RU97116395A - Тестирование jtag трактов передачи дискретных данных при использовании сменных печатных плат с установленными на них логическими схемами jtag - Google Patents
Тестирование jtag трактов передачи дискретных данных при использовании сменных печатных плат с установленными на них логическими схемами jtagInfo
- Publication number
- RU97116395A RU97116395A RU97116395/09A RU97116395A RU97116395A RU 97116395 A RU97116395 A RU 97116395A RU 97116395/09 A RU97116395/09 A RU 97116395/09A RU 97116395 A RU97116395 A RU 97116395A RU 97116395 A RU97116395 A RU 97116395A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- test
- jtag
- discrete data
- backplane
- connections
- Prior art date
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims 21
- 230000002093 peripheral Effects 0.000 claims 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims 2
Claims (14)
1. Система для тестирования соединений от точки к точке на печатной плате при использовании JTAG, содержащая указанную печатную плату, включающую в себя схемотехнику, которая должна быть протестирована при использовании JTAG; тракт передачи дискретных данных на указанной печатной плате, причем указанный тракт передачи дискретных данных содержит соединительные штырьковые выводы; одно или более сменных периферийных или расширительных гнезд, которые электрически соединены с указанными штырьковыми выводами тракта передачи дискретных данных; сменную тестовую плату JTAG, которая входит в контакт с одним из указанных сменных гнезд для установления с ним электрического соединения, причем указанная тестовая плата содержит тестовую схемотехнику JTAG для возбуждения тестовых сигналов на указанных штырьковых выводах тракта передачи дискретных данных через указанное сменное гнездо, находящееся в контакте с указанной тестовой платой; и тестовую схему JTAG, имеющую связь с указанным трактом передачи дискретных данных на указанной печатной плате, в которой указанный выход тестовых сигналов посредством указанной тестовой платы принимается указанной тестовой схемой JTAG для тестирования целостности соединений от точки к точке на указанной печатной плате.
2. Система по п. 1, в которой указанная тестовая схема JTAG содержит вторую тестовую плату JTAG, находящуюся в контакте со вторым сменным гнездом.
3. Система по п. 1, в которой указанная тестовая схема JTAG содержит кристалл интегральной схемы, имеющий тестовую способность JTAG на указанной печатной плате.
4. Способ тестирования соединений тракта передачи дискретных данных на объединительной плате, которые сопряжены со сменным гнездом, предусматривающий обеспечение сменной тестовой платы, имеющей тестовые компоненты JTAG, включающие в себя регистр сканирования поверхности раздела, причем указанная тестовая плата предназначена для установки в указанном сменном гнезде; установку указанной тестовой платы в указанном сменном гнезде; смещение тестового вектора, содержащего биты данных, в указанный регистр сканирования поверхности раздела; вывод указанных битов данных тестового вектора из указанного регистра сканирования поверхности раздела к указанным соединениям тракта передачи дискретных данных через указанное сменное гнездо; прием указанных выходных битов данных тестового вектора через указанные соединения тракта передачи дискретных данных; и сравнение указанных принятых выходных битов данных тестового вектора с предварительно заданной конфигурацией выхода для идентификации нарушения нормальной работы в указанных соединениях тракта передачи дискретных данных.
5. Способ по п. 4, в котором указанные обеспечение, установка, смещение, вывод, прием и сравнение повторяются для каждого соединения тракта передачи дискретных данных на указанной объединительной плате, которая сопрягается со сменным гнездом.
6. Система, которая тестирует соединения тракта (передачи дискретных данных), которые сопряжены со сменными гнездами на объединительной плате, содержащая указанную объединительную плату; указанный тракт передачи дискретных данных, имеющий указанные соединения, которые сопряжены с указанными сменными гнездами на указанной объединительной плате; и сменную тестовую плату, дополнительно содержащую регистр сканирования поверхности раздела; часть соединителя, имеющую связь с указанным регистром сканирования поверхности раздела, причем указанная часть соединителя предназначена для вхождения в контакт с указанным сменным гнездом для установления связи между указанными соединениями тракта передачи дискретных данных и указанным регистром сканирования поверхности раздела; и управляющую схемотехнику сканирования поверхности раздела, содержащую контроллер программы анализа транзисторных схем; и регистр команд.
