CN218630021U - 一种测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试治具，包括：测试接口、切换模块、脉冲提供模块、侦测信号端、接地信号端，以及多个测试通道的发送端和接收端；测试接口用于连接待测装置；切换模块用于切换侦测信号端与接地信号端的连接状态；脉冲提供模块与各接收端在测试治具的内部连接，用于根据触发信号向接收端提供脉冲信号；发送端用于连接示波器。本实用新型通过切换模块，实现了在同一测试治具上测试待测装置发出的PCIE信号或SATA信号，通过脉冲提供模块与各接收端在测试治具的内部连接，代替外部连接脉冲发生器J85或者信号发生器去进行切换码型，简化了链路的外部连接线，减少了额外的测试设备，降低了测试成本，提高了测试效率。

Description

一种测试治具

技术领域

本实用新型实施例涉及硬件测试技术领域，尤其涉及一种测试治具。

背景技术

M.2连接器作为一种高密度、小尺寸的连接器得到越来越广泛的使用。M.2接口的PCIE信号，SATA信号为高速信号，必须进行信号完整性测试。

目前，对于M.2接口的PCIE信号的测试，需要接上PCIE测试治具，对于SATA信号的测试，需要接上SATA测试治具，M.2接口根据侦测信号的不同走PCIE信号或SATA信号，因此PCIE测试治具和SATA测试治具不能同时使用。

因此，现有对M.2接口进行测试时，无法通过一次连线完成对PCIE信号和SATA信号的测试，使得测试过程较为繁琐费时。同时测试PCIE信号时需要外接一个信号发生器或者再接一个PCIE夹具上的脉冲发生器J85去切换码型，造成测试需要的设备过多，链路连接复杂繁琐。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试治具，以实现在同一测试治具上对PCIE信号或SATA信号两种信号的测试，简化外部连接线，减少额外的测试设备，提高测试效率。

本实用新型实施例提供了一种测试治具，包括：测试接口、切换模块、脉冲提供模块、侦测信号端、接地信号端，以及多个测试通道的发送端和接收端；测试接口用于连接待测装置；切换模块用于切换侦测信号端与接地信号端的连接状态；脉冲提供模块与各接收端在测试治具的内部连接，用于根据触发信号向接收端提供脉冲信号；发送端用于连接示波器。通过一个测试治具可以同时测试SATA信号和PCIE信号，不需要更换测试治具；相应的，通过一次连线完成对PCIE信号和SATA信号的测试，提高测试效率。同时简化了链路的外部连接线，减少了额外的测试设备，降低了测试成本，提高了测试效率。

可选的，侦测信号端包括第一排针引出端，接地信号端包括第二排针引出端。通过设置侦测信号端和接地信号端均为排针引出端口，引出侦测信号和接地信号，更便于与切换模块的连接，并且切换模块的结构可以更加灵活设置，而不需要固定在测试治具上，同时通过第一排针引出端和第二排针引出端与切换模块的配合，实现了在同一测试治具上测试信号和信号。

可选的，切换模块包括跳帽。

可选的，测试治具还包括开关，开关与脉冲提供模块的电源接收端电连接。开关用于控制脉冲提供模块上下电。

可选的，测试治具还包括触发模块，触发模块与脉冲提供模块的触发接收端电连接，用于向脉冲提供模块提供触发信号，以使脉冲提供模块根据触发信号输出脉冲信号，以控制码型的切换。触发模块每动作一次，脉冲提供模块完成一次PCIE码型和速率的切换，进而实现PCIE信号的测试。

可选的，测试治具还包括显示模块，显示模块与触发接收端电连接，显示模块用于根据触发信号显示码型。

可选的，测试治具还包括时钟信号端，时钟信号端用于连接示波器。

可选的，测试接口为M.2接口。

可选的，脉冲提供模块包括NE555芯片。

可选的，发送端包括第一子发送端和第二子发送端，接收端包括第一子接收端和第二子接收端；第一子发送端和第二子发送端用于连接示波器的不同端口；脉冲提供模块还包括第一输出端和第二输出端，第一输出端与第一子接收端电连接，第二输出端与第二子接收端电连接。

