CN116660719A - 一种基于flex测试系统的通用ate接口子母板测试方法 - Google Patents

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许伟达
潘潇雨
武博
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Abstract

本发明实施例提供了一种基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，所述接口子母板包括母板与子板，其中，所述母板基于ATE机台设计，下方采用弹簧针模块或连接器模式与ATE机台资源相连接，上方采用弹簧针模块或连接器方式与子板相连接，所述子板再与芯片连接；物理连接结构标准化设计，不同测试机台设计有不同的母板，所述母板将不同测试机台间相同性质的测试资源标准化集成在与子板的接口上，相同的资源相同的位置，在第一机台上使用资源的子板，则在第二机台上也在相同的接口位置连接到相同的资源，实现了接口子板在不同测试机台以及母板间的复用。

Description

一种基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法
技术领域
本发明属于芯片测试技术领域，涉及一种基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法。
背景技术
在以FLEX测试系统为代表的ATE(Automatic Test Equipment，自动化测试设备)机台测试系统中，需要设计接口电路板连接ATE机台和被测芯片，构成测试的硬件基础。针对单一芯片进行电路接口板进行设计，需要花费较大的成本和时间进行测试资源的分配和硬件电路的设计制作，且不同的ATE机台测试接口不一致，芯片在多个ATE机台间需要不同的电路接口板，重复设计也需要花费额外的成本。
介于传统ATE接口板开发方式的高成本和长周期，特设计一种通用ATE接口子母板测试方法，分两级连接ATE机台和被测芯片：其中母板偏ATE机台端，标准化整合各类测试资源接口；子板偏被测芯片端，提供芯片封装夹具以及连接测试所需的资源接口。在该测试方法的开发模式下，不同芯片的测试方案，只需要最小化开发芯片端接口板，可以大幅减少测试开发中接口板开发的周期和成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，所述接口子母板包括母板与子板，其中，所述母板基于ATE机台设计，下方采用弹簧针模块或连接器模式与ATE机台资源相连接，上方采用弹簧针模块或连接器方式与子板相连接，所述子板再与芯片连接；物理连接结构标准化设计，不同测试机台设计有不同的母板，所述母板将不同测试机台间相同性质的测试资源标准化集成在与子板的接口上，相同的资源相同的位置，则在第一机台上使用资源的子板，在第二机台上也在相同的接口位置连接到相同的资源，实现了接口子板在不同测试机台下的复用，便于子板在不同母板间复用。
优选地，所述接口子母板通过线路将上下方的接口连接，并将各类测试信号走线进行分类，所述测试信号分成模拟信号、数字信号、模拟电源、数字电源、模拟地、数字地、辅助母板电源USER POWER、辅助母板继电器控制信号，防止不同信号之间相互干扰。
优选地，母板按照不同芯片测试子板的设计要求，分类整合不同类型的测试资源；电源类器件测试资源电源，辅助母板上控制继电器用的控制信号，ADC/DAC测试模拟信号、数字信号、模拟电源、数字电源、辅助母板上电源、继电器用的控制信号、模拟地、数字地。
优选地，子板按照不同芯片的测试电路的资源需求差异化设计，包括芯片夹具、外围电路、与母板的物理接口，根据测试需要使用或部分使用母板提供的测试资源接口。
本发明具有如下特点：
不同测试机台设计有不同的母板，这些母板将不同测试机台间相同性质的测试资源标准化集成在与子板的接口上，相同的资源相同的位置，这样在机台A上使用这些资源的子板，在机台B上也可以在相同的接口位置连接到相同的资源，实现了接口子板在不同测试机台下的复用。
子板根据测试需要连接测试资源，电路设计与分配基于子母板间的标准化资源布局，可以最小化使用子母板接口，避免了一级接口板结构中的大面积电路板设计和全接口设计。将可重复设计整合到了母板，将差异化设计整合到了子板，最大程度的减少了成本和周期。
附图说明
图1(a)、图1(b)分别为常规测试方式以及子母版测试方式。
图2为本发明的不同机台间复用子板的结构原理示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明所述一种基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，所述接口子母板包括母板与子板，其中，所述母板基于ATE机台设计，下方采用弹簧针模块或连接器模式与ATE机台资源相连接，上方采用弹簧针模块或连接器方式与子板相连接，所述子板再与芯片连接；物理连接结构标准化设计，不同测试机台设计有不同的母板，所述母板将不同测试机台间相同性质的测试资源标准化集成在与子板的接口上，相同的资源相同的位置，则在第一机台上使用资源的子板，在第二机台上也在相同的接口位置连接到相同的资源，实现了接口子板在不同测试机台下的复用，便于子板在不同母板间复用。
根据本发明的一个实施例，所述接口子母板通过线路将上下方的接口连接，并将各类测试信号走线进行分类，所述测试信号分成模拟信号、数字信号、模拟电源、数字电源、模拟地、数字地、辅助母板电源USER POWER、辅助母板继电器控制信号，防止不同信号之间相互干扰。
根据本发明的一个实施例，母板按照不同芯片测试子板的设计要求，分类整合不同类型的测试资源；电源类器件测试资源电源，辅助母板上控制继电器用的控制信号，ADC/DAC测试模拟信号、数字信号、模拟电源、数字电源、辅助母板上电源、继电器用的控制信号、模拟地、数字地。
根据本发明的一个实施例，子板按照不同芯片的测试电路的资源需求差异化设计，包括芯片夹具、外围电路、与母板的物理接口，根据测试需要使用或部分使用母板提供的测试资源接口。
以下结合附图和实施例对本发明做进一步阐述。
图1(a)中，常规测试连接方式由单一接口板实现，针对使用到不同测试资源的芯片，需要设计开发不同类型的接口板连接芯片与ATE机台。图1(b)中子母板测试连接方式则通过接口母板将机台的测试资源如模拟信号、数字信号、模拟电源、数字电源、辅助母板上电源、继电器用的控制信号、模拟地、数字地等分类集成为若干组接口，芯片根据所需测试资源灵活使用部分接口，在此基础上以较小的设计成本完成子板设计，实现开发成本和开发周期的缩减。
图2说明了不同机台间子板的复用情景：对于在机台I和机台II上都能实现测试的芯片，其使用到的资源A、B、C、D在母板I和母板II上以相同位置、相同接口标准化设置，那么基于此基础设计的芯片复用子板，在母板I和母板II上均能以相同的连接方式连接到相同的测试资源，以此实现同一块子板在不同母板间复用，避免芯片子板的重复开发。
显然，本领域的技术人员可以对发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包括这些改动和变型在内。