7. Система для тестирования множества соединений тракта (передачи дискретных данных), которые сопряжены по меньшей мере с двумя сменными гнездами на объединительной плате, в которой указанное множество соединений тракта передачи дискретных данных электрически связано с интерфейсом объединительной платы без тестовой схемотехники JTAG на указанной объединительной плате, содержащая указанную объединительную плату; указанный тракт передачи дискретных данных, имеющий указанные соединения, которые сопряжены по меньшей мере с двумя сменными гнездами на указанной объединительной плате; и по меньшей мере две сменные тестовые платы, которые входят в контакт по меньшей мере с двумя указанными сменными гнездами для установления электрической связи между тестовой схемотехникой JTAG на указанных сменных тестовых платах и указанными соединениями тракта передачи дискретных данных.
8. Система по п. 7, в которой указанная тестовая схемотехника JTAG на указанных сменных тестовых платах содержит регистр сканирования поверхности раздела, контроллер программы анализа транзисторных схем и регистр команд.
9. Система для тестирования множества соединений тракта (передачи дискретных данных), которые сопряжены по меньшей мере с одним сменным гнездом на объединительной плате, в которой указанная объединительная плата имеет смонтированную на ней тестовую схемотехнику JTAG и в которой указанное множество соединений тракта передачи дискретных данных не имеет электрической связи с указанной тестовой схемотехникой JTAG на указанной объединительной плате, содержащая указанную объединительную плату; указанный тракт передачи дискретных данных, имеющий указанные соединения, которые сопряжены по меньшей мере с одним сменным гнездом на указанной объединительной плате; и по меньшей мере одну сменную тестовую плату, которая входит в контакт по меньшей мере с одним сменным гнездом для установления электрической связи между тестовой схемотехникой JTAG на указанных сменных тестовых платах и указанными соединениями тракта передачи дискретных данных, причем указанная сменная плата имеет дополнительные контакты, которые образуют межсоединения с указанной тестовой схемотехникой JTAG на указанной объединительной плате.
10. Система по п. 9, в которой указанная тестовая схемотехника JTAG на указанной сменной тестовой плате содержит регистр сканирования поверхности раздела, контроллер программы анализа транзисторных схем и регистр команд.
11. Система по п. 9, в которой указанные дополнительные контакты предусмотрены на краю указанной сменной тестовой платы, расположенной отдельно от указанных соединений тракта передачи дискретных данных, и в которой указанная схемотехника JTAG на указанной объединительной плате соединена с указанными дополнительными контактами через тестовый кабель JTAG, соединенный между указанными дополнительными контактами и указанной объединительной платой.
12. Сменная тестовая плата JTAG, предназначенная для применения при тестировании соединений тракта (передачи дискретных данных) на обьединительной плате, которые сопрягаются со сменными периферийными или расширительными гнездами, содержащая часть соединителя, которая входит в контакт с указанными сменными периферийными или расширительными гнездами; буферную схемотехнику, включающую в себя регистр сканирования поверхности раздела; контроллер программы анализа транзисторных схем; и регистр команд; входной тракт передачи дискретных данных, который обеспечивает входной канал, посредством которого сигналы из указанного соединителя обеспечиваются как входы в указанный регистр сканирования поверхности раздела; выходной тракт передачи дискретных данных, посредством которого выходные сигналы из указанного регистра сканирования поверхности раздела подаются к указанному соединителю, и в котором указанная буферная схемотехника применена только как тестовое устройство JTAG, а не как буфер.
13. Сменная тестовая плата JTAG по п. 12, в которой указанная буферная схемотехника содержит октальный буфер 74АСТ8245.
