CN113238902A - 一种多工位光模块测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种多工位光模块测试装置，包括底板，所述底板的顶部固定连接有主测试箱，所述主测试箱的内部设置有两组用于检测待测模块的测试组件，所述底板的顶部滑动连接有对称设置的两个测试盒盒体，所述测试盒盒体的顶部设置有用于放置待测模块的放置组件，所述底板的底部四角均固定连接有脚垫，本发明结构简单，通过将插卡测试测试板卡平稳地插入主测试箱内，使得多针连接器插头与多针连接器插座连接，再利用定位螺丝固定拉手，将待测模块精准地插入插卡测试测试板卡的模块插卡卡槽内，即可开始检测，多个模块插卡卡槽的设置，也可以大幅提高工作效率，并且节省成本，使用方便。
Description
技术领域
本发明涉及光模块测试技术领域，尤其涉及一种多工位光模块测试装置。
背景技术
随着互联网与无线通信技术的飞速发展，光纤介质逐渐替代铜用于通信传输，而光模块作为光纤系统中的核心器件之一，其质量的好坏直接影响到光纤通信的质量，为了保证光模块产品的质量，通常需要对光模块的使用参数进行测量。
目前现有的光模块测试设备在对光模块产品进行测量时，不仅需要连接大量的连接线，步骤繁琐，导致错误率高，进而可能损坏装置，并且一次只能测试一个模块，导致需要大量装置进行检测，不仅占用了空间，耗费大量成本，同时也需要更多的工人对其进行检测，并且测试效率低，不能满足需求，所以我们提出一种多工位光模块测试装置，用以解决上述所提到的问题。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种多工位光模块测试装置。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
一种多工位光模块测试装置，包括底板，所述底板的顶部固定连接有主测试箱，所述主测试箱的内部设置有两组用于检测待测模块的测试组件，所述底板的顶部滑动连接有对称设置的两个测试盒盒体，所述测试盒盒体的顶部设置有用于放置待测模块的放置组件，所述底板的底部四角均固定连接有脚垫。
优选地，所述测试组件包括设置在主测试箱内部的MCU控制板卡和BERT测试主板，所述主测试箱的内部设置有电源板卡，所述电源板卡位于两个BERT测试主板之间，两个所述MCU控制板卡分别位于两个BERT测试主板相互远离的一侧，所述主测试箱的一侧设置有第一Trigger接口和第二Trigger接口，且所述第一Trigger接口和第二Trigger接口均通过射频线连接在MCU控制板卡上，所述主测试箱远离测试盒盖板的一侧分别安装有BERT测试用USB接口、模块测试用USB接口、电源开关和电源插座，且所述电源插座和电源开关均通过焊接线与电源板卡连接，所述模块测试用USB接口与BERT测试主板相连接，所述BERT测试用USB接口与MCU控制板卡相连接，所述BERT测试主板的一侧设置有多针连接器插座，所述主测试箱的一侧设置有连接指示灯孔，所述主测试箱的内部设置有用于与放置组件连接的连接组件。
优选地，所述放置组件包括固定连接在测试盒盒体顶部的测试盒盖板，所述测试盒盒体和测试盒盖板通过第二锁紧螺丝连接，所述测试盒盒体和测试盒盖板之间设置有插卡测试测试板卡，所述插卡测试测试板卡的一侧设置有多针连接器插头，所述测试盒盖板的顶部开设有进气口，所述插卡测试测试板卡的一侧开设有多个模块插卡卡槽。
优选地，所述连接组件包括设置在测试盒盒体顶部的压块，所述压块通过第三锁紧螺丝与测试盒盒体相连接，多针连接器插头卡合在压块和测试盒盒体之间，所述主测试箱的一侧开设有与压块相卡合的压块槽。
优选地，所述主测试箱的顶部设置有主测试箱盖板，所述主测试箱与主测试箱盖板通过第一固定螺丝固定连接。
优选地，所述测试盒盒体的顶部设置有两两对称的四个滑轨，所述滑轨与测试盒盒体通过第三固定螺丝固定连接，所述测试盒盒体的顶部固定连接有两两对称的四个限位螺丝，所述限位螺丝位于滑轨的一侧，所述滑轨的内部滑动连接有滑块，所述滑块与测试盒盒体的底部通过第一锁紧螺丝固定连接，位于同一侧的两个所述滑轨之间的距离为11厘米。
优选地，所述测试盒盒体的一侧中部设置有固定板，所述固定板与测试盒盒体通过第二固定螺丝固定连接，所述固定板的底部固定连接有拉手，所述测试盒盒体的顶部螺纹连接有对称设置的两个定位螺丝，所述拉手的顶部设置有与定位螺丝相适配的螺纹孔。
优选地，所述插卡测试测试板卡设置有两种，且均设计有I2C总线BUS的扩展。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、本发明中，将插卡测试测试板卡平稳地插入主测试箱内，使得多针连接器插头与多针连接器插座连接，此时压块槽与压块相卡合，用于保证气密性，进而可以保护MCU控制板卡、BERT测试主板和电源板卡，进而延长装置的使用寿命；
