CN1979688A - 存储器测试卡具 - Google Patents

Abstract

一种存储器测试卡具，应用在具有电性连接端的存储器的电性测量，该存储器测试卡具包括：第一连接部，具有与该电性连接端电性连接的第一导电结构；第二连接部，具有与外部装置电性连接的第二导电结构；以及测量部，与该第一连接部以及该第二连接部结合，且与该第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露出该存储器测试卡具；与现有技术相比，本发明可快速、准确地对存储器电性进行测量，由于不对存储器进行操作，因此是一种安全方便的存储器测试卡具，省略了多次开机、关机以及插、拔等动作，提高测量效率，测量过程中引线极短，可将外界的干扰降到最低，本发明的测试卡具能够多次重复使用，降低了测量成本。

Description

存储器测试卡具

技术领域

本发明是关于一种测试卡具，特别是关于一种用于存储器电性测量的测试卡具。

背景技术

高速电路和电路板的布线密度已成为今日数字产品的基准，更快的芯片组和多层电路板设计可以解决处理能力和空间问题，但是也更容易受到电路异常的影响。因此，随着电路工作频率的提高，不管信号周期如何，几乎所有设计都遇到了信号完整性(signal integrity；SI)的问题。一般是使用示波器观察电路设计并评估信号的完整性。

当使用者利用示波器对例如双重内嵌式内存模块(Dual In-LineMemory Modules；DIMM)的存储器进行存储器信号完整性测量时，通常是先参照原理图找到待测信号线，然后再对照线路图，找出该待测信号线对应该存储器的电性连接端上的导电片(俗称“金手指”)，在存储器上找出所找导电片直接电性连接的且便于焊接的元器件一端或通孔(Via)，将引线焊上。最后，利用示波器的测量探头接触该引线，对该存储器中待测信号线的信号完整性进行测量。完成测量后，则除去该引线并重复上述步骤，对下一条信号线进行测量。

这种做法存在诸多缺失，首先，将引线焊接到电路板上十分困难，尤其是若焊接点为一通孔(via)时，则需要先刮去通孔上的绝缘漆才能进行焊接操作。而且，刮绝缘漆时必须十分小心，若绝缘漆刮不干净，无法完成焊接；若过度刮除绝缘漆又会破坏通孔结构甚至造成断路，以致于会影响电路板的性能；更严重的情况是找不到通孔，只能焊接在电性连接端。同时，测量完后也必须除去引线，因此，应用这种现有技术除了不利于重复使用之外，更提高了成本，而且浪费大量时间。

此外，为了方便焊接操作以及受限焊接技术的极限，引线往往不能太短，因为引线太短所焊上的引线较细会令焊接点相对很小，易造成引线脱落，过长引线则不利于信号传输，势必会令测量结果受到外界干扰，测量误差也相对增大。而且，由于需要焊接的引线数量比较多，无法一次将所有引线都焊接到电路板上，必须多次开机、关机以及插、拔该存储器，这些动作不仅容易对存储器造成损坏，更使得测试操作繁琐，故势必需要浪费更多时间，且更严重影响测量效率。

因此，如何提供一种有助于快速、准确、安全方便且可重复使用的存储器测量技术，能够提高测量效率、减少干扰、节省成本并提供使用便利性，解决现有技术的种种缺失，是目前业界亟待探讨的课题。

发明内容

为解决上述现有技术的缺点，本发明的主要目的在于提供一种可快速、准确地进行测量的存储器测试卡具。

本发明的次一目的在于提供一种安全方便的存储器测试卡具。

本发明的再一目的在于提供一种可重复使用的存储器测试卡具。

本发明的又一目的在于提供一种提高测量效率的存储器测试卡具。

本发明的另一目的在于提供一种可节省成本的存储器测试卡具。

本发明的又再一目的在于提供一种可提供使用便利性的存储器测试卡具。

为达成上述目的及其它目的，本发明提供一种存储器测试卡具，应用在具有电性连接端的存储器的电性测量，该存储器测试卡具包括：第一连接部，具有与该电性连接端电性连接的第一导电结构，在该存储器与该第一连接部连接时，该存储器与该存储器测试卡具形成电性连接关系；第二连接部，具有与外部装置电性连接的第二导电结构，借由该第二连接部，该存储器测试卡具与外部装置电性连接；以及测量部，与该第一连接部以及该第二连接部结合，且与该第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露出该存储器测试卡具。其中该存储器可例如是双重内嵌式内存模块(Dual In-Line Memory Modules；DIMM)，该外部装置是印刷电路板或主板。

