CN117761510A - 一种ate接口标准通用线及其连接的ft测试系统 - Google Patents

一种ate接口标准通用线及其连接的ft测试系统 Download PDF

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欧纲
王健
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Abstract

本发明公开了一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统,ATE接口标准通用线包括ATE端转接PCB板和Handler端转接PCB板,ATE端转接PCB板电性连接有第一接口和第二接口,第一接口与所要连接的ATE测试仪的TTL接口类型一致,第一接口连接有第一标准通用电缆;Handler端转接PCB板电性连接有一个第三接口和一个第四接口组,第四接口组具有多个独立接口,第三接口和第二接口的接口类型相同,且线序一致;第二接口和第三接口可拆卸相连;第四接口组的各独立接口分别连接有一根第二标准通用线缆,独立接口的数量和类型与其所连接的Handler分选机的TTL接口的数量和类型保持一致;本发明可有效杜绝频繁改机过程中的TTL线缆工位接错问题,日常仅操作单一接口,不易出错。

Description

一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统
技术领域
本发明属于半导体集成电路测试领域,具体涉及一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统。
背景技术
随着国内集成电路(IC)的飞速发展,国产芯片的种类和数量均在不断增长,各种各样的芯片不断被设计制造出来,在封装成成品IC之后,经过最终的测试验证并流入市场,加工成各种终端产品走进千家万户。成品IC的最后一道测试工序FT,就是保证芯片质量的关键。通常测试由专业的IC测试厂来完成,每个测试厂一年内要测试成百上千个型号的IC产品。由于IC芯片的多样性,每种芯片所使用的测试设备也各不相同,且很多芯片制造数量通常不能保证测试设备长期运行,因此测试厂为提高设备利用率,需要不断更改产品线以切换用于测试不同的产品。而频繁的切换也让生产改机过程中更容易出现错误,一旦出现错误,将批量性的导致不良IC流入市场,产生严重后果,因此在测试厂,改机过程中如何进行防错防呆成了十分重要的一环。
IC芯片的FT测试环境通常由一台ATE测试仪和Handler分选机组成,其中Handler分选机负责对芯片进行搬运及分类,ATE测试仪负责对IC芯片进行测试,两者之间需要进行通讯才能配合完成整个测试。在常见IC封装形式中,SOP、SSOP、TSSOP类的产品占据着大量的市场。这类封装芯片通常使用重力式分选机进行测试,重力式分选机主要由于其结构带来的价格优势才能占据大量市场。同样由于价格较低,其配备的接口也相对简单,与ATE测试仪通讯的接口也仅保留常规的TTL和RS232,由于RS232稳定性及兼容性不如TTL通讯,因此在测试厂实际量产过程中大量使用TTL作为ATE与Handler的通讯方式。
在现有技术中,重力式分选机与ATE测试机的连接示意图如图1所示,芯片测试时ATE测试仪和Handler分选机的运作分工流程如图2所示。IC经过Handler分选机运输至测试工位后,通过TTL发送开始信号到ATE测试仪,触发ATE测试仪进行测试;ATE测试仪在测试完成后将芯片的测试结果(分BIN结果)通过TTL再发送回Handler分选机。Handler分选机根据收到的Bin信号,将被测IC进行分类,传送至不同的出料口,从而将IC的好坏或者档次进行分类。
为提高测试效率,FT测试通常并不是一颗芯片的测试,而是多颗芯片同时进行测试。Handler分选机上会有多个测试工位,多颗芯片会同时测试以提高效率。同样,Handler分选机上会为每个工位提供一个TTL通讯接口。在与ATE测试仪连接时,通讯接口需要与测试工位一一对应,否则会导致Handler分选机接收到错误的分BIN信号,对应工位使用其它工位的分BIN信息从而导致混料产生。现有技术中,ATE测试仪和Handler分选机的正确连接示例图如图3所示,ATE测试仪和Handler分选机的错误连接示例图如图4所示。
