CN212965292U - 一种便捷式插拨测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于电子芯片测试设备技术领域，公开了一种便捷式插拨测试装置，封装外壳设于PCB测试板上，在封装外壳上开设有矩形槽，测试座通过螺钉与矩形槽可拆卸连接，活动组件包括固定板和活动板，固定板通过螺钉与PCB测试板固定连接，活动板沿着穿设于固定板和活动板的导向柱上下垂直滑动，第一弹片和第二弹片与固定板卡接；在活动板内并与第一弹片对应处嵌接有陶瓷棒，第一弹片上开设有条状斜槽，陶瓷棒穿设于条状斜槽并与其相匹配；测试座上开设有多个引脚孔，引脚孔和第二弹片的位置排布与待测模块的引脚的排布一一对应。本实用新型设计巧妙，结构合理，避免了测试引脚损伤，提高了测试设备寿命，极大的高了测试效率。

Description

一种便捷式插拨测试装置

技术领域

本实用新型属于电子芯片测试设备技术领域，尤其涉及一种便捷式插拨测试装置。

背景技术

随着现代电子产品的飞速发展，电子芯片或内置有电子芯片的功能模块作为其重要的组成核心，在生产与加工的过程中，对质量的检测管控越发的严格，在实际检测过程中，通过自动化产线，由测试夹具置电子芯片或内置有电子芯片的功能模块于测试座上测试，以此实现其性能检测。

目前，电子芯片的检测装置多采用开尔文测试方法进行性能测试，其亦被称之为四端子检测(4T检测，4Tsensing)、四线检测或4点探针法，是一种电阻抗测量技术，使用单独的对载电流和电压检测电极，相比传统的两个终端(2T)传感能够进行更精确的测量，开尔文四线检测被用于一些欧姆表和阻抗分析仪，并在精密应变计和电阻温度计的接线配置，也可用于测量薄膜的薄层或芯片的电阻。

现有技术中，多采用硬插拔的测试座来连接电子芯片或内置有电子芯片的功能模块与检测电路，以此实现针对电子芯片或内置有电子芯片的功能模块的开尔文测试，但是，现有技术的硬插拨的测试座具有一定缺陷，由于其硬插拨的测试方式，使得测试引脚亦出现刮痕，影响测试座和待测设备的质量和寿命，且硬插拨测试抽插不便并耗时较多，严重的影响了自动化测试效率，以上问题需要解决。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种便捷式插拨测试装置，以解决上述背景技术中所提到的问题。

为实现以上实用新型目的，采用的技术方案为：

一种便捷式插拨测试装置，包括PCB测试板、活动组件、测试弹片组件、测试座和封装外壳，所述PCB测试板用于对待测模块进行性能测试并与外界固定连接，所述封装外壳设于所述PCB测试板上并通过螺钉与所述PCB测试板固定连接，在所述封装外壳上开设有矩形槽，所述测试座通过螺钉与所述矩形槽可拆卸连接，所述活动组件设于所述封装外壳内并包括固定板和活动板，所述固定板用于固定所述测试弹片组件并通过螺钉与所述PCB测试板固定连接，所述活动板设于所述固定板与所述测试座之间并沿着穿设于所述固定板和所述活动板的导向柱上下垂直滑动，所述测试弹片组件包括第一弹片和设于所述第一弹片一侧的第二弹片，所述第一弹片和所述第二弹片与所述固定板卡接且其一端穿设于所述活动板，其另一端与所述PCB测试板电性连接；在所述活动板内并与所述第一弹片对应处嵌接有陶瓷棒，所述陶瓷棒跟随所述活动板上下垂直滑动，所述第一弹片上开设有条状斜槽，所述陶瓷棒穿设于所述条状斜槽并与其相匹配；所述测试座上开设有多个用于通过设于所述待测模块上的引脚的引脚孔，所述引脚孔和所述第二弹片的位置排布与所述引脚的排布一一对应。

本实用新型进一步设置为：穿设于所述条状斜槽的所述陶瓷棒的延展方向与所述条状斜槽的延展方向相垂直。

本实用新型进一步设置为：所述引脚与所述第二弹片的一端抵接，所述陶瓷棒跟随所述活动板上下垂直滑动并通过所述条状斜槽迫使所述第一弹片微形变并使其一端与所述待测模块的引脚抵接。

本实用新型进一步设置为：所述第一弹片和所述第二弹片均由金属合金材料制成。

本实用新型进一步设置为：所述测试座与所述待测模块相匹配。

本实用新型进一步设置为：所述导向柱分布于所述固定板的四个顶角并与所述固定板垂直设置。

本实用新型进一步设置为：在所述固定板上并与所述第一弹片和所述第二弹片对应处分别开设有用于固定所述第一弹片和所述第二弹片的第一固定槽和第二固定槽，所述第一固定槽上还开设有锁紧槽，所述第一弹片上卡接有紧锁块，所述紧锁块与所述紧锁槽相匹配，用于紧固所述第一弹片。

