CN219737691U - 探针卡基座结构 - Google Patents
探针卡基座结构 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219737691U CN219737691U CN202320545654.7U CN202320545654U CN219737691U CN 219737691 U CN219737691 U CN 219737691U CN 202320545654 U CN202320545654 U CN 202320545654U CN 219737691 U CN219737691 U CN 219737691U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- plate
- probe card
- base structure
- clamping
- card base
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 40
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 19
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims description 8
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims description 8
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型为一种探针卡基座结构。基座包含框体、承载板及夹持组件。承载板设置在框体内并分隔框体内部而形成检测开口。夹持组件设置在承载板并位于检测开口的两侧。调整组件可组卸地设置在承载板,各调整组件包含抵靠板、设置在抵靠板的滑槽、设置在承载板的固定孔及定位螺丝。抵靠板凸伸在检测开口的距离通过调整定位螺丝穿设在滑槽中的位置而决定。夹持组件压掣电路板的顶面,抵靠板通过定位螺丝穿设滑槽及固定孔而推掣电路板的侧面而定位;由此避免电路板发生移位,并提高检测稳定性和可靠性。
Description
技术领域
本实用新型有关于探针卡,尤指一种探针卡基座的定位结构。
背景技术
探针卡是一种用于测试半导体芯片和电路板之间电性连接的测试设备。探针卡的测试方式是将具有探针的电路板置入基座,以利用电路板上的探针来接触芯片的銲垫,从而进行检测并传送芯片讯号。
再者,现有探针卡的测试装置是通过移动基座来接触芯片。然而,由于电路板的尺寸在制作过程中存在公差而非完全紧密地结合在基座中。因此在检测过程中,电路板在基座移动时容易发生位置偏移或移动的情况,因而影响芯片与探针之间的对准和测量精度,并导致测量结果不准确。
有鉴于此,本创作人遂针对上述现有技术,特潜心研究并配合学理的运用,尽力解决上述的问题点,即成为本创作人改良的目标。
实用新型内容
本实用新型目的,在于提供一种探针卡基座结构,其通过在基座设置调整组件定位电路板,以避免电路板移位,进而提高检测稳定性和可靠性。
为了达成上述目的,本实用新型为一种探针卡基座结构,包括基座及至少两个调整组件。基座包含框体、承载板及一对夹持组件。承载板设置在框体内并分隔框体内部而形成检测开口。夹持组件设置在承载板上并对应位于检测开口的两侧。调整组件可组卸地设置在承载板上,并位于夹持组件的两侧,各调整组件包含抵靠板、设置在抵靠板的滑槽、设置在承载板的固定孔及定位螺丝。抵靠板凸伸在检测开口的距离通过调整定位螺丝穿设在滑槽中的位置而决定。夹持组件压掣电路板的顶面,抵靠板通过定位螺丝穿设滑槽及固定孔而推掣电路板的一侧面。
优选地,其中所述承载板包含位在所述检测开口两侧的一第一承载板及一第二承载板,所述检测开口位于所述第一承载板及所述第二承载板之间。
优选地,其中所述第一承载板在所述检测开口的一侧延伸有一第一凸缘,所述第二承载板在所述检测开口的一侧延伸有一第二凸缘,所述电路板安置在所述第一凸缘及所述第二凸缘上。
优选地,其中所述第一承载板在所述检测开口的一侧成型有一第一阶梯部,且所述第二承载板在所述检测开口的一侧成型有一第二阶梯部,所述第一阶梯部、所述第二阶梯部及所述检测开口共同形成一扩大容置区。
优选地,其中所述对夹持组件设置在所述第一阶梯部及所述第二阶梯部上。
优选地,其中所述承载板对应所述调整组件的位置设置有至少两个定位槽,各所述调整组件的抵靠板对应靠抵各定位槽。
优选地,其中各夹持组件包括一夹持板、至少两个螺柱及至少两个螺帽,所述螺柱设置在所述承载板并穿设所述夹持板,所述夹持板通过所述螺帽分别螺合所述螺柱而固定在所述承载板上。
优选地,其中所述夹持板在面向所述检测开口的一侧边设置有一导圆角。
优选地,其中所述抵靠板包含一顶板及垂直连接所述顶板的一侧板,且所述顶板设置有所述滑槽。