现有技术中,一种ATE测试仪和Handler分选机之间的连接示意图如图5所示,ATE测试仪通常仅有一个TTL接口,每种型号的ATE测试仪间TTL接口各不相同。Handler分选机端通常根据工位数量留出对应数量的TTL接口,不同分选机间也存在不同。当ATE测试仪与Handler分选机之间连接时,需要制作专用线缆,从1个接口引线至4个接口,由于为非标准线缆,因此测试厂内基本靠手工焊接制作专用线缆,焊接过程中也极易出现焊接错误。专用连接线缆制作效率低,且易出错。多种设备相互连接时,需要根据组合情况制作不同线缆,易产生闲置,且易混用线缆,损坏设备。专用线缆使用时,由于Handler分选机有多个接口,每次改机都需要连接多个接口,容易连接错误导致对应关系错误从而引起混料。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统,旨在改善使用专用线缆连接ATE测试仪与Handler分选机时,由于Handler分选机有多个接口,每次改机都需要连接多个接口,容易连接错误导致对应关系错误从而引起混料的问题。
为了实现上述目的,根据本发明的第一方面,提供一种ATE接口标准通用线,包括ATE端转接PCB板和Handler端转接PCB板,所述ATE端转接PCB板电性连接有第一接口和第二接口,所述ATE端转接PCB板将第一接口的信号引出至第二接口,所述第一接口与所要连接的ATE测试仪的TTL接口类型一致,所述第一接口连接有第一标准通用电缆;所述Handler端转接PCB板电性连接有一个第三接口和一个第四接口组,所述第四接口组具有多个独立接口,所述Handler端转接PCB板将第三接口的信号引出至第四接口组的各独立接口,所述第三接口和第二接口的接口类型相同,且线序一致;所述第二接口和第三接口可拆卸相连;所述第四接口组的各独立接口分别连接有一根第二标准通用线缆,所述独立接口的数量和类型与其所连接的Handler分选机的TTL接口的数量和类型保持一致。
进一步的,还包括第三标准通用线缆,所述第三标准通用线缆与第二接口和第三接口相适配,所述第二接口和第三接口通过该第三标准通用线缆可拆卸相连。
进一步的,所述第二接口和第三接口使用同类型的公母接口可拆卸相连。
进一步地,所述第一标准通用电缆与第一接口和ATE测试仪的TTL接口相适配。
进一步的,所述第二标准通用电缆与第四接口组的独立接口和Handler分选机的TTL接口相适配。
进一步的,所述第四接口组包括四个独立接口,所述第四接口组连接的Handler分选机具有四个TTL接口。
进一步地,所述ATE端转接PCB板与ATE测试仪型号一一对应,每种型号的ATE测试仪对应一种ATE端转接PCB板。
进一步地,所述Handler端转接PCB板与Handler分选机型号一一对应,每种Handler分选机对应一种Handler端转接PCB板。
根据本发明的第二方面,提供一种FT测试系统,包括ATE测试仪和Handler分选机,所述ATE测试仪和Handler分选机通过上述ATE接口标准通用线相连。
进一步的,所述Handler分选机使用具有多个接口的重力式分选机。
与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:
1、本发明可有效杜绝频繁改机过程中的TTL线缆工位接错问题,日常仅操作单一接口,不易出错,可有效防止多个接口间频繁插拔导致对应关系错误的问题,可有效避免混料问题的发生。
2、使用本发明所提供的技术方案进行多种不同ATE测试仪和多种不同Handler分选机的互联时,可减少定制线缆的数量
3、转接PCB板的制作更便捷,效率更高,更可靠,使用的标准通用线缆可大量采购,损坏维修替换也比专用线缆更容易,使得本发明具有制作和维护均更容易的优点。
附图说明
图1是现有技术中,重力式分选机与ATE测试机的连接示意图;
图2是现有技术中,芯片测试时ATE测试仪和Handler分选机的运作分工流程图;
图3是现有技术中,ATE测试仪和Handler分选机的正确连接示例图;
图4是现有技术中,ATE测试仪和Handler分选机的错误连接示例图;
图5是现有技术中,ATE测试仪和Handler分选机之间的连接示意图;
图6是本发明提出的ATE接口标准通用线的一种结构示意图;
图7是本发明提出的ATE接口标准通用线的另一种结构示意图;