2、本发明中，确认插入完毕后，利用定位螺丝将拉手固定在底板上，以保证压块槽稳定不晃动；使用方口转USB连接线从主测试箱背后的BERT测试用USB接口或模块测试用USB接口连接到PC端，为主测试箱提供电流，保证主测试箱开机运作，并且能够使用PC端对主测试箱进行程控；
3、本发明中，将待测模块精准地插入插卡测试测试板卡的模块插卡卡槽内，根据插卡测试板的类型可同时插入4个SFP28/SFP+的模块，或者2个QSFP28的模块，进而提高检测效率，通过软件对待测模块进行测试；
4、本发明中，在测试时，通过进气口使测试产品时把产品温度升高到高温或降低低温，气体由设备加热或降温，通过进气口进入测试盒盖板的内部，进而使测试盒盒体内部温度达到需要的问题，测试在此温度下的产品性能。
本发明结构简单，通过将插卡测试测试板卡平稳地插入主测试箱内，使得多针连接器插头与多针连接器插座连接，再利用定位螺丝固定拉手，将待测模块精准地插入插卡测试测试板卡的模块插卡卡槽内，即可开始检测，多个模块插卡卡槽的设置，也可以大幅提高工作效率，并且节省成本，使用方便。
附图说明
图1为本发明提出的一种多工位光模块测试装置只安装一组放置组件的三维图；
图2为本发明提出的一种多工位光模块测试装置的爆炸结构示意图；
图3为本发明提出的一种多工位光模块测试装置的俯视结构示意图；
图4为本发明提出的一种多工位光模块测试装置的俯视剖视结构示意图；
图5为本发明提出的一种多工位光模块测试装置去除放置组件的俯视结构示意图；
图6为本发明提出的一种多工位光模块测试装置的主视结构示意图；
图7为本发明提出的一种多工位光模块测试装置的后视结构示意图；
图8为本发明提出的一种多工位光模块测试装置的右视结构示意图；
图9为本发明提出的一种多工位光模块测试装置的左视结构示意图。
图中：1、主测试箱盖板；2、第一固定螺丝；3、进气口；4、测试盒盒体；5、第二固定螺丝；6、拉手；7、固定板；8、模块插卡卡槽；9、测试盒盖板；10、定位螺丝；11、限位螺丝；12、滑轨；13、第三固定螺丝；14、脚垫；15、滑块；16、压块槽；17、底板；18、第一Trigger接口；19、第二Trigger接口；20、多针连接器插座；21、主测试箱；22、第一锁紧螺丝；23、第二锁紧螺丝；24、第三锁紧螺丝；25、压块；26、BERT测试用USB接口；27、模块测试用USB接口；28、电源插座；29、电源开关；30、连接指示灯孔；31、MCU控制板卡；32、BERT测试主板；33、电源板卡；34、插卡测试测试板卡；35、多针连接器插头。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
实施例一
参照图1-9，一种多工位光模块测试装置，包括底板17，底板17的顶部固定连接有主测试箱21，主测试箱21的内部设置有两组用于检测待测模块的测试组件，底板17的顶部滑动连接有对称设置的两个测试盒盒体4，测试盒盒体4的顶部设置有用于放置待测模块的放置组件，底板17的底部四角均固定连接有脚垫14。
实施例二
本实施例在实施例一的基础上进行改进：测试组件包括设置在主测试箱21内部的MCU控制板卡31和BERT测试主板32，主测试箱21的内部设置有电源板卡33，电源板卡33位于两个BERT测试主板32之间，两个BERT测试主板32的主控是独立的，分配各自独立的USB控制接口，两个MCU控制板卡31分别位于两个BERT测试主板32相互远离的一侧，MCU控制板卡的主控芯片，F340或者EFM8，实现对光模块的逻辑控制，MSA协议的读写，模块的I2C访问，集成在BERT测试主板上32，每个槽位各一个，各自分配独立的USB控制接口，电源板卡33为一个独立的12V转+5V,转3.3V，转1.2V,转1.0V，转1.8V的电源主板，实现对BERT主板供电，两个槽位的光模块插卡供电，用一块电源板实现，电源设计成多路电源输出的方式，实现多路，大电流的供电，电源板卡33的电源电路用6颗电源芯片：LMZ31506RUQT,同等单元电路，实现多路大电流输出，从而给双槽位的各个功能模块集中供电，对双槽位的模块插卡供电主测试箱21内部，把BERT核心电路，对光模块的主控，时钟电路，CFP2的插座(母)设计在一起，成为一个独立的单元，其中，光模块的主控使用MCU的芯片是F340或者EFM8，这两种MCU主控可以兼容替换，分别集成两颗BERT主芯片，型号是:in012525-CQ11-06GC,两颗在一个BERT主板上，对这个BERT主板控制，用的MCU主控是CY8C5868,其设计采用mini的小型化设计，分配一个USB控制接口，主测试箱21的一侧设置有第一Trigger接口18和第二Trigger接口19，且第一Trigger接口18和第二Trigger接口19均通过射频线连接在MCU控制板卡31上，主测试箱21远离测试盒盖板9的一侧分别安装有BERT测试用USB接口26、模块测试用USB接口27、电源开关29和电源插座28，且电源插座28和电源开关29均通过焊接线与电源板卡33连接，供电使用DC 