CN214041466U - 通用老化母板、转接板及测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种通用老化母板、转接板及测试装置，包括多个工位、金手指接口和电源接口，每个所述工位均设有第一接口和第二接口；所述金手指接口用于连接机台，将信号传输至所述通用老化母板的工位上；所述第一接口和第二接口内均设有多个插针，用于连接转接板。本实用新型通过在工位上设置双接口，能够实现用一种老化通用母板搭配转接板进行多种器件的老炼试验。本申请提供的通用老化母板简单可靠，成本较低，功能多样，设计合理，稳定性高，使用效果好，便于推广使用。
Description
技术领域
本实用新型属于集成电路技术领域，具体涉及一种通用老化母板、转接板及测试装置。
背景技术
集成电路芯片在进行批量生产之前，都要经过老化测试以确保芯片的使用寿命、以及芯片的功能和性能的批量生产测试，确定芯片为良品。
相关技术中，有老化板种类主要有：1，普通老化通用板，工位数根据器件管脚数变化，功能单一，信号给入方式不稳定，对于对信号要求较多的器件无法实现老化；2，老化专用板，可靠性高，但工位数受器件管脚数限制，而且只能进行单一器件的老炼试验，不能循环多种器件使用，成本较高。在电子筛选行业，对芯片进行二筛时，进行老化试验时，需要用大量的老化板，专用板虽然可靠性高，但是其制作成本也颇高，通用板的老炼方式既受器件管脚数量限制又不能保证对多种信号的需求。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种通用老化母板以解决现有的通用老化母板功能单一、老化专用板、可靠性高的问题。
为实现以上目的，实用新型采用如下技术方案：一种通用老化母板，包括：多个工位、金手指接口和电源接口，每个所述工位均设有第一接口和第二接口；
所述金手指接口用于连接机台，将信号传输至所述通用老化母板的工位上；
所述第一接口和第二接口内均设有多个插针，用于连接转接板。
进一步的，多个所述工位呈多排多列设置。
进一步的，多个所述工位之间设有固定距离。
进一步的，所述插针为弹簧针。
进一步的，所述第一接口包括输入端口。
进一步的，所述第二接口包括输入端口、输出端口。
进一步的，所述第二接口还包括：预留端口。
本申请提供一种转接板，包括用于与上述任一实施例提供的通用老化母板连接的接口。
进一步的，还包括：
老化座，用于放置待测器件。
本申请提供一种测试装置，包括上述任一实施例提供的通用老化母板和上述任一实施例提供的转接板。
本实用新型采用以上技术方案，所能达到的有益效果包括：
本申请实施例提供的一种通用老化母板、转接板及测试装置，包括多个工位、金手指接口和电源接口，每个所述工位均设有第一接口和第二接口；所述金手指接口用于连接机台，将信号传输至所述通用老化母板的工位上；所述第一接口和第二接口内均设有多个插针，用于连接转接板。本实用新型通过在工位上设置双接口，能够实现用一种老化通用母板搭配转接板进行多种器件的老炼试验。本申请提供的通用老化母板简单可靠，成本较低，功能多样，设计合理，稳定性高，使用效果好，便于推广使用。
本申请将各种信号引出至工位双排接口，信号稳定多样，更安全，更全面；
本申请采用了老化通用母板和转接板相结合的老炼试验方式，只需更换不同的转接板，就可进行多种型号，多种封装器件的老练试验，而且不受器件管脚数量的限制；
本申请采用了老化通用母板的老炼方式，只需插拔式更换专用转接板，相较于普通老化通用板操作简单方便，不易出错。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型一种通用老化母板的结构示意图；
图2为本实用新型第一接口的电子电路图；
图3为本实用新型第二接口的电子电路图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本实用新型的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本实用新型所保护的范围。
下面结合附图介绍本申请实施例中提供的一个具体的通用老化母板、转接板及测试装置。
如图1所示，本实用新型提供一种通用老化母板，包括：多个工位1、金手指接口2和电源接口3，每个所述工位1均设有第一接口11和第二接口12；
所述金手指接口2用于连接机台，将信号传输至所述通用老化母板的工位 1上；
所述第一接口11和第二接口12内均设有多个插针，用于连接转接板。
优选的，所述插针为弹簧针。
本申请提供的一种通用老化母板的工作原理是，核心控制为老化板金手指接口2给入的信号，通过老化机台给入金手指接口2信号，给入每个工位1，使每个工位1都具有金手指接口2所输入的信号，工位1采用双排接口信号种类多，较为全面，然后通过转接板，可以为不同型号的器件进行老炼试验，每个工位1间距离固定，可通过不同的转接板对不同管脚数目、不同封装的器件进行老化。例如：老化通用母板就是装工位1的板，工位1由两个接口构成，一个母板有很多个工位1，也就有很多个接口。老化通用母板工位1设有两个接口，接口A也就是第一接口11和接口B也就是第二接口12，接口A、B各两排，也可以是多排，A、B两个接口为一个工位1，可提供不同的信号，连接不同的转接板，大小不一样的转接板可以选择不同个数的工位1，大的转接板多占几个，小的少占几个，转接板可根据器件大小和工位间距制作。
老化母板通过机台将各种信号(电源VCC、VMUX，地GND，负源VEE，信号通道C1，C2，C3，C4，C5，C6，C7，C8......)传递到每个工位1，使每个工位1都具备各种信号，充分满足器件老炼试验所需输入信号的要求。
优选的，多个所述工位1呈多排多列设置。
优选的，多个所述工位1之间设有固定距离。
具体的，老化通用母板工位间距固定，但是由于每个工位1都具备各种相同信号所以可根据转接板大小，跨工位1提供信号，工位与工位之间并联关系，故而满足各种型号各种封装器件的老炼需求，而且工位采用双排接口(一个工位有A、B两个接口，两个接口分两排提供信号)，信号充足稳定。
一些实施例中，如图2所示，所述第一接口包括输入端口。
第一接口11为常用输入端口，可提供电压，数字信号，地，负源等各种信号。例如：电源VCC、VMUX,地GND,负源VEE，信号通道C1，C2，C3，C4， C5，C6，C7，C8......
