CN113125936A - 老化测试装置 - Google Patents

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CN113125936A CN202110237654.6A CN202110237654A CN113125936A CN 113125936 A CN113125936 A CN 113125936A CN 202110237654 A CN202110237654 A CN 202110237654A CN 113125936 A CN113125936 A CN 113125936A
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祝占伟
郭志诚
翁水才
谢周阳
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Abstract

本发明涉及芯片的老化测试设备结构,特别是涉及一种老化测试装置,包括用于装载待测试件的老化测试单元,及背板单元,所述老化测试装置还包括用于接通所述老化测试单元与所述背板单元的通信单元,所述通信单元包括第一通信模块和第二通信模块,且所述第一通信模块和所述第二通信模块中的一者设置于所述老化测试单元,另一者设置于所述背板单元,所述第一通信模块包括弹簧式顶针单元,且所述第二通信模块包括能够与所述弹簧式顶针单元接触导通的触点区域,该老化测试装置中的通信单元使用寿命更高。

Description

老化测试装置
技术领域
本发明涉及芯片的老化测试设备结构,特别是涉及一种老化测试装置。
背景技术
芯片在出厂前,一般至少需要经过老化测试,以检测芯片的使用寿命及可靠性,而在老化测试中所使用的设备,即为老化测试设备。老化测试设备一般包括背板及老化测试板,在测试开始前,首先将待测试芯片安装于老化测试板上,然后通过线路将老化测试板与背板接通,以使得老化测试板上的芯片能够在恒定的高温环境中上电完成老化测试。
现有的结构中,多采用金手指接口方案,作为老化测试板与背板的通信结构。但是,老化测试设备一般需要频繁的更换老化测试板,以对多组芯片进行老化测试,而在每次更换老化测试板时,均需要插拔金手指模块。金手指模块中的金手指在每次对插时需要插接至对应的孔内,而制造误差、装配误差等使得金手指无法按照理想状态完全对正孔位,因此,多次插拔后金手指与对应的孔壁不可避免的会产生摩擦,造成金手指磨损,因此一般金手指使用寿命不高。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种改进的老化测试装置,该老化测试装置中的通信单元使用寿命更高。
本发明实施例提供一种老化测试装置,包括用于装载待测试件的老化测试单元,及背板单元,所述老化测试装置还包括用于接通所述老化测试单元与所述背板单元的通信单元,所述通信单元包括第一通信模块和第二通信模块,且所述第一通信模块和所述第二通信模块中的一者设置于所述老化测试单元,另一者设置于所述背板单元,所述第一通信模块包括弹簧式顶针单元,且所述第二通信模块包括能够与所述弹簧式顶针单元接触导通的触点区域。
上述老化测试装置中,弹簧式顶针单元与第二通信模块中的触点区域通过接触式导通的形式建立通信连接关系,相比于现有技术中金手指模块的针孔插接方式,对接精度要求更低,顶针磨损更小,因此,通信单元的使用寿命更长;同时,弹簧式顶针单元中,触针在接触导通时能够与触点区域弹性接触,提高了接触导通的可靠性。
在其中一个实施例中,所述弹簧式顶针单元包括顶针,所述触点区域包括与所述顶针对应的触点,每个所述触点的面积不小于对应的所述顶针的针端端面面积。
如此设置,在对接导通第一通信模块和第二通信模块时,触点的面积不小于顶针的针端端面面积,这样,即使第一通信模块与第二通信模块存在一定的安装或制造误差,依然可以保证顶针与触点可靠接触导通,通信单元的接触可靠性提高。
