JP2009036679A - 半導体装置用ソケット - Google Patents
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Abstract
【課題】不具合の生じたICソケットだけを容易な作業で、かつ、短時間で交換することができること。
【解決手段】挟持型の可動側接触片部20mおよび固定側接触片部20fを有するコンタクト端子20aiの固定側端子20Cが、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接する接点部20tを有し、ソケット本体10が、タッピングねじTBsで締結される固定用爪部10NA〜10NDを介してプリント配線基板18に固定されるもの。
【選択図】図1
【解決手段】挟持型の可動側接触片部20mおよび固定側接触片部20fを有するコンタクト端子20aiの固定側端子20Cが、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接する接点部20tを有し、ソケット本体10が、タッピングねじTBsで締結される固定用爪部10NA〜10NDを介してプリント配線基板18に固定されるもの。
【選択図】図1
Description
本発明は、試験に供される半導体装置をプリント配線基板に電気的に接続するための半導体装置用ソケットに関する。
電子機器などに実装される半導体装置において、一般に、実装される以前の段階でその潜在的欠陥を除去するために例えば、初期動作不良集積回路の除去に有効とされるバーンイン(burn in)試験が半導体装置用ソケットを介してなされる。
このような試験に供される半導体装置用ソケットは、一般に、ICソケットと称され、例えば、特許文献1にも示されるように、プリント配線基板(テストボード)上に配される。プリント配線基板は、所定の試験電圧が供給されるとともに被検査物としての半導体装置からの短絡等をあらわす異常検出信号を送出する入出力部を有するものとされる。その際、ICソケットのソケット本体部は、例えば、プリント配線基板に設けられる複数の取付孔を介して取付ビスおよびナットにより締結されている。また、ICソケットは、検査ラインにおける検査効率を向上させるために一枚のプリント配線基板に複数個、高密度に配置される場合がある。
このようなICソケットは、半導体装置の端子とプリント配線基板における入出力部とを電気的に接続するコンタクト端子群をソケット本体内部に内蔵している。このようなコンタクト端子群を構成する各コンタクト端子の固定端子部は、一般に、プリント配線基板の各めっきスルーホールに対し半田付け固定されている。
上述のように複数個のICソケットが高密度に一枚のプリント配線基板に配置される場合、複数個のうちの一つのICソケットに何らかの不具合が生じたとき、その不具合が生じたICソケットの保守点検または交換作業のために一枚のプリント配線基板について所定期間、使用できなくなる事態が生じる虞がある。
このような場合、検査ラインの検査を比較的長期間中断させることなく、継続して検査を行なうために同様なICソケットが配置された予備のテストボードを備えておくことも考えられる。
しかしながら、予備のテストボードを備えておくことは、検査ラインにおける設備コストが嵩むので得策でない。また、コンタクト端子の固定端子部の半田付け作業は、交換作業に比較的長い時間を費やし、しかも、テストボードの破損による歩留まりの悪化に繋がるので半田付け作業を要することなく、不具合の生じたICソケットだけを容易な作業で、かつ、迅速に交換することが要望される。
以上の問題点を考慮し、本発明は、試験に供される半導体装置をプリント配線基板に電気的に接続するための半導体装置用ソケットであって、不具合の生じたICソケットだけを容易な作業で、かつ、短時間で交換することができる半導体装置用ソケットを提供することを目的する。
上述の目的を達成するために、本発明に係る半導体装置用ソケットは、電極群が形成される電極面を有する配線基板上に配され、半導体装置を着脱可能に収容する半導体装置収容部を有するソケット本体と、半導体装置収容部に配され、半導体装置の端子を選択的に挟持する弾性のある一対の接触片部と、接触片部に連なって配線基板の電極面に対し直交する方向に弾性変位可能に形成され配線基板の電極面に当接する固定側端子とを有し、半導体装置の端子を配線基板の電極面に電気的に接続するコンタクト端子と、コンタクト端子の一対の接触片部における一方の接触片部を他方の接触片部に対し近接または離隔させるように一方の接触片部を移動させる押圧部を有するスライダ部材と、ソケット本体に移動可能に支持され半導体装置の半導体装置収容部への着脱に応じてスライダ部材の押圧部に動作を行わせ、コンタクト端子の一対の接触片部を半導体装置の端子に対し当接または離隔させるカバー部材と、を備えて構成される。
