CN108885227B - 测试座单元 - Google Patents

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Abstract

本发明揭示一种用于电性连接测试目标与测试电路装置的测试座单元。所述测试座单元包括：多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的表面上；座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针；浮动板，被配置成包括销引导孔，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离。

Description

测试座单元
技术领域
本发明涉及一种用于电性连接测试目标与测试电路装置的测试座单元。
背景技术
使用用于测试半导体芯片的测试座来电性连接半导体芯片的端子与用于施加测试信号的测试电路装置的基板上的接触点(垫)。此种测试座包括用于电性连接于半导体芯片的端子与测试电路装置的基板上的接触点之间的内置测试探针。为了稳定地施行所述测试，通过螺栓等紧固方法来将测试座耦合至测试电路装置的基板。
偶尔地，可能会因维护等原因而需要将通过此种紧固方法耦合的测试座自基板分离。然而，松开所紧固的螺栓，将测试座自基板分离并使用紧固螺栓来将一新的或现有的测试座耦合至基板非常不便。
发明内容
技术问题
一或多个示例性实施例提供一种测试座单元，通过所述测试座单元，测试座更容易被锁定至测试电路装置的基板以及自所述测试电路装置的所述基板解锁。
技术解决方案
根据示例性实施例的方案，提供一种欲被锁定至测试电路装置的测试基板的测试座单元，所述测试座单元包括：多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的表面上，并自所述测试基板的所述表面向上突出，并且沿突出方向在端部部分处包括锁定啮合部及锁定止挡件；座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针且包括销贯穿孔，所述支撑锁定销穿过所述销贯穿孔；浮动板，被配置成包括销引导孔，且在浮动于距所述座主体预定高度处的同时耦合至所述座主体的顶表面，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，耦合至所述浮动板，并且能够移动以在所述浮动板被弹性地压抵于所述座主体上的状态下使所述锁定部能够被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离。
所述锁定止挡件可包括固持突出部，所述固持突出部较所述锁定啮合部在横向于所述突出方向的方向上延伸更多，所述锁定构件可被支撑于所述浮动板上且沿所述浮动板的表面滑动，且所述锁定部可沿所述浮动板的所述表面被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁。
所述支撑锁定销可包括在所述突出方向上形成的凹槽且能够在被锁定至所述锁定部以及自所述锁定部解锁的同时在横向于所述突出方向的方向上弹性地变形。
所述至少一个锁定构件可包括在所述浮动板的两个相对的侧上被排列成面对彼此的一对锁定构件。
所述锁定构件与所述浮动板可彼此啮合以容许所述锁定构件滑动。
所述锁定构件与所述浮动板中的任一者可包括滑槽，且所述锁定构件与所述浮动板中的另一者可包括被插入于所述滑槽中的引导销。
发明有益效果
根据示例性实施例，所述测试座可容易地被锁定至测试电路装置的基板以及自测试电路装置的基板解锁。
附图说明
图1是根据示例性实施例的测试座单元的立体图。
图2是根据示例性实施例的测试座单元的分解立体图。
图3(a)至图3(c)是用于解释根据示例性实施例的测试座单元的运作的图。
图4是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之前的部分立体图。
图5是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之后的部分立体图。
图6是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之前的部分平面图。
图7是图6沿I-I’线段的剖视图。
图8是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之后的部分平面图。
图9是图8沿II-II’线段的剖视图。
具体实施方式
以下，将参照附图详细阐述示例性实施例。