在其中一个实施例中,所述第一通信模块包括第一对接座及金属连接件,所述弹簧式顶针单元设置于所述第一对接座;所述金属连接件的一端与所述第一对接座固定连接,另一端与所述老化测试单元或所述背板单元直接固定,所述弹簧式顶针单元能够通过所述金属连接件与所述老化测试单元或所述背板单元导通。
在其中一个实施例中,所述金属连接件和所述弹簧式顶针单元分别设置于所述第一对接座相对的两侧面上,所述金属连接件配置为铜棒,并与所述老化测试单元或所述背板单元中的线路板焊接固定。
如此设置,通过铜棒直接作为导通弹簧式顶针单元与老化测试单元或背板单元的结构,相比于现有的弹簧式顶针单元需要配合专用的连接器以及线缆的结构,有利于减小第一通信模块的整体体积,进而有利于老化测试装置内的风道散热。
在其中一个实施例中,所述第二通信模块包括第二对接座及金属连接件,所述触点区域设置于所述第二对接座;所述金属连接件的一端与所述第二对接座固定连接,另一端与所述背板单元或所述老化测试单元直接固定,所述触点区域能够通过所述金属连接件与背板单元或所述老化测试单元导通。
在其中一个实施例中,所述金属连接件与所述触点区域分别设置于所述第二对接座相对的两侧面上,所述金属连接件配置为铜棒,并与所述背板单元或所述老化测试单元中的线路板焊接固定。
在其中一个实施例中,所述老化测试装置还包括第一对位单元和第二对位单元,所述第一对位单元和所述第二对位单元中的一者设置于所述老化测试单元,另一者设置于所述背板单元;所述第一对位单元能够与所述第二对位单元对中限位,以使得所述弹簧式顶针单元能够与所述触点区域正对并接触导通。
在其中一个实施例中,所述第一对位单元包括对中定位件,所述第二对位单元上开设有能够容所述对中定位件插入的对中孔。
如此设置,第一对位单元和第二对位单元在第一通信模块和第二通信模块对接的过程中起到引导和定位的作用,在两个对位单元的引导下,弹簧式顶针单元与触点区域能够更加精准的对接导通。
在其中一个实施例中,所述第一对位单元和所述第二对位单元有两组,沿垂直于所述弹簧式顶针单元和所述触点区域相对运动的方向,两组所述第一对位单元和所述第二对位单元分别位于所述通信单元的两侧。
在其中一个实施例中,所述背板单元包括背板,所述背板具有用于装设所述第一通信模块的第一侧面;所述老化测试单元包括老化测试板,且所述老化测试板具有用于装设所述第二通信模块的第二侧面,在装配状态下,所述第一侧面齐平于所述第二侧面。
如此设置,不同规格的老化测试板厚度存在差异,将第一通信模块和第二通信模块所在的侧面对齐,可以保证在老化测试板规格发生变化时,第一通信模块与第二通信模块仍能够正确接触导通。
在其中一个实施例中,老化测试单元与所述背板单元之间还设置有用于对所述老化测试单元的运动进行导向定位的导向定位单元,所述导向定位单元包括:导向滑槽,设置于所述老化测试单元或所述背板单元中的一者,引导所述老化测试单元相对所述背板单元的运动方向;滚动支撑组件,设置于所述老化测试单元或所述背板单元中的另一者上,并能够随所述老化测试单元的运动沿所述导向滑槽的延伸方向滚动。
附图说明
图1为本发明提供一种实施方式的老化测试装置的分解结构示意图;
图2为图1中所示分解结构的另一视角视图,图中省去了支撑装置;
图3为第一通信单元与两组第一对位单元的相对位置关系示意图;
图4为第二通信单元与两组第二对位单元的相对位置关系示意图;
图5为图2所示结构的另一视角视图;
图6为图5中所示结构的A部放大图;
图7为图2中所示结构在装配状态的结构示意图;
图8为背板单元的一侧面的结构示意图;
图9为老化测试单元与图8中所示结构配合的一侧面的结构示意图;
图10为滚动支撑件的结构示意图;
图11为第一导入件的结构示意图。
图中:100、老化测试单元;11、老化测试板;12、支撑板;121、导向滑槽;1211、扩口部;13、测试夹具;14、把手;15、限位部;
200、背板单元;21、背板;22、导轨;221、滑槽;23、滚动支撑件;231、支座;232、滚动件;24、第一导入件;241、滚动引导面;25、第二导入件;26、限位凸起;
300、通信单元;31、第一通信模块;311、顶针;312、第一对接座;313、铜棒a;32、第二通信模块;321、触点;322、第二对接座;323、铜棒b;