12V的电源适配器，不是使用传统的交流220V,电源开关29放在背面，便于操作，模块测试用USB接口27与BERT测试主板32相连接，BERT测试用USB接口26与MCU控制板卡31相连接，BERT测试主板32的一侧设置有多针连接器插座20，所述多针连接器插座20为CFP2的金手指插座(公)，主测试箱21的一侧设置有连接指示灯孔30，主测试箱21的内部设置有用于与放置组件连接的连接组件，放置组件包括固定连接在测试盒盒体4顶部的测试盒盖板9，测试盒盒体4和测试盒盖板9通过第二锁紧螺丝23连接，测试盒盒体4和测试盒盖板9之间设置有插卡测试测试板卡34，插卡测试测试板卡34的一侧设置有多针连接器插头35，所述多针连接器插头35为金手指插座(母)，测试盒盖板9的顶部开设有进气口3，插卡测试测试板卡34的一侧开设有多个模块插卡卡槽8，连接组件包括设置在测试盒盒体4顶部的压块25，压块25通过第三锁紧螺丝24与测试盒盒体4相连接，多针连接器插头35卡合在压块25和测试盒盒体4之间，主测试箱21的一侧开设有与压块25相卡合的压块槽16。
实施例三
本实施例在实施例一的基础上进行改进：主测试箱21的顶部设置有主测试箱盖板1，主测试箱21与主测试箱盖板1通过第一固定螺丝2固定连接，测试盒盒体4的顶部设置有两两对称的四个滑轨12，滑轨12与测试盒盒体4通过第三固定螺丝13固定连接，测试盒盒体4的顶部固定连接有两两对称的四个限位螺丝11，限位螺丝11位于滑轨12的一侧，滑轨12的内部滑动连接有滑块15，滑块15与测试盒盒体4的底部通过第一锁紧螺丝22固定连接，位于同一侧的两个滑轨12之间的距离为11厘米，测试盒盒体4的一侧中部设置有固定板7，固定板7与测试盒盒体4通过第二固定螺丝5固定连接，固定板7的底部固定连接有拉手6，测试盒盒体4的顶部螺纹连接有对称设置的两个定位螺丝10，拉手6的顶部设置有与定位螺丝10相适配的螺纹孔，插卡测试测试板卡34设置有两种，且均设计有I2C总线BUS的扩展。
工作原理：在使用时，将插卡测试测试板卡34平稳地插入主测试箱21内，使得多针连接器插头35与多针连接器插座20连接，此时压块槽16与压块25相卡合，用于保证气密性，进而可以保护MCU控制板卡31、BERT测试主板32和电源板卡33，进而延长装置的使用寿命，确认插入完毕后，利用定位螺丝10将拉手6固定在底板17上，以保证压块槽16稳定不晃动；使用方口转USB连接线从主测试箱21背后的BERT测试用USB接口26或模块测试用USB接口27连接到PC端，为主测试箱21提供电流，保证主测试箱21开机运作，并且能够使用PC端对主测试箱21进行程控；将待测模块精准地插入插卡测试测试板卡34的模块插卡卡槽8内，根据插卡测试板的类型可同时插入4个SFP28/SFP+的模块，或者2个QSFP28的模块，双槽位独立设计，进而提高检测效率；通过软件对待测模块进行测试，在测试时，通过进气口3使测试产品时把产品温度升高到高温或降低低温，气体由设备加热或降温，通过进气口3进入测试盒盖板9的内部，进而使测试盒盒体4内部温度达到需要的问题，测试在此温度下的产品性能。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种多工位光模块测试装置，包括底板(17)，其特征在于，所述底板(17)的顶部固定连接有主测试箱(21)，所述主测试箱(21)的内部设置有两组用于检测待测模块的测试组件，所述底板(17)的顶部滑动连接有对称设置的两个测试盒盒体(4)，所述测试盒盒体(4)的顶部设置有用于放置待测模块的放置组件，所述底板(17)的底部四角均固定连接有脚垫(14)。
2.根据权利要求1所述的一种多工位光模块测试装置，其特征在于，所述测试组件包括设置在主测试箱(21)内部的MCU控制板卡(31)和BERT测试主板(32)，所述主测试箱(21)的内部设置有电源板卡(33)，所述电源板卡(33)位于两个BERT测试主板(32)之间，两个所述MCU控制板卡(31)分别位于两个BERT测试主板(32)相互远离的一侧，所述主测试箱(21)的一侧设置有第一Trigger接口(18)和第二Trigger接口(19)，且所述第一Trigger接口(18)和第二Trigger接口(19)均通过射频线连接在MCU控制板卡(31)上，所述主测试箱(21)远离测试盒盖板(9)的一侧分别安装有BERT测试用USB接口(26)、模块测试用USB接口(27)、电源开关(29)和电源插座(28)，且所述电源插座(28)和电源开关(29)均通过焊接线与电源板卡(33)连接，所述模块测试用USB接口(27)与BERT测试主板(32)相连接，所述BERT测试用USB接口(26)与MCU控制板卡(31)相连接，所述BERT测试主板(32)的一侧设置有多针连接器插座(20)，所述主测试箱(21)的一侧设置有连接指示灯孔(30)，所述主测试箱(21)的内部设置有用于与放置组件连接的连接组件。