图8是本发明提出的一种FT测试系统,该FT测试系统使用图6所示的ATE接口标准通用线连接ATE测试仪和Handler分选机;
图9是本发明提出的另一种FT测试系统,该FT测试系统使用图7所示的ATE接口标准通用线连接ATE测试仪和Handler分选机。
图中:1、ATE端转接PCB板;11、第一接口;12、第二接口;2、Handler端转接PCB板;21、第三接口;22、第四接口组;3、第一标准通用电缆;4、第二标准通用线缆;5、第三标准通用线缆。
具体实施方式:
下面结合附图和具体实施例,做进一步的说明:
实施例1
本实施例提供一种ATE接口标准通用线,如图6所示,包括ATE端转接PCB板1、Handler端转接PCB板2、第一标准通用电缆3、第二标准通用电缆4和第三标准通用电缆5。ATE端转接PCB板1电性连接有第一接口11和第二接口12,ATE端转接PCB板1将第一接口11的信号引出至第二接口12,第二接口12使用标准接口,统一信号引出线序,实现测试厂内TTL信号统一。ATE端转接PCB板1与ATE测试仪型号一一对应,每种型号的ATE测试仪对应一种ATE端转接PCB板。第一接口11与所要连接的ATE测试仪的TTL接口类型一致,第一接口11连接有第一标准通用电缆3,第一标准通用电缆3与第一接口11和ATE测试仪的TTL接口相适配,第一接口11通过第一标准通用电缆3与ATE测试仪的TTL接口相连。第一标准通用电缆3可直接采购市面上的相适配的标准电缆。
如图6所示,Handler端转接PCB板2电性连接有一个第三接口21和一个第四接口组22,第四接口组22具有多个独立接口,Handler端转接PCB板2将第三接口21的信号引出至第四接口组22的各独立接口,独立接口的数量和类型与其所连接的Handler分选机的TTL接口的数量和类型保持一致,比如Handler分选机具有四个TTL接口,则第四接口组22具有四个独立接口。第三接口21和第二接口12的接口类型相同,且线序一致。Handler端转接PCB板2与Handler分选机型号一一对应,每种Handler分选机对应一种Handler端转接PCB板2。第三标准通用线缆5与第二接口12和第三接口21相适配,第二接口12和第三接口21通过该第三标准通用线缆5可拆卸相连。第四接口组22的各独立接口分别连接有一根第二标准通用线缆4,第二标准通用电缆4与第四接口组22的独立接口和Handler分选机的TTL接口相适配。独立接口通过第二标准通用线缆4与Handler分选机的TTL接口相连。
实施例2
本实施例也提供一种ATE接口标准通用线,如图7所示。本实施例提供的ATE接口标准通用线与实施例1所提供的ATE接口标准通用线相比,不同之处在于:实施例1所提供的ATE接口标准通用线,第二接口12和第三接口21通过该第三标准通用线缆5可拆卸相连;本实施例所提供的ATE接口标准通用线,第二接口12和第三接口21使用同类型的公母接口可拆卸相连。
实施例3
本实施例提供一种FT测试系统,如图8所示,包括ATE测试仪和Handler分选机,Handler分选机使用具有多个接口的重力式分选机,在本实施例中,Handler分选机使用具有四个接口的重力式分选机,ATE测试仪和Handler分选机通过实施例1提供的ATE接口标准通用线相连。第一接口11通过第一标准通用电缆3与ATE测试仪的TTL接口相连,此处为固定接口,仅在首次使用时连接,后续无需拆除。第四接口组22的各独立接口分别通过一根第二标准通用线缆4与Handler分选机的TTL接口相连,此处也为固定接口,仅在首次使用时连接,后续无需拆除。第二接口12和第三接口21通过第三标准通用线缆5卸相连,此处为频繁拆接接口。ATE测试仪和Handler分选机后续日常改机连接仅需要使用一根第三标准通用线缆5可完成配套连接,可有效防止多个接口间频繁插拔导致对应关系错误的问题,可有效避免混料问题的发生。
实施例4
本实施例提供一种FT测试系统,如图9所示,包括ATE测试仪和Handler分选机,Handler分选机使用具有多个接口的重力式分选机,在本实施例中,Handler分选机使用具有四个接口的重力式分选机,ATE测试仪和Handler分选机通过实施例2提供的ATE接口标准通用线相连。第一接口11通过第一标准通用电缆3与ATE测试仪的TTL接口相连,此处为固定接口,仅在首次使用时连接,后续无需拆除。第四接口组22的各独立接口分别通过一根第二标准通用线缆4与Handler分选机的TTL接口相连,此处也为固定接口,仅在首次使用时连接,后续无需拆除。第二接口12和第三接口21使用同类型的公母接口可拆卸相连,此处为频繁拆接接口。