以上の説明から明らかなように、本発明に係る半導体装置用ソケットによれば、コンタクト端子が、半導体装置の端子を選択的に挟持する弾性のある一対の接触片部と、接触片部に連なって配線基板の電極面に対し直交する方向に弾性変位可能に形成され配線基板の電極面に当接する固定側端子とを有し、半導体装置の端子を配線基板の電極面に電気的に接続するので配線基板に対する半田付け作業が不要とされ、従って、不具合の生じたICソケットだけを容易な作業で、かつ、短時間で交換することができる。
図2は、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例を、テストボードとしてのプリント配線基板とともに示す。なお、図2においては、プリント配線基板上に複数個配置される半導体装置用ソケットのうちの1個を代表して示す。
半導体装置用ソケットは、所定の板厚を有するプリント配線基板18に形成される導体パターンにおける所定位置にそれぞれ配されている。その導体パターンにおける所定位置には、図1に拡大されて示されるように、後述するコンタクト端子の固定側端子の接点部が当接される電極群18Eが形成されている。また、導体パターンの周囲には、後述する各固定用爪部が挿入される略矩形状の孔18aが形成されている(図1参照)。なお、孔18aの形状は、斯かる例に限られることなく、例えば、丸孔、或いは他の形状であってもよい。
半導体装置用ソケットは、図2および図4に示されるように、上述のプリント配線基板18上に固定されるソケット本体10と、ソケット本体10内の中央のコンタクト収容部に配され後述する半導体装置とプリント配線基板18の導体パターンとを電気的に接続する複数のコンタクト端子20ai(i=1〜n,nは正の整数)と、ソケット本体10に昇降動可能に支持され後述するラッチ機構に操作力を伝達するカバー部材12と、半導体装置DVを着脱可能に収容するとともに半導体装置DVの電極部のコンタクト端子に対する相対位置を位置決めする位置決め部14を有するスライダ部材22と(図3および図5参照)、位置決め部14内に収容された半導体装置DVの各電極部を複数のコンタクト端子に向けて押圧するとともに半導体装置DVを保持する押え部材16Aおよび16Bを含んでなるラッチ機構とを主な要素として含んで構成されている。
斯かる半導体装置用ソケットに供される半導体装置DVは、例えば、BGA型の略正方形の半導体装置とされ、複数の球状の電極部が縦横に形成される電極面を有している。
樹脂製のソケット本体10は、後述するカバー部材12が下降せしめられるとき、そのアーム部の下端、押え部材16Aおよび16Bの基端部が侵入する凹部(不図示)を相対向する端部にそれぞれ、有している。また、図5に示されるように、ソケット本体10の内部の中央には、複数のコンタクト端子20aiが半導体装置DVの電極部に対応して配されるコンタクト収容部が形成されている。
コンタクト収容部は、プリント配線基板18の表面に向けて開口する凹部と、その凹部に連通し各コンタクト端子20aiをそれぞれ、収容する複数のセルと、から構成されている。各セルは、所定の間隔で縦横に形成されている。隣接するセル相互間は、仕切壁10Pai(i=1〜n,nは正の整数)により仕切られている。セルの内部には、コンタクト端子20aiの固定部20Bを内壁面で支持する圧入部が形成されている。そのセルの開口端が開口するコンタクト収容部の上面部には、後述するスライダ部材22が移動可能に配されている平坦面が形成されている。
コンタクト端子20aiは、弾性のある薄板状の金属材料でプレス加工により一体成形され、プリント配線基板18の表面に対し略直交する方向に延びている。コンタクト端子20aiは、上述の半導体装置DVの球状の電極部を選択的に挟持する一対の可動側接触片部20mおよび固定側接触片部20fと、プリント配線基板18の電極群18Eに当接する接点部20tを有する固定側端子20Cと、可動側接触片部20mおよび固定側接触片部20fと固定側端子20Cとを連結する固定部20Bとを含んで構成されている。
図5において、可動側接触片部20mは、固定側接触片部20fに対し近接または離隔可能となるように弾性を有している。可動側接触片部20mおよび固定側接触片部20fにおける上端部には、それぞれ、半導体装置DVの球状の電極部に当接する接点部が形成されている。各接点部は、スライダ部材22のスリット22bを通じて位置決め部14近傍の位置まで突出している。
また、図5において、スライダ部材22が矢印Fの示す方向に移動せしめられる場合、可動側接触片部20mの接点部は、二点鎖線で示されるように、スライダ部材22の押圧部22aにより押圧され、固定側接触片部20fの接点部に対し離隔せしめられる。一方、スライダ部材22が矢印Rの示す方向に移動され、その離隔した位置から初期位置に戻される場合、可動側接触片部20mの接点部は、固定側接触片部20fの接点部に対し近接せしめられる。