14. Сменная тестовая плата JTAG, предназначенная для применения при тестировании соединений тракта (передачи дискретных данных) на объединительвой плате, которые сопрягаются со сменным гнездом тракта передачи дискретных данных, содержащая первую часть соединителя, которая входит в контакт с указанным сменным гвездом тракта передачи дискретных данных; вторую часть соединителя, которая обеспечивает интерфейс к входвым и выходным шинам давных JTAG и управляющим шинам JTAG; и интегральвую схему, имеющую множество приемопередатчиков тракта передачи дискретных данных, имеющее электрическую связь с указанной первой частью соединителя для передачи данных и для приема данных из указанного гнезда тракта передачи дискретных данных, причем указанная интегральная схема дополнительно содержит интерфейс JTAG, который принимает последовательные данные и управляющие сигналы из указанной второй части соединителя и который передает данные между указанными шинами данных JTAG и указанными приемопередатчиками тракта передачи дискретных данных, разрешая в соответствии с этим указанной интегральной схеме работать в качестве тестовой схемы JTAG, которая тестирует указанное гнездо тракта передачи дискретных данных, при этом указанная интегральная схема не работает в соответствии с первостепенной функцией указанной интегральной схемы, а как тестовый прибор JTAG.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/569,751 | 1995-12-08 | ||
US08/569,751 US5852617A (en) | 1995-12-08 | 1995-12-08 | Jtag testing of buses using plug-in cards with Jtag logic mounted thereon |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU97116395A true RU97116395A (ru) | 1999-07-10 |
RU2182711C2 RU2182711C2 (ru) | 2002-05-20 |
Family
ID=24276706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU97116395/09A RU2182711C2 (ru) | 1995-12-08 | 1996-11-13 | Тестирование jtag трактов передачи дискретных данных при использовании сменных печатных плат с установленными на них логическими схемами jtag |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5852617A (ru) |
EP (1) | EP0808461B1 (ru) |
JP (1) | JP3699127B2 (ru) |
KR (1) | KR100232116B1 (ru) |
CN (1) | CN1089440C (ru) |
AU (1) | AU7731596A (ru) |
DE (1) | DE69628143T2 (ru) |
IL (1) | IL121362A (ru) |
RU (1) | RU2182711C2 (ru) |
TW (1) | TW311176B (ru) |
WO (1) | WO1997022013A1 (ru) |
Families Citing this family (114)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100512162B1 (ko) * | 1998-03-31 | 2005-11-11 | 삼성전자주식회사 | 마이크로프로세서의에뮬레이션모드를위한바운더리스캔스탠다드인터페이스회로 |
US6357023B1 (en) * | 1998-04-08 | 2002-03-12 | Kingston Technology Co. | Connector assembly for testing memory modules from the solder-side of a PC motherboard with forced hot air |
US6415397B1 (en) | 1998-04-08 | 2002-07-02 | Kingston Technology Company | Automated multi-PC-motherboard memory-module test system with robotic handler and in-transit visual inspection |
US6351827B1 (en) * | 1998-04-08 | 2002-02-26 | Kingston Technology Co. | Voltage and clock margin testing of memory-modules using an adapter board mounted to a PC motherboard |
US6178526B1 (en) * | 1998-04-08 | 2001-01-23 | Kingston Technology Company | Testing memory modules with a PC motherboard attached to a memory-module handler by a solder-side adaptor board |
US6289480B1 (en) * | 1998-04-24 | 2001-09-11 | National Semiconductor Corporation | Circuitry for handling high impedance busses in a scan implementation |
