CN111103444A - 检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种检测装置,至少包括底座、上座、测试板和针座,所述上座固定于所述底座上,所述测试板夹设于所述底座和所述上座之间,所述上座上设有收容槽,所述收容槽贯穿所述上座以部分裸露所述测试板,所述针座可拆卸地固定于所述上座上,所述针座的中下部完全收容于所述收容槽内并抵接所述测试板,所述针座的上部突伸出所述上座用以插接待检测产品的连接端子。所述检测装置可以在不拆其它结构的前提下,达到维修或更换所述针座的目的。

Description

检测装置
技术领域
本发明涉及检测技术领域,尤其涉及一种检测装置。
背景技术
检测3C产品(指计算机、通信和消费类电子产品)时,需要将3C产品的连接端子插接到检测装置上进行。通常3C产品与测试板采用针座对插的方式连接,检测装置采用模拟整机的方式运行。在检测时,只需将3C产品的连接端子插在检测装置的针座内就可以达到快速有效的检测目的。
现有的自动化检测装置为了安装方便,采用将针座直接固定于上板和测试板之间的安装方式,并使针座的顶端部分穿设并突出于上板。然而,采用这种安装方式不利于针座的维修和更换。具体地,若针座损坏需要维修时,需要把检测装置全部拆掉才能维修或更换针座,而自动化检测装置会因为拆掉后,需要重新做校正及功能确认,这会导致产线工程师需要花很多时间处理换完针座后的检测装置。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种便于维修和更换针座的检测装置。
一种检测装置,至少包括底座、上座、测试板和针座,所述上座固定于所述底座上,所述测试板夹设于所述底座和所述上座之间,所述上座上设有收容槽,所述收容槽贯穿所述上座以部分裸露所述测试板,所述针座可拆卸地固定于所述上座上,所述针座的中下部完全收容于所述收容槽内并抵接所述测试板,所述针座的上部突伸出所述上座用以插接待检测产品的连接端子。
优选地,所述收容槽自所述上座的相邻两侧面向内凹设形成并且贯穿所述上座,所述收容槽呈U型。
优选地,所述针座包括固定座和针座组合件,所述针座组合件通过所述固定座固定于所述上座上。
优选地,所述收容槽呈阶梯型,所述固定座固定于所述收容槽内的阶梯面上。
优选地,所述针座组合件包括固定件、抵接件和凸伸件,所述固定件固定于所述固定座的下侧,所述凸伸件和所述抵接件分别安装于所述固定件的相对两侧,所述凸伸件位于所述固定座的上侧,所述抵接件位于所述测试板上。
优选地,所述固定件的上侧凸伸定位块,所述凸伸件的下侧凹设定位槽,所述定位块穿过所述固定座收容于所述定位槽内。
优选地,所述凸伸件、所述固定件和所述抵接件上分别设有若干穿孔,且所述固定件和所述抵接件上的穿孔分别与所述凸伸件上的穿孔一一对应,所述穿孔用以穿设探针。
相较于现有技术,本发明的所述检测装置利用所述上座和所述针座的结构设计,将所述针座安装于所述上座的所述收容槽内,使得所述检测装置可以在不拆其它结构的前提下,达到维修或更换所述针座的目的。
附图说明
图1为本发明的实施方式中的检测装置的立体示意图。
图2为图1中所示检测装置的部分分解示意图。
图3为图2中所示针座的分解示意图。
图4为图2中所示针座的另一角度的分解示意图。
主要元件符号说明
Figure BDA0001846101280000021
Figure BDA0001846101280000031
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施方式中的附图,对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式,而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。当一个元件被认为是“设置于”另一个元件,它可以是直接设置在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
本发明提供一种检测装置,至少包括底座、上座、测试板和针座,所述上座固定于所述底座上,所述测试板夹设于所述底座和所述上座之间,所述上座上设有收容槽,所述收容槽贯穿所述上座以部分裸露所述测试板,所述针座可拆卸地固定于所述上座上,所述针座的中下部完全收容于所述收容槽内并抵接所述测试板,所述针座的上部突伸出所述上座用以插接待检测产品的连接端子。
下面结合附图,对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。
请参见图1和图2,本发明的实施方式提供一种检测装置1,其至少包括底座2、上座3、测试板4和针座5,所述上座3固定于所述底座2上,所述测试板4夹设于所述底座2和所述上座3之间,所述上座3上设有收容槽31,所述收容槽31贯穿所述上座3以部分裸露所述测试板4,所述针座5可拆卸地固定于所述上座3上,所述针座5的中下部完全收容于所述收容槽31内并抵接所述测试板4,所述针座5的上部突伸出所述上座3用以插接待检测产品的连接端子(图未示)。可以理解地,所述底座2和所述上座3上还设有其它必要结构用以配合所述测试板4完成测试工作,此处不一一赘述。
所述收容槽31呈阶梯型,所述针座5固定于所述收容槽31内的阶梯面311上,且与所述测试板4抵接。
优选地,所述收容槽31呈U型,自所述上座3的相邻两侧面向内凹设形成并且贯穿所述上座3,以方便所述针座5的拆卸。可以理解地,所述收容槽31也可以是贯穿所述上座3的穿孔。
所述针座5包括固定座51和针座组合件52,所述针座组合件52通过所述固定座51固定于所述上座3上。具体地,所述固定座51固定于所述收容槽31内的阶梯面311上。所述针座组合件52穿设式安装于所述固定座51中,所述针座组合件52的中下部完全收容于所述收容槽31内,所述针座组合件52的上部突伸出所述上座3用以插接待检测产品的连接端子。
请参见图3和图4,在本实施方式中,所述针座组合件52包括固定件53、抵接件54和凸伸件55,所述固定件53固定于所述固定座51的下侧,所述凸伸件55和所述抵接件54分别安装于所述固定件53的相对两侧,所述凸伸件55位于所述固定座51的上侧,所述抵接件54位于所述测试板4上。
具体地,所述固定件53的上侧凸伸定位块531,所述凸伸件55的下侧凹设定位槽551,所述定位块531穿过所述固定座51收容于所述定位槽551内。
所述凸伸件55、所述固定件53和所述抵接件54上分别设有若干穿孔56,且所述固定件53和所述抵接件54上的穿孔56分别与所述凸伸件55上的穿孔56一一对应,所述穿孔56用以穿设探针(图未示)。
相较于现有技术,本发明的所述检测装置1利用所述上座3和所述针座5的结构设计,将所述针座5安装于所述上座3的所述收容槽31内,使得所述检测装置1可以在不拆其它结构的前提下,达到维修或更换所述针座5的目的。另外,本发明的所述检测装置1利用所述针座5的结构设计,利用所述固定座51将所述针座组合件52安装于所述上座3的收容槽31内,方便安装和拆卸。
可以理解的是,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形,而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (7)