图1是根据示例性实施例的测试座单元的立体图，且图2是根据示例性实施例的测试座单元的分解立体图。测试座单元1包括基板10及测试座200。测试座200包括座主体210、浮动板220、弹性构件230及锁定构件240。测试座200电性连接测试目标中的欲被测试的接触点(图中未示出)与测试电路装置的基板10上形成的接触点(图中未示出)。在根据示例性实施例的测试座单元1中，测试座200通过与静止地安装于基板10上的支撑锁定销100耦合而被锁定至测试电路装置。
基板10经由测试座200将电性测试信号、功率等自测试电路装置(图中未示出)传送至测试目标(图中未示出)。基板10经由测试座200自测试目标接收电性信号。基板10包括多个垫(图中未示出)来与测试座200的探针(图中未示出)的第一端部接触。基板10包括自基板10的表面向上突出且与座200耦合的多个支撑锁定销100。
支撑锁定销100包括沿突出方向形成的锁定啮合部110及锁定止挡件120。锁定止挡件120包括固持突出部140，固持突出部140较锁定啮合部110在横向于所述突出方向的方向上延伸更多。举例而言，可通过使锁定啮合部110自锁定止挡件120后退而形成固持突出部140。支撑锁定销100沿突出方向被凹槽130分成两部分。凹槽130能够在横向于所述突出方向的方向上弹性地变形。参照图1及图2，支撑锁定销100被一个凹槽130分成两部分，但并非仅限于此。作为另外一种选择，支撑锁定销100可被分成三部分或更多。支撑锁定销100被锁定至此后将阐述的测试座200的锁定构件240以使得基板10与测试座200能够彼此耦合。
测试座200包括座主体210、浮动板220、弹性构件230、锁定构件240、紧固构件250及引导销260。测试座200包括支撑于座主体210内部的多个探针(图中未示出)以电性连接测试目标与基板10。
座主体210被塑形成像在其中心处具有像岛屿一样的探针支撑件214的矩形板一样。尽管图2中未说明，然而探针支撑件214支撑所述多个探针(图中未示出)。座主体210包括：销贯穿孔211，位于探针支撑件214外部且容许支撑锁定销100穿过；弹性构件容置凹槽212，用于接纳弹性构件230的第一端部；以及紧固构件耦合孔213，用于与紧固构件250耦合。
销贯穿孔211形成于座主体210的每一向外的隅角部分处以被支撑锁定销100穿透。销贯穿孔211的数目被设置成与支撑锁定销100的数目一样多。
弹性构件容置凹槽212形成于座主体210的顶表面上且向上开口以接纳弹性构件230的一个侧。因此，弹性构件230的第一端部与弹性构件容置凹槽212的底部接触且支撑于弹性构件容置凹槽212的底部上。弹性构件230的第二端部插入于在浮动板220的底表面上形成的弹性构件容置凹槽(图中未示出)中。
通过耦合至紧固构件耦合孔213，紧固构件250使得浮动板220在正在浮动时耦合至座主体210。举例而言，紧固构件250可通过螺栓等结构达成，所述螺栓等结构具有较耦合孔213大的头部、穿过耦合孔213的本体及在本体的端部部分上形成的螺纹。浮动板220被塑形成像其中心被开口的矩形板一样。浮动板220的开口的中心容置有座主体210的矩形探针支撑件214。浮动板220包括：销引导孔221，支撑锁定销100插入于销引导孔221中；紧固构件贯穿孔222，紧固构件250穿过紧固构件贯穿孔222；引导销耦合孔223，引导销260耦合至引导销耦合孔223；以及切割部224，用于容置锁定构件240的控制突出部244。
销引导孔221形成于浮动板220的每一隅角部分处并接纳支撑锁定销100的端部部分。销引导孔221的数目与支撑锁定销100的数目对应。
紧固构件贯穿孔222容置有用于耦合座主体210与浮动板220的紧固构件250的本体。
引导销耦合孔223与此后将阐述的引导销260的第一端部耦合。引导销耦合孔223可在内部形成有螺纹。引导销260在引导销260插入于此后将阐述的锁定构件240的滑槽242中时耦合至浮动板220的引导销耦合孔223。
弹性构件230夹置于座主体210的弹性构件容置凹槽212与浮动板220的弹性构件容置凹槽(图中未示出)之间。弹性构件230可通过弹簧(elastic spring)达成。作为另外一种选择，弹性构件230可通过任意的弹性材料达成，而无需进行限制。
切割部224沿浮动板220的外周向内凹入。在测试座200被锁定至支撑锁定销100时，切割部224容置有锁定构件240的控制突出部244。
锁定构件240包括锁定部241、滑槽242及控制突出部244。锁定构件240夹置于浮动板220与座主体210之间且耦合至支撑锁定销100。锁定构件240形成为一对，且所述一对锁定构件240可在浮动板220的两个相对的侧上被排列成面对彼此。在测试座200被锁定至支撑锁定销100以及自支撑锁定销100解锁时，控制突出部244容置于浮动板220的切割部224中。