JPH11328972A (ja) * | 1998-05-18 | 1999-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置、その設計方法およびその検査方法 |
US6347387B1 (en) * | 1998-10-09 | 2002-02-12 | Agere Systems Guardian Corp. | Test circuits for testing inter-device FPGA links including a shift register configured from FPGA elements to form a shift block through said inter-device FPGA links |
US6324663B1 (en) * | 1998-10-22 | 2001-11-27 | Vlsi Technology, Inc. | System and method to test internal PCI agents |
US6901457B1 (en) * | 1998-11-04 | 2005-05-31 | Sandisk Corporation | Multiple mode communications system |
US6279114B1 (en) * | 1998-11-04 | 2001-08-21 | Sandisk Corporation | Voltage negotiation in a single host multiple cards system |
US6246971B1 (en) * | 1999-01-05 | 2001-06-12 | Lucent Technologies Inc. | Testing asynchronous circuits |
US6266793B1 (en) | 1999-02-26 | 2001-07-24 | Intel Corporation | JTAG boundary scan cell with enhanced testability feature |
FI19991735A (fi) * | 1999-08-16 | 2001-02-17 | Nokia Networks Oy | Menetelmä ja laite tietokonejärjestelmän toimintavarmuuden parantamiseksi |
US6598193B1 (en) | 2000-01-24 | 2003-07-22 | Dell Products L.P. | System and method for testing component IC chips |
US6772261B1 (en) | 2000-04-27 | 2004-08-03 | International Business Machines Corporation | Interface that allows testing and using memory modules in computer systems not designed for the modules |
US6634005B1 (en) * | 2000-05-01 | 2003-10-14 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method for testing an interface between two digital integrated circuits |
US6731128B2 (en) * | 2000-07-13 | 2004-05-04 | International Business Machines Corporation | TFI probe I/O wrap test method |
US6742144B2 (en) | 2000-09-13 | 2004-05-25 | Kingston Technology Co. | Local heating of memory modules tested on a multi-motherboard tester |
FI110724B (fi) | 2000-09-14 | 2003-03-14 | Patria New Technologies Oy | JTAG-testausjärjestely |
US6865693B1 (en) * | 2000-10-19 | 2005-03-08 | Dell Products, L.P. | System and method for debugging multiprocessor systems |
US6667873B2 (en) * | 2001-03-27 | 2003-12-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Adaptive manifold |
AU2002334333A1 (en) * | 2001-10-17 | 2003-04-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | On the fly configuration of electronic device with attachable sub-modules |
CN100416284C (zh) * | 2002-08-16 | 2008-09-03 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种电缆测试装置及方法 |
US7069477B2 (en) * | 2002-10-30 | 2006-06-27 | International Business Machines Corporation | Methods and arrangements to enhance a bus |
AU2003290620A1 (en) * | 2002-11-14 | 2004-06-03 | Logicvision, Inc. | Boundary scan with strobed pad driver enable |
CN1308830C (zh) * | 2002-12-27 | 2007-04-04 | 联想(北京)有限公司 | 计算机控制的易扩展的智能主板环境测试系统 |
EP1473633B1 (en) * | 2003-05-02 | 2013-02-20 | Infineon Technologies AG | Programmable unit with debug resources |
US6933628B2 (en) * | 2003-07-24 | 2005-08-23 | Agilent Technologies, Inc. | High speed channel selector switch |
CN100427964C (zh) * | 2003-08-04 | 2008-10-22 | 华为技术有限公司 | 一种电路板的边界扫描测试方法 |
KR100564033B1 (ko) * | 2003-12-05 | 2006-03-23 | 삼성전자주식회사 | 단일 버퍼 선택 입력 단자를 가지는 반도체 메모리 및반도체 메모리 테스트 방법 |
US7219258B2 (en) * | 2003-12-10 | 2007-05-15 | International Business Machines Corporation | Method, system, and product for utilizing a power subsystem to diagnose and recover from errors |
CN100349130C (zh) * | 2004-02-25 | 2007-11-14 | 华为技术有限公司 | 一种并行加载数据回读校验方法 |