优选地,其中所述滑槽、所述固定孔及所述定位螺丝的数量对应设置为至少两个。
相较于习知,本实用新型探针卡基座结构在承载板设置可组卸的调整组件,各调整组件包含抵靠板、呈长孔设置的滑槽、设置在承载板的固定孔及定位螺丝;又,抵靠板可通过调整定位螺丝穿设在滑槽中的位置决定凸伸在检测开口的距离,从而在电路板置入检测开口后对其作推掣,以避免电路板发生移位,进而提高检测稳定性和可靠性。
附图说明
通过附图中所示的本实用新型优选实施例的具体说明,本实用新型上述及其它目的特征和优势将变得更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分,且并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图,重点在于示出本实用新型的主旨。
图1为本实用新型优选实施例探针卡基座结构的立体外观示意图。
图2为本实用新型优选实施例探针卡基座结构的立体分解示意图。
图3为本实用新型优选实施例探针卡基座结构的使用示意图。
图4为本实用新型优选实施例夹持组件压掣电路板的剖视图。
图5为本实用新型优选实施例调整组件推掣电路板的剖视图。
图6为本实用新型优选实施例探针卡基座结构另一使用方式的立体分解示意图。
图7为本实用新型优选实施例探针卡基座结构的另一使用示意图。
附图标记:
1:探针卡基座结构
2、2’:电路板
10:基座
100:检测开口
101:扩大容置区
11:框体
12:承载板
120:定位槽
121:第一承载板
1211:第一凸缘
1212:第一阶梯部
122:第二承载板
1221:第二凸缘
1222:第二阶梯部
13:夹持组件
130:导圆角
131:夹持板
132:螺柱
133:螺帽
20:调整组件
21:抵靠板
211:顶板
212:侧板
22:滑槽
23:固定孔
24:定位螺丝
具体实施方式
在本说明书当中,提供了许多特定的细节,以提供对本实用新型具体实施例的彻底了解;然而,本领域技术人员应当知晓,在没有一个或更多个该些特定的细节的情况下,依然能实现本实用新型的目的;在其他情况下,则未显示或描述众所周知的细节以避免模糊了本实用新型的主要技术特征。
有关本实用新型的详细说明及技术内容,配合图式说明如下,然而所附图式仅提供参考与说明用,并非用来对本实用新型加以限制者。
请参照图1至图3,为本实用新型探针卡基座结构的立体外观示意图、立体分解示意图及使用示意图。本实用新型为一种探针卡基座结构1,包括一基座10及至少两个调整组件20。该些调整组件20设置在该基座10上,借以构成该探针卡基座结构1。该探针卡基座结构1用以对安置在该基座10内的一电路板2作定位,且该电路板2具有至少两个探针(图未示),该些探针用以接触待检测的一芯片,从而进行检测并传送芯片讯号。
该基座10包含一框体11、一承载板12及一对夹持组件13。该承载板12设置在该框体11内,并分隔该框体11内部而形成一检测开口100。该对夹持组件13设置在该承载板12上并对应位于该检测开口100的两侧。
于本实用新型的一实施例中,该承载板12包含位在该检测开口100两侧的一第一承载板121及一第二承载板122。该检测开口100位于该第一承载板121及该第二承载板122之间。
具体而言,该第一承载板121在该检测开口100的一侧延伸有一第一凸缘1211。该第二承载板122在该检测开口100的一侧延伸有一第二凸缘1221。又,该电路板2安置在该第一凸缘1211及该第二凸缘1221上,进而安置在该检测开口100中。
该些调整组件20可组卸地设置在该承载板12上,并位于其中一夹持组件13的两侧。各调整组件20包含一抵靠板21、设置在该抵靠板21的一滑槽22、设置在该承载板12的一固定孔23及一定位螺丝24。该抵靠板21凸伸在该检测开口100的距离通过调整该定位螺丝24穿设在该滑槽22中的位置而决定。
于本实施例中,该抵靠板21包含一顶板211及垂直连接该顶板211的一侧板212,且该顶板211设置有该滑槽22。较佳地,该滑槽22、该固定孔23及该定位螺丝24的数量对应设置为至少两个。
此外,该承载板12对应该些调整组件20的位置设置有至少两个定位槽120。各该调整组件20的抵靠板21对应靠抵各定位槽120。
再者,各夹持组件13包括一夹持板131、至少两个螺柱132及至少两个螺帽133。该些螺柱132设置在该承载板12并穿设该夹持板131,并通过该些螺帽133分别螺合该些螺柱132而将该夹持板131固定在该承载板12上。
请另参照图4,为本实用新型之夹持组件压掣电路板的剖视图。该夹持组件13设置在该检测开口100一侧的承载板12上。更详细地说,该螺柱132设置在该承载板12并穿设该夹持板131。该螺帽133螺合该螺柱132而将该夹持板131固定在该承载板12上。
