CN217133309U - 用于电路板测试的针盘治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种用于电路板测试的针盘治具，其包括测试机台面，其上设有至少一块与测试主机连接的第一端子；和转接模块，其包括用于与第一端子电连接的第二端子、与第二端子电连接且用于与待测电路板电连接的测试针，和用于定位待测电路板的第一定位结构；第一定位结构为第一定位杆，且第一定位杆的顶端设置成圆弧形或圆锥形。转接模块与测试机台面通过设在其上的第一端子和第二端子插接的方式连接，连接方便快捷，不会出现导线失效导致无法测试电路板的问题；而且，可以通过第一定位结构实现待测电路板与转接模块的快速定位，保证测试的准确性；同时，可以根据待测电路板的不同更换不同的转接模块，保持较高的电路板测试效率。

Description

用于电路板测试的针盘治具

技术领域

本实用新型涉及电路板测试装置，具体涉及一种用于电路板测试的针盘治具。

背景技术

为了避免接触不良的电路板流出至包装工序，在完成电路板的制作之后一般都会包括电路板的测试工序，电路板的测试工序通过将待测电路板与电路板测试装置连接，测试电路板的功能。

但是，现有的电路板测试装置一般都包括测试机台面和用于与待测电路板电连接的转接板，测试前需要通过导线或导针一一将测试机台面与转接板对应的连接孔电连接，由于这些连接孔的数量特别多，导致操作效率低下和连接的过程中易出现连接错误的问题；而且，随着使用次数的增加，经过多次安装与拆卸的导线或导针也易出现损坏以及与测试机台面和转接板接触不良的情况，导致电路板测试装置失效，测试过程中易对待测电路板出现误判的问题。

实用新型内容

为了解决一般的电路板测试装置在使用前后需要通过导线或导针一一将其中的测试机台面与转接板对应的连接孔电连接，导致电路板测试装置易因导线和导针失效或损坏而失效等问题中的至少一个，根据本实用新型的一个方面，提供了一种用于电路板测试的针盘治具。

该用于电路板测试的针盘治具包括测试机台面，其上设有至少一块与测试主机连接的第一端子；和转接模块，其包括用于与第一端子电连接的第二端子、与第二端子电连接且用于与待测电路板电连接的测试针，和用于定位待测电路板的第一定位结构；第一定位结构为第一定位杆，且第一定位杆的顶端设置成圆弧形或圆锥形。

由此，当需要对完成加工的电路板进行测试时，可以将设置有与待测电路板对应的测试针的转接模块与测试机台面电连接，转接模块与测试机台面通过设在其上的第一端子和第二端子插接的方式连接，第一端子与第二端子的插接仅需要一次操作即可，连接方便快捷，不会出现导线失效导致无法测试电路板的问题；而且，由于转接模块上设有用于定位待测电路板的第一定位结构，可以快速实现待测电路板与转接模块的定位，保证测试针与待测电路板的对应位置对准，以实现两者的电连接，保证测试的准确性；同时，可以根据待测电路板的不同更换不同的转接模块，不同的转接模块均可通过第二端子与测试机台面的第一端子实现快速插接，保持较高的电路板测试效率。

在一些实施方式中，该用于电路板测试的针盘治具还包括用于将转接模块定位在测试机台面上的第二定位结构。由此，可以通过第二定位结构辅助第一端子与第二端子快速定位，确保第一端子与第二端子插接时不会出现错位，保证两者连接的准确性和可靠性，避免因插接时错位导致端子的损坏。

在一些实施方式中，第一端子和第二端子中的一个为公端子，另一个为母端子，两者通过插接的方式电连接。由此，可以通过公端子与母端子的插接实现转接模块与测试机台面的快速连接。

在一些实施方式中，转接模块还包括：与第二端子连接的底板；设在底板上的、用于支撑测试针的针体支撑块；和设在针体支撑块上的电路板支撑块；第一定位结构设在电路板支撑块上；电路板支撑块上设有与测试针对应的第一针体通过孔。由此，既便于针体支撑块加工用于支撑测试针的结构，也便于在电路板支撑块上设置第一定位结构。

在一些实施方式中，转接模块还包括用于给测试针提供导向的导向模块，电路板支撑块通过导向模块设在针体支撑块上。由此，当测试针的长度较长时，可以通过导向模块给测试针提供支撑，避免待测电路板抵靠在测试针上时测试针发生偏转或弯折。