400、第一对位单元;41、对中定位件;
500、第二对位单元;51、对中孔;
600、支撑装置;700、温控装置;800、电源。
具体实施方式
下面将结合本发明实施方式中的附图,对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式,而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,当组件被称为“装设于”另一个组件,它可以直接装设在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“固定于”另一个组件,它可以是直接固定在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
首先请参考图1至图3中所示,本发明实施例提供一种老化测试装置,用于对待测试产品进行老化测试,待测试产品包括但不限于芯片,尤其是大功率芯片。老化测试装置包括用于装载待测试件的老化测试单元100、背板单元200以及通信单元300,此外,老化测试装置还可以包括用于安装上述单元结构的支撑装置600、用于控制老化测试装置的测试工作温度的温控装置700,以及用于供电的电源800。
其中:支撑装置600内具有内腔,背板单元200固定装设于该内腔中;一套老化测试装置可能包含多套老化测试单元100,以对预设数量的待测试件进行分批次的老化测试,因此,每次更换待测试件,均需要将前一套老化测试单元100与背板单元200之间断开连接,然后更换新的老化测试单元100再与背板单元200对接。为了实现老化测试单元100与背板单元200之间的通信连接,两者之间还设有通信单元300。
请参考图2中所示,通信单元300包括第一通信模块31和第二通信模块32,两者中的一者设置于老化测试单元100上,另一者设置于背板单元200上。在图2所示的实施方式中,第一通信模块31设置于背板单元200上,第二通信模块32设置于老化测试单元100上。以下为了叙述方便,均以图2中所示的设置方式为准,可以理解,在其他实施方式中,两者的位置可以互换。进一步参考图3和图4中所示,第一通信模块31包括弹簧式顶针单元,第二通信模块32包括能够与该弹簧式顶针单元接触导通的触点区域。
在先披露的一些老化测试设备中,实现待测试单元与背板单元之间通信连接的结构为金手指模块,在这类金手指模块中,一部分模块设置有PIN针,另一部分模块具有容该PIN针插入的针孔,在建立通信连接时,PIN针需要对正针孔,然后金手指模块的两个部分对插导通。这种方式虽然能够较为可靠地保证待测试单元与背板单元之间的通信连接关系,但是,由前所述,待测试单元需要频繁更换,因此,金手指模块中的PIN针与针孔之间需要频繁插拔。PIN针本身较细,强度不足,而其与针孔的对插精度又受制于加工、装配误差,乃至于多次装配后磨损也会影响对插精度,因此,金手指模块在老化测试设备中的使用寿命往往较低。
不同于此,本发明中的弹簧式顶针单元与触点区域之间为接触式导通,相比于PIN针与针孔的对插导通,接触式导通对于对插精度要求较低,同时,由于弹簧式顶针单元中的顶针311与触点区域中的触点321之间为弹性抵触,因此,即使是沿着两者对接的运动方向,对于对接的精度要求也较低。
弹簧式顶针单元包括阵列的多个顶针311,对应地,触点区域包括与每根顶针311一一对应的多个阵列的触点321。在一些实施方式中,触点321还可以设置为内凹的弧面,而顶针311的针端端面配置为曲率小于该内凹弧面曲率的半球面,这样,顶针311与触点321之间的接触更为可靠,且两者之间能够自动对正。
继续参考图3和图4中所示,触点321的面积不小于顶针311的针端端面面积,并且优选地,触点321的面积稍大于顶针311的针端端面面积。这样,即使两者对接相对方位存在一定的误差,也不影响两个通信单元之间的接触导通。