3.根据权利要求1所述的一种多工位光模块测试装置，其特征在于，所述放置组件包括固定连接在测试盒盒体(4)顶部的测试盒盖板(9)，所述测试盒盒体(4)和测试盒盖板(9)通过第二锁紧螺丝(23)连接，所述测试盒盒体(4)和测试盒盖板(9)之间设置有插卡测试测试板卡(34)，所述插卡测试测试板卡(34)的一侧设置有多针连接器插头(35)，所述测试盒盖板(9)的顶部开设有进气口(3)，所述插卡测试测试板卡(34)的一侧开设有多个模块插卡卡槽(8)。
4.根据权利要求2所述的一种多工位光模块测试装置，其特征在于，所述连接组件包括设置在测试盒盒体(4)顶部的压块(25)，所述压块(25)通过第三锁紧螺丝(24)与测试盒盒体(4)相连接，多针连接器插头(35)卡合在压块(25)和测试盒盒体(4)之间，所述主测试箱(21)的一侧开设有与压块(25)相卡合的压块槽(16)。
5.根据权利要求1所述的一种多工位光模块测试装置，其特征在于，所述主测试箱(21)的顶部设置有主测试箱盖板(1)，所述主测试箱(21)与主测试箱盖板(1)通过第一固定螺丝(2)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种多工位光模块测试装置，其特征在于，所述测试盒盒体(4)的顶部设置有两两对称的四个滑轨(12)，所述滑轨(12)与测试盒盒体(4)通过第三固定螺丝(13)固定连接，所述测试盒盒体(4)的顶部固定连接有两两对称的四个限位螺丝(11)，所述限位螺丝(11)位于滑轨(12)的一侧，所述滑轨(12)的内部滑动连接有滑块(15)，所述滑块(15)与测试盒盒体(4)的底部通过第一锁紧螺丝(22)固定连接，位于同一侧的两个所述滑轨(12)之间的距离为11厘米。
7.根据权利要求1所述的一种多工位光模块测试装置，其特征在于，所述测试盒盒体(4)的一侧中部设置有固定板(7)，所述固定板(7)与测试盒盒体(4)通过第二固定螺丝(5)固定连接，所述固定板(7)的底部固定连接有拉手(6)，所述测试盒盒体(4)的顶部螺纹连接有对称设置的两个定位螺丝(10)，所述拉手(6)的顶部设置有与定位螺丝(10)相适配的螺纹孔。
8.根据权利要求3所述的一种多工位光模块测试装置，其特征在于，所述插卡测试测试板卡(34)设置有两种，且均设计有I2C总线BUS的扩展。
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| CN202110512574.7A CN113238902A (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 一种多工位光模块测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN202110512574.7A CN113238902A (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 一种多工位光模块测试装置 |
Publications (1)
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN113992264A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-01-28 | 苏州联讯仪器有限公司 | 一种模块化误码测试装置 |
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2021
- 2021-05-11 CN CN202110512574.7A patent/CN113238902A/zh active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113992264A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-01-28 | 苏州联讯仪器有限公司 | 一种模块化误码测试装置 |
| CN113992264B (zh) * | 2021-12-27 | 2022-03-11 | 苏州联讯仪器有限公司 | 一种模块化误码测试装置 |
| CN114401043A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-26 | 苏州联讯仪器有限公司 | 一种模块化误码测试装置 |
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