本实用新型的技术方案，通过切换模块切换侦测信号端与接地信号端的连接状态，可以实现对待测装置输出信号类型的控制，进而通过一个测试治具可以同时测试SATA信号和PCIE信号，不需要更换测试治具；相应的，通过一次连线完成对PCIE信号和SATA信号的测试，提高测试效率。通过脉冲提供模块与各接收端在测试治具的内部连接，代替外部连接脉冲发生器J85或者信号发生器去进行切换码型，简化了链路的外部连接线，减少了额外的测试设备，降低了测试成本，提高了测试效率。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的一种测试治具的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的另一种测试治具的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

图1为本实用新型实施例提供的一种测试治具的结构示意图。本实施例可适用于信号测试情况，参考图1，该测试治具1包括：测试接口10、切换模块11、脉冲提供模块12、侦测信号端PENDET、接地信号端GND，以及多个测试通道的发送端和接收端；测试接口10用于连接待测装置；切换模块11用于切换侦测信号端PENDET与接地信号端GND的连接状态；脉冲提供模块12与各接收端在测试治具1的内部连接，用于根据触发信号向接收端提供脉冲信号；发送端用于连接示波器。

其中，待测装置可以是各种元器件构成的电路板。

测试接口10用于连接待测装置。可选的，通过测试接口10将测试治具1插入到待测装置的插槽上，进而实现测试治具1与待测装置的连接，以进行后续测试。可选的，测试接口是M.2接口。

当侦测信号端PENDET的信号为高电平时，待测装置发出PCIE信号，为低电平时则发出SATA信号。在待测装置的主板设计时，为做可测试性设计，在设计阶段侦测信号端默认为高电平，即默认支持PCIE信号。

具体的，切换模块11用于切换侦测信号端PENDET与接地信号端GND的连接状态。切换模块11可以通过多种结构实现。示例性的，切换模块11可以是按钮、拨码开关或其他开关等。进一步的，切换模块在测试PCIE信号时将侦测信号端PENDET与接地信号端GND断开，此时侦测信号端PENDET为高电平，待测装置发出的信号为PCIE信号，可以测试PCIE信号；在测试SATA信号时将侦测信号端PENDET与接地信号端GND连接，此时侦测信号端PENDET为低电平，待测装置发出的信号为SATA信号，可以测试SATA信号。通过设置切换模块11切换侦测信号端PENDET与接地信号端GND的连接状态，可以实现对待测装置输出信号类型的控制，进而通过一个测试治具1可以实现对SATA信号和PCIE信号两种信号的测试，因此通过一次连线完成对PCIE信号和SATA信号的测试，提高测试效率。

可选的，测试治具可以包括4个测试通道、8个测试通道或者16个测试通道的发送端和接收端，图1示例性示出了测试治具包括4个测试通道的发送端和接收端的情况。如图1所示，4个测试通道的发送端分别为第一通道发送端TX lane0、第二通道发送端TX lane1、第三通道发送端TX lane2、第四通道发送端TX lane3；四个测试通道的接收端分别为第一通道接收端RX lane0、第二通道接收端RX lane1、第三通道接收端RX lane2以及第四通道接收端RX lane3。测试通道的发送端用于外部连接示波器，各接收端与脉冲提供模块12在测试治具1内部连接。

其中，脉冲提供模块12用于根据触发信号向各接收端提供脉冲信号。可选的，触发信号用于控制脉冲提供模块12的启动与停止。脉冲提供模块12的类型可以是自设计电路，还可以是成熟的芯片。示例性的，脉冲提供模块可以是由NE555芯片及其外围电路构成的模块。通过脉冲提供模块与各接收端在测试治具的内部连接，代替外部连接脉冲发生器J85或者信号发生器去进行切换码型，简化了测试链路的外部连接线，减少了额外的测试设备，降低了测试成本，提高了测试效率。

其中，示波器用于接收待测装置反馈的测试数据。通过示波器获取测试数据对应的波形文件，根据波形文件判断是否完成当前码型的测试，若是，根据波形文件分析测试结果生成下一码型对应的控制指令。当得到码型表中所有码型对应的测试结果，整理所有测试结果并生成待测装置的测试报告。

本实施例的技术方案，通过切换模块切换侦测信号端与接地信号端连接状态，可以实现对待测装置输出信号类型的控制，进而通过一个测试治具可以同时测试SATA信号和PCIE信号，不需要更换测试治具；相应的，通过一次连线完成对PCIE信号和SATA信号的测试，提高测试效率。通过脉冲提供模块与各接收端在测试治具的内部连接，代替外部连接脉冲发生器J85或者信号发生器去进行切换码型，简化了链路的外部连接线，减少了额外的测试设备，降低了测试成本，提高了测试效率。