US7321997B2 (en) * | 2004-03-30 | 2008-01-22 | Intel Corporation | Memory channel self test |
US7362089B2 (en) * | 2004-05-21 | 2008-04-22 | Advantest Corporation | Carrier module for adapting non-standard instrument cards to test systems |
US7296129B2 (en) * | 2004-07-30 | 2007-11-13 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for providing a serialized memory interface with a bus repeater |
US7389375B2 (en) | 2004-07-30 | 2008-06-17 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for a multi-mode memory buffer device |
US7539800B2 (en) | 2004-07-30 | 2009-05-26 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for providing segment level sparing |
CN100365423C (zh) * | 2004-10-20 | 2008-01-30 | 华为技术有限公司 | 一种jtag链自动连接系统及其实现方法 |
US7512762B2 (en) | 2004-10-29 | 2009-03-31 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for a memory subsystem with positional read data latency |
US7299313B2 (en) | 2004-10-29 | 2007-11-20 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for a memory subsystem command interface |
US7305574B2 (en) | 2004-10-29 | 2007-12-04 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for bus calibration in a memory subsystem |
US7331010B2 (en) | 2004-10-29 | 2008-02-12 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for providing fault detection and correction in a memory subsystem |
US7277988B2 (en) | 2004-10-29 | 2007-10-02 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for providing data caching and data compression in a memory subsystem |
US7395476B2 (en) * | 2004-10-29 | 2008-07-01 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for providing a high speed test interface to a memory subsystem |
US7356737B2 (en) * | 2004-10-29 | 2008-04-08 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for testing a memory module |
US7441060B2 (en) | 2004-10-29 | 2008-10-21 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for providing a service interface to a memory system |
CN100346331C (zh) * | 2004-11-30 | 2007-10-31 | 英业达股份有限公司 | 多芯片插座型电路板的芯片跨接装置 |
US20060156098A1 (en) * | 2004-11-30 | 2006-07-13 | Bawany Mahuammad A | Method and apparatus for testing an electronic device |
US7386772B1 (en) * | 2004-12-20 | 2008-06-10 | Emc Corporation | Test module for testing of electronic systems |
US7406642B1 (en) * | 2005-10-03 | 2008-07-29 | Altera Corporation | Techniques for capturing signals at output pins in a programmable logic integrated circuit |
US20070094554A1 (en) * | 2005-10-20 | 2007-04-26 | Martin Versen | Chip specific test mode execution on a memory module |
US7478259B2 (en) * | 2005-10-31 | 2009-01-13 | International Business Machines Corporation | System, method and storage medium for deriving clocks in a memory system |
US7685392B2 (en) | 2005-11-28 | 2010-03-23 | International Business Machines Corporation | Providing indeterminate read data latency in a memory system |
US7511525B2 (en) * | 2006-01-26 | 2009-03-31 | Honeywell International Inc. | Boundary-scan system architecture for remote environmental testing |
CN100442242C (zh) * | 2006-02-28 | 2008-12-10 | 环达电脑(上海)有限公司 | 用于测试主板插槽的设备、系统及方法 |
US7636813B2 (en) * | 2006-05-22 | 2009-12-22 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing remote pre-fetch buffers |
US7640386B2 (en) | 2006-05-24 | 2009-12-29 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing memory modules with multiple hub devices |
US7594055B2 (en) | 2006-05-24 | 2009-09-22 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing distributed technology independent memory controllers |