锁定部241具有部分开口的半圆形状以啮合支撑锁定销100的锁定啮合部110。锁定部241包括：啮合表面245(参见图4)，以啮合锁定啮合部110；接触表面243，以接触支撑锁定销100的固持突出部140(参见图5)；止挡表面247，以啮合锁定止挡件120。锁定部241的形状并非仅限于半圆形状，且可端视锁定啮合部110的形状而变化。
通过如在引导销260的移动方向上延长的椭圆形孔般穿透锁定构件240以使得引导销260可沿板的表面移动而形成滑槽242。
紧固构件250穿过紧固构件贯穿孔222且与座主体210的紧固构件耦合孔213耦合。紧固构件250在浮动板220正在浮动时使得浮动板220被紧固至座主体210。紧固构件250使得浮动板220通过向上的弹性在预定限制的上部范围内上下移动。
引导销260穿过滑槽242的延长的孔且与浮动板220的引导销耦合孔223耦合。引导销260具有不能穿过滑槽242的头部、能够穿过滑槽242的本体及在本体中形成且被紧固至引导销耦合孔223的端部部分。引导销260使得锁定构件240与浮动板220紧密接触且能够沿滑槽242的延长的孔移动。参照图1及图2，引导销260被安装成穿过在锁定构件240中形成的滑槽242，但并非仅限于此。作为另外一种选择，滑槽可形成于浮动板220中且引导销可耦合至锁定构件240。
参照图1及图2，测试座200被安装成被夹置于座主体210与浮动板220之间的弹性构件230及紧固构件250向下弹性地按压。也即，当将浮动板220与座主体210耦合时，浮动板220会弹性地被迫向上。浮动板220的此种弹性向上移动被紧固构件250限制，但浮动板220可被向下按压以在预定向下限制的范围内向下移动。因此，座主体210与浮动板220被耦合成在其之间余留预定空间，以使得浮动板220可在预定范围内向下移动。
在根据示例性实施例的测试座单元1中，测试座200可容易地耦合至基板以及自基板分离。以下，将参照图3(a)至图3(c)至9阐述根据本发明的测试座200与支撑锁定销100之间的锁定操作以及解锁操作。
首先，所述锁定操作被大致划分成三个步骤。第一个步骤是向下按压浮动板220。第二个步骤是在浮动板220被向下按压的状态下，在浮动板220的表面的方向上沿浮动板220的滑槽242将一对锁定构件240插入于浮动板220中。第三个步骤是自向下的压力释放浮动板220。若将浮动板220自向下的压力释放，则支撑锁定销100与测试座200被锁定至彼此。
在图3(a)中，是示出将测试座200放置在支撑锁定销100上的侧视图。参照图4及图7，若未将浮动板220向下按压，则锁定构件240的锁定部241不与支撑锁定销100的锁定止挡件120对齐。在此种状态下，无法将锁定部241锁定至锁定止挡件120，乃因锁定部241的开口宽度小于锁定止挡件120的宽度。亦即，无法将锁定止挡件120插入于锁定部241中。
在第一个步骤中，将浮动板220向下按压以使浮动板220下移。在图3(b)中，是示出将浮动板220向下按压且使浮动板220下移的侧视图。当浮动板220下移时，耦合至浮动板220的锁定构件240亦会下移。若锁定构件240下移，则锁定部241与支撑锁定销100的锁定啮合部110彼此对齐(即，定位成能够进行锁定)。此时，锁定啮合部110的宽度小于锁定止挡件120的宽度且亦等于或略小于锁定部241的开口宽度。
在第二个步骤中，将锁定构件240插入于浮动板220中。在图3(c)中，是示出将锁定构件240插入于浮动板220中的侧视图。如图5所示，若锁定构件240向内移动，则锁定部241啮合锁定啮合部110。
在第三个步骤中，将浮动板220自向下的压力释放。若将浮动板220自向下的压力释放，则浮动板220会因弹性构件230的弹性而被迫使向上移动。此种移动使锁定构件240的接触表面243卡在支撑锁定销100的固持突出部140中。由于固持突出部140会固持接触表面243，因此浮动板220的向上移动在基板10因弹性构件230的弹性而被迫向上时受到限制。因此，基板10与座主体210的底部紧密接触，藉此改良测试座200与基板10之间的电性连接。
测试座200与支撑锁定销100之间的解锁操作是按照与上述锁定操作相反的次序来施行。首先，将浮动板220向下按压。在浮动板220被向下按压的状态下，将锁定构件240拉出浮动板220以使得锁定部241与锁定啮合部110可彼此分离。若在将锁定部241与锁定啮合部110分离之后将浮动板220自向下的压力释放，则测试座200便会自基板10解锁。