图2为本实用新型实施例提供的另一种测试治具的结构示意图，参考图2，在上述实施例的基础上，可选的，侦测信号端PENDET包括第一排针引出端20，接地信号端GND包括第二排针引出端21。

第一排针引出端20用于引出侦测信号。第二排针引出端21用于引出接地信号。通过设置侦测信号端PENDET和接地信号端GND均为排针引出端口，引出侦测信号和接地信号，更便于与切换模块11的连接，并且切换模块的结构可以更加灵活设置，而不需要固定在测试治具上，同时通过第一排针引出端20和第二排针引出端21与切换模块11的配合，实现了在同一测试治具上测试PCIE信号和SATA信号。

可选的，切换模块11包括跳帽22。跳帽22的作用是将第一排针引出端20和第二排针引出端21通过内部的导线进行连接，以控制待测装置发出PCIE信号或SATA信号。当将跳帽22拔下时，待测装置发出PCIE信号；当跳帽22盖上时，控制待测装置发出SATA信号。

可选的，测试治具1还包括开关23，开关23与脉冲提供模块12的电源接收端VCC电连接。

可选的，开关23的一端连接电源，另一端连接脉冲提供模块12的电源接收端VCC。开关23用于控制脉冲提供模块12上下电。当开关闭合时，脉冲提供模块12开始工作；当开关断开时，脉冲提供模块12停止工作。

可选的，测试治具1还包括触发模块24，触发模块24与脉冲提供模块12的触发接收端RX电连接，用于向脉冲提供模块12提供触发信号，以使脉冲提供模块12根据触发信号输出脉冲信号，以控制码型的切换。

触发模块24的可以通过多种结构实现的。示例性的，触发模块24可以是按钮。触发模块24每动作一次，脉冲提供模块12完成一次PCIE码型和速率的切换，进而实现PCIE信号的测试。

可选的，测试治具1还包括显示模块25，显示模块25与触发接收端RX电连接，显示模块25用于根据触发信号显示码型。

显示模块25用于显示调整的PCIE码型和速率，触发模块24每动作一次，显示模块25显示一次PCIE码型和速率。

可选的，测试治具1还包括时钟信号端CLK，时钟信号端CLK用于连接示波器。

时钟信号端CLK连接示波器，在对时钟信号进行测试时，示波器对时钟信号的波形进行测试，并分析测试结果。

可选的，脉冲提供模块12包括NE555芯片。NE555芯片的电源接收端VCC即NE555芯片的第八引脚VC。电源接收端VCC用于给NG555芯片上电。NE555芯片的第五引脚CV，用于改变NG555芯片内部两个比较器的基准电压，从而调整NG555芯片的输出频率。具体的，NE555芯片的第八引脚VC与开关23连接；第五引脚CV与触发模块24以及显示模块25连接；第一引脚GND1与接地信号端GND进行连接；第三引脚OUTPUT与显示模块25连接，给显示模块25供电。

具体的，触发模块24每动作一次，测试通道的接收端将接收到的脉冲信号传送给待测装置，待测装置切换PCIE信号的码型和速率，同时显示模块25显示一次PCIE信号码型和速率，并通过测试治具1上的接收端传送给示波器。

可选的，发送端包括第一子发送端P1和第二子发送端N1，接收端包括第一子接收端P2和第二子接收端N2；第一子发送端P1和第二子发送端N1用于连接示波器的不同端口；脉冲提供模块12还包括第一输出端OUT+和第二输出端OUT-。第一输出端OUT+与第一子接收端P2电连接，第二输出端OUT-与第二子接收端N2电连接。

具体的，PCIE信号和SATA信号为差分信号。第一子发送端P1是差分信号的正极，第二子发送端N1是差分信号的负极。同理，第一子接收端P2是差分信号的正极，第二子接收端N2是差分信号的负极。脉冲提供模块12的第一输出端OUT+即为NE555芯片的第六引脚TH，NE555芯片第六引脚TH与测试治具1上的各第一子接收端P2连接，第二输出端OUT-即为NE555芯片的第二引脚TR，NE555芯片的第二引脚TR与测试治具1上的各第二子接收端N2连接，并根据触发模块24提供的触发信号，脉冲提供模块12根据触发信号输出脉冲信号，使待测装置自动切换PCIE信号的码型和速率。

