CN217305415U - 测试效率高的集成电路测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试效率高的集成电路测试设备，涉及集成电路技术领域。本实用新型包括测试器，测试器的上侧装设有多个第一斜面板、多个分机机体，测试器上弹性且滑动配合有多个斜面块，且第一斜面板位于分机机体的一侧。本实用新型设置的第二斜面板，便捷了通过第二斜面板对分机机体进行防尘，减少了分机机体上的电路连接头、主机连接头发生腐蚀的情况，提高了分机机体在测试时的准确性，第一斜面板的设置，方便了通过第一斜面板对第二斜面板进行放置，以使分机机体从放置槽内取出，提高了分机机体取出的过程更加的便捷。

Description

测试效率高的集成电路测试设备

技术领域

本实用新型属于集成电路技术领域，特别是涉及一种测试效率高的集成电路测试设备。

背景技术

测试效率高的集成电路测试设备是对集成电路进行测试的一种设备，集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上。

公开号为CN111308324A的专利申请，公开了一种集成电路测试设备，所述包括：测试主机，测试主机通过PCI总线与计算机连接，测试主机通过继电器矩阵与集成电路连接，测试主机上设有多个测试分机，本发明提供了一种集便携式测试和台式测试技术于一体的并具有高精准度的集成电路测试设备，本发明以测试分机作为主要测试设备。

但是该公开文件在使用单个分机机体时，需要把遮布拉开进行取出单个分机机体，这样会造成其他分机机体的上侧落至灰尘，这样就会降低遮布在使用时的作用，进而也会造成其他分机机体电路连接头、主机连接头被腐蚀的情况，进而会降低集成电路测试设备在测试的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试效率高的集成电路测试设备，解决了现有集成电路测试设备的分机机体易腐蚀的技术问题。

为达上述目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种测试效率高的集成电路测试设备，包括测试器，测试器的上侧装设有多个第一斜面板、多个分机机体，测试器上弹性且滑动配合有多个斜面块，且第一斜面板位于分机机体的一侧；

多个第二斜面板，且第二斜面板活动配合在测试器的上侧，第二斜面板的一端与第一斜面板滑动配合，第二斜面板的另一端开设有卡槽，且斜面块位于卡槽内，分机机体的上侧贴合在第二斜面板的下侧。

可选的，测试器的一侧开设有多个滑道，滑道的内部滑动配合有滑动块，滑动块与第二斜面板之间装设有第一弹簧，测试器的一侧开设有多个槽道，槽道的内部装设有第二弹簧，第二弹簧的一端装设在斜面块的一侧，测试器的一侧开设有多个放置槽，且分机机体位于放置槽内，方便了通过放置槽对分机机体进行放置。

可选的，斜面块的一侧设有第一斜面，且第一斜面朝向第一斜面板，第一斜面板的一侧设有第二斜面，且第二斜面朝向第二斜面板，第二斜面板的一侧设有第三斜面，且第三斜面朝向第一斜面板，方便了通过第一斜面板移动第二斜面板。

本实用新型的实施例具有以下有益效果：

本实用新型的一个实施例设置的第二斜面板，便捷了通过第二斜面板对分机机体进行防尘，减少了分机机体上的电路连接头、主机连接头发生腐蚀的情况，提高了分机机体在测试时的准确性，第一斜面板的设置，方便了通过第一斜面板对第二斜面板进行放置，以使分机机体从放置槽内取出，提高了分机机体取出的过程更加的便捷。

当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型一实施例的立体结构示意图；

图2为图1中A处结构示意图；

图3为本实用新型一实施例的剖面结构示意图；

图4为图3中B处结构示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

测试器1，第一斜面板2，滑道3，滑动块4，第二斜面板5，槽道6，第二弹簧7，斜面块8，放置槽9，分机机体10，卡槽11。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。

为了保持本实用新型实施例的以下说明清楚且简明，本实用新型省略了已知功能和已知部件的详细说明。

请参阅图1-4所示，在本实施例中提供了一种测试效率高的集成电路测试设备，包括：测试器1，测试器1的上侧装设有多个第一斜面板2、多个分机机体10，测试器1上弹性且滑动配合有多个斜面块8，且第一斜面板2位于分机机体10的一侧；

多个第二斜面板5，且第二斜面板5活动配合在测试器1的上侧，第二斜面板5的一端与第一斜面板2滑动配合，第二斜面板5的另一端开设有卡槽11，且斜面块8位于卡槽11内，分机机体10的上侧贴合在第二斜面板5的下侧。

当需要使用分机机体10时，首先用手滑动斜面块8，斜面块8解除对第二斜面板5的定位，然后滑动第二斜面板5，第二斜面板5通过第三斜面滑动至第一斜面板2的上侧，然后把分机机体10从测试器1的放置槽9内取出即可；

当需要放置分机机体10时，参考上述步骤即可。

设置的第二斜面板5，便捷了通过第二斜面板5对分机机体10进行防尘，减少了分机机体10上的电路连接头、主机连接头发生腐蚀的情况，提高了分机机体10在测试时的准确性，第一斜面板2的设置，方便了通过第一斜面板2对第二斜面板5进行放置，以使分机机体10从放置槽9内取出，提高了分机机体10取出的过程更加的便捷。

请参阅图1所示，本实施例的测试器1的一侧开设有多个滑道3，滑道3的内部滑动配合有滑动块4，滑动块4与第二斜面板5之间装设有第一弹簧，测试器1的一侧开设有多个槽道6，槽道6的内部装设有第二弹簧7，第二弹簧7的一端装设在斜面块8的一侧，测试器1的一侧开设有多个放置槽9，且分机机体10位于放置槽9内，方便了通过放置槽9对分机机体10进行放置。

请参阅图2所示，本实施例的斜面块8的一侧设有第一斜面，且第一斜面朝向第一斜面板2，第一斜面板2的一侧设有第二斜面，且第二斜面朝向第二斜面板5，第二斜面板5的一侧设有第三斜面，且第三斜面朝向第一斜面板2，方便了通过第一斜面板2移动第二斜面板5。

实施例1：在实施例的一个方面中，为了尽可能减少斜面块8在滑动时倾斜的情况，本实施例提供了两种可选的实施方式。

实施例1.1，在本实施例中，斜面块8位于槽道6的开口处，减少了斜面块8在滑动时倾斜的情况发生，进而提高了斜面块8在滑动时的稳定性。

实施例1.2，在本实施例中，斜面块8与槽道6之间装设有第二弹簧7，减少了斜面块8在滑动时晃动的情况发生。

上述实施例可以相互结合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

Claims (6)

1.一种测试效率高的集成电路测试设备，其特征在于，包括：

测试器(1)，测试器(1)的上侧装设有多个第一斜面板(2)、多个分机机体(10)，测试器(1)上弹性且滑动配合有多个斜面块(8)，且第一斜面板(2)位于分机机体(10)的一侧；

多个第二斜面板(5)，且第二斜面板(5)活动配合在测试器(1)的上侧，第二斜面板(5)的一端与第一斜面板(2)滑动配合，第二斜面板(5)的另一端开设有卡槽(11)，且斜面块(8)位于卡槽(11)内，分机机体(10)的上侧贴合在第二斜面板(5)的下侧。

2.如权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试设备，其特征在于，测试器(1)的一侧开设有多个滑道(3)，滑道(3)的内部滑动配合有滑动块(4)，滑动块(4)与第二斜面板(5)之间装设有第一弹簧。

3.如权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试设备，其特征在于，测试器(1)的一侧开设有多个槽道(6)，槽道(6)的内部装设有第二弹簧(7)，第二弹簧(7)的一端装设在斜面块(8)的一侧。

4.如权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试设备，其特征在于，测试器(1)的一侧开设有多个放置槽(9)，且分机机体(10)位于放置槽(9)内。

5.如权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试设备，其特征在于，斜面块(8)的一侧设有第一斜面，且第一斜面朝向第一斜面板(2)。

6.如权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试设备，其特征在于，第一斜面板(2)的一侧设有第二斜面，且第二斜面朝向第二斜面板(5)，第二斜面板(5)的一侧设有第三斜面，且第三斜面朝向第一斜面板(2)。

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