US7584336B2 (en) | 2006-06-08 | 2009-09-01 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing data modification operations in memory subsystems |
US7493439B2 (en) | 2006-08-01 | 2009-02-17 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing performance monitoring in a memory system |
US7669086B2 (en) | 2006-08-02 | 2010-02-23 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing collision detection in a memory system |
US7581073B2 (en) * | 2006-08-09 | 2009-08-25 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing distributed autonomous power management in a memory system |
US7587559B2 (en) | 2006-08-10 | 2009-09-08 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for memory module power management |
US7490217B2 (en) | 2006-08-15 | 2009-02-10 | International Business Machines Corporation | Design structure for selecting memory busses according to physical memory organization information stored in virtual address translation tables |
US7539842B2 (en) | 2006-08-15 | 2009-05-26 | International Business Machines Corporation | Computer memory system for selecting memory buses according to physical memory organization information stored in virtual address translation tables |
US7477522B2 (en) | 2006-10-23 | 2009-01-13 | International Business Machines Corporation | High density high reliability memory module with a fault tolerant address and command bus |
US7870459B2 (en) * | 2006-10-23 | 2011-01-11 | International Business Machines Corporation | High density high reliability memory module with power gating and a fault tolerant address and command bus |
US7721140B2 (en) | 2007-01-02 | 2010-05-18 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for improving serviceability of a memory system |
US7603526B2 (en) | 2007-01-29 | 2009-10-13 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing dynamic memory pre-fetch |
US7606988B2 (en) | 2007-01-29 | 2009-10-20 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for providing a dynamic memory bank page policy |
US7970971B2 (en) * | 2007-01-30 | 2011-06-28 | Finisar Corporation | Tapping systems and methods |
DE102007007776B3 (de) | 2007-02-12 | 2008-09-04 | Göpel electronic GmbH | Testsystem und Verfahren zum Prüfen einer Baugruppe |
CN101193326B (zh) * | 2007-04-24 | 2010-12-08 | 中兴通讯股份有限公司 | 用于多jtag链的自动测试装置及方法 |
US8078898B2 (en) * | 2007-06-07 | 2011-12-13 | Texas Instruments Incorporated | Synchronizing TAP controllers with sequence on TMS lead |
US7725783B2 (en) * | 2007-07-20 | 2010-05-25 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for repeatable drive strength assessments of high speed memory DIMMs |
JP2009296119A (ja) * | 2008-06-03 | 2009-12-17 | Toshiba Corp | 双方向バッファ回路及び信号レベル変換回路 |
US8395393B2 (en) * | 2010-02-02 | 2013-03-12 | Raytheon Company | Cable test method |
CN101840368B (zh) * | 2010-03-26 | 2013-01-16 | 中国科学院计算技术研究所 | 多核处理器的jtag实时片上调试方法及其系统 |
CN103000229A (zh) * | 2011-09-09 | 2013-03-27 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 测试卡 |
EP2880535A4 (en) * | 2012-07-30 | 2016-05-25 | Hewlett Packard Development Co | DETECTION OF ERRORS IN A PROCESSOR BASE |
CN104237723A (zh) * | 2014-08-28 | 2014-12-24 | 上海微小卫星工程中心 | 一种基于边界扫描的低频电缆网测试系统及测试方法 |
CN104899123B (zh) * | 2015-04-24 | 2017-06-06 | 英业达科技有限公司 | 一种主板上dimm插槽的地址设置信号的连接测试装置与方法 |
CN105067991A (zh) * | 2015-08-10 | 2015-11-18 | 宁波华远电子科技有限公司 | 一种电路板的检测装置及其检测方法 |