在一些实施方式中，导向模块包括沿针体支撑块至电路板支撑块的排布方向排布的至少一组导向单元；导向单元包括针体导向过渡板和设在针体导向过渡板的背离针体支撑块的一侧上的间隔块；距离针体支撑块最近的一组导向单元的针体导向过渡板抵靠在针体支撑块上；距离电路板支撑块最近的一组导向单元的间隔块抵靠在电路板支撑块上；针体导向过渡板上设有与测试针对应的第二针体通过孔。

由此，可以根据测试针的长度设置不同数量的导向单元，以避免测试针因伸出电路板支撑块的长度过长，而在待测电路板抵靠在其上时发生弯折的问题。

在一些实施方式中，该用于电路板测试的针盘治具还包括供测试针穿过、且在无外力作用在测试针上时能够保持测试针不会相对其移动的针体保持单元，针体保持单元设在其中一块针体导向过渡块上。示例性的，针体保持单元可以采用海绵布。由此，可以当更换导向单元时，可以通过针体保持单元保持测试针不会落下。

在一些实施方式中，该用于电路板测试的针盘治具还包括过渡块；针体支撑块通过过渡块设在底板上；过渡块分别通过支撑杆与底板和针体支撑块连接；过渡块上设有供将第二端子与测试针连接的第一导线通过的第一通道。由此，将测试针与第二端子连接的第一导线可以放置在过渡块与底板之间的空间中，或放置在过渡块与针体支撑块之间的空间中，以保持整个用于电路板测试的针盘治具的外观的整齐和紧凑。

在一些实施方式中，该用于电路板测试的针盘治具还包括第一弹簧；测试针通过第一弹簧抵靠在针体支撑块上。由此，测试针为非刚性地设置在针体支撑块上，当待测电路板抵靠在测试针上时，可以通过第一弹簧给待测电路板缓冲，避免在测试电路板的过程中，待测电路板与测试针因硬接触而出现损坏的问题。

附图说明

图1为本实用新型第一种实施方式的用于电路板测试的针盘治具的结构示意图；

图2为图1所示用于电路板测试的针盘治具的另一视角的结构示意图；

图3为图2所示用于电路板测试的针盘治具的沿A-A方向的剖面结构示意图；

图4为图1所示用于电路板测试的针盘治具的拆卸状态结构示意图；

图5为图1所示用于电路板测试的针盘治具的另一视角的拆卸状态结构示意图；

图6为本实用新型第二种实施方式的用于电路板测试的针盘治具的结构示意图；

图7为本实用新型第三种实施方式的用于电路板测试的针盘治具的结构示意图；

图8为本实用新型第四种实施方式的用于电路板测试的针盘治具的结构示意图；

图9为图8所示用于电路板测试的针盘治具的另一视角的结构示意图；

图10为图9所示用于电路板测试的针盘治具的沿B-B方向的剖面结构示意图；

图11为图10所示用于电路板测试的针盘治具的C处放大结构示意图；

图12为图8所示用于电路板测试的针盘治具的使用状态结构示意图；

附图标记：100、待测电路板；101、第一定位孔；20、测试机台面； 21、第一端子；30、转接模块；31、第二端子；32、测试针；321、第一弹簧；33、第一定位结构；331、第一定位杆；34、底板、35、针体支撑块； 351、第一空腔；352、第一开口；36、电路板支撑块；361、第一针体通过孔；37、导向模块；371、导向单元；3711、针体导向过渡板；37111、第二针体通过孔；3712、间隔块；40、第二定位结构；41、第二定位孔；42、第二定位杆；50、针体保持单元；60、过渡块；61、第一通道；70、支撑杆；80、第一导线。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”，不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。在本文中所用的术语一般为本领域技术人员常用的术语，如果与常用术语不一致，以本文中的术语为准。

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

图1至图5示意性地显示了根据本实用新型的第一种实施方式的用于电路板测试的针盘治具。

如图3所示，该用于电路板测试的针盘治具包括测试机台面20和转接模块30；其中，测试机台面20至少设有一块用于与外部的测试主机连接的第一端子21；转接模块30包括第二端子31、测试针32和第一定位结构33，其中，第二端子31用于与第一端子21电连接，测试针32与第二端子31 电连接且用于与待测电路板100电连接，第一定位结构33用于相对转接模块30定位待测电路板100。示例性的，第一定位结构33实现为与待测电路板100上的第一定位孔101位置相对应的第一定位杆331，优选的，第一定位杆331的顶端设置成圆弧形或圆锥形，以便给第一定位杆331插入第一定位孔101提供导向。进一步的，第一定位杆331至少设有两根，且至少两根分别设在转接模块30的对角或对边上。示例性的，第一端子21和第二端子31中的一个为公端子，另一个为母端子，两者通过插接的方式电连接。由此，可以通过公端子与母端子的插接实现转接模块30与测试机台面 20的快速连接。