参考图2至图4中所示,为了进一步提高第一通信模块31与第二通信模块32之间的对接精度,老化测试装置还可以包括第一对位单元400和第二对位单元500。第一对位单元400和第二对位单元500的设置方式类似以第一通信模块31和第二通信模块32,即,两者中的一者设置于老化测试单元100上,另一者设置于背板单元200上。在图示的实施方式中,第一通信模块31的上下两侧(参考图3所示的方位)各设置有一第一对位单元400,第二通信模块32的上下两侧各设置有一第二对位单元500,在第一通信模块31与第二通信模块32对接过程中,第一对位单元400和第二对位单元500之间对中限位,以引导弹簧式顶针单元与触点区域对正并在对正方位下逐渐运动至接触导通位置。
在一些实施方式中,第一对位单元400包括对中定位件41,第二对位单元500包括容该对中定位件41插入的对中孔51。继续参考图3和图4中所示,对中定位件41可以配置为插销,其与对中孔51对插的过程,可以引导和约束第一通信模块31和第二通信模块32之间的对接。在其他实施方式中,第一对位单元400和第二对位单元500还可以采用其他任意具有引导对位功能的结构。
参考图3中所示,第一通信模块31包括前述的弹簧式顶针单元、第一对接座312及金属连接件,第一对接座312固定连接至背板单元200上,弹簧式顶针单元设置于该第一对接座312上。金属连接件的一端固定于第一对接座312上,另一端与背板单元200直接固定。在图示的实施方式中,金属连接件配置为铜棒a313,该铜棒a313用于将弹簧式顶针单元中的顶针311与背板单元200中的背板21通信连接,以使得弹簧式顶针单元能够作为背板单元200与老化测试单元100通信连接的接口。
类似地,参考图4中所示,第二通信模块32包括前述的触点区域、第二对接座322及金属连接件,触点区域设置于第二对接座322上。金属连接件的一端固定于第二对接座322,另一端与老化测试单元100中的老化测试板11直接固定。在图示的实施方式中,金属连接件配置为铜棒b323,该铜棒b323用于将触点区域中的触点与老化测试单元100中作为线路板的老化测试板11通信连接,以使得触点区域能够作为老化测试单元100与背板单元200通信连接的接口。
结合图3和图4中所示,铜棒a313和铜棒b323分别与每个顶针311和每个触点321对应。铜棒a313和铜棒b323的作用,是连接顶针311与背板21,和连接触点321与老化测试板11。在其他实施方式中,也可以采用其他导电金属材料作为金属连接件。并且,铜棒a313和铜棒b323与对应的线路板可以通过焊接的方式固定,这样,不仅能够实现铜棒与对应线路板的通信连接,还能够同时实现对应通信模块与线路板的固定连接。当然,为了提高通信模块的连接强度,第一对接座312和第二对接座322还可以增加其他辅助连接结构,以稳固其与背板单元200和老化测试单元100之间的连接关系。
在传统的弹簧式顶针单元中,顶针单元上需要配合使用连接器及线缆等结构才能实现通信连接,但是,如前述所描述的,老化测试装置中,待测试件需要在相对稳定的高温环境下完成老化测试,为了避免测试温度过高,一般老化测试设备中需要配置风机等温控组件,如,本发明提供的实施例中的温控装置700,其用于在必要时抽出支撑装置600内的空气,或者按需向支撑装置600内吹送冷空气,以控制内部测试温度。采用传统的弹簧式顶针单元时,线缆及连接器会严重影响气流的路径,同时,由于支撑装置600内一般空间不大,连接器、线缆等体积偏大,会需要更多的安装空间,不利于老化测试装置的小型化。而本发明的实施例中,采用金属连接件(铜棒等)取代连接器及线缆等结构,从而使得两个通信模块的体积小型化,适应于狭小空间的安装,同时,该通信单元能承载的信号传输频率也更高。
在图示的实施方式中,铜棒a313与顶针311分别设置于第一对接座312相对的两侧面上,为了实现铜棒a313与背板单元200中线路板的焊接固定,该铜棒a313弯折设置。类似地,铜棒b323与触点321分别设置于第二对接座322相对的两侧面上,为了实现铜棒b323与老化测试单元100中线路板的焊接固定,该铜棒b323也弯折设置。