要说明的是,使用本实用新型之探针卡基座结构1时将该电路板2安置在该检测开口100中(参图3)。此外,该夹持组件13的夹持板131压掣该电路板2的一顶面。值得注意的是,该夹持板131在面向该检测开口100的一侧边设置有一导圆角130,以避免刮伤该电路板2。
请再参照图5,为本实用新型调整组件推掣电路板的剖视图。该调整组件20设置在该承载板上。该调整组件20包含呈L形设置的一抵靠板21、呈长孔设置的一滑槽22、设置在该承载板12的一固定孔23及一定位螺丝24。该抵靠板21凸伸在该检测开口100的距离可通过调整该定位螺丝24穿设在该滑槽22中的位置决定。
要说明的是,使用本实用新型探针卡基座结构1时将该电路板2安置在该检测开口100中(参图3)。该抵靠板21通过该定位螺丝24穿设该滑槽22及该固定孔23而推掣该电路板2的一侧面。
请再参照图6及图7,为本实用新型探针卡基座结构另一使用方式的立体分解示意图及另一使用示意图。本实用新型调整组件20以可组卸的方式设置在该承载板12上。于本实施例中,该探针卡基座结构1用以结合尺寸较大的另一电路板2’。具体而言,要将该电路板2’置入该基座10时需卸除设置在该承载板12上的调整组件20(参图2),只保留设置在该检测开口100两侧的该对夹持组件13。又,该电路板2’通过该对夹持组件13作压掣而予以定位。
于本实施例中,该第一承载板121在该检测开口100的一侧成型有一第一阶梯部1212。此外,该第二承载板122在该检测开口100的一侧成型有一第二阶梯部1222。具体而言,该对夹持组件13设置在该第一阶梯部1212及该第二阶梯部1222上。
要说明的是,该第一阶梯部1212、该第二阶梯部1222及该检测开口100共同形成一扩大容置区101。又,该电路板2’安置在该扩大容置区101中,并受到该对夹持组件13的压掣。据此,该电路板2’定位在该基座10中,从而进行检测并传送芯片讯号。
然以上所述,仅为本实用新型的较佳实施例,当不能限定本实用新型的实施范围,即凡依本实用新型权利要求所作的均等变化与修饰等,皆应仍属本实用新型的专利涵盖范围意图保护的范畴。以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。本实用新型还可有其它多种实施例,在不背离本实用新型精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本实用新型作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种探针卡基座结构,用以定位具有至少两个探针的一电路板,其特征在于,包括:
一基座,包含一框体、一承载板及一对夹持组件,所述承载板设置在所述框体内,并分隔所述框体内部而形成一检测开口,所述对夹持组件设置在所述承载板上并对应位于所述检测开口的两侧;以及
至少两个调整组件,可组卸地设置在所述承载板上,并位于其中一夹持组件的两侧,各调整组件包含一抵靠板、设置在所述抵靠板的一滑槽、设置在所述承载板的一固定孔及一定位螺丝,所述抵靠板凸伸在所述检测开口的距离通过调整所述定位螺丝穿设在所述滑槽中的位置而决定;
其中,所述对夹持组件压掣所述电路板的一顶面,所述抵靠板通过所述定位螺丝穿设所述滑槽及所述固定孔而推掣位于所述检测开口中所述电路板的一侧面。
2.如权利要求1所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中所述承载板包含位在所述检测开口两侧的一第一承载板及一第二承载板,所述检测开口位于所述第一承载板及所述第二承载板之间。
3.如权利要求2所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中所述第一承载板在所述检测开口的一侧延伸有一第一凸缘,所述第二承载板在所述检测开口的一侧延伸有一第二凸缘,所述电路板安置在所述第一凸缘及所述第二凸缘上。
4.如权利要求2所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中所述第一承载板在所述检测开口的一侧成型有一第一阶梯部,且所述第二承载板在所述检测开口的一侧成型有一第二阶梯部,所述第一阶梯部、所述第二阶梯部及所述检测开口共同形成一扩大容置区。
5.如权利要求4所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中所述对夹持组件设置在所述第一阶梯部及所述第二阶梯部上。
6.如权利要求1所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中所述承载板对应所述调整组件的位置设置有至少两个定位槽,各所述调整组件的抵靠板对应靠抵各定位槽。
7.如权利要求1所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中各夹持组件包括一夹持板、至少两个螺柱及至少两个螺帽,所述螺柱设置在所述承载板并穿设所述夹持板,所述夹持板通过所述螺帽分别螺合所述螺柱而固定在所述承载板上。