参照图6及图8，在锁定之前的支撑锁定销100的凹槽130的宽度d小于在锁定之后的支撑锁定销100的凹槽130的宽度d′。
支撑锁定销100能够在横向于突出方向的方向上弹性地变形，乃因支撑锁定销100被凹槽130分成两部分。在根据示例性实施例的测试座单元1中，锁定啮合部110的圆周可小于具有部分开口的半圆形状的锁定部241的圆周。因此，在将锁定构件240锁定至支撑锁定销100之后的支撑锁定销100的凹槽130的宽度变得较在锁定之前的凹槽130的宽度窄。变窄的凹槽130会使锁定部241的啮合表面245及止挡表面247具有向外的弹性。因此，支撑锁定销100与锁定构件240可被锁定地更牢固，且因此会更准确地维持测试座200与基板10之间的水平对齐。
在上述根据示例性实施例的测试座单元1中，测试座200被容易地锁定至测试电路装置的基板10以及自测试电路装置的基板10解锁，且因此可提高使用测试座单元1的便利性。另外，测试座200与基板10因弹性而更牢固地彼此紧密接触，且因此，可改良测试座200与基板10之间的电性连接。
在上述示例性实施例中，阐述了支撑锁定销100以及被塑形成像板一样以啮合支撑锁定销100的锁定构件240来将测试座200锁定至基板10，但并非仅限于此。作为另外一种选择，锁定构件可被塑形成像经由支撑锁定销100的顶端插入且支撑至浮动板220的顶表面的销一样。
在上述示例性实施例中，引导销260穿过在锁定构件240中形成的滑槽242且通过锁定构件240的底部来支撑锁定构件240，但并非仅限于此。作为另外一种选择，引导销260可插入于在浮动板220中形成的滑槽中，且通过浮动板220的顶表面而耦合至锁定构件240。
根据示例性实施例，所述测试座可容易地被锁定至测试电路装置的基板以及自测试电路装置的基板解锁。
尽管已示出并阐述了几个示例性实施例，然而本领域技术人员将理解，在不背离本发明的原理及精神的条件下，可对该些示例性实施例作出各种改变。

Claims (6)

1.一种欲被锁定至测试电路装置的测试基板的测试座单元，所述测试座单元包括：
多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的表面上，并自所述测试基板的所述表面向上突出，并且沿突出方向在端部部分处包括锁定啮合部及锁定止挡件；
座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针且包括销贯穿孔，所述支撑锁定销穿过所述销贯穿孔；
浮动板，被配置成包括销引导孔，且在浮动于距所述座主体预定高度处的同时耦合至所述座主体的顶表面，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；
弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及
至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，耦合至所述浮动板，并且能够移动以在所述浮动板被弹性地压抵于所述座主体上的状态下使所述锁定部能够被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离，
其中所述弹性构件的第一端插入在所述座主体的顶表面上形成的弹性构件容置凹槽中，所述弹性构件的第二端插入在所述浮动板的底表面上形成的所述弹性构件容置凹槽中。
2.根据权利要求1所述的测试座单元，其中所述锁定止挡件包括固持突出部，所述固持突出部较所述锁定啮合部在横向于所述突出方向的方向上延伸更多，
所述锁定构件被支撑于所述浮动板上且沿所述浮动板的表面滑动，且
所述锁定部沿所述浮动板的所述表面被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁。
3.根据权利要求1所述的测试座单元，其中所述支撑锁定销包括在所述突出方向上形成的凹槽且能够在被锁定至所述锁定部以及自所述锁定部解锁的同时在横向于所述突出方向的方向上弹性地变形。
4.根据权利要求1所述的测试座单元，其中所述至少一个锁定构件包括在所述浮动板的两个相对的侧上被排列成面对彼此的一对锁定构件。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试座单元，其中所述锁定构件与所述浮动板彼此啮合以容许所述锁定构件滑动。
6.根据权利要求5所述的测试座单元，其中所述锁定构件与所述浮动板中的任一者是滑槽，且所述锁定构件与所述浮动板中的另一者是被插入于所述滑槽中的引导销。
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