CN208953665U - J750ex-hd集成电路测试系统通用适配器 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及J750EX‑HD集成电路测试系统通用适配器，包括测试适配板和测试负载卡，其特征是测试适配板包括基板、被测器件座、拨码开关阵列、继电器阵列、测试负载卡连接器和用于连接J750EX‑HD测试系统的插座，拨码开关阵列的两端分别与被测器件座和GND信号及DPS源连接，继电器阵列的两端分别与被测器件座和负载卡连接器连接；测试负载卡包括适配板连接器、测试通道焊接区、GND焊接区和DPS焊接区，测试负载卡通过适配板连接器与负载卡连接器的配合与测试适配板连接。本实用新型通用性强、增加外围元件简单方便、使用灵活、操作容易。

Description

J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器

技术领域

本实用新型涉及的适配器，具体而言是一种J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器。

背景技术

集成电路，尤其是数字集成电路越来越广泛地应用于生产和生活之中。选用数字集成电路的首要环节是进行测试，不同的数字集成电路，其封装形式、引脚排列和功能各有不同，测试时所需要的外围元件也存在差异。J750EX‐HD集成电路测试系统是目前一种被广泛使用的自动测试系统，装机量相当大。该系统厂家提供的数字电路测试适配器设计为插针式跳线连接方式，使用时需要通过短路条将被测器件的各引脚与系统资源进行连接，不仅繁琐，也容易出错，器件引脚越多，出错的几率越大；若遇到被测对象型号多而每个型号的数量又少的情况时，则需要不停地重新跳线，工作效率较低。另外，大多数数字集成电路在测试时间参数时都需要连接外围负载线路，部分器件还需要增加外围线路(如时基电路、振荡器等)才能正常工作，而J750EX‐HD厂家提供的数字电路测试板没有与外围线路连接的设计，使用时需要重新设计制作专门的适配板来将外围元件引入到测试系统中，而这些负载线路在结构上和适配板的布局布线上区别并不大，仅仅是选择连接的引脚和外围元件存在差异。重复制作，不仅周期长、成本高，而且会造成资源的浪费。因此，设计出通用性强、增加外围元件简单方便、使用灵活、操作容易的J750EX‐HD集成电路测试系统通用适配器十分必要。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种通用性强、增加外围元件简单方便、使用灵活、操作容易的J750EX‐HD集成电路测试系统通用适配器。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器，包括测试适配板和测试负载卡，其特征是测试适配板包括基板、被测器件座、拨码开关阵列、继电器阵列、测试负载卡连接器和用于连接J750EX-HD测试系统的插座，基板为上下表面均设计有链接适配板元件印制线的PCB板，基板正面的中部设置有被测器件座，被测器件座的左右两侧依次对称设置有拨码开关阵列、继电器阵列和测试负载卡连接器，测试适配板背面位于被测器件座上下两侧的部位分别设置有用于连接J750EX-HD测试系统的插座，拨码开关阵列的一端与被测器件座连接，拨码开关阵列的另一端通过插座分别与J750EX-HD测试系统的GND信号和DPS源连接，继电器阵列的一端与被测器件座连接，继电器阵列的另一端与负载卡连接器连接；测试负载卡包括适配板连接器、测试通道焊接区、GND焊接区和DPS焊接区，测试负载卡通过适配板连接器与负载卡连接器的配合与测试适配板连接。

进一步地，所述拨码开关阵列将GND信号和4组DPS源与被测器件座相连接。

进一步地，所述继电器阵列包括与控制信号一一对应的继电器。

进一步地，所述测试负载卡上还设置有GND信号和DPS源信号的程控装置。

采用本实用新型，用户可根据待测器件的管脚定义方式，通过拨码开关设置DPS信号和GND信号。需要外围元件时，先将外围元件焊接在负载卡上，再将负载卡插入测试适配板上的测试负载卡连接器中即可。本实用新型通用性强、增加外围元件简单方便、使用灵活、操作容易。