本实用新型进一步设置为：在所述活动板上通过螺钉固定连接有用于固定所述陶瓷棒及限制所述测试弹片组件的封板。

综上所述，与现有技术相比，本实用新型公开了一种便捷式插拨测试装置，其包括PCB测试板、活动组件、测试弹片组件、测试座和封装外壳，封装外壳固定在PCB测试板上，封装外壳的矩形槽固定测试座，通过测试座匹配待测模块，其中，活动组件包括固定板和活动板，固定板与PCB测试板固定连接，活动板设于固定板与测试座之间并沿着穿设于固定板和活动板的导向柱上下垂直滑动，测试弹片组件的第一弹片和第二弹片卡接在固定板上，且其一端穿设于活动板，其另一端与PCB测试板电性连接，在活动板内并与第一弹片对应处嵌接有陶瓷棒，陶瓷棒跟随活动板上下垂直滑动，第一弹片上开设有条状斜槽，陶瓷棒穿设于条状斜槽并与其相匹配，测试座上开设有多个用于通过设于待测模块上的引脚的引脚孔，引脚孔和第二弹片的位置排布与引脚的排布一一对应，即通过上述设置，在待测模块的测试过程中，其引脚通过引脚孔与第二弹片接触，在活动板的运动下，陶瓷棒上下垂直滑动并通过条状斜槽迫使第一弹片微形变并使其一端与待测模块的引脚抵接，从而导通PCB测试板的测试电路，实现开尔文性能测试，即改变以往的硬接触插拨方式，通过结构改进分步骤的使第一弹片和第二弹片依次接触引脚，避免了引脚损伤，提高了测试装置寿命，极大的高了测试效率，提高了市场竞争力。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实施例提供的一种便捷式插拨测试装置的整体结构示意图；

图2是本实施例提供的一种便捷式插拨测试装置的爆炸图；

图3是本实施例提供的一种便捷式插拨测试装置的内部结构图；

图4是图3的A处放大图；

图5是本实施例提供的活动组件的整体结构示意图；

图6是本实施例提供的固定板与测试弹片组件的装配结构图；

图7是图6的B处放大图；

图8是本实施例提供的第一弹片与紧锁块的装配结构图。

附图标记：1、PCB测试板；2、活动组件；21、固定板；211、导向柱；212、第一固定槽；213、第二固定槽；214、锁紧槽；22、活动板；221、陶瓷棒；222、封板；3、测试弹片组件；31、第一弹片；311、条状斜槽；312、紧锁块；32、第二弹片；4、测试座；41、引脚孔；5、封装外壳；51、矩形槽；6、待测模块；61、引脚。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明，应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

此外，上面所描述的本实用新型不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

一种便捷式插拨测试装置，如图1-图8所示，包括PCB测试板1、活动组件2、测试弹片组件3、测试座4和封装外壳5；在这里，PCB测试板1用于对待测模块6进行性能测试并与外界固定连接，封装外壳5设于PCB测试板1上并通过螺钉与PCB测试板1固定连接，在封装外壳5上开设有矩形槽51，测试座4通过螺钉与矩形槽51可拆卸连接，活动组件2设于封装外壳5内并包括固定板21和活动板22，固定板21用于固定测试弹片组件3并通过螺钉与PCB测试板1固定连接，活动板22设于固定板21与测试座4之间并沿着穿设于固定板21和活动板22的导向柱211上下垂直滑动，测试弹片组件3包括第一弹片31和设于第一弹片31一侧的第二弹片32，第一弹片31和第二弹片32与固定板21卡接且其一端穿设于活动板22，其另一端与PCB测试板1电性连接。

在具体实施过程中，如图4和图5所示，在活动板22内并与第一弹片31对应处嵌接有陶瓷棒221，陶瓷棒221跟随活动板22上下垂直滑动，第一弹片31上开设有条状斜槽311，陶瓷棒221穿设于条状斜槽311并与其相匹配；测试座4上开设有多个用于通过设于待测模块6上的引脚61的引脚孔41，引脚孔41和第二弹片32的位置排布与引脚61的排布一一对应。

进一步的，穿设于条状斜槽311的陶瓷棒221的延展方向与条状斜槽311的延展方向相垂直。

需要说明的是，引脚61与第二弹片32的一端抵接，陶瓷棒221跟随活动板22上下垂直滑动并通过条状斜槽311迫使第一弹片31微形变并使其一端与待测模块6的引脚61抵接，具体的，活动板22向上滑动，陶瓷棒221跟随向上滑动，因其在条状斜槽311内滑动且条状斜槽311为倾斜设计，故直接的，陶瓷棒221迫使第一弹片31微形变，即使得第一弹片31的一端向引脚61靠拢直至其与引脚61接触，实现测试回路导通，相同道理的，测试结束后，活动板22下滑，第一弹片31恢复，测试回路断开，单个电子芯片或待测模块测试完成。

其中，第一弹片31和第二弹片32均由金属合金材料制成。

需要说明的是，测试座4与待测模块6相匹配，以此保证待测模块6放置稳妥。

进一步的，导向柱211分布于固定板21的四个顶角并与固定板21垂直设置，以此保证活动板22上下滑动顺畅稳定。

在具体实施过程中，如图6-图8所示，在固定板21上并与第一弹片31和第二弹片32对应处分别开设有用于固定第一弹片31和第二弹片32的第一固定槽212和第二固定槽213，第一固定槽213上还开设有锁紧槽214，第一弹片31上卡接有紧锁块312，紧锁块312与紧锁槽214相匹配，用于紧固第一弹片31。