由此，当需要对完成加工的电路板进行测试时，可以将设置有与待测电路板100对应的测试针32的转接模块30与测试机台面20电连接，转接模块30与测试机台面20通过设在其上的第一端子21和第二端子31插接的方式连接，第一端子21与第二端子31的插接仅需要一次操作即可，连接方便快捷，不会出现导线失效导致无法测试电路板的问题；而且，由于转接模块30上设有用于定位待测电路板100的第一定位结构33，可以快速实现待测电路板100与转接模块30的定位，保证测试针32与待测电路板 100的对应位置对准，以实现两者的电连接，保证测试的准确性；同时，可以根据待测电路板100的不同更换不同的转接模块30，不同的转接模块30 均可通过第二端子31与测试机台面20的第一端子21实现快速插接，保持较高的电路板测试效率。

为了确保第一端子21与第二端子31插接时不会出现错位，保证两者连接的准确性和可靠性，避免因插接时错位导致端子的损坏，在一些实施例中，参考4和图5所示，该用于电路板测试的针盘治具还包括用于将转接模块30定位在测试机台面20上的第二定位结构40。由此，可以通过第二定位结构40辅助第一端子21与第二端子31快速定位。示例性的，第二定位结构40可以实现为一体成型或加工在测试机台面20和转接模块30中的一个上的第二定位孔41，和连接在另一个的对应位置上的第二定位杆42。优选的，第二定位杆42至少设有两根，且至少两根分别设置在测试机台面 20或转接模块30的对角或对边上，第二定位孔41的数量与第二定位杆42 的数量相同，且位置相对应。

示例性的，参考图1、图3至图5所示，转接模块30还包括底板34、针体支撑块35和电路板支撑块36；其中，底板34与第二端子31连接；针体支撑块35设在底板34上且用于支撑测试针32；电路板支撑块36设在针体支撑块35上；第一定位结构33设在电路板支撑块36上；电路板支撑块 36上设有与测试针32对应的第一针体通过孔361。由此，既便于针体支撑块35加工用于支撑测试针32的结构，也便于在电路板支撑块36上设置第一定位结构33。优选的，针体支撑块35可以通过支撑杆70设在底板34 上，以便于将第二端子31与测试针32连接的第一导线80放置在针体支撑块35与底板34之间，保持整个用于电路板测试的针盘治具的结构的整洁性。具体的，第二定位结构40的第二定位孔41或第二定位杆42可以设在底板34上。

为了避免当测试针32的长度较长时，待测电路板100抵靠在测试针32 上时测试针32发生偏转或弯折。在优选实施例中，如图6所示，转接模块 30还包括用于给测试针32提供导向的导向模块37，电路板支撑块36通过导向模块37设在针体支撑块35上。由此，可以通过导向模块37给测试针 32提供支撑，避免待测电路板100抵靠在测试针32上时测试针32发生偏转或弯折。示例性的，继续参考图6所示，导向模块37包括沿针体支撑块 35至电路板支撑块36的排布方向排布的至少一组导向单元371；导向单元 371包括针体导向过渡板3711和设在针体导向过渡板3711的背离针体支撑块35的一侧上的间隔块3712；距离针体支撑块35最近的一组导向单元371 的针体导向过渡板3711抵靠在针体支撑块35上；距离电路板支撑块36最近的一组导向单元371的间隔块3712抵靠在电路板支撑块36上；针体导向过渡板3711上设有与测试针32对应的第二针体通过孔37111。也即当有两组以上的导向单元371时，相邻导向单元371中远离针体支撑块35的一组导向单元371的针体导向过渡板3711抵靠在另一组导向单元371的间隔块3712上。由此，可以根据测试针32的长度设置不同数量的导向单元371，以避免测试针32因伸出电路板支撑块36的长度过长，而在待测电路板100 抵靠在其上时发生弯折的问题。

在优选实施例中，参考图8至图10所示，该用于电路板测试的针盘治具还包括供测试针32穿过、且在无外力作用在测试针32上时能够保持测试针32不会相对其移动的针体保持单元50，针体保持单元50设在其中一块针体导向过渡块60上。示例性的，针体保持单元50可以采用海绵布。由此，可以当更换导向单元371时，可以通过针体保持单元50保持测试针32不会落下。

