CN218213296U

CN218213296U - 信号传输机构和半导体芯片测试机

Info

Publication number: CN218213296U
Application number: CN202222238580.0U
Authority: CN
Inventors: 张磊; 史赛
Original assignee: Suzhou HYC Technology Co Ltd
Current assignee: Suzhou HYC Technology Co Ltd
Priority date: 2022-08-25
Filing date: 2022-08-25
Publication date: 2023-01-03
Anticipated expiration: 2032-08-25

Abstract

本实用新型涉及一种信号传输机构和半导体芯片测试机，包括：底座，活动安装于测试机的机箱；转接电路板，固定于所述底座，用于连接测试机并与测试机信号交互；探针组件，设置于所述转接电路板上方；支撑架，位于所述探针组件的上方，用于承载测试板卡；助拔机构，分设于所述底座两侧并连接所述支撑架，所述助拔机构被配置为带动所述测试板卡运动以使所述测试板卡处于压接状态和脱离状态。上述信号传输机构可以将测试机传递于转接电路板的信号传输至测试板卡上，一方面无需设置多个信号转接器即可实现信号的导通传输，另一方面，面对不同型号的测试板卡，只需要更换信号传输装置即可实现测试工作，无需更换测试机，提高了测试机的适应范围。

Description

信号传输机构和半导体芯片测试机

技术领域

本实用新型涉及信号传输技术领域，特别是涉及一种信号传输机构和半导体芯片测试机。

背景技术

集成电路芯片广泛用于智能终端及嵌入式系统中。现如今，集成电路设计的高速接口越来越多，芯片之间的高速接口通信设计变得越来越复杂。现有技术中，芯片测试机通过信号转接器件将信号传输至测试板卡，测试板卡与待测产品信号交互完成产品测试工作，但是该方案实施的前提是：芯片测试机与测试板卡进行了匹配设计，即只有对应型号的测试机才能通过信号连接器件与对应的测试板卡连接，当测试板卡的型号发生改变时，测试板卡上的电路结构和器件布局发生变化，采取调整芯片测试机结构的方式匹配芯片，将导致测试机的生产成本过高，生产周期长、生产效率较低。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有技术中存在的问题，提供一种信号传输机构及半导体芯片测试机。

一种信号传输机构，包括：

底座，活动安装于测试机的机箱；

转接电路板，固定于所述底座，用于连接测试机并与测试机信号交互；

探针组件，设置于所述转接电路板上方；

支撑架，位于所述探针组件的上方，用于承载测试板卡；

助拔机构，分设于所述底座两侧并连接所述支撑架，所述助拔机构被配置为带动所述测试板卡运动以使所述测试板卡处于压接状态和脱离状态；

压接状态下，所述测试板卡与所述探针组件的一端抵接，所述探针组件的另一端抵接于转接电路板；脱离状态下，所述探针组件脱离所述测试板卡和转接电路板。

上述信号传输机构，转接电路板连接于底板并与测试机信号交互，探针组件的一端可抵接于转接电路板上，探针组件的另一端可抵接于测试板卡上，从而可以将测试机传递于转接电路板的信号传输至测试板卡上，一方面无需设置多个信号转接器即可实现信号的导通传输，另一方面，面对不同型号的测试板卡，只需要更换信号传输装置即可实现测试工作，无需更换测试机，提高了测试机的适应范围，并且信号传输装置的布局简单，易于转运。另外，测试板卡通过支撑架和助拔组件安装与所述底座上，可以根据需要进行状态调整，便于测试板卡安装和工作，避免安装过程造成测试板卡或者探针组件损坏。

在其中一个实施例中，所述探针组件包括探针座与多根探针，多根所述探针均插设于所述探针座，且收容于所述探针座内，所述探针的一端可凸出所述探针座靠近所述测试板卡，且其另一端可凸出所述探针座靠近所述转接电路板的表面。

在其中一个实施例中，所述探针组件设置有多组，多组所述探针组件通过一安装板固定于所述底座。

在其中一个实施例中，所述转接电路板与所述底座之间，所述转接电路板与所述安装板之间均设置有隔板。

在其中一个实施例中，所述助拔机构包括：安装于底座两侧的固定部、相对于所述固定部移动的活动部和设置于所述固定部以固定所述活动部的锁紧部。

在其中一个实施例中，所述固定部采用直线滑轨，所述活动部连接至所述直线滑轨的滑块；或者，所述固定部采用直线驱动机构，所述活动部连接至所述直线驱动机构的活动端。

在其中一个实施例中，所述活动部包括：沿所述固定部的设置方向移动的第一连接件和一端与所述第一连接件铰接的第二连接件以及用于连接位于底座两侧的第二连接件的第三连接件，其中，所述第三连接件被配置为受力推动第二连接件以及第一连接件动作，以带动测试板卡在压接状态和脱离状态之间切换。

在其中一个实施例中，所述第二连接件上设置有靠近所述支撑架的一侧设置有导向槽，所述支撑架上设置有与所述导向槽对应的滑动件。

在其中一个实施例中，所述活动部上设置有供所述锁紧部对应的定位孔。

一种半导体芯片测试机，包括如上述任一项技术方案所述的信号传输机构。

上述半导体芯片测试机，转接电路板连接于底板并与测试机信号交互，探针组件的一端可抵接于转接电路板上，探针组件的另一端可抵接于测试板卡上，从而可以将测试机传递于转接电路板的信号传输至测试板卡上，一方面无需设置多个信号转接器即可实现信号的导通传输，另一方面，面对不同型号的测试板卡，只需要更换信号传输装置即可实现测试机与测试板卡的匹配，提高了测试机的适应范围，并且信号传输装置的布局简单，易于转运。另外，测试板卡通过支撑架和助拔组件安装与所述底座上，可以根据需要进行状态调整，便于测试板卡安装和工作，避免安装过程造成测试板卡或者探针组件损坏。

附图说明

图1为本实用新型中信号传输机构的结构示意图；

图2为本实用新型中信号传输机构的组装结构示意图

图3为图2的A部放大图；

图4为本实用新型中支撑件的结构示意图；

图5为本实用新型中助拔机构的结构示意图。

附图标记：

1、底座；2、转接电路板；3、探针组件；31、探针座；32、探针；4、支撑架；41、滑动件；5、助拔机构；51、固定部；511、底板；52、活动部；521、第一连接件；521a、定位孔；522、第二连接件；522a、导向槽；523、第三连接件；53、锁紧部；6、安装板；7、隔板；100、测试板卡。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

下面结合附图介绍本实用新型实施例提供的技术方案。

参照图1至图5，本申请提供的信号传输机构，包括：底座1，转接电路板2、探针组件3、支撑架4以及助拔机构5。该信号传输机构可以实现将不同型号的测试板卡100与测试机匹配安装，并实现测试机与测试板卡之间的信号传输。

参照图1和图2，所述底座1设置于测试机的机箱，通常设置于机箱顶部作为盖板使用。为了方便信号传输机构中转接电路板2与测试机通讯，所述底座1与测试机的机箱之间通常使用便于安装和助拔的快拆结构连接，该快拆结构的具体设置方式可以通过现有技术实现，故在此不做赘述。

所述转接电路板2设置于底座1，可以与测试机通讯。也即是说，所述转接电路板2可以通过信号连接器与所述测试机内的各板卡通讯，也可以通过便于连接的信号传输组件与测试机内的各板卡进行通讯。

所述探针组件3设置于转接电路板2的上方，用于在压接时分别与转接电路板2以及测试板卡100接触，从而实现测试板卡100与测试机之间的信号连接。通常，所述探针组件3的数量和排布方式可以根据所述测试板卡100的型号进行设置。本实施例中的探针组件3设置有多组且多组探针组件3排列布置于所述转接电路板2上方。当然，所述转接电路板2上也设置有与所述探针组件3对应的转接电路，确保信号可以稳定传输。进一步的，所述信号传输机构还包括一用于承载和固定所述探针组件3的安装板6，所述安装板6与底座1连接，以便在压接状态下支撑所述测试板卡100。

为了保护转接电路板2，可以在所述转接电路板2与所述底座1之间，所述转接电路板2与所述安装板6之间设置隔板7，避免转接电路板2与底座1和安装板6直接接触，特别是当底座1和安装板6采用金属材料制造而成时。所述隔板7优选采用玻璃纤维，绝缘性好，可以有效保护转接电路板2。

重点参照图，所述探针组件3包括探针座31与多根探针32。所述探针座31通过螺接、铆接等方式固定于安装板6上，以实现探针组件3与安装板6之间的可拆卸连接，方便对探针组件3进行更换与维修。多根所述探针32均插设于所述探针座31，并且多根探针32均收容于所述探针座31内，可以在非压接状态下对探针32进行保护。探针32具有相对的两端，所述探针32的一端可凸出所述探针座31抵接于所述测试板卡100，且其另一端可凸出所述探针座31抵接于所述转接电路板2。测试机的信号经过转接电路板2和探针组件3输出至测试板卡100。

所述支撑架4位于所述探针组件3的上方，用于承载测试板卡100。为了使用范围更广，可以根据不同型号规格的测试板卡100对所述支撑架4进行匹配设计。

所述助拔机构5分设于所述底座1两侧，并且所述助拔机构5连接所述支撑架4。具体地，所述助拔机构5被配置为带动所述支撑架4上的测试板卡100运动以使所述测试板卡100处于压接状态和脱离状态。压接状态下，所述测试板卡100铺设于所述安装板6上方并且测试板卡100的底部表面与所述探针组件3的一端抵接，所述探针组件3的另一端抵接于转接电路板2；脱离状态下，所述测试板卡100垂直于底座1，所述探针组件3脱离所述测试板卡100和转接电路板2。