在具体实施过程中，如图5所示，在活动板22上通过螺钉固定连接有用于固定陶瓷棒221及限制测试弹片组件3的封板222。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：本实用新型公开了一种便捷式插拨测试装置，其包括PCB测试板1、活动组件2、测试弹片组件3、测试座4和封装外壳5，封装外壳5固定在PCB测试板1上，封装外壳5的矩形槽51固定测试座4，通过测试座4匹配待测模块6，其中，活动组件2包括固定板21和活动板22，固定板21与PCB测试板1固定连接，活动板22设于固定板21与测试座4之间并沿着穿设于固定板21和活动板22的导向柱211上下垂直滑动，测试弹片组件3的第一弹片31和第二弹片32卡接在固定板21上，且其一端穿设于活动板22，其另一端与PCB测试板1电性连接，在活动板22内并与第一弹片31对应处嵌接有陶瓷棒221，陶瓷棒221跟随活动板22上下垂直滑动，第一弹片31上开设有条状斜槽311，陶瓷棒221穿设于条状斜槽311并与其相匹配，测试座4上开设有多个用于通过设于待测模块6上的引脚61的引脚孔41，引脚孔41和第二弹片32的位置排布与引脚61的排布一一对应，即通过上述设置，在待测模块6的测试过程中，其引脚61穿设过引脚孔41与第二弹片32接触，在活动板22的运动下，陶瓷棒221上下垂直滑动并通过条状斜槽311迫使第一弹片31微形变并使其一端与待测模块6的引脚61抵接，从而导通PCB测试板1的测试电路，实现开尔文性能测试，即改变以往的硬接触插拨方式，通过结构改进分步骤的使第一弹片31和第二弹片32依次接触引脚61，避免了引脚61损伤，提高了测试装置寿命，极大的高了测试效率，提高了市场竞争力。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型创造的保护范围之中。

Claims (8)

1.一种便捷式插拨测试装置，包括PCB测试板、活动组件、测试弹片组件、测试座和封装外壳，其特征在于，所述PCB测试板用于对待测模块进行性能测试并与外界固定连接，所述封装外壳设于所述PCB测试板上并通过螺钉与所述PCB测试板固定连接，在所述封装外壳上开设有矩形槽，所述测试座通过螺钉与所述矩形槽可拆卸连接，所述活动组件设于所述封装外壳内并包括固定板和活动板，所述固定板用于固定所述测试弹片组件并通过螺钉与所述PCB测试板固定连接，所述活动板设于所述固定板与所述测试座之间并沿着穿设于所述固定板和所述活动板的导向柱上下垂直滑动，所述测试弹片组件包括第一弹片和设于所述第一弹片一侧的第二弹片，所述第一弹片和所述第二弹片与所述固定板卡接且其一端穿设于所述活动板，其另一端与所述PCB测试板电性连接；在所述活动板内并与所述第一弹片对应处嵌接有陶瓷棒，所述陶瓷棒跟随所述活动板上下垂直滑动，所述第一弹片上开设有条状斜槽，所述陶瓷棒穿设于所述条状斜槽并与其相匹配；所述测试座上开设有多个用于通过设于所述待测模块上的引脚的引脚孔，所述引脚孔和所述第二弹片的位置排布与所述引脚的排布一一对应。

2.如权利要求1所述的一种便捷式插拨测试装置，其特征在于，穿设于所述条状斜槽的所述陶瓷棒的延展方向与所述条状斜槽的延展方向相垂直。

3.如权利要求1所述的一种便捷式插拨测试装置，其特征在于，所述引脚与所述第二弹片的一端抵接，所述陶瓷棒跟随所述活动板上下垂直滑动并通过所述条状斜槽迫使所述第一弹片微形变并使其一端与所述待测模块的引脚抵接。

4.如权利要求1所述的一种便捷式插拨测试装置，其特征在于，所述第一弹片和所述第二弹片均由金属合金材料制成。

5.如权利要求1所述的一种便捷式插拨测试装置，其特征在于，所述测试座与所述待测模块相匹配。

6.如权利要求1所述的一种便捷式插拨测试装置，其特征在于，所述导向柱分布于所述固定板的四个顶角并与所述固定板垂直设置。

7.如权利要求1所述的一种便捷式插拨测试装置，其特征在于，在所述固定板上并与所述第一弹片和所述第二弹片对应处分别开设有用于固定所述第一弹片和所述第二弹片的第一固定槽和第二固定槽，所述第一固定槽上还开设有紧锁槽，所述第一弹片上卡接有紧锁块，所述紧锁块与所述紧锁槽相匹配，用于紧固所述第一弹片。

8.如权利要求1所述的一种便捷式插拨测试装置，其特征在于，在所述活动板上通过螺钉固定连接有用于固定所述陶瓷棒及限制所述测试弹片组件的封板。

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