TWI561838B (en) * | 2015-09-08 | 2016-12-11 | Inventec Corp | Testing device of address configuration signal of dimm slot and testing method thereof |
US10010007B2 (en) | 2015-12-09 | 2018-06-26 | Mellanox Technologies, Ltd. | Multi-slot plug-in card |
CN106918750A (zh) * | 2015-12-24 | 2017-07-04 | 英业达科技有限公司 | 适用于内存插槽的测试电路板 |
CN106918724A (zh) * | 2015-12-24 | 2017-07-04 | 英业达科技有限公司 | 适用于快捷外设互联标准插槽的测试电路板 |
CN106918771A (zh) * | 2015-12-24 | 2017-07-04 | 英业达科技有限公司 | 适用于通用串行总线连接器的测试电路板 |
CN106918726A (zh) * | 2015-12-24 | 2017-07-04 | 英业达科技有限公司 | 适用于串行ata连接器的测试电路板 |
CN106918725A (zh) * | 2015-12-25 | 2017-07-04 | 英业达科技有限公司 | 具联合测试工作群组信号串接电路设计的测试电路板 |
TWI563274B (en) * | 2015-12-28 | 2016-12-21 | Inventec Corp | Test circuit board for sata connector testing |
TWI563272B (en) * | 2015-12-28 | 2016-12-21 | Inventec Corp | Test circuit board design with jtag signal series circuit |
TWI564580B (zh) * | 2015-12-28 | 2017-01-01 | 英業達股份有限公司 | 適用於通用序列匯流排連接器的測試電路板 |
TWI550295B (zh) * | 2015-12-28 | 2016-09-21 | 英業達股份有限公司 | 適用於快捷外設互聯標準插槽的測試電路板 |
TWI550294B (zh) * | 2015-12-28 | 2016-09-21 | 英業達股份有限公司 | 適用於記憶體插槽的測試電路板 |
US9772376B1 (en) * | 2016-04-29 | 2017-09-26 | Texas Instruments Incorporated | Increase data transfer throughput by enabling dynamic JTAG test mode entry and sharing of all JTAG pins |
CN108226740B (zh) * | 2016-12-09 | 2020-06-02 | 英业达科技有限公司 | 提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板 |
CN110268277B (zh) | 2017-02-10 | 2022-05-27 | 总和校验有限公司 | 用于印刷电路板的功能性测试器,以及相关的系统和方法 |
CN109901045A (zh) * | 2017-12-08 | 2019-06-18 | 英业达科技有限公司 | 电路板的连接器插槽引脚导通检测系统及其方法 |
TWI736721B (zh) * | 2017-12-13 | 2021-08-21 | 英業達股份有限公司 | 連接器的腳位連接測試系統及其方法 |
CN111370054B (zh) * | 2018-12-26 | 2024-07-05 | 华为技术有限公司 | 一种存储卡的测试系统 |
RU2703493C1 (ru) * | 2018-12-28 | 2019-10-17 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва" | Способ локализации дефектов короткого замыкания выводов микросхем JTAG интерфейсом и устройство для его осуществления |
RU189608U1 (ru) * | 2019-04-09 | 2019-05-29 | Акционерное общество "МЦСТ" | Адаптер тестирования канала оперативной памяти третьего поколения |
CN110297282B (zh) * | 2019-08-06 | 2021-11-12 | 深圳面元智能科技有限公司 | 地震勘探设备测试仪 |
CN112462246A (zh) * | 2019-09-09 | 2021-03-09 | 英业达科技有限公司 | 边界扫描测试系统及其方法 |
RU194790U1 (ru) * | 2019-10-17 | 2019-12-23 | Акционерное общество "МЦСТ" | Адаптер тестирования канала оперативной памяти четвертого поколения |
CN110824386A (zh) * | 2019-10-21 | 2020-02-21 | 中车太原机车车辆有限公司 | 一种用于电力机车电子插件箱的绕接线测试装置 |
JP7204697B2 (ja) * | 2020-03-10 | 2023-01-16 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
CN111487479B (zh) * | 2020-04-28 | 2022-06-03 | 中科龙人高新技术有限公司 | 一种工业机器人驱动板检测卡 |
CN117686892A (zh) * | 2022-09-05 | 2024-03-12 | 英业达科技有限公司 | 以待测接脚的测试点进行边界扫描测试的系统及方法 |
TWI828439B (zh) * | 2022-11-24 | 2024-01-01 | 英業達股份有限公司 | 無jtag串接測試電路板的dimm插槽測試系統及其方法 |
TWI822502B (zh) * | 2022-12-01 | 2023-11-11 | 英業達股份有限公司 | Jtag集線器的jtag連接介面致能與禁能控制系統及其方法 |
US11927632B1 (en) * | 2022-12-09 | 2024-03-12 | Inventec (Pudong) Technology Corporation | DIMM slot test system without series connection of test board through JTAG and method thereof |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5198759A (en) * | 1990-11-27 | 1993-03-30 | Alcatel N.V. | Test apparatus and method for testing digital system |
JP3372052B2 (ja) * | 1991-06-06 | 2003-01-27 | テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド | 境界走査集積回路 |
