KR101076846B1 - 하이 픽스보드용 테스터 커넥터 - Google Patents

하이 픽스보드용 테스터 커넥터 Download PDF

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KR101076846B1
KR101076846B1 KR1020100077653A KR20100077653A KR101076846B1 KR 101076846 B1 KR101076846 B1 KR 101076846B1 KR 1020100077653 A KR1020100077653 A KR 1020100077653A KR 20100077653 A KR20100077653 A KR 20100077653A KR 101076846 B1 KR101076846 B1 KR 101076846B1
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이병철
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(주)마이크로컨텍솔루션
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Abstract

본 발명은 하이 픽스보드용 테스터 커넥터에 관한 것으로, 하이픽스 테스트상의 소켓 보드의 제2 커넥터가 테스드 보드의 제1 커넥터에 접촉시 삽입과 인출에 힘의 가중을 최소화하기 위한 장비의 소형화/ 경량화 추세에 대응하는 소형의 ＺＩＦ 방식을 채택한 커넥터로 구성하여 고정 브라켓에 상부로 결합한 가이드 사이 양측에 내재되면서 양측의 푸시바가 양방향 슬라이딩이 동시에 이루어지도록 구성하여 푸시바의 양방향 슬라이딩 중 어느 일측 방향 이동에도 ZIF 컨텍트를 제2 커넥터(32)의 커넥터 핀에 접속시켜 보다 신속하고 정확하게 안정적으로 반도체 소자를 테스팅할 수 있는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터에 관한 것이다.
이를 위한 본 발명의 하이 픽스보드용 테스터 커넥터는, 탄성부가 형성된 ＺＩＦ컨택트를 수용하고, 제2 커넥터의 플러그가 삽입/인출되는 공간을 제공하는 고정 브라켓과; 상기 고정 브라켓의 하단부로 ＺＩＦ컨택트의 인출길이를 제한하도록 장착되는 스톱퍼와; 상기 고정 브라켓의 상단에 장착공간이 마련되어 상부로 결합을 이루면서 장착공간 양측에 하나 이상의 스프링을 개재하여 탄성 설치되도록 내장되면서 양측에 라운드 굴곡부를 형성한 가이드와; 상기 가이드의 굴곡부와 결합될 수 있도록 대응한 굴곡 형상을 갖는 푸시굴곡부를 형성하면서 양방향으로 슬라이딩 가능하게 장착되는 푸시바; 로 구성된다.

Description

하이 픽스보드용 테스터 커넥터{Hi-Fix Board tester connector}
본 발명은 하이 픽스보드용 테스터 커넥터에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 하이픽스 테스트상의 소켓 보드의 제2 커넥터가 테스드 보드의 제1 커넥터에 접촉시 삽입과 인출에 힘의 가중을 최소화하기 위한 장비의 소형화/ 경량화 추세에 대응하는 소형의 ＺＩＦ 방식을 채택한 커넥터로 구성하여 고정 브라켓에 상부로 결합한 가이드 사이 양측에 내재되면서 양측의 푸시바가 양방향 슬라이딩이 동시에 이루어지도록 구성하여 푸시바의 양방향 슬라이딩 중 어느 일측 방향 이동에도 ZIF컨텍트를 제2 커넥터의 커넥터 핀에 접속시켜 보다 신속하고 정확하게 반도체 소자를 안정적으로 테스팅할 수 있는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터에 관한 것이다.
일반적으로 반도체 장치는 반도체 웨이퍼로 사용되는 실리콘 웨이퍼 상에 도전성 구조물들을 포함하는 전기적인 회로를 형성하는 팹(Fab) 공정과, 상기 팹 공정에서 형성된 반도체 소자들의 전기적인 특성을 검사하기 위한 EDS(electrical die sorting) 공정과, 상기 반도체 소자들을 각각 에폭시 수지로 봉지하고 개별화시키기 위한 패키지 조립 공정을 통해 제조된다.
이후, 제조된 반도체 패키지의 외부로 노출된 리드에 전기적 테스트 신호 패턴을 인가하여 반도체 칩 내부 동작에 따른 출력 패턴을 인가된 테스트 신호와 비교하여 반도체 패키지의 불량 여부를 테스트하게 된다.
최근에는 반도체 소자의 반도체 메모리 칩들을 테스트하기 위하여 한 번에 수십 내지 수백 개의 칩들을 탑재하여 동시에 고속으로 테스트하는 반도체 소자의 테스트 장치들이 개발되고 있다.