参考图2、图5和图6中所示,老化测试单元100包括老化测试板11以及用于支撑该老化测试板11的支撑板12,老化测试板11与支撑板12相对固定。老化测试板11上装设有多个测试夹具13,该测试夹具13用于装载待测试件。第二通信模块32安装于该老化测试板11的第一侧面上,参考图2中所示,该第一侧面为老化测试板11上与测试夹具13所在面相对的一侧面;背板单元200包括背板21,第一通信模块31安装于该背板21的第二侧面上,参考图2中所示,该第二侧面为图示中与第一对位单元400所在面相对的一侧面,在装配状态下,第一侧面齐平于第二侧面。不同规格的老化测试板11厚度尺寸会存在差异,为了避免老化测试板11的厚度变化影响第一通信模块31和第二通信模块32的对接导通,将第一侧面设置的大致齐平于第二侧面,可以使两者始终能够正确对接导通。
由前所述,在老化测试装置的使用过程中,需要频繁地(更换频率依据老化测试的时间设定)更换老化测试单元100,即,进行不同批次的老化测试时,老化测试单元100需要对应更换,以使其上测试夹具13内不同的待测试件与背板单元200导通进行老化测试。而为了提高测试效率,往往一个老化测试板11上设置有多个测试夹具13,以同时测定更多的待测试件。但是,这样设置会导致老化测试单元100的整体体积、重量较大,将其与背板单元200进行对接时耗时耗力。为了轻省化上述过程,本发明实施例提供的老化测试装置,还包括导向定位单元。
参考图8至图11中所示,该导向定位单元包括导向滑槽121以及滚动支撑组件。在图示的实施方式中,导向滑槽121开设于老化测试单元100的支撑板12上,对应地,滚动支撑组件设置于背板单元200的背板21上。可以理解,在其他实施方式中,滚动支撑组件与导向滑槽121的位置可以互换。为了叙述方便,以下的结构描述主要参照图示的实施方式。
参考图2中所示,在向背板单元200上对接老化测试单元100时,老化测试单元100可以沿图示的箭头方向朝背板单元200运动。结合图9中所示,导向滑槽121沿着图2中所示箭头方向,即,老化测试单元100与背板单元200相对运动的方向延伸。这样,滚动支撑组件能够随老化测试单元100的运动沿导向滑槽121延伸的方向滚动。
当老化测试单元100的体积及重量较大,而又要保证老化测试单元100与背板单元200之间的相对运动方向,以使通信单元300正确接触导通,就需要老化测试单元100与背板单元200之间存在一定的导向关系。
在过去披露的现有结构中,老化测试单元与背板单元之间往往是通过在背板单元上开设导槽,然后利用老化测试单元内板体的边缘与导槽滑动配合实现导向。随着老化测试单元体积与重量的增大,导槽与老化测试单元内板体的边缘之间摩擦力随之增加,加之制造与装配的误差,势必需要将导槽设置的足够宽,以使导槽与老化测试单元内板体的边缘之间存留足够的间隙,保证老化测试单元可以顺畅滑动。然而,在这类老化测试设备中,老化测试单元与背板单元之间的通信连接结构为金手指模块,两个单元之间相对运动精度的下降,会加剧金手指模块的寿命损耗。
而本发明实施例提供的老化测试装置中,滚动支撑组件与导向滑槽121导向配合时,滚动支撑组件在老化测试单元100与背板单元200之间形成的为滚动摩擦,在同等条件下,推动老化测试单元100会比现有结构更加省力,同时,导向滑槽121约束着滚动支撑组件的滚动方向,因此,在省力的同时,这种结构还能够保持老化测试单元100与背板单元200之间的相对运动精度,以可靠保证通信单元300内的两个通信模块正确对接导通。
参考图9中所示,在一些实施方式中,导向滑槽121靠近滚动支撑组件初始进入的一端设置有扩口部1211,沿滚动支撑组件沿导向滑槽121继续滑动的方向,该扩口部1211呈减缩设置。这样,相当于将导向滑槽121的一端开口扩大,以便于滚动支撑组件进入。
返回参考图8中所示,滚动支撑组件可以包括沿导向滑槽121延伸方向间隔布置的至少两个滚动支撑件23。结合图10中所示,滚动支撑件23可以进一步包括支座231和可转动装设于该支座231上的滚动件232。在装配时,支座231与背板21固定安装,滚动件232能够相对于支座231转动。