综上所述,本发明可有效杜绝频繁改机过程中的TTL线缆工位接错问题,日常仅操作单一接口,不易出错,可有效防止多个接口间频繁插拔导致对应关系错误的问题,可有效避免混料问题的发生。多种设备连接时可减少定制线缆的数量,例如现有技术中,实现3种不同ATE测试仪和3种不同Handler分选机均可以互联,需要制作3x3=9种专用线缆,使用本发明提供的技术方案,只需要制作3+3=6种转接PCB板,其余线缆均可采用市面上能够直接买到的标准线缆。转接PCB板的制作更便捷,效率更高,更可靠,使用的标准通用线缆可大量采购,损坏维修替换也比专用线缆更容易,使得本发明具有制作和维护均更容易的优点。
以上仅为本发明的优选实施方式而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种ATE接口标准通用线,其特征在于:包括ATE端转接PCB板(1)和Handl er端转接PCB板(2),所述ATE端转接PCB板(1)电性连接有第一接口(11)和第二接口(12),所述ATE端转接PCB板(1)将第一接口(11)的信号引出至第二接口(12),所述第一接口(11)与所要连接的ATE测试仪的TTL接口类型一致,所述第一接口(11)连接有第一标准通用电缆(3);所述Handler端转接PCB板(2)电性连接有一个第三接口(21)和一个第四接口组(22),所述第四接口组(22)具有多个独立接口,所述Handl er端转接PCB板(2)将第三接口(21)的信号引出至第四接口组(22)的各独立接口,所述第三接口(21)和第二接口(12)的接口类型相同,且线序一致;所述第二接口(12)和第三接口(21)可拆卸相连;所述第四接口组(22)的各独立接口分别连接有一根第二标准通用线缆(4),所述独立接口的数量和类型与其所连接的Handl er分选机的TTL接口的数量和类型保持一致。
2.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:还包括第三标准通用线缆(5),所述第三标准通用线缆(5)与第二接口(12)和第三接口(21)相适配,所述第二接口(12)和第三接口(21)通过该第三标准通用线缆(5)可拆卸相连。
3.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述第二接口(12)和第三接口(21)使用同类型的公母接口可拆卸相连。
4.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述第一标准通用电缆(3)与第一接口(11)和ATE测试仪的TTL接口相适配。
5.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述第二标准通用电缆(4)与第四接口组(22)的独立接口和Handler分选机的TTL接口相适配。
6.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述第四接口组(22)包括四个独立接口,所述第四接口组(22)连接的Handler分选机具有四个TTL接口。
7.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述ATE端转接PCB板(1)与ATE测试仪型号一一对应,每种型号的ATE测试仪对应一种ATE端转接PCB板。
8.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述Handler端转接PCB板(2)与Handler分选机型号一一对应,每种Handler分选机对应一种Handler端转接PCB板(2)。
9.一种FT测试系统,包括ATE测试仪和Handl er分选机,其特征在于:所述ATE测试仪和Handler分选机通过权利要求1-8任意一项所述的ATE接口标准通用线相连。
10.根据权利要求9所述的一种FT测试系统,其特征在于:所述Handler分选机使用具有多个接口的重力式分选机。
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