종래의 테스트 장치는 도 1에 도시한 바와같이 테스트 신호 패턴을 전기적 신호로 발생시키는 테스트 보드(10)가 수용되는 테스트 헤드(11)와 반도체 소자가 장착하는 소켓보드(20) 및 상기 테스트 보드(10)와 상기 소켓보드(20)를 서로 전기적으로 연결하는 접속 케이블(30)들을 포함하는 하이픽스(hifix)와 같은 인터페이스 유닛을 포함한다.
이때, 상기 인터페이스 유닛과 상기 테스트 보드(10)는 커넥터에 의해 상호 연결된다. 구체적으로, 상기 커넥터는 상기 테스트 보드(10)와 연결되는 제1 커넥터(12)와 상기 인터페이스 유닛과 결합하며 상기 접속 케이블(30)들과 연결되는 제2 커넥터(32)를 포함한다. 상기 제1 커넥터(12)와 상기 제2 커넥터(32)는 암수 형태의 커넥터들로서 서로 삽입되어 연결된다.
최근에는, 동시에 수많은 반도체 소자들을 테스트하기 위하여 상기 테스트 장치의 테스트 보드(10)들은 병렬로 밀집배열된다. 이에 따라, 상기 테스트 보드(10)에 대응하는 제1 및 제2 커넥터(12)(32)들도 좁은 간격으로 밀집 배열된다.
따라서, 테스트 장치에 설치되는 커넥터의 수와, 단위 커넥터당 커넥터에 내장되는 콘택트 핀의 수가 점차 증가 되고 있다. 그런데, 콘택트 핀의 증가는 제2 커넥터(32)의 콘택트 핀과 제1 커넥터(12)의 커넥터 핀 사이에 과도한 마찰력을 발생시키는 문제점이 있다. 또한, 상기 마찰력에 의한 콘택트 핀 또는 커넥터 핀의 파손, 접촉 불량 및 그로 인한 커넥터 성능의 신뢰성이 저하되는 문제가 있다.
상기와 같은 문제를 보완하기 위해, 종래의 커넥터는 플러그의 삽입/분리에 따른 마찰력을 감소시킬 수 있는 ZIF(zero insertion force) 방식의 커넥터(이하, 'ZIF 커넥터'라 한다)를 사용하고 있다.
상기 ZIF 커넥터는 콘택트 핀이 플러그와 소정 간격 이격되게 배치되어 있어서, 상기 플러그를 콘택트 핀에 접촉되지 않은 상태로 삽입하게 된다. 그리고 상기 커넥터의 일측에 상기 콘택트 핀을 플러그에 대해 가압/해제할 수 있도록 하는 수단이 별도로 구비된다. 따라서, 상기 플러그의 삽입/분리시 힘을 가하지 않아도 되고, 접속/ 분리는 별도의 수단에 의해 추후에 이루어지므로 상기 플러그와 콘택트 핀 사이의 마찰력을 감소시킬 수 있다.
그러나, 종래의 ZIF 커넥터에 있어서, 제2 커넥(32)터의 가압부재는 제2 커넥터(32)의 커넥터 핀을 가압하여 제1 커넥터(12)의 콘택트 핀에 접촉시킨다. 그러나, 상기 가압부재가 제2 커넥터(32)의 커넥터 핀을 충분히 가압시키지 못하여 접촉 불량의 문제가 여전히 존재한다.
또한, 하이픽스 테스트상의 소켓 보드(20)의 제2 커넥터(32)가 테스드 보드(10)의 제1 커넥터(12)에 접촉시에 자체무게로 인해 삽입할 때에는 문제가 되지 않았으나 들어올릴 때에는 테스터 헤드(11)와 소켓 보드(20)의 무게에 커넥터의 컨텍트 힘이 가중되어 문제가 발생하게 되었다.