该第一连接部是一形成有插槽的结构，该第一导电结构由多个金属导电片所构成，该第二导电结构则由多个金属导电片所构成。在本发明中该测量部是具有多个测量单元，且该测量单元是以成列方式布设置在该侧量部的本体上；同时该测量单元可以是金属引脚，该金属引脚还可设有编号。

与现有技术相比，本发明提供作为诸如转接头的存储器测试卡具，该存储器测试卡具设计第一连接部与第二连接部可分别电性连接到存储器的电性连接端以及电路板上的电性连接端插槽，并将二者进行电性连接，因此本发明可快速、准确地对存储器电性进行测量。而且，本发明可避免现有技术受限于焊接操作以及焊接技术的限制造成的干扰及测量误差等缺点，不对存储器进行操作，也无需精密的焊接技术，提供一种安全方便的存储器测试卡具，进而可省略现有技术多次开机、关机以及插、拔该存储器等动作，提高测量效率。

同时，本发明的测量部将存储器内部的线路导出，因此可直接借由例如示波器等仪器进行存储器电性的测量，而且引线极短，更可将外界对信号的干扰降到最低。此外，本发明的存储器测试卡具可插拔，因此可多次重复使用，降低了现有技术测量存储器电性的成本，相对节省成本并提供较佳的使用便利性。

附图说明

图1是本发明的存储器测试卡具及所应用存储器的分解示意图；

图2是图1的存储器测试卡具变化例的示意图；以及

图3是图2的测量部变化例的示意图。

具体实施方式

实施例

这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本架构，因此仅显示与本发明有关的构成，且所显示的构成并非以实际实施时的数目、形状、及尺寸比例绘制，其实际实施时的数目、形状及尺寸比例为一种选择性的设计，其构成布局形态可能更为复杂。

请参阅图1，它是显示本发明的存储器测试卡具及所应用的存储器的分解示意图。如图所示，本发明的存储器测试卡具1是应用在辅助例如示波器的测量仪器(未标出)进行存储器2的电性测量，该存储器测试卡具1包括：第一连接部11、第二连接部12以及测量部13。应注意的是，本实施例中该存储器2可以是例如双重内嵌式内存模块(DualIn-Line Memory Modules；DIMM)的存储器，并且具有由多个金属导电片构成的电性连接端21，但所属技术领域中具有通常知识者皆可了解，在其它实施例中，该存储器2也可以是其它类型的存储器，并非以此限制本发明的应用范围。同时，由于例如示波器的测量仪器以及存储器等的结构与作用原理均属现有技术，故在此不再多作说明。

该第一连接部11具有与待测存储器2的电性连接端21电性连接的第一导电结构111。在本实施例中，该第一连接部11是形成有一插槽的结构，且该插槽是可选择地与现有电路板上对应于存储器2的插槽(均未标出)的结构相同，该插槽的开口尺寸则是略大于该电性连接端21的厚度，以便该存储器2电性连接端21插入到例如插槽的第一连接部11，该存储器2与该存储器测试卡具1电性连接。该第一导电结构111是可由多条金属导电片构成，设在该第一连接部11的插槽内，在测量时与该存储器2的电性连接端21对应地电性连接，传导进出该存储器2的电性信号。

应注意的是，本实施例中是对可设在电路板上的存储器进行测量，但并非以此限制本发明的存储器测试卡具，且由于电路板的结构与作用原理均属现有技术，故在此不再为文赘述。

此外，现有存储器2在设有该电性连接端21的一侧设置具有防止存储器插反的凹部22，为配合该存储器2现有的凹部22，该第一连接部11还可选择设有对应该凹部22的分隔架112。该分隔架112是将该第一导电结构111分为两部分，避免存储器2插反，达到防呆的作用。

该第二连接部12是具有与该第一连接部11的第一导电结构111电性连接的第二导电结构121，用以插接到如电路板3的外部装置上所设的插槽30。在本实施例中，该第二导电结构121是可由对应于该第一导电结构111的多个金属导电片所构成，且该第二导电结构121可与电路板插槽内的线路(未标出)相对应，在测量时使本发明的存储器测试卡具1与电路板3电性连接。同时，该第二导电结构121与上述第一导电结构111的电性连接，可使电流信号经由该第二连接部12以及该第一连接部11在该存储器2与该电路板3之间传递。应注意的是，在其它实施方式中，该第一连接部11以及第二连接部12间的电性连接也可通过诸如导线连接或其它等效组件，而非以本实施例中所述的由该第一导电结构111以及第二导电结构121间的电性连接为限。