在一些实施例中，该用于电路板测试的针盘治具还包括过渡块60；针体支撑块35通过过渡块60设在底板34上；过渡块60分别通过支撑杆70 与底板34和针体支撑块35连接；过渡块60上设有供将第二端子31与测试针32连接的第一导线80通过的第一通道61。示例性的，可以在第一种实施方式的用于电路板测试的针盘治具的基础上设置过渡块60，如图7所示。也可以在第二种实施方式的用于电路板测试的针盘治具的基础上设置过渡块60，如图8所示。由此，将测试针32与第二端子31连接的第一导线80可以放置在过渡块60与底板34之间的空间中，或放置在过渡块60 与针体支撑块35之间的空间中，以保持整个用于电路板测试的针盘治具的外观的整齐和紧凑。

在优选实施例中，如图10和图11所示，该用于电路板测试的针盘治具还包括第一弹簧321；测试针32通过第一弹簧321抵靠在针体支撑块35 上。由此，测试针32为非刚性地设置在针体支撑块35上，当待测电路板 100抵靠在测试针32上时(如图12所示)，可以通过第一弹簧321给待测电路板100缓冲，避免在测试电路板的过程中，待测电路板100与测试针32因硬接触而出现损坏的问题。

在优选实施例中，第一定位杆331设置成伸缩杆结构，以避免第一定位杆331在给待测电路板100定位时两者发生硬接触而导致待测电路板100 损坏的问题。第一定位杆331的伸缩杆结构可以实现为：第一定位杆331 通过第二弹簧抵靠在电路板支撑块36上，其实现方式可参照测试针32通过第一弹簧321抵靠在针体支撑块35的方式实现。

在本实用新型中，一个部件设在另一个部件上，除了明确表示两者是电连接之外，两者都是可拆卸连接或不可拆卸连接。其中，可拆卸连接或不可拆卸连接方式采用常用的连接方式实现即可，在未作出特别说明的情况下，本实用新型对具体连接方式不作限定。

以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (11)

1.用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，包括：

测试机台面，其上设有至少一块与测试主机连接的第一端子；

和转接模块，其包括用于与所述第一端子电连接的第二端子、与所述第二端子电连接且用于与待测电路板电连接的测试针，和用于定位所述待测电路板的第一定位结构；

所述第一定位结构为第一定位杆，且第一定位杆的顶端设置成圆弧形或圆锥形。

2.根据权利要求1所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，还包括用于将所述转接模块定位在所述测试机台面上的第二定位结构。

3.根据权利要求2所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，所述第一端子和第二端子中的一个为公端子，另一个为母端子，两者通过插接的方式电连接。

4.根据权利要求3所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，所述转接模块还包括：

与所述第二端子连接的底板；

设在所述底板上的、用于支撑所述测试针的针体支撑块；

和设在所述针体支撑块上的电路板支撑块；

所述第一定位结构设在所述电路板支撑块上；

所述电路板支撑块上设有与所述测试针对应的第一针体通过孔。

5.根据权利要求4所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，所述转接模块还包括：

用于给所述测试针提供导向的导向模块，所述电路板支撑块通过所述导向模块设在所述针体支撑块上。

6.根据权利要求5所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，所述导向模块包括沿所述针体支撑块至所述电路板支撑块的排布方向排布的至少一组导向单元；

所述导向单元包括针体导向过渡板和设在所述针体导向过渡板的背离所述针体支撑块的一侧上的间隔块；

距离所述针体支撑块最近的一组导向单元的针体导向过渡板抵靠在所述针体支撑块上；

距离所述电路板支撑块最近的一组导向单元的间隔块抵靠在所述电路板支撑块上；

所述针体导向过渡板上设有与所述测试针对应的第二针体通过孔。

7.根据权利要求6所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，还包括供所述测试针穿过、且在无外力作用在所述测试针上时能够保持所述测试针不会相对其移动的针体保持单元，所述针体保持单元设在其中一块针体导向过渡块上。

8.根据权利要求7所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，所述针体保持单元为海绵布。

9.根据权利要求4至8任意一项所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，还包括过渡块；

所述针体支撑块通过所述过渡块设在所述底板上；

所述过渡块分别通过支撑杆与所述底板和针体支撑块连接；

所述过渡块上设有供将所述第二端子与测试针连接的第一导线通过的第一通道。

10.根据权利要求4至8任意一项所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，还包括第一弹簧；

所述测试针通过所述第一弹簧抵靠在所述针体支撑块上。

11.根据权利要求9所述的用于电路板测试的针盘治具，其特征在于，还包括第一弹簧；

所述测试针通过所述第一弹簧抵靠在所述针体支撑块上。

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