상기 종래 기술에 따른 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 하이픽스 테스트상의 소켓 보드의 제2 커넥터가 테스드 보드의 제1 커넥터에 접촉시 삽입과 인출에 힘의 가중을 최소화하기 위한 장비의 소형화/ 경량화 추세에 대응하는 소형의 ＺＩＦ 방식을 채택한 커넥터로 구성하여 고정 브라켓에 상부로 결합한 가이드 사이 양측에 내재되면서 양측의 푸시바가 양방향 슬라이딩이 동시에 이루어지도록 구성하여 푸시바의 양방향 슬라이딩 중 어느 일측 방향 이동에도 ZIF컨텍트를 제2 커넥터의 커넥터 핀에 접속시켜 보다 신속하고 정확하게 안정적으로 테스팅할 수 있는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터를 제공함에 있다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의 하이 픽스보드용 테스터 커넥터는, 탄성부가 형성된 ＺＩＦ컨택트를 수용하고, 제2 커넥터의 플러그가 삽입/인출되는 공간을 제공하는 고정 브라켓과; 상기 고정 브라켓의 하단부로 ＺＩＦ컨택트의 인출길이를 제한하도록 장착되는 스톱퍼와; 상기 고정 브라켓의 상단에 장착공간이 마련되어 상부로 결합을 이루면서 장착공간 양측에 하나 이상의 스프링을 개재하여 탄성 설치되도록 내장되면서 양측에 라운드 굴곡부를 형성한 가이드와; 상기 가이드의 굴곡부와 결합될 수 있도록 대응한 굴곡 형상을 갖는 푸시굴곡부를 형성하면서 양방향으로 슬라이딩 가능하게 장착되는 푸시바; 로 구성된 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 고정 브라켓은, 가이드와 결합하여 양측으로 푸시바를 내재하면서 좌우 이동에 탄성작동하는 푸시바의 스프링 탄성에 의해 외부로 이탈되지 않도록 가장자리에서 탄성지지하면서 가압하도록 가압부재를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 고정 브라켓은, 푸시바가 고정 브라켓과 가이드 사이에 내재되어 좌우방향으로 슬라이딩 이동할 때에 탄성력을 제공하는 스프링을 다수개로 구성한 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 가이드는, 상방으로 오목과 볼록이 반복되는 물결 형상으로 굴곡지게 이루어진 일정 면을 갖는 굴곡부를 형성한 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 가이드는, 고정 브라켓과 가이드의 사이에 장착되어 좌우 슬라이딩 이동으로 푸시바의 상하 동작에 가이드가 이탈되지 않도록 고정 브라켓에 후크 결합되는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 푸시바는, 하방으로 오목과 볼록이 반복되는 물결 형상으로 굴곡지게 이루어진 일정 면을 갖는 푸시 굴곡부를 형성한 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 푸시바는, 고정 브라켓에 상부로 결합한 가이드 사이 양측에 내재되면서 양측의 푸시바가 양방향 슬라이딩이 동시에 이루어지도록 두 개의 푸시바 양측 끝단을 각각 연결하는 푸시블록을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 고정 브라켓에 상부로 결합한 가이드 사이 양측에 내재된 양측의 푸시바의 양방향 슬라이딩 중 어느 일측 방향 이동에 상하로 블록부분이 적층되는 위치에 가이드가 상하 동작을 하는 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같은 본 발명은, 하이픽스 테스트상의 소켓 보드의 제2 커넥터가 테스드 보드의 제1 커넥터에 접촉시 삽입과 인출에 힘의 가중을 최소화하기 위한 장비의 소형화/ 경량화 추세에 대응하는 소형의 ＺＩＦ 방식을 채택한 커넥터로 구성하여 고정 브라켓에 상부로 결합한 가이드 사이 양측에 내재되면서 양측의 푸시바가 양방향 슬라이딩이 동시에 이루어지도록 구성하여 푸시바의 양방향 슬라이딩 중 어느 일측 방향 이동에도 ZIF 컨텍트를 제2 커넥터의 커넥터 핀에 접속시켜 보다 신속하고 정확하게 반도체 소자를 안정적으로 테스팅할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 하이 픽스보드용 테스터 커넥터는 콘택트 핀에 가해지는 마찰력을 최소화하므로 마찰에 의한 콘택트 핀의 변형을 방지하여 커넥터의 수명 및 성능에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 하이 픽스보드용 테스터 커넥터는 푸시바가 하이 픽스보드에 구성되는 테스터 커넥터의 외부에서 조작/ 조립이 가능하도록 되어 있어 테스터 커넥터의 제작 및 개별 수리가 용이한 효과가 있으므로 매우 유용한 발명인 것이다.
도 1은 종래의 하이픽스 보드의 반도체 시험 장치를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명에 따른 하이 픽스보드용 테스터 커넥터의 전체 구성을 나타낸 도면.
도 3은 본 발명에 따른 하이 픽스보드용 테스터 커넥터의 분해 사시도.
도 4는 본 발명에 따른 하이 픽스보드용 테스터 커넥터의 조립도.