继续参考图2，待测试装置的插槽为M.2接口，需要说明的是，M.2接口中SATA信号和PCIE信号共用同一测试通道。测试一对SATA信号和四对PCIE信号的工作步骤具体如下：

1、搭建测试环境，即通过测试接口10将测试治具1插入到待测装置的插槽上，进而实现测试治具1与待测试装置的连接。

2、用跳帽22将测试治具1上的侦测信号端PENDET与接地信号端GND连接,测试SATA信号。

具体的，待测装置通过测试接口10连接测试治具1，由于M.2接口的SATA信号只有一对信号，因此只需要测试一个测试通道的信号完整性。测试治具1和示波器的连接方式可以为：测试治具1的第一通道发送端TX lane0的第一子发送端P1通过连接线连接到示波器的第一示波器通道；测试治具1的第一通道发送端TX lane0的第二子发送端N1通过连接线连接到示波器的第二示波器通道；测试治具1的时钟信号端CLK的第三子发送端P3连接到示波器的第三示波器通道；测试治具1的时钟信号端CLK的第四子发送端N3连接到示波器的第四示波器通道。示波器抓取相应的波形，并通过分析软件得到测试结果，整理测试结果并生成待测装置的测试报告。

3、将测试的跳帽22拔下,测试PCIE信号。

具体的，由于PCIE信号会有4对、8对或者16对信号的区分。以测试4对信号的完整性为例。

具体的工作原理如下：测试治具1的测试接口10连接到待测装置，测试治具第一通道发送端TX lane0的第一子发送端P1和第二子发送端N1分别通过连接线连接到示波器的第一示波器通道和第二示波器通道，时钟信号端CLK的第一端子P3和第二端子N3分别连接到示波器的第三示波器通道和第四示波器通道；打开脉冲提供模块12中脉冲芯片NE555的供电开关，给脉冲芯片NE555上电，对测试装置上的触发模块24进行动作，向脉冲提供模块12提供触发信号，以使脉冲提供模块12根据触发信号输出脉冲信号，准备进行速率切换；开启示波器并校准，示波器运行，待有信号出现，调整信号完整显示，可以看到当前的信号是默认的PCIE信号的第一速率信号，抓取其波形信号；通过控制触发模块24的导通与关断控制PCIE码型和速率的切换，即PCIE信号的速率已经切换到PCIE的第二速率的信号，示波器保存相应的波形信号，通过分析软件得到测试结果，整理测试结果并生成待测装置的测试报告。重复上述步骤，直到测试完所有速率相关的波形数据信号。同理，可以依次测试第二通道发送端TX lane1对应的第二测试通道、第三通道发送端TX lane2对应的第三测试通道以及第四通道发送端TX lane3对应的第四测试通道的信号完整性。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种测试治具，其特征在于，包括：测试接口、切换模块、脉冲提供模块、侦测信号端、接地信号端，以及多个测试通道的发送端和接收端；

所述测试接口用于连接待测装置；

所述切换模块用于切换所述侦测信号端与所述接地信号端的连接状态；

所述脉冲提供模块与各所述接收端在所述测试治具的内部连接，用于根据触发信号向所述接收端提供脉冲信号；

所述发送端用于连接示波器。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述侦测信号端包括第一排针引出端，所述接地信号端包括第二排针引出端。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述切换模块包括跳帽。

4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，测试治具还包括开关，所述开关与所述脉冲提供模块的电源接收端电连接。

5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括触发模块，所述触发模块与所述脉冲提供模块的触发接收端电连接，用于向所述脉冲提供模块提供触发信号，以使所述脉冲提供模块根据所述触发信号输出脉冲信号，以控制码型的切换。

6.根据权利要求5所述的测试治具，其特征在于，还包括显示模块，所述显示模块与所述触发接收端电连接，所述显示模块用于根据所述触发信号显示码型。

7.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括时钟信号端，所述时钟信号端用于连接所述示波器。

8.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试接口为M.2接口。

9.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述脉冲提供模块包括NE555芯片。

10.根据权利要求1-9任一项所述的测试治具，其特征在于，所述发送端包括第一子发送端和第二子发送端，所述接收端包括第一子接收端和第二子接收端；

所述第一子发送端和所述第二子发送端用于连接所述示波器的不同端口；

所述脉冲提供模块还包括第一输出端和第二输出端，所述第一输出端与所述第一子接收端电连接，所述第二输出端与所述第二子接收端电连接。

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