Claims (4)

1.一种基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，所述接口子母板包括母板与子板，其中，所述母板基于ATE机台设计，下方采用弹簧针模块或连接器模式与ATE机台资源相连接，上方采用弹簧针模块或连接器方式与子板相连接，所述子板再与芯片连接；物理连接结构标准化设计，不同测试机台设计有不同的母板，所述母板将不同测试机台间相同性质的测试资源标准化集成在与子板的接口上，相同的资源相同的位置，则在第一机台上使用资源的子板，在第二机台上也在相同的接口位置连接到相同的资源，实现了接口子板在不同测试机台以及母板间的复用。
2.如权利要求1所述的基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，所述接口子母板通过线路将上下方的接口连接，并将各类测试信号走线进行分类，所述测试信号分成模拟信号、数字信号、模拟电源、数字电源、模拟地、数字地、辅助母板电源USER POWER、辅助母板继电器控制信号，防止不同信号之间相互干扰。
3.如权利要求2所述的基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，母板按照不同芯片测试子板的设计要求，分类整合不同类型的测试资源；电源类器件测试资源电源，辅助母板上控制继电器用的控制信号，ADC/DAC测试模拟信号、数字信号、模拟电源、数字电源、辅助母板上电源、继电器用的控制信号、模拟地、数字地。
4.如权利要求2所述的基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，子板按照不同芯片的测试电路的资源需求差异化设计，包括芯片夹具、外围电路、与母板的物理接口，根据测试需要使用或部分使用母板提供的测试资源接口。
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CN117761510A (zh) * 2023-12-25 2024-03-26 珠海芯试界半导体科技有限公司 一种ate接口标准通用线及其连接的ft测试系统

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