该测量部13是与该第一连接部11及第二连接部12结合，并与该第一连接部11的第一导电结构111以及该第二连接部12的第二导电结构121对应电性连接，与例如示波器的测量仪器的测量探头(未标出)电性连接，在存储器2插置在该存储器测试卡具1的第一连接部11上后，对该存储器2进行例如信号完整性(signal integrity；SI)的测量。在本实施例中，该测量部13包括多个金属引脚作为测试单元，该金属引脚的一端可分别与该第一导电结构111以及该第二导电结构121电性连接，另一端则外露在该存储器测试卡具1；换言之，该金属引脚(即该测量部13)是双面设置的，分别可对应该存储器2的电性连接端21的各金属导电片，供例如示波器的测量仪器进行电性测量，借此便可轻易地完成对该存储器2的信号完整性测量。

应了解的是，虽然本实施例中的测量部13是单列金属引脚的排列方式，但所属技术领域中具有通常知识者皆知，当本发明应用在存储器上分布较为密集的电性连接端(即金属导电片)时，也可设置多列金属引脚(如图2所示)，使各金属引脚的间距增大，在测量时可更方便地找出需要测量的线路，借此避免测量时例如示波器的测量仪器的测量探头不慎与其它金属引脚接触造成测量结果的错误。

同时，还可将该测量部13的金属引脚设有编号(如图3所示)，如此即可更快速地根据编号进行测量，而不必逐一查找。当然，图3所示的编号方式是例示性的说明，并非以此限制本发明，可加以修改及变化，且此为所属技术领域中具有通常知识者易于思及的，故不再针对其它修改及变化例进行说明。

另外，本发明可采用较硬的材质制成，便于例如示波器的测量仪器的测量探头的插拔，且所属技术领域中具有通常知识者均可视实际需要焊接附加的引脚，而非局限在本实施例中所述。

与现有技术相比，本发明是设计诸如转接头的存储器测试卡具，利用第一连接部连接待测存储器的电性连接端，第二连接部连接现有电路板上用于配合待测存储器金手指的插槽，再借由包括例如多个金属引脚的测量部与该第一连接部的第一导电结构以及该第二连接部内的第二导电结构进行电性连接，并且使该测量部局部外露出该存储器测试卡具，即可通过例如示波器的测量仪器直接测量该测量部对存储器进行测量，不需要如现有技术逐一找出待测信号线、对应的金属引脚与金手指以及适当的焊接点。本发明可快速、准确地对存储器进行电性测量。

同时，本发明的设计是对应该存储器的电性连接端设置该第一连接部，因此一次就可以测量所有存储器信号，不必重复插拔，不仅相对于现有技术节省大量时间，提高工作效率，并可避免现有技术中的存储器因多次重复插拔或重复开关机造成的损坏，提供安全方便的存储器测试卡具。而且，由于该测量部(即金属引脚)可以很短，相对可避免现有技术因焊接较长的金属引脚引起的测量误差。

此外，通过对该测量部的分排及编号等设计，可方便快捷地找到待测的金属引脚，进而也可节省时间。而且，本发明的存储器测试卡具可重复使用，大幅减少测量存储器的成本。另外，本发明无需对存储器或者电路板进行焊接，可省略焊接的操作及成本，也可避免存储器损坏以及避免进行繁琐的测试操作，更可确保存储器安全，大幅地提高工作效率、且使用上更为便利。

Claims (10)

1.一种存储器测试卡具，应用在具有电性连接端的存储器的电性测量，其特征在于，该存储器测试卡具包括：

第一连接部，具有与该电性连接端电性连接的第一导电结构，在该存储器与该第一连接部连接时，该存储器与该存储器测试卡具形成电性连接关系；

第二连接部，具有与外部装置电性连接的第二导电结构，借由该第二连接部，该存储器测试卡具与外部装置电性连接；以及

测量部，与该第一连接部以及该第二连接部结合，且与该第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露出该存储器测试卡具。

2.如权利要求1所述的存储器测试卡具，其特征在于，该第一连接部是一具有插槽的结构。

3.如权利要求1所述的存储器测试卡具，其特征在于，该第一导电结构是由多个金属导电片构成的。

4.如权利要求2所述的存储器测试卡具，其特征在于，该第一导电结构是设在该插槽内。

5.如权利要求1所述的存储器测试卡具，其特征在于，该第二导电结构是由多个金属导电片所构成。

6.如权利要求1所述的存储器测试卡具，其特征在于，该测量部具有多个测量单元。

7.如权利要求6所述的存储器测试卡具，其特征在于，该测量单元是成列设置的。

8.如权利要求6所述的存储器测试卡具，其特征在于，该测量单元包括金属引脚。

9.如权利要求8所述的存储器测试卡具，其特征在于，该金属引脚还设有编号。

10.如权利要求1所述的存储器测试卡具，其特征在于，该存储器是双重内嵌式内存模块。

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