8.如权利要求7所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中所述夹持板在面向所述检测开口的一侧边设置有一导圆角。
9.如权利要求1所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中所述抵靠板包含一顶板及垂直连接所述顶板的一侧板,且所述顶板设置有所述滑槽。
10.如权利要求1所述的探针卡基座结构,其特征在于,其中所述滑槽、所述固定孔及所述定位螺丝的数量对应设置为至少两个。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202320545654.7U CN219737691U (zh) | 2023-03-20 | 2023-03-20 | 探针卡基座结构 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202320545654.7U CN219737691U (zh) | 2023-03-20 | 2023-03-20 | 探针卡基座结构 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN219737691U true CN219737691U (zh) | 2023-09-22 |
Family
ID=88026354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202320545654.7U Active CN219737691U (zh) | 2023-03-20 | 2023-03-20 | 探针卡基座结构 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN219737691U (zh) |
-
2023
- 2023-03-20 CN CN202320545654.7U patent/CN219737691U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5989039A (en) | Socket apparatus for testing package | |
KR101149759B1 (ko) | 반도체 디바이스의 검사장치 | |
CN108885227B (zh) | 测试座单元 | |
US5945838A (en) | Apparatus for testing circuit boards | |
KR101887071B1 (ko) | 검사장치의 슬라이더 조작기구 | |
KR20140141881A (ko) | 반도체 칩 테스트 장치 및 방법 | |
CN219737691U (zh) | 探针卡基座结构 | |
JP2002164136A (ja) | Bga用icソケット | |
US11879925B1 (en) | Over the air (OTA) chip testing system | |
KR20020036694A (ko) | 검사용 프로브 블록의 병렬탑재 유닛 | |
US7607931B2 (en) | Test socket adjustable to solid state image pickup devices of different sizes | |
CN112014600B (zh) | 测试治具及测试机台 | |
US6296504B1 (en) | Socket for electrical parts | |
CN112857168A (zh) | 一种定位检测机构及标准板尺寸公差的快速检测装置 | |
TWM645253U (zh) | 探針卡基座結構 | |
CN219016511U (zh) | 一种片式负载射频测试载具 | |
CN220172495U (zh) | 导通装置和检测设备 | |
CN218383142U (zh) | 用于测试板与资源板卡的自动拔插装置 | |
CN218885997U (zh) | 一种用于探针测试的快速接插装置 | |
CN219533243U (zh) | 一种环形元器件测试基座 | |
CN220084942U (zh) | 一种探针台用探针卡托盘装置 | |
CN214953780U (zh) | 一种用于插件式电阻的测试治具 | |
CN217060296U (zh) | 一种射频元件测试夹具 | |
CN220795256U (zh) | 一种数字加速度传感器电路测试平台 | |
CN218213296U (zh) | 信号传输机构和半导体芯片测试机 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |