CN208705412U - 测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种测试治具，其具有下压块和上压块，下压块与上压块可以用于配合将待测试产品的金手指连接端夹在中间，而下压块和/或上压块的朝向于金手指连接端的表面设有用于与金手指连接端电连接的导电触头，因而在将金手指连接端夹在中间时，金手指连接端可以与导电触头形成有效且稳定地电连接。该测试治具非常适合目前触摸屏产品的性能测试，尤其是大尺寸且多边出线的产品，在测试时，无需连接拼接线，只要上压块和下压块配合压紧导电触头与金手指连接端即可，测试效率高，且无需进行金手指连接端的插、拔操作，可以有效防止测试过程对产品结构造成损坏。
Description
技术领域
本实用新型涉及产品测试领域，尤其是涉及一种可用于触摸屏产品的测试治具。
背景技术
目前市场上针对小尺寸的触摸屏产品普遍使用自动测试机器进行产品功能测试，但是针对大尺寸(如32寸以上)的触摸屏产品，则测试比较麻烦，往往需要连接多个拼接线，操作费事，测试效率低，且在安装或拆卸拼接线时，容易损坏产品引线，进而影响产品质量。
实用新型内容
基于此，有必要有利于提高测试效率且对产品引线影响小的测试治具。
本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下。
一种测试治具，包括基台、第一定位件、下压块、上压块以及控制电路；
所述第一定位件设在所述基台上且所述第一定位件在所述基台上的位置可调，所述第一定位件用于在所述基台上形成不同尺寸和/或形状的用于放置待测试产品的测试区；
所述下压块与所述上压块均有多块；所述下压块设在所述基台上且位于所述测试区的外围，所述下压块在所述基台上的位置可调；所述下压块与所述上压块用于配合将待测试产品的金手指连接端夹在中间，且所述下压块和/或所述上压块的朝向于所述金手指连接端的表面设有用于与所述金手指连接端电连接的导电触头；
所述导电触头与所述控制电路电连接。
在其中一个实施例中，所述第一定位件包括多个卡位定位块，多个所述卡位定位块至少分布于所述测试区的两个相邻的侧边。
在其中一个实施例中，所述测试治具还包括多个第一调节组件，各所述第一调节组件包括第一下滑轨和第二下滑轨，所述第一下滑轨设在所述基台上，所述第二下滑轨设在所述第一下滑轨上且能够沿所述第一下滑轨滑动，所述下压块设在所述第二下滑轨上且能够沿所述第二下滑轨滑动，所述第二下滑轨与所述第一下滑轨相垂直。
在其中一个实施例中，多个所述第一调节组件至少分布于所述测试区的两个不同侧边；
围绕所述测试区同一侧边的多个下压块中至少有两个所述下压块设于同一第二下滑轨上，且该第二下滑轨与相应地侧边平行设置。
在其中一个实施例中，所述测试治具还包括上台板，所述上压块设在所述上台板上，且所述上压块在所述上台板上的位置可调。
在其中一个实施例中，所述测试治具还包括多个第二调节组件，各所述第二调节组件包括第一上滑轨和第二上滑轨，所述第一上滑轨设在所述上台板上，所述第二上滑轨设在所述第一上滑轨上且能够沿所述第一上滑轨滑动，所述上压块设在所述第二上滑轨上且能够沿所述第二上滑轨滑动，所述第二上滑轨与所述第一上滑轨相垂直。
在其中一个实施例中，多个所述第二调节组件至少分布于所述测试区的两个不同侧边；
用于与对应所述测试区同一侧边的多个下压块相配合的多个上压块中至少有两个所述上压块设于同一第二上滑轨上，且该第二上滑轨与相应地侧边平行设置。
在其中一个实施例中，所述下压块和/或所述上压块上设有用于供所述金手指连接端定位的第二定位件。
在其中一个实施例中，所述导电触头在相应的表面上成排设置。
在其中一个实施例中，所述导电触头为弹性触头。
上述测试治具的第一定位件活动设置在基台上，从而可以根据待测试产品的不同尺寸和/或形状，限定成不同的测试区，以适应不同产品的限位需求；并且该测试治具具有下压块和上压块，下压块与上压块可以用于配合将待测试产品的金手指连接端夹在中间，而下压块和/或上压块的朝向于金手指连接端的表面设有用于与金手指连接端电连接的导电触头，因而在将金手指连接端夹在中间时，金手指连接端可以与导电触头形成有效且稳定地电连接，因而金手指连接端可以接收控制电路的控制信号以控制产品进行性能测试。
该测试治具非常适合目前触摸屏产品的性能测试，尤其是大尺寸且多边出线的产品，在待测试产品安装时，可随意调节第一定位件、下压块和上压块的位置，以适应不同规格的待测试产品；在测试时，无需连接拼接线，只要上压块和下压块配合压紧导电触头与金手指连接端即可，测试效率高，且无需进行金手指连接端的插、拔操作，可以有效防止测试过程对产品结构造成损坏。
附图说明
图1为一实施方式的测试治具的侧视图；
图2为图1所示测试治具除去上台板后的俯视图；
图3为图1所示测试治具中第一调节组件配合下压块的结构示意图。
具体实施方式
为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。本文元件名称等地方使用的方位词“上”或“下”等只是用于区分不同的结构元件，并不形成具体的方位限制。
如图1和图2所示，本实用新型一实施方式的测试治具10包括基台100、第一定位件200、下压块300、上压块400以及控制电路500。
第一定位件200设在基台100上且第一定位件200在基台100上的位置可调。第一定位件200用于在基台100上形成不同尺寸和/或形状的用于放置待测试产品20的测试区。第一定位件200设在测试区的周边对待测试产品20进行限位，以防止在测试过程中因待测试产品20发生移动而影响测试结果的准确性。
在一个实施例中，第一定位件200包括多个卡位定位块。多个卡位定位块至少分布于测试区的两个相邻的侧边。优选的，多个卡位定位块分布于测试区的三个侧边，以对待测试产品20形成有效的限位。在其他实施例中，第一定位件200也可以是其他的可以形成不同尺寸和/或形状的卡位的限位件。
下压块300与上压块400均有多块。下压块300设在基台100上且位于测试区的外围，下压块300在基台100上的位置可调。下压块300与上压块400用于配合将待测试产品20的金手指连接端21夹在中间。多个下压块300与多个上压块400对应配合用于将待测试产品20的多边或单边出线的多个金手指连接端21分别夹住。
在本实施方式中，下压块300和上压块400的朝向于金手指连接端21的表面均设有用于与金手指连接端21电连接的导电触头310和导电触头410。导电触头310和导电触头410均与控制电路500电连接。当下压块300与上压块400配合将金手指连接端21夹在中间时，无论金手指连接端21上的金手指朝向哪一侧，导电触头310与导电触头410中的一个能够与金手指连接端21形成电连接，从而控制电路500能够将控制信号经由导电触头310或导电触头41与金手指连接端21发送至待测试产品20。在其他实施方式中，可理解，下压块300与上压块400中的一个具有导电触头即可，相应的，可以分别对应不同金手指朝向的待测试产品20。
该测试治具10非常适合目前触摸屏产品的性能测试，尤其是大尺寸且多边出线的待测试产品20，在待测试产品20安装时，可随意调节第一定位件200、下压块300和上压块400的位置，以适应不同规格的待测试产品20；在测试时，无需连接拼接线，只要上压块300和下压块400配合压紧导电触头310或410与金手指连接端21即可，测试效率非常高，且无需进行金手指连接端的插、拔操作，可以有效防止测试过程对产品结构造成损坏。特别是，在下压块300和上压块400的朝向于金手指连接端21的表面均设有用于与金手指连接端21电连接的导电触头310和导电触头410时，对于任意金手指面向的FPC引线等都可以很方便进行测试连接。
在一个实施例中，如图3所示，测试治具10还包括多个第一调节组件600。各第一调节组件600包括第一下滑轨610和第二下滑轨620。第一下滑轨610设在基台100上，第二下滑轨620设在第一下滑轨610上且能够沿第一下滑轨610滑动。下压块300设在第二下滑轨620上且能够沿第二下滑轨620滑动。第二下滑轨620与第一下滑轨610相垂直。
进一步，各第一调节组件600还包括第一下托台630和第二下托台640。第一下托台630设在第一下滑轨610上且能够沿第一下滑轨610滑动，第二下滑轨620设在第一下托台630上。第二下托台640设在第二下滑轨620上且能够沿第二下滑轨620滑动。下压块300设在第二下托台640上。通过设置第一下托台630和第二下托台640，可以提高第二下滑轨620沿第一下滑轨610以及下压块300沿第二下滑轨620滑动的稳定性。
更进一步，多个第一调节组件600至少分布于测试区的两个不同侧边，这样对于多边出线的待测试产品20也能有效调整下压块300的位置，以对所有的引线都进行电连接。围绕测试区同一侧边的多个下压块300中至少有两个下压块300设于同一第二下滑轨620上，且该第二下滑轨620与相应地侧边平行设置，这样对于同一侧边的多个下压块300就无需设置过多的第一调节组件600，以尽量精简结构。
在一个实施例中，请参图1，测试治具10还包括上台板700。上压块400设在上台板700上，且上压块400在上台板700上的位置可调。
上压块400与上台板700之间的连接结构与下压块300与基台100之间的连接结构即第一调节组件600相似，对应地，测试治具还包括多个第二调节组件(图未示)。各第二调节组件包括第一上滑轨和第二上滑轨，第一上滑轨设在上台板700上，第二上滑轨设在第一上滑轨上且能够沿第一上滑轨滑动，上压块400设在第二上滑轨上且能够沿第二上滑轨滑动，第二上滑轨与第一上滑轨相垂直。各第二调节组件还包括第一上托台和第二上托台，第一上托台设在第一上滑轨上且能够沿第一上滑轨滑动，第二上滑轨设在第一上托台上，第二上托台设在第二上滑轨上且能够沿第二上滑轨滑动，上压块400设在第二上托台上。进一步，多个第二调节组件至少分布于测试区的两个不同侧边。用于与对应测试区同一侧边的多个下压块300相配合的多个上压块400中至少有两个上压块400设于同一第二上滑轨上，且该第二上滑轨与相应地侧边平行设置。
在一个实施例中，下压块300和/或上压块400上设有用于供金手指连接端21定位的第二定位件。通过在下压块300和/或上压块400上设置第二定位件，可以便于金手指连接端21与导电触头310或410精准对位，以防止出现对位误差而影响测试结果的可靠性。
在一个实施例中，导电触头310或410在相应的表面上成排设置。具体地，如可以呈一列设置等。优选的，导电触头310或410的个数尽量大，如可以不小于60pin、不小于80pin等，以适应不同通道数量数的待测试产品20，方便针对不同通道数量的测试需求。
在一个实施例中，导电触头310或410为弹性触头，这样在与金手指连接端21接触时，可形成缓冲，避免对金手指形成冲撞而损坏金手指。
上述测试治具10的第一定位件200活动设置在基台100上，从而可以根据待测试产品20的不同尺寸和/或形状，限定成不同的测试区，以适应不同产品的限位需求。并且该测试治具10具有下压块300和上压块400，下压块300与上压块400可以用于配合将待测试产品20的金手指连接端21夹在中间，而下压块300和/或上压块400的朝向于金手指连接端21的表面设有用于与金手指连接端21电连接的导电触头，因而在将金手指连接端夹在中间时，金手指连接端21可以与导电触头形成有效且稳定地电连接，因而金手指连接端21可以接收控制电路500的控制信号以控制产品进行性能测试。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种测试治具，其特征在于，包括基台、第一定位件、下压块、上压块以及控制电路；
所述第一定位件设在所述基台上且所述第一定位件在所述基台上的位置可调，所述第一定位件用于在所述基台上形成不同尺寸和/或形状的用于放置待测试产品的测试区；
所述下压块与所述上压块均有多块；所述下压块设在所述基台上且位于所述测试区的外围，所述下压块在所述基台上的位置可调；所述下压块与所述上压块用于配合将待测试产品的金手指连接端夹在中间，且所述下压块和/或所述上压块的朝向于所述金手指连接端的表面设有用于与所述金手指连接端电连接的导电触头；
所述导电触头与所述控制电路电连接。
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述第一定位件包括多个卡位定位块，多个所述卡位定位块至少分布于所述测试区的两个相邻的侧边。
3.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括多个第一调节组件，各所述第一调节组件包括第一下滑轨和第二下滑轨，所述第一下滑轨设在所述基台上，所述第二下滑轨设在所述第一下滑轨上且能够沿所述第一下滑轨滑动，所述下压块设在所述第二下滑轨上且能够沿所述第二下滑轨滑动，所述第二下滑轨与所述第一下滑轨相垂直。
4.如权利要求3所述的测试治具，其特征在于，多个所述第一调节组件至少分布于所述测试区的两个不同侧边；
围绕所述测试区同一侧边的多个下压块中至少有两个所述下压块设于同一第二下滑轨上，且该第二下滑轨与相应地侧边平行设置。
5.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括上台板，所述上压块设在所述上台板上，且所述上压块在所述上台板上的位置可调。
6.如权利要求5所述的测试治具，其特征在于，还包括多个第二调节组件，各所述第二调节组件包括第一上滑轨和第二上滑轨，所述第一上滑轨设在所述上台板上，所述第二上滑轨设在所述第一上滑轨上且能够沿所述第一上滑轨滑动，所述上压块设在所述第二上滑轨上且能够沿所述第二上滑轨滑动，所述第二上滑轨与所述第一上滑轨相垂直。
7.如权利要求6所述的测试治具，其特征在于，多个所述第二调节组件至少分布于所述测试区的两个不同侧边；
用于与对应所述测试区同一侧边的多个下压块相配合的多个上压块中至少有两个所述上压块设于同一第二上滑轨上，且该第二上滑轨与相应地侧边平行设置。
8.如权利要求1～7中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述下压块和/或所述上压块上设有用于供所述金手指连接端定位的第二定位件。
9.如权利要求1～7中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述导电触头在相应的表面上成排设置。
10.如权利要求1～7中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述导电触头为弹性触头。
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| CN201821019873.7U CN208705412U (zh) | 2018-06-28 | 2018-06-28 | 测试治具 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110502157A (zh) * | 2019-08-14 | 2019-11-26 | 厦门厦华科技有限公司 | 一种红外触控板组件 |
| CN113125936A (zh) * | 2021-03-04 | 2021-07-16 | 杭州长川科技股份有限公司 | 老化测试装置 |
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2018
- 2018-06-28 CN CN201821019873.7U patent/CN208705412U/zh active Active
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