附图说明

图1为本实用新型的测试适配板结构示意图；

图2为本实用新型的测试负载卡结构示意图；

图3为本实用新型测试适配板和测试负载卡连接状态示意图；

图4为本实用新型与J750EX-HD测试系统连接状态示意图。

图中，1-测试适配板；1.1-基板；1.2-被测器件座；1.3-拨码开关阵列；1.4-继电器阵列；1.5-负载卡连接器；1.6-插座；2-测试负载卡；2.1-适配板连接器；2.2-测试通道焊接区；2.3-GND焊接区；2.4-DPS焊接区。

具体实施方式

以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步的说明，但该实施例不应理解为对本实用新型的限制。

如图所示的一种J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器，包括测试适配板1和测试负载卡2，测试适配板1包括基板1.1、被测器件座1.2、拨码开关阵列1.3、继电器阵列1.4、测试负载卡连接器1.5和用于连接J750EX-HD测试系统的插座1.6，基板1.1为上下表面均设计有链接适配板元件印制线的PCB板，基板1.1正面的中部设置有被测器件座1.2，被测器件座1.2的左右两侧依次对称设置有拨码开关阵列1.3、继电器阵列1.4和测试负载卡连接器1.5，测试适配板1背面位于被测器件座1.2上下两侧的部位分别设置有用于连接J750EX-HD测试系统的插座1.6，拨码开关阵列1.3的一端与被测器件座1.2连接，拨码开关阵列1.3的另一端通过插座1.6分别与J750EX-HD测试系统的GND信号和DPS源连接，继电器阵列1.4的一端与被测器件座1.2连接，继电器阵列1.4的另一端与负载卡连接器1.5连接；测试负载卡2包括适配板连接器2.1、测试通道焊接区2.2、GND焊接区2.3和DPS焊接区2.4，测试负载卡2通过适配板连接器2.1与负载卡连接器1.5的配合与测试适配板1连接。

优选的实施例是：在上述方案中，所述拨码开关阵列1.3将GND信号和4组DPS源与被测器件座1.2相连接。

优选的实施例是：在上述方案中，所述继电器阵列1.4包括与控制信号一一对应的继电器。

优选的实施例是：在上述方案中，所述测试负载卡2上还设置有GND信号和DPS源信号的程控装置。

本说明书中未做详细描述的内容，属于本专业技术人员公知的现有技术。

Claims (5)

1.一种J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器，包括测试适配板(1)和测试负载卡(2)，其特征在于：测试适配板(1)包括基板(1.1)、被测器件座(1.2)、拨码开关阵列(1.3)、继电器阵列(1.4)、测试负载卡连接器(1.5)和用于连接J750EX-HD测试系统的插座(1.6)，基板(1.1)为上下表面均设计有链接适配板元件印制线的PCB板，基板(1.1)正面的中部设置有被测器件座(1.2)，被测器件座(1.2)的左右两侧依次对称设置有拨码开关阵列(1.3)、继电器阵列(1.4)和测试负载卡连接器(1.5)，测试适配板(1)背面位于被测器件座(1.2)上下两侧的部位分别设置有用于连接J750EX-HD测试系统的插座(1.6)，拨码开关阵列(1.3)的一端与被测器件座(1.2)连接，拨码开关阵列(1.3)的另一端通过插座(1.6)分别与J750EX-HD测试系统的GND信号和DPS源连接，继电器阵列(1.4)的一端与被测器件座(1.2)连接，继电器阵列(1.4)的另一端与负载卡连接器(1.5)连接；测试负载卡(2)包括适配板连接器(2.1)、测试通道焊接区(2.2)、GND焊接区(2.3)和DPS焊接区(2.4)，测试负载卡(2)通过适配板连接器(2.1)与负载卡连接器(1.4)的配合与测试适配板(1)连接。

2.根据权利要求1所述的J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器，其特征在于：所述拨码开关阵列(1.3)将GND信号和4组DPS源与被测器件座(1.2)相连接。

3.根据权利要求1或2所述的J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器，其特征在于：所述继电器阵列(1.4)包括与控制信号一一对应的继电器。

4.根据权利要求1或2所述的J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器，其特征在于：所述测试负载卡(2)上还设置有GND信号和DPS源信号的程控装置。

5.根据权利要求3所述的J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器，其特征在于：所述测试负载卡(2)上还设置有GND信号和DPS源信号的程控装置。