도 5는 본 발명에 따른 하이 픽스보드용 테스터 커넥터의 정면도.
도 6은 본 발명에 따른 하이 픽스보드용 테스터 커넥터의 양방향 좌우 슬라이딩 이동을 나타낸 도면.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은,
탄성부가 형성된 ＺＩＦ컨택트를 수용하고, 제2 커넥터의 플러그가 삽입/인출되는 공간을 제공하는 고정 브라켓과;
상기 고정 브라켓의 하단부로 ＺＩＦ컨택트의 인출길이를 제한하도록 장착되는 스톱퍼와;
상기 고정 브라켓의 상단에 장착공간이 마련되어 상부로 결합을 이루면서 장착공간 양측에 하나 이상의 스프링을 개재하여 탄성 설치되도록 내장되면서 양측에 라운드 굴곡부를 형성한 가이드와;
상기 가이드의 굴곡부와 결합될 수 있도록 대응한 굴곡 형상을 갖는 푸시굴곡부를 형성하면서 양방향으로 슬라이딩 가능하게 장착되는 푸시바; 로 구성된 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터를 제공함으로써 달성하였다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면에 의하여 상세하게 설명한다.
이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 하나의 실시 예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 2는 본 발명에 따른 하이 픽스보드용 테스터 커넥터의 전체 구성을 나타낸 도면이다.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 하이 픽스보드용 테스터 커넥터는 하이픽스 테스트상의 소켓 보드(20)의 제2 커넥터(32)가 테스드 보드(10)의 제1 커넥터(12)에 접촉시 삽입과 인출에 힘의 가중을 최소화하기 위한 장비의 소형화/ 경량화 추세에 대응하는 소형의 ＺＩＦ 방식을 채택한 커넥터로 구성하여 고정 브라켓(110)에 상부로 결합한 가이드(130) 사이 양측에 내재되면서 양측의 푸시바(160)가 양방향 슬라이딩이 동시에 이루어지도록 구성하여 푸시바(160)의 양방향 슬라이딩 중 어느 일측 방향 이동에도 ZIF 컨텍트(20)를 제2 커넥터(32)의 커넥터 핀에 접속시켜 보다 신속하고 정확하게 반도체 소자를 안정적으로 테스팅할 수 있는 것이다.
여기서, 상기 ZIF 컨텍트(20)는 자체 탄성력을 가지고 있으며, 가이드(130)의 다운동작으로 양측 후방으로 동작되고, 가이드(130)의 상승/복귀 동작으로 테스트 접촉을 이루며 자체의 개별 힘으로 접촉하여 안정적인 접촉력을 유지하는 것이다.
아울러, 테스터 커넥터(100)는 도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이 하이 픽스 테스트 보드(10)의 상부에 존재하는 테스트 헤드(11)에 테스터 커넥터(100)가 다수 개로 장착되어 제2 커넥터(32)의 커넥터핀과 접촉 되어 하이픽스 테스트 보드(10)와 소켓보드(20)를 전기적으로 연결한다.
이러한, 상기 테스터 커넥터(100)는 베이스 구성이 되는 고정 브라켓(110)에는 탄성부가 형성된 ＺＩＦ컨택트(20)를 다수 개로 수용한다.
상기 고정 브라켓(110)의 하단부에는 스톱퍼(120)가 장착되어 ＺＩＦ컨택트(20)의 인출길이를 제한하면서 하이 픽스 테스트 보드(10)와 접촉을 이룬다.
즉, 상기 스톱퍼(120)는 ＺＩＦ컨택트(20)를 지지하면서 접촉이 원할하도록 ＺＩＦ컨택트(20)를 잡아주는 것이다.
한편, 상기 고정 브라켓(110)의 상단에는 장착공간이 마련되며, 상부로 가이드(130)가 결합된다.
상기 가이드(130)는 고정 브라켓(110)의 장착공간 양측에 하나 이상의 스프링(112)을 개재하여 스프링(112)을 누르는 상태로 장착된다.
상기 스프링(112)은 가이드(130)가 고정 브라켓(110)에 탄성 설치되도록 내장된다.
이때, 상기 가이드(130)는 라운드 굴곡부(132)를 형성한다.
여기서, 상기 가이드(130)의 굴곡부(132)와 결합될 수 있도록 대응한 굴곡 형상을 갖는 푸시부(140)는 하부에 라운드지게 굴곡진 푸시굴곡부(142)를 형성하면서 고정 브라켓(110)과 가이드(130) 사이에 양방향으로 슬라이딩 가능하게 장착된다.
이때, 상기 고정 브라켓(110)은 도 5에 도시한 바와 같이 가장자리에서 탄성지지하면서 가압하도록 가압부재(150)를 형성하여 가이드(130)와 결합하여 양측으로 푸시바(140)를 내재하면서 좌우 이동에 탄성작동하는 푸시바(140)의 스프링(112) 탄성에 의해 외부로 이탈되지 않도록 지지한다.
또한, 상기 고정 브라켓(110)에 상부측으로 결합하는 가이드(130)는 양측에 굴곡부(132)의 하단에는 양측으로 후크(134) 형태를 구성하여 고정 브라켓(110)에 장착시 후크(134) 결합되어 견고히 고정된다.
이는, 상기 가이드(130)와 고정 브라켓(110)과의 사이에 장착되는 푸시바(140)가 좌우 슬라이딩 이동으로 푸시바(140)의 상하 동작에 가이드(130)가 스프링(112)의 탄성에 이탈되지 않도록 가이드(130)와 고정 브라켓(110)이 후크(134) 결합되는 것이다.
상기 고정 브라켓(110)은 푸시바(140)가 고정 브라켓(110)과 가이드(130) 사이에 내재되어 좌우방향으로 슬라이딩 이동할 때에 탄성력을 제공하는 스프링(112)을 다수개로 구성한다.
한편, 상기 가이드(130)는 상방으로 오목과 볼록이 반복되는 물결 형상으로 굴곡지게 이루어진 일정 면을 갖는 굴곡부(132)를 형성한 것이다.
여기서, 상기 가이드(130)와 접촉하여 접촉하는 푸시바(140)는 길이 방향으로 길게 바 형태를 가지는 것으로 고정 브라켓(110)의 양측에 장착되며 하면에 라운드진 푸시 굴곡부(142)를 형상한 것이다.
이렇게, 상기 푸시바(140)는 하방으로 오목과 볼록이 반복되는 물결 형상으로 굴곡지게 이루어진 일정 면을 갖는 푸시 굴곡부(142)를 형성한 것이다.
상기 가이드(130)의 굴곡부(132)와 푸시바(140)의 푸시 굴곡부(142)는 서로 동일한 형태로 굴곡진게 형성한 것으로 좌우 슬라이딩 시 서로 접촉되어 이동하는 것이다.
상기 가이드(130)의 상에서 푸시바(140)는 길이방향으로 좌우 이동될 수 있고, 가이드(130)는 승하강될 수 있다.
이때, 상기 푸시바(130)는 고정 브라켓(110)에 상부로 결합한 가이드(130) 사이 양측에 내재되게 구성되며, 이격되어 있는 푸시바(140)를 동시에 작동하도록 연결하는 푸시블록(160)은 양측의 푸시바(140)가 양방향 슬라이딩이 동시에 이루어지도록 두 개의 푸시바(140) 양측 끝단을 각각 연결하는 것이다.
이러한, 상기 고정 브라켓(110)의 상부로 수직하게 결합되는 가이드(130) 사이 양측으로 푸시바(140)가 각각 결합을 이루어 구조를 이루는 테스트 커넥터(100)는 도 6에 도시한 바와 같이 상기 고정 브라켓(110)에 상부로 결합한 가이드(130) 사이 양측에 내재된 양측의 푸시바(140)의 양방향 슬라이딩 중 어느 일측 방향 이동에 상하로 블록부분이 적층되는 위치에 가이드(130)가 상하 동작을 하게 된다.
상기 푸시바(140)와 가이드(140)는 양쪽 방향으로 슬라이딩 되는 구조로 푸시바(140)가 어느 방향으로 당겨도 가이드(120)가 상승할 수 있는 구조이다.
그리고, 고정 브라켓(110)에 다수 내재된 ＺＩＦ컨택트(20)는 가이드(130)의 상하 동작과 같은 방향으로 슬라이딩 된다.
아울러, 상기 고정 브라켓(110)에 양측 라인으로 다수개 내재되는 ＺＩＦ컨택트(20)는 가이드(130)에서 좌우 이동으로 푸시되는 동작 시 ＺＩＦ컨택트(20)는 양측 후방으로 동작되고, 가이드(130)의 상승 복귀 동작으로 테스트 접촉을 이루며 ＺＩＦ컨택트(20)의 자체의 개별 힘을 접촉하여 안정적인 접촉력을 유지한다.