继续参考图8中所示,导向定位单元还可以包括限位凸起26,该限位凸起26沿滚动支撑件23的排列方向设置,并与滚动支撑组件的一端间隔设置。相当于,在一列滚动支撑件23的末尾间隔设置限位凸起26。这样,在老化测试单元100与背板单元200相对运动时,在相对运动行程的末端,限位凸起26的至少部分侧面与导向滑槽121的内侧壁滑动贴合,以在第一通信模块31与第二通信模块32对接前进一步提高老化测试单元100与背板单元200的相对运动精度。
结合图8与图10中所示,在同样沿多个滚动支撑件23的排列方向,限位凸起26与相邻的滚动支撑件23之间还设有第一导入件24,该第一导入件24用于引导滚动支撑组件沿导向滑槽121的前进方向,以引导即将进入导向滑槽121的限位凸起26沿预设方向进入。第一导入件24具有可以转动的滚动引导面241,在第一导入件24进入导向滑槽121时,滚动引导面241与导向滑槽121的侧壁首先接触并滚动配合,调整老化测试单元100与背板单元200的相对运动方向,随后,限位凸起26进入导向滑槽121以精确调整两者的相对运动方向,从而引导第一通信模块31和第二通信模块32正确地对接导通。如此设置,不仅能够保证限位凸起26顺畅地进入导向滑槽121内,并且,滚动引导面241与导向滑槽121之间的摩擦形式为滚动摩擦,摩擦力和摩擦磨损均较小。
继续参考图8中所示,导向定位单元还包括第二导入件25,该第二导入件25与第一导入件24的结构可以相同,第二导入件25设置于多个滚动支撑件23排列方向的另一端(相对于限位凸起26所在的一端而言)。这样,第二导入件25能够引导第一个滚动支撑件23经由扩口部1211进入导向滑槽121,并且滚动的方向是沿导向滑槽121的延伸方向。
返回参考图5至图7中所示,沿导向滑槽121的延伸方向,老化测试单元100内,支撑板12的两侧边缘超出老化测试板11的两侧边缘;背板单元200还包括安装于背板21上下两侧(相对于图示的方位)的导轨22,该导轨22上开设有滑槽221,支撑板12上超出老化测试板11的部分能够在该滑槽221内滑动,这样,老化测试单元100与背板单元200之间由于滑槽221与支撑板12边缘处的配合关系而无法彼此脱开,因此,老化测试单元100能够在前述记载的导向定位单元引导下沿预设方向与背板单元200完成对接。
参考图8和图9中所示,沿垂直于老化测试单元100运动的方向,导向定位单元包括彼此间隔设置的至少两条导向滑槽121,并且,成列布置的滚动支撑组件、限位凸起26、第一导入件24和第二导入件25的数量,均对应于导向滑槽121的数量及位置设置。
返回参考图2中所示,老化测试单元100上还设置有限位部15,在老化测试单元100与背板单元200相对运动的形成末端,导轨22能够与该限位部15抵触限位,从而避免老化测试单元100与背板单元200进一步的相对运动。
此外,参考图1中所示,老化测试单元100还可以包括用于握持并推拉老化测试单元100整体的把手14。
以上所述实施方式的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施方式中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
本技术领域的普通技术人员应当认识到,以上的实施方式仅是用来说明本发明,而并非用作为对本发明的限定,只要在本发明的实质精神范围内,对以上实施方式所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围内。

Claims (11)

1.一种老化测试装置,包括用于装载待测试件的老化测试单元(100),及背板单元(200),其特征在于,所述老化测试装置还包括用于接通所述老化测试单元(100)与所述背板单元(200)的通信单元(300),所述通信单元(300)包括第一通信模块(31)和第二通信模块(32),且所述第一通信模块(31)和所述第二通信模块(32)中的一者设置于所述老化测试单元(100),另一者设置于所述背板单元(200),所述第一通信模块(31)包括弹簧式顶针单元,且所述第二通信模块(32)包括能够与所述弹簧式顶针单元接触导通的触点区域。
