12-21 2006-03-28 Lecroy Corporation Transmission line input structure test probe
US20060290357A1 (en) * 2005-06-13 2006-12-28 Richard Campbell Wideband active-passive differential signal probe
WO2007140227A2 (en) * 2006-05-24 2007-12-06 Tektronix, Inc. Mode selection amplifier circuit usable in a signal acquisition probe
US20080001611A1 (en) * 2006-06-29 2008-01-03 Lecroy Corporation Probe using high pass ground signal path

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7271575B2 (en) * 2002-08-07 2007-09-18 Tektronix, Inc. Oscilloscope based return loss analyzer
US7126360B1 (en) * 2005-05-27 2006-10-24 Tektronix, Inc. Differential signal acquisition probe having retractable double cushioned probing tips with EOS/ESD protection capabilities
US7764072B2 (en) * 2006-06-12 2010-07-27 Cascade Microtech, Inc. Differential signal probing system

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7019544B1 (en) * 2001-12-21 2006-03-28 Lecroy Corporation Transmission line input structure test probe
KR20040056103A (ko) * 2002-12-23 2004-06-30 삼성전기주식회사 차동 임피던스 측정 프로브장치
JP2004257830A (ja) * 2003-02-25 2004-09-16 Fujikura Ltd 測定用アダプタ
US20060290357A1 (en) * 2005-06-13 2006-12-28 Richard Campbell Wideband active-passive differential signal probe
WO2007140227A2 (en) * 2006-05-24 2007-12-06 Tektronix, Inc. Mode selection amplifier circuit usable in a signal acquisition probe
US20080001611A1 (en) * 2006-06-29 2008-01-03 Lecroy Corporation Probe using high pass ground signal path

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
夏国忠: "差分和单端有源探头性能比较", 《国外电子测量技术》 *
张梅等: "瞬态干扰示波器测试方法研究", 《全国电工理论与新技术学术年会07论文集》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110324078A (zh) * 2018-03-30 2019-10-11 迈普通信技术股份有限公司 一种光接口差分信号故障检测系统及方法
CN110324078B (zh) * 2018-03-30 2022-02-08 迈普通信技术股份有限公司 一种光接口差分信号故障检测系统及方法
CN109738786A (zh) * 2018-12-26 2019-05-10 郑州云海信息技术有限公司 一种gpu测试治具的设计方法与系统

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Publication number Publication date
US20110215792A1 (en) 2011-09-08

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