여기서, 상기 고정 브라켓(110)과 가이드(130) 사이에 위치하는 스프링(112)은 가이드(130) 및 푸시바(140)가 접촉력에 영향을 주지 않도록 가이드(130)를 항상 위로 밀착시키는 역활을 하는 것이다.
한편, 상기 가이드(130)는 폴리에테르이미드(Polyetherimide - ＰＥＩ)의 재질을 채택하게 되는 것으로 이는 내약품성, 내열성이 우수하며, 치수안정성이 좋고 방사선에도 내성을 갖는 소재이다.
이와 같이, 본 발명의 하이 픽스보드용 테스터 커넥터는 푸시바(140)가 하이 픽스 테스트 보드(10)에 구성되는 테스터 커넥터(100)의 외부에서 조작/ 조립이 가능하도록 되어 있어 테스터 커넥터(100)의 제작 및 개별 수리가 용이하다.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 청구범위의 균등 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
10:테스트 보드 20:ＺＩＦ컨택트
100:테스터 커넥터 110:고정 브라켓
112:스프링 120:스톱퍼
130:가이드 132:굴곡부
134:후크 140:푸시바
142:푸시 굴곡부 150:가압부재
160:푸시블록

Claims (10)

  1. 케이블과 테스트 헤드로 구성되어 피 시험장치를 시험하는 반도체시험 장치에 사용되는 테스터 커넥터에 있어서,
    탄성부가 형성된 ＺＩＦ컨택트를 수용하고, 제2 커넥터의 플러그가 삽입/인출되는 공간을 제공하는 고정 브라켓과;
    상기 고정 브라켓의 하단부로 ＺＩＦ컨택트의 인출길이를 제한하도록 장착되는 스톱퍼와;
    상기 고정 브라켓의 상단에 장착공간이 마련되어 상부로 결합을 이루면서 장착공간 양측에 하나 이상의 스프링을 개재하여 탄성 설치되도록 내장되면서 양측에 라운드 굴곡부를 형성한 가이드와;
    상기 가이드의 굴곡부와 결합될 수 있도록 대응한 굴곡 형상을 갖는 푸시굴곡부를 형성하면서 양방향으로 슬라이딩 가능하게 장착되는 푸시바; 로 구성된 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 고정 브라켓은,
    가이드와 결합하여 양측으로 푸시바를 내재하면서 좌우 이동에 탄성작동하는 푸시바의 스프링 탄성에 의해 외부로 이탈되지 않도록 가장자리에서 탄성지지하면서 가압하도록 가압부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 고정 브라켓은,
    푸시바가 고정 브라켓과 가이드 사이에 내재되어 좌우방향으로 슬라이딩 이동할 때에 탄성력을 제공하는 스프링을 다수개로 구성한 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 가이드는,
    상방으로 오목과 볼록이 반복되는 물결 형상으로 굴곡지게 이루어진 일정 면을 갖는 굴곡부를 형성한 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 가이드는,
    고정 브라켓과 가이드의 사이에 장착되어 좌우 슬라이딩 이동으로 푸시바의 상하 동작에 가이드가 이탈되지 않도록 고정 브라켓에 후크 결합되는 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 푸시바는,
    하방으로 오목과 볼록이 반복되는 물결 형상으로 굴곡지게 이루어진 일정 면을 갖는 푸시 굴곡부를 형성한 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 푸시바는,
    고정 브라켓에 상부로 결합한 가이드 사이 양측에 내재되면서 양측의 푸시바가 양방향 슬라이딩이 동시에 이루어지도록 두 개의 푸시바 양측 끝단을 각각 연결하는 푸시블록을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 고정 브라켓에 상부로 결합한 가이드 사이 양측에 내재된 양측의 푸시바의 양방향 슬라이딩 중 어느 일측 방향 이동에 상하로 블록부분이 적층되는 위치에 가이드가 상하 동작을 하는 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 가이드는,
    폴리에테르이미드의 재질로 제조하는 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 ZIF 컨텍트는,
    자체 탄성력을 가지고 있으며, 가이드의 다운동작으로 양측 후방으로 동작되고, 가이드의 상승/복귀 동작으로 테스트 접촉을 이루며 자체의 개별 힘으로 접촉하여 안정적인 접촉력을 유지하는 것을 특징으로 하는 하이 픽스보드용 테스터 커넥터.

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