一些实施例中，如图3所示，所述第二接口12包括输入端口、输出端口。
优选的，所述第二接口12还包括：预留端口。
第二接口12除常用信号输入端口外，配备了输出端口(OUT1，OUT2) 为了方便测量监测器件输出情况，还配备了预留端口(3.3V，1.8V，1.2V，MUC_C1，MUC_C2，MUC_C3，MUC_C4，MUC_C5，1.5V，2.5V)，以待开发更多功能。
本申请实施例提供一种转接板，包括用于与上述任一实施例提供的通用老化母板连接的接口。
优选的，还包括：
老化座，用于放置待测器件。
转接板根据器件封装选取合适的老化座，然后通过绘制转接板将器件所需的各种信号引出至转接板上，并根据通用母板工位间距将引出信号用排针引出，引出位置对应工位信号所处位置，例：器件VCC管脚从老化座用排针引出位置应对应插入老化母板VCC对应位置。
可以理解的是，转接板的工作原理为：选取合适老化座将老化座固定在转接板上。转接板可根据实际情况确定大小，但是转接板信号输入部分需与所选取的老化通用母板工位接口对应。转接板对应老化母板间距将各路所需信号引出至老化母板对应位置，用排针进行连接，将信号给入器件，对器件进行老炼试验即可。
本申请实施例提供一种测试装置，包括上述任一实施例提供的通用老化母板，和上述任一实施例提供的转接板。
具体的，本申请将转接板与老化母板结合，给入各路器件所需信号，方可进行老化试验。可以理解的是，不同型号，不同封装器件使用老化母板进行老化只需制作转接板即可，老化通用母板可循环使用。
本申请根据器件老化座大小选取所需工位数目，例如管脚数目较少的器件可选取一到两个工位，管脚数目较多体积较大的器件可适当选取多个工位，连接所需接口，并选取相同未用接口作为备用接口，对器件管脚与老化母板工位接口按照老化原理中所需要的信号进行连接，对器件进行老炼试验。
综上所述，本实用新型提供的通用老化母板、转接板及测试装置，通过在工位上设置双接口，能够实现用一种老化通用母板搭配转接板进行多种器件的老炼试验。本申请提供的通用老化母板简单可靠，成本较低，功能多样，设计合理，稳定性高，使用效果好，便于推广使用；
本申请将各种信号引出至工位双排接口，信号稳定多样，更安全，更全面；
本申请采用了老化通用母板和转接板相结合的老炼试验方式，只需更换不同的转接板，就可进行多种型号，多种封装器件的老练试验，而且不受器件管脚数量的限制；
本申请采用了老化通用母板的老炼方式，只需插拔式更换专用转接板，相较于普通老化通用板操作简单方便，不易出错。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种通用老化母板，其特征在于，包括：多个工位、金手指接口和电源接口，每个所述工位均设有第一接口和第二接口；
所述金手指接口用于连接机台，将信号传输至所述通用老化母板的工位上；
所述第一接口和第二接口内均设有多个插针，用于连接转接板。
2.根据权利要求1所述的通用老化母板，其特征在于，
多个所述工位呈多排多列设置。
3.根据权利要求1所述的通用老化母板，其特征在于，
多个所述工位之间设有固定距离。
4.根据权利要求1所述的通用老化母板，其特征在于，
所述插针为弹簧针。
5.根据权利要求1所述的通用老化母板，其特征在于，
所述第一接口包括输入端口。
6.根据权利要求1所述的通用老化母板，其特征在于，
所述第二接口包括输入端口、输出端口。
7.根据权利要求6所述的通用老化母板，其特征在于，
所述第二接口还包括：预留端口。
8.一种转接板，其特征在于，包括用于与权利要求1至7任一项所述的通用老化母板连接的接口。
9.根据权利要求8所述的转接板，其特征在于，还包括：
老化座，用于放置待测器件。
10.一种测试装置，其特征在于，包括权利要求1至8任一项所述的通用老化母板，和权利要求8或9所述的转接板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202022781650.8U CN214041466U (zh) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 通用老化母板、转接板及测试装置 |
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| CN202022781650.8U CN214041466U (zh) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 通用老化母板、转接板及测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN214041466U true CN214041466U (zh) | 2021-08-24 |
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ID=77362800
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| CN (1) | CN214041466U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114839401A (zh) * | 2022-03-12 | 2022-08-02 | 江苏宝浦莱半导体有限公司 | 加速寿命测试实验金手指插拔结构的高密度排布老化板 |
| CN115932536A (zh) * | 2022-11-17 | 2023-04-07 | 珠海妙存科技有限公司 | 一种芯片转接测试装置、电路板及方法 |
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- 2020-11-26 CN CN202022781650.8U patent/CN214041466U/zh active Active
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