2.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于,所述弹簧式顶针单元包括顶针(311),所述触点区域包括与所述顶针(311)对应的触点(321),每个所述触点(321)的面积不小于对应的所述顶针(311)的针端端面面积。
3.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于,所述第一通信模块(31)包括第一对接座(312)及金属连接件,所述弹簧式顶针单元设置于所述第一对接座(312);
所述金属连接件的一端与所述第一对接座(312)固定连接,另一端与所述老化测试单元(100)或所述背板单元(200)直接固定,所述弹簧式顶针单元能够通过所述金属连接件与所述老化测试单元(100)或所述背板单元(200)导通。
4.根据权利要求3所述的老化测试装置,其特征在于,所述金属连接件和所述弹簧式顶针单元分别设置于所述第一对接座(312)相对的两侧面上,所述金属连接件配置为铜棒,并与所述老化测试单元(100)或所述背板单元(200)中的线路板焊接固定。
5.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于,所述第二通信模块(32)包括第二对接座(322)及金属连接件,所述触点区域设置于所述第二对接座(322);
所述金属连接件的一端与所述第二对接座(322)固定连接,另一端与所述背板单元(200)或所述老化测试单元(100)直接固定,所述触点区域能够通过所述金属连接件与背板单元(200)或所述老化测试单元(100)导通。
6.根据权利要求5所述的老化测试装置,其特征在于,所述金属连接件与所述触点区域分别设置于所述第二对接座(322)相对的两侧面上,所述金属连接件配置为铜棒,并与所述背板单元(200)或所述老化测试单元(100)中的线路板焊接固定。
7.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于,所述老化测试装置还包括第一对位单元(400)和第二对位单元(500),所述第一对位单元(400)和所述第二对位单元(500)中的一者设置于所述老化测试单元(100),另一者设置于所述背板单元(200);
所述第一对位单元(400)能够与所述第二对位单元(500)对中限位,以使得所述弹簧式顶针单元能够与所述触点区域正对并接触导通。
8.根据权利要求7所述的老化测试装置,其特征在于,所述第一对位单元(400)包括对中定位件(41),所述第二对位单元(500)上开设有能够容所述对中定位件插入的对中孔(51)。
9.根据权利要求7所述的老化测试装置,其特征在于,所述第一对位单元(400)和所述第二对位单元(500)有两组,沿垂直于所述弹簧式顶针单元和所述触点区域相对运动的方向,两组所述第一对位单元(400)和所述第二对位单元(500)分别位于所述通信单元(300)的两侧。
10.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于,所述背板单元(200)包括背板(21),所述背板(21)具有用于装设所述第一通信模块(31)的第一侧面;所述老化测试单元(100)包括老化测试板(11),且所述老化测试板(11)具有用于装设所述第二通信模块(32)的第二侧面,在装配状态下,所述第一侧面齐平于所述第二侧面。
11.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于,老化测试单元(100)与所述背板单元(200)之间还设置有用于对所述老化测试单元(100)的运动进行导向定位的导向定位单元,所述导向定位单元包括:
导向滑槽(121),设置于所述老化测试单元(100)或所述背板单元(200)中的一者,引导所述老化测试单元(100)相对所述背板单元(200)的运动方向;
滚动支撑组件,设置于所述老化测试单元(100)或所述背板单元(200)中的另一者上,并能够随所述老化测试单元(100)的运动沿所述导向滑槽(121)的延伸方向滚动。
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