US5428800A (en) * | 1991-10-30 | 1995-06-27 | I-Cube, Inc. | Input/output (I/O) bidirectional buffer for interfacing I/O ports of a field programmable interconnection device with array ports of a cross-point switch |
TW253097B (ru) * | 1992-03-02 | 1995-08-01 | At & T Corp | |
US5285152A (en) * | 1992-03-23 | 1994-02-08 | Ministar Peripherals International Limited | Apparatus and methods for testing circuit board interconnect integrity |
DE69333479T2 (de) * | 1992-06-17 | 2005-03-24 | Texas Instruments Inc., Dallas | Hierarchisches Verbindungsverfahren und -gerät |
US5544309A (en) * | 1993-04-22 | 1996-08-06 | International Business Machines Corporation | Data processing system with modified planar for boundary scan diagnostics |
US5526365A (en) * | 1993-07-30 | 1996-06-11 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for streamlined testing of electrical circuits |
US5497378A (en) * | 1993-11-02 | 1996-03-05 | International Business Machines Corporation | System and method for testing a circuit network having elements testable by different boundary scan standards |
-
1995
- 1995-12-08 US US08/569,751 patent/US5852617A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-11-13 IL IL12136296A patent/IL121362A/xx not_active IP Right Cessation
- 1996-11-13 KR KR1019970705449A patent/KR100232116B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-11-13 EP EP96940430A patent/EP0808461B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-13 RU RU97116395/09A patent/RU2182711C2/ru not_active IP Right Cessation
- 1996-11-13 CN CN96192903A patent/CN1089440C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-11-13 JP JP52203697A patent/JP3699127B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-11-13 DE DE69628143T patent/DE69628143T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-13 AU AU77315/96A patent/AU7731596A/en not_active Abandoned
- 1996-11-13 WO PCT/US1996/018228 patent/WO1997022013A1/en active IP Right Grant
- 1996-12-07 TW TW085115180A patent/TW311176B/zh not_active IP Right Cessation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU97116395A (ru) | Тестирование jtag трактов передачи дискретных данных при использовании сменных печатных плат с установленными на них логическими схемами jtag | |
RU2182711C2 (ru) | Тестирование jtag трактов передачи дискретных данных при использовании сменных печатных плат с установленными на них логическими схемами jtag | |
KR100316000B1 (ko) | 통신장치 | |
US20080315902A1 (en) | Test device, test card, and test system | |
US5994894A (en) | Testboard for IC tester | |
CN116660719A (zh) | 一种基于flex测试系统的通用ate接口子母板测试方法 | |
TW356524B (en) | A test board which can test IC devices operating in either merged data output mode or standard mode | |
DE69102917D1 (de) | Testgerät für integrierte Schaltkreise. | |
JPH10227830A (ja) | Icテスタ用テストボード | |
JP5248898B2 (ja) | 試験装置及び診断用パフォーマンスボード | |
US7200510B2 (en) | Measurement control apparatus including interface circuits | |
CN1330135C (zh) | 一种测试装置 | |
GB2405945A (en) | Printed circuit board test apparatus | |
KR100503692B1 (ko) | 고정논리값을출력하는수단의출력과회로의입력사이의접속테스팅장치 | |
CN219302579U (zh) | 一种测试装置及测试系统 | |
CN218123919U (zh) | 转接组件 | |
US6605952B2 (en) | Zero connection for on-chip testing | |
CN210724804U (zh) | 一种数据监控装置及系统 | |
KR100266777B1 (ko) | 튜너 측정용 지그 | |
KR950022417A (ko) | 원격 라인 테스트 기능을 가진 케이블 관리 시스템 | |
KR100365779B1 (ko) | 디지탈교환시스템의기능시험장치및그방법 | |
CN113820992A (zh) | 数字输入和输出信号测试平台 | |
CN117074907A (zh) | 模块化嵌入式自动测试系统 | |
US20050146344A1 (en) | Circuit tester interface | |
KR100266775B1 (ko) | 튜너 측정용 지그 |