1.一种检测装置,至少包括底座、上座、测试板和针座,其特征在于:所述上座固定于所述底座上,所述测试板夹设于所述底座和所述上座之间,所述上座上设有收容槽,所述收容槽贯穿所述上座以部分裸露所述测试板,所述针座可拆卸地固定于所述上座上,所述针座的中下部完全收容于所述收容槽内并抵接所述测试板,所述针座的上部突伸出所述上座用以插接待检测产品的连接端子。
2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述收容槽自所述上座的相邻两侧面向内凹设形成并且贯穿所述上座,所述收容槽呈U型。
3.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述针座包括固定座和针座组合件,所述针座组合件通过所述固定座固定于所述上座上。
4.如权利要求3所述的检测装置,其特征在于:所述收容槽呈阶梯型,所述固定座固定于所述收容槽内的阶梯面上。
5.如权利要求4所述的检测装置,其特征在于:所述针座组合件包括固定件、抵接件和凸伸件,所述固定件固定于所述固定座的下侧,所述凸伸件和所述抵接件分别安装于所述固定件的相对两侧,所述凸伸件位于所述固定座的上侧,所述抵接件位于所述测试板上。
6.如权利要求5所述的检测装置,其特征在于:所述固定件的上侧凸伸定位块,所述凸伸件的下侧凹设定位槽,所述定位块穿过所述固定座收容于所述定位槽内。
7.如权利要求5所述的检测装置,其特征在于:所述凸伸件、所述固定件和所述抵接件上分别设有若干穿孔,且所述固定件和所述抵接件上的穿孔分别与所述凸伸件上的穿孔一一对应,所述穿孔用以穿设探针。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1165401A (zh) * 1996-05-10 1997-11-19 三星电子株式会社 未封装半导体芯片的测试装置
JP2003064571A (ja) * 2001-08-22 2003-03-05 Tanaka & Co Ltd ニードルパンチ機における多針ヘッド
CN201041569Y (zh) * 2007-04-29 2008-03-26 连陞科技有限公司 拆卸式垂直适配卡
CN103777045A (zh) * 2013-07-30 2014-05-07 豪勉科技股份有限公司 组装式探针卡
EP2956766A2 (en) * 2013-02-18 2015-12-23 SEKO S.p.A. Probe-holder for amperometric sensor
CN205656206U (zh) * 2016-02-22 2016-10-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试治具
CN107315097A (zh) * 2016-04-27 2017-11-03 旺矽科技股份有限公司 探针卡及其组装方法与探针模块更换方法
CN107526015A (zh) * 2016-06-22 2017-12-29 思达科技股份有限公司 测试装置、夹持组件及探针卡载具
CN207067339U (zh) * 2017-07-27 2018-03-02 深圳市振云精密测试设备有限公司 一种fpc的浮动式微针模组

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4367730B2 (ja) * 1999-06-25 2009-11-18 株式会社エンプラス Icソケット及び該icソケットのバネ手段
US6722896B2 (en) * 2001-03-22 2004-04-20 Molex Incorporated Stitched LGA connector
TWI442053B (zh) * 2009-12-01 2014-06-21 Mpi Corporaion 探針卡以及用於探針卡的維修裝置和方法
TW201702608A (zh) * 2015-07-06 2017-01-16 Mpi Corp 探針卡模組
KR101780935B1 (ko) * 2016-03-30 2017-09-27 리노공업주식회사 검사소켓유니트

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1165401A (zh) * 1996-05-10 1997-11-19 三星电子株式会社 未封装半导体芯片的测试装置
JP2003064571A (ja) * 2001-08-22 2003-03-05 Tanaka & Co Ltd ニードルパンチ機における多針ヘッド
CN201041569Y (zh) * 2007-04-29 2008-03-26 连陞科技有限公司 拆卸式垂直适配卡
EP2956766A2 (en) * 2013-02-18 2015-12-23 SEKO S.p.A. Probe-holder for amperometric sensor
CN103777045A (zh) * 2013-07-30 2014-05-07 豪勉科技股份有限公司 组装式探针卡
CN205656206U (zh) * 2016-02-22 2016-10-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试治具
CN107315097A (zh) * 2016-04-27 2017-11-03 旺矽科技股份有限公司 探针卡及其组装方法与探针模块更换方法
CN107526015A (zh) * 2016-06-22 2017-12-29 思达科技股份有限公司 测试装置、夹持组件及探针卡载具
CN207067339U (zh) * 2017-07-27 2018-03-02 深圳市振云精密测试设备有限公司 一种fpc的浮动式微针模组

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
费莉: "电机试验台测试系统", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 工程科技Ⅱ辑》 *

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