测试装置和测试系统
技术领域
本申请涉及固态硬盘测试技术领域,尤其涉及一种测试装置和测试系统。
背景技术
固态硬盘(solid state drive,SSD),又称固态驱动器,是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘,固态硬盘因其读取速度快、轻便以及低功耗等优点而备受市场欢迎,需求量越来越大。
然而,目前在生产固态硬盘的效率上存在一定的限制,固态硬盘在制造完成后,需要进行各种测试,如通过大批量的写入数据来考核固态硬盘的寿命承受能力的老化测试、文件的写入和读取准确度的测试、读写速度测试等,而在进行测试的过程中,通常是人工将固态硬盘芯片对准测试口,确认无误后插入测试口,测试完成后再拔出固态硬盘,这种人工插拔测试方式在插拔固态硬盘时,十分容易对固态硬盘的金手指造成磨损,从而造成固态硬盘的可插拔寿命降低。
实用新型内容
本申请的目的是提供一种测试装置和测试系统,通过使用第一顶针和第二顶针连接固态硬盘的金手指区域以对固态硬盘进行测试,减少固态硬盘的金手指在连接时出现的刮花损伤或损坏。
本申请公开了一种测试装置,用于测试固态硬盘,所述固态硬盘一端设有尾插,另一端设有金手指,所述测试装置包括测试板,所述测试板上设有测试组件,所述测试组件包括第一连接组件和第二连接组件,所述第一连接组件与所述金手指连接,所述第二连接组件与所述尾插连接,所述第一连接组件包括第一顶针、第二顶针和移动件,所述第一顶针与所述移动件固定连接,所述第二顶针设置在所述测试板上,所述移动件与所述测试板滑动连接以靠近或远离测试板,所述移动件滑动以带动所述第一顶针靠近或远离测试板;其中,所述第一连接组件和所述第二连接组件将所述固态硬盘固定在所述测试板上,以便所述固态硬盘进行测试。
可选的,所述第二连接组件包括底座、弹性件和压紧件,所述弹性件一端与所述底座抵接,另一端与所述压紧件抵接,所述底座与所述测试板连接,所述压紧件与所述尾插连接;其中,在弹性件的弹力作用下,所述压紧件与所述尾插抵接以固定所述固态硬盘。
可选的,所述压紧件上设有定位凹槽,所述尾插卡入所述定位凹槽内以固定所述固态硬盘。
可选的,所述第二连接组件还包括螺钉,所述底座上设有与螺钉相匹配的内螺纹,所述测试板上设有定位孔,所述螺钉穿过所述定位孔与所述底座螺纹连接,以将所述底座与所述测试板固定。
可选的,所述测试板上设有多个测试工位,每个所述测试工位上均设有一组所述测试组件,所述固态硬盘通过所述测试组件固定在所述测试工位上。
可选的,所述测试装置还包括储存模块150和控制模块,所述储存模块150内储存用于测试所述固态硬盘的测试程序,所述控制模块用于控制所述固态硬盘进行测试,所述储存模块150与所述固态硬盘通过所述第一连接组件连接,所述控制模块与所述储存模块150电连接。
可选的,所述测试装置还包括电源模块、开关模块和外部供电端口,所述电源模块和所述外部供电端口均与所述开关模块连接,所述开关模块与所述固态硬盘和所述控制模块以及所述储存模块150连接,所述开关模块用于切换所述测试板的供电方式。
可选的,所述外部供电端口为USB接口。
可选的,每个所述测试工位上设有多个定位孔,所述底座通过所述螺钉与所述定位孔连接,多个所述定位孔分别对应不同尺寸的所述固态硬盘。
本申请还公开了一种测试系统,包括如上所述的测试装置和控制组件,所述测试装置设有多个,所述控制组件与多个所述测试装置电连接,所述控制组件控制多个所述测试装置。
本申请的测试装置,通过使用第一顶针和第二顶针连接固态硬盘的金手指区域以对固态硬盘进行测试,相比起原有的通过插槽拔插以连接固态硬盘的金手指区域来说,本实施例的测试装置可以减少固态硬盘的金手指在连接时出现的刮花损伤或损坏,保证测试前后固态硬盘的金手指区域的完整度,避免因划伤刮花等磨损了固态硬盘的金手指而造成固态硬盘的可插拔寿命降低的情况,且使用第一顶针和第二顶针来夹持固态硬盘的金手指,从而不会在固态硬盘的金手指上留下痕迹,使得测试完成的固态硬盘也不会有外观上的缺陷,从而提高消费者的消费体验。
附图说明
所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解,其构成了说明书的一部分,用于例示本申请的实施方式,并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1是本申请的第一实施例的一种测试装置的结构示意图;
图2是本申请的第一实施例的一种测试装置的爆炸示意图;
图3是本申请的第一实施例的第二连接组件的结构示意图;
图4是本申请的第一实施例的第二连接组件的爆炸示意图;
图5是本申请的第二实施例的一种测试装置的结构示意图;
图6是本申请的第二实施例的一种测试装置的另一角度结构示意图;
图7是本申请的第三实施例的一种测试系统的结构示意图。
其中,100、测试装置;110、测试板;111、定位孔;120、第一连接组件;121、第一顶针;122、第二顶针;123、移动件;130、第二连接组件;131、底座;132、弹性件;133、压紧件;134、定位凹槽;135、螺钉;140、测试工位;150、储存模块;160、控制模块;200、固态硬盘;210、尾插;220、金手指;300、控制组件;400、测试系统。
具体实施方式
需要理解的是,这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节,仅仅是为了描述具体实施例,是代表性的,但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现,不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示相对重要性,或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,除非另有说明,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征;“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形,意为不排他的包含,可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
另外,“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语,是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的,仅是为了便于描述本申请的简化描述,而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
此外,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
如图1和图2所示,作为本申请的第一实施例,公开了一种测试装置100,用于测试固态硬盘200,所述固态硬盘200一端设有尾插210,另一端设有金手指220,所述测试装置100包括测试板110,所述测试板110上设有测试组件,所述测试组件包括第一连接组件120和第二连接组件130,所述第一连接组件120与所述金手指220连接,所述第二连接组件130与所述尾插210连接,所述第一连接组件120包括第一顶针121、第二顶针122和移动件123,所述第一顶针121与所述移动件123固定连接,所述第二顶针122设置在所述测试板110上,所述移动件123与所述测试板110滑动连接以靠近或远离所述测试板110,所述移动件123滑动以带动所述第一顶针121靠近或远离测试板110,所述第一连接组件120和所述第二连接组件130将所述固态硬盘200固定在所述测试板110上,以便所述固态硬盘200进行测试;需要说明的是,所述移动件123与所述测试板110的滑动连接可以是通过滑槽和滑块实现的滑动连接,也可以是通过滑轨和滑块实现的滑动连接,此处不做限定,设计人员可以根据实际情况来选择设计移动件123与测试板110的滑动连接所使用的部件的类型;其中,当所述测试板110上未放置固态硬盘200时,所述第一顶针121和所述第二顶针122之间间隔设置,以避免第一顶针121和第二顶针122相互抵接而造成损坏或磨损;所述移动件123可以为L型板。
本实施例的测试装置100在使用时,首先滑动移动件123以使其远离测试板110,使得第一顶针121和第二顶针122之间的间隔增大,而后,将固态硬盘200设有金手指220的一端放置到第二顶针122的位置上,使固态硬盘200的金手指220与第二顶针122接触,且固态硬盘200的尾插210与所述第二连接组件130连接,此时基本完成固态硬盘200的定位安装,随后滑动移动件123使其朝向测试板110滑动,让第一顶针121也与固态硬盘200的金手指220进行接触即可完成固态硬盘200的安装,固态硬盘200被安装到测试板110上,从而可以通过测试装置100对固态硬盘200进行测试;总的来说,本实施例的测试装置100,通过使用第一顶针121和第二顶针122连接固态硬盘200的金手指220区域以对固态硬盘200进行测试,相比起原有的通过插槽拔插以连接固态硬盘200的金手指220区域来说,本实施例的测试装置100可以减少固态硬盘200的金手指220在连接时出现的刮花损伤或损坏,保证测试前后固态硬盘200的金手指220区域的完整度,避免因划伤刮花等磨损了固态硬盘200的金手指220而造成固态硬盘200的可插拔寿命降低的情况,且使用第一顶针121和第二顶针122来夹持固态硬盘200的金手指220,从而不会在固态硬盘200的金手指220上留下痕迹,使得测试完成的固态硬盘200也不会有外观上的缺陷,从而提高消费者的消费体验;可以理解的是,所述第一顶针121接触的固态硬盘200的金手指220为固态硬盘200的正面,即固态硬盘200背离测试板110的一面,所述第二顶针122接触的固态硬盘200的金手指220为固态硬盘200的背面,即固态硬盘200靠近测试板110的一面,所述第一顶针121与所述第二顶针122相对设置。
进一步的,如图3和图4所示,所述第二连接组件130包括底座131、弹性件132和压紧件133,所述弹性件132一端与所述底座131抵接,另一端与所述压紧件133抵接,所述底座131与所述测试板110连接,所述压紧件133与所述尾插210连接,固态硬盘200在安装到测试板110上时,固态硬盘200的尾插210会与压紧件133进行抵接,此时第二连接组件130的底座131位置固定,固态硬盘200的尾插210与压紧件133抵接时,会推动压紧件133朝向底座131的方向移动,从而使得位于底座131和压紧件133之间的弹性件132压缩,而后在弹性件132的弹力作用下,由于底座131的位置固定,弹性件132会将压紧件133紧紧抵接在固态硬盘200的尾插210上,从而完成固态硬盘200设有尾插210的一端的固定,随后再通过第一连接组件120将固态硬盘200设有金手指220的一端进行固定即可对固态硬盘200进行测试;其中,为了使得固态硬盘200设有尾插210的一端与第二连接组件130的连接更为稳固,所述压紧件133上设有定位凹槽134,所述尾插210卡入所述定位凹槽134内以将所述固态硬盘200进行固定,尾插210卡入定位凹槽134内时,尾插210的上下两端会与定位凹槽134的槽壁进行抵接,从而使得固态硬盘200在与第二连接组件130连接后,不会出现上下移动的情况;其中,所述弹性件132可以是弹簧,也可以是弹性橡胶,设计人员可以根据实际需求对弹性件132进行选择设计,此处不做限定;总的来说,本实施例的第二连接组件130与固态硬盘200的尾插210连接,相比起原有的通过螺钉135直接压紧锁定固态硬盘200的连接方式而言,工作人员在安装固态硬盘200到测试板110上时能够省去繁琐的上螺钉135固定的步骤,加快了工作速度和工作效率,有利于节省人工成本和节省测试所需花费的时间成本。
如图2至图4所示,所述第二连接组件130还包括螺钉135,所述底座131上设有与螺钉135相匹配的内螺纹,所述测试板110上设有定位孔111,所述螺钉135穿过所述定位孔111与所述底座131螺纹连接,以将所述底座131与所述测试板110固定,从而确定第二连接组件130在测试板110上的位置,随后再将弹性件132和压紧件133组装到底座131上以完成第二连接组件130的安装,从而可以开始安装固态硬盘200以进行测试,其中,所述定位孔111可以设有多个,每个所述定位孔111到所述第一连接组件120的尺寸均不相同,以实现对多种不同尺寸的固态硬盘200的测试,测试人员可以根据固态硬盘200的尺寸不同,来选择将第二连接组件130安装到不同位置的定位孔111上,从而实现一个测试装置100能够对多种尺寸的固态硬盘200进行测试,无需根据固态硬盘200的尺寸不同来设计不同的测试装置100,实现泛用性,其中,所述测试板110上可以适配的固态硬盘200的尺寸是2242、2260或2280这三种常见的固态硬盘200尺寸,也可以根据不同的固态硬盘200尺寸来设计定位孔111的位置。
进一步的,所述测试装置100还包括储存模块150和控制模块160,所述储存模块150内储存有用于测试所述固态硬盘200的测试程序,所述控制模块160用于控制所述固态硬盘200进行测试,所述储存模块150与所述固态硬盘200通过所述第一连接组件120连接,所述控制模块160与所述储存模块150电连接,当所述固态硬盘200通过所述第一连接组件120和所述第二连接组件130安装到所述测试板110上时,测试人员可以通过控制模块160控制所述固态硬盘200进行测试,固态硬盘200在进行测试时,首先会由储存模块150将储存的测试程序通过固态硬盘200的金手指220传输到固态硬盘200内,随后再由控制模块160控制固态硬盘200进行读写程序以进行测试,以对固态硬盘200的寿命承受能力、文件的写入和读取准确度以及读写速度等进行测试;其中,所述测试装置100还包括电源模块、开关模块和外部供电端口,所述电源模块和所述外部供电端口均与所述开关模块连接,所述开关模块与所述固态硬盘200和所述控制模块160以及所述储存模块150连接,所述开关模块用于切换所述测试板110的供电方式,测试人员可以根据固态硬盘200的测试内容,通过开关模块切换测试板110的供电方式,可以切换为较低电压的电源模块进行供电,也可以切换为较高电压的外部供电端口进行供电,从而为固态硬盘200以及测试板110提供稳定的驱动电压以进行测试工作;需要说明的是,所述外部供电端口可以是USB接口,可以为USB-A接口即插即用。
如图5和图6所示,作为本申请的第二实施例,是本申请的第一实施例的一种改进,公开了一种测试装置100,所述测试板110上设有多个测试工位140,每个所述测试工位140上均设有一组所述测试组件,所述固态硬盘200通过所述测试组件固定在所述测试工位140上;每个所述测试工位140上设有多个定位孔111,所述底座131通过所述螺钉135与所述定位孔111连接,多个所述定位孔111分别对应不同尺寸的所述固态硬盘200;
在使用时,所述测试板110上设有多个测试工位140,工作人员可以根据测试工位140的数量将对应数量的固态硬盘200通过第一连接组件120和第二连接组件130来安装到测试板110上,随后通过控制模块160来控制测试板110上的多个固态硬盘200同时进行测试,以实现一次对多个固态硬盘200进行测试;其中,测试工位140上设有多个定位孔111,以使得可以同时安装不同尺寸的固态硬盘200到测试板110上,从而对不同尺寸的固态硬盘200同时进行测试;总的来说,本实施例的测试装置100,不仅能够同时对多个固态硬盘200进行测试,也能够对不同尺寸的固态硬盘200进行测试,测试装置100可以测试的固态硬盘200的尺寸兼容范围广,无需根据不同尺寸的固态硬盘200来设计不同尺寸的测试装置100,从而节省测试装置100的成本,实现一机多用,无需切换设备,减少设备购买的成本。
如图7所示,作为本申请的第三实施例,公开了一种测试系统400,所述测试系统400包括如上实施例所述的测试装置100和控制组件300,所述测试装置100设有多个,所述控制组件300与多个所述测试装置100电连接,所述控制组件300控制多个所述测试装置100;本实施例的测试系统400的测试装置100,通过使用第一顶针121和第二顶针122连接固态硬盘200的金手指220区域以对固态硬盘200进行测试,相比起原有的通过插槽拔插以连接固态硬盘200的金手指220区域来说,本实施例的测试装置100可以减少固态硬盘200的金手指220在连接时出现的刮花损伤或损坏,保证测试前后固态硬盘200的金手指220区域的完整度,避免因划伤刮花等磨损了固态硬盘200的金手指220而造成固态硬盘200的可插拔寿命降低的情况,且使用第一顶针121和第二顶针122来夹持固态硬盘200的金手指220,从而不会在固态硬盘200的金手指220上留下痕迹,使得测试完成的固态硬盘200也不会有外观上的缺陷,从而提高消费者的消费体验;同时,本实施例的测试系统400可以实现一次对多个测试装置100同时进行驱动工作,工作人员可以一次安装多个测试装置100,从而实现多个固态硬盘200同时进行测试。
需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例,但是申请文件的篇幅有限,无法一一列出,因而,在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例,各实施例或技术特征组合之后,将会增强原有的技术效果。
以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明,不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本申请的保护范围。