重点参照图，所述助拔机构5包括：安装于底座1两侧的固定部51、相对于所述固定部51移动的活动部52和设置于所述固定部51以锁定所述活动部52的锁紧部53。优选地，所述固定部51被配置为连接活动部52和底座1并为活动部52提供直线导向和/或直线驱动。所述活动部52被配置为带动支撑架4及其上的测试板卡100向下与探针组件3压接或者脱离探针组件3上升。所述锁紧部53被配置为在支撑架4上的测试板卡100处于压接状态或者脱离状态时，对所述活动部52及支撑架4上的测试板卡100锁定。

请参照图，所述固定部51可以采用直线滑轨或者直线驱动模组，直线滑轨或者直线驱动模组通过底板511安装于所述底座1。采用直线滑轨时，所述活动部52连接至所述直线滑轨的滑块；采用直线驱动机构时，所述活动部52连接至所述直线驱动机构的活动端。也即是说，所述固定部51安装于所述底座1两侧并可以为所述活动部52提供直线导向和/或直线驱动。

本实施例优选采用直线滑轨作为助拔机构5的固定部51。在此基础上，所述活动部52采用连杆结构，该连杆结构包括：沿所述固定部51的设置方向移动的第一连接件521和一端与所述第一连接件521铰接的第二连接件522以及用于连接位于底座1两侧的第二连接件522的第三连接件523，其中，所述第三连接件523被配置为受力推动第二连接件522以及第一连接件521动作，以带动测试板卡100在压接状态和脱离状态之间切换。其中，第一连接件521、第二连接件522和第三连接件523均为杆状结构，所述第一连接件521和第二连接件522在压接状态下相互折叠在脱离状态下相互垂直。

所述第二连接件522上设置有靠近所述支撑架4的一侧设置有至少2组导向槽522a，所述支撑架4上设置有与所述导向槽522a对应的滑动件41。请参照图，所述导向槽522a上靠近所述第三连接件523的一端顶部设置有供所述滑动件41进出的开口。并且，所述导向槽522a由开口一侧向另一侧倾斜，且高度逐渐降低。压接状态下，所述滑动件41位于所述导向槽522a的中部位置，且所述支撑架4及其上的测试板卡100平行于所述转接电路板2。脱离状态下，所述滑动件41位于所述导向槽522a的中下部位置，所述支撑架4及其上的测试板卡100垂直于所述转接电路板2。

所述活动部52的第一连接件521上设置有供所述锁紧部53对应的定位孔521a。所述定位孔521a设置有两个，其中一个定位孔521a的位置在压接状态下与所述锁紧部53对应，另一个定位孔521a的位置在脱离状态下与所述锁紧部53的位置对应，从而可以对不同状态下的测试板卡100进行固定，避免测试板卡100脱离控制发生损坏。

需要说明的是，若采用直线驱动模组作为助拔机构5的固定部，省略所述第三连接件523仍然能够达到带动所述支撑架4及其上的测试板卡100压接或者脱离探针组件3的目的。

本实用新型还提供一种半导体芯片测试机，包括如上所述的信号传输机构。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种信号传输机构，其特征在于，包括：

底座，活动安装于测试机的机箱；

探针组件，设置于所述转接电路板上方；

支撑架，位于所述探针组件的上方，用于承载测试板卡；

2.根据权利要求1所述的信号传输机构，其特征在于，所述探针组件包括探针座与多根探针，多根所述探针均插设于所述探针座，且收容于所述探针座内，所述探针的一端可凸出所述探针座靠近所述测试板卡，且其另一端可凸出所述探针座靠近所述转接电路板的表面。

3.根据权利要求2所述的信号传输机构，其特征在于，所述探针组件设置有多组，多组所述探针组件通过一安装板固定于所述底座。

4.根据权利要求3所述的信号传输机构，其特征在于，所述转接电路板与所述底座之间，所述转接电路板与所述安装板之间均设置有隔板。

5.根据权利要求1所述的信号传输机构，其特征在于，所述助拔机构包括：安装于底座两侧的固定部、相对于所述固定部移动的活动部和设置于所述固定部以固定所述活动部的锁紧部。

6.根据权利要求5所述的信号传输机构，其特征在于，所述固定部采用直线滑轨，所述活动部连接至所述直线滑轨的滑块；或者，所述固定部采用直线驱动机构，所述活动部连接至所述直线驱动机构的活动端。

7.根据权利要求5或6所述的信号传输机构，其特征在于，所述活动部包括：沿所述固定部的设置方向移动的第一连接件和一端与所述第一连接件铰接的第二连接件以及用于连接位于底座两侧的第二连接件的第三连接件，其中，所述第三连接件被配置为受力推动第二连接件以及第一连接件动作，以带动测试板卡在压接状态和脱离状态之间切换。

8.根据权利要求7所述的信号传输机构，其特征在于，所述第二连接件上设置有靠近所述支撑架的一侧设置有导向槽，所述支撑架上设置有与所述导向槽对应的滑动件。

9.根据权利要求6所述的信号传输机构，其特征在于，所述活动部上设置有供所述锁紧部对应的定位孔。

10.一种半导体芯片测试机，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的信号传输机构。