湾曲状に形成される固定側端子20Cは、弾性を有し、その一端で固定部20Bに結合されており、また、固定側端子20Cの他端に形成される接点部20tは、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接している。従って、コンタクト端子20aiの固定側端子20Cにおけるプリント配線基板18の電極群18Eに対する半田付け作業が不要とされる。
スライダ部材22は、カバー部材12の下降動作に応じてカム機構(不図示)により図5における矢印Fの示す方向に移動せしめられる。そのカム機構は、例えば、特開2003−17207号公報にも示されるような、レバー部材およびコイルスプリングを含んで構成されている。
また、スライダ部材22は、コンタクト端子20aiにおける一対の可動側接触片部20mおよび固定側接触片部20fが通過するスリット22bを縦横に有している。同一列における隣接するスリット22b相互間は、押圧部22aにより仕切られている。隣接する異なる列におけるスリット22b相互間は、隔壁により仕切られている。
スライダ部材22と一体に形成される位置決め部14は、図3に示されるように、半導体装置DVを収容するとともに、半導体装置DVの電極部のコンタクト端子20aiの各接点部に対する位置決めを行うガイド部を有する半導体装置収容部14Aを備えている。その半導体装置収容部14A内には、上述のコンタクト端子20aiの接点部が突出している。半導体装置収容部14Aを形成する相対向する壁部には、それぞれ、押え部材16Aおよび16Bがそれぞれ通過する開口部が形成されている。
カバー部材12は、上述のスライダ部材22の位置決め部14が移動可能に配される開口部を中央に有している。半導体装置DVが位置決め部14に対し着脱されるとき、半導体装置DVがその開口部を通過することとなる。
カバー部材12は、図2に示されるように、その複数の脚部12gがそれぞれ、ソケット本体10の外周部に形成される各溝に案内されて昇降動可能に支持されている。図2においては、複数の脚部12gのうちの一方のみを示す。
また、カバー部材12におけるスプリング受け部12dとソケット本体10との間には、カバー部材12を上方に、即ち、カバー部材12をソケット本体10に対し離隔する方向に付勢するコイルスプリング16が複数個設けられている。その際、カバー部材12の脚部12gの先端に設けられる爪部が溝の端部に係合される。これにより、図2に示されるように、カバー部材12が最上端位置に保持されることとなる。なお、図2および図4は、それぞれ、カバー部材12が最上端位置に保持された状態を示す。
カバー部材12は、図2において二点鎖線で示されるように、下降せしめられる場合、ラッチ機構を構成する押え部材16Aおよび16Bの基端部を押圧するアーム部(不図示)を有している。
押え部材16Aおよび16Bは、それぞれ、ソケット本体10における位置決め部14の各長辺に対向する位置に回動可能に支持されている。また、押え部材16Aおよび16Bの基端部は、それぞれ、図2に示されるように、コイルスプリング17により、位置決め部14に装着された半導体装置DVをその先端部で押さえ付ける方向に付勢されている。これにより、押え部材16Aおよび16Bの先端部は、位置決め部14の上方となる位置に配される。一方、カバー部材12のアーム部により押え部材16Aおよび16Bの基端部がコイルスプリング17の付勢力に抗して押圧される場合、押え部材16Aおよび16Bの先端部は、位置決め部14から離隔して所定の待機位置に配される。
さらに、プリント配線基板18の表面に載置されるソケット本体10における底部には、図2および図4に示されるように、固定用爪部10NA,10NB,10NC,および、10NDが4箇所に所定の間隔で一体に成形されている。固定用爪部10NA,10NB,10NC,および、10NDは、互いに同一の構造を有するので固定用爪部10NCについて説明し、他の固定用爪部10NA,10NB,および、10NDについての説明を省略する。
固定用爪部10NCは、図1に拡大されて示されるように、ソケット本体10の短辺に沿って互いに離隔した二股状のロック片10N1および10N2を有している。ロック片10N1および10N2の相互間には、テーパ状の孔10Nsが形成されている。
ロック片10N1および10N2における先端から外方に向けて張り出した各係止部10nは、それぞれ、互いに近接する方向または離隔する方向に弾性変位可能とされる。即ち、各係止部10nは、各係止部10nが孔18aを通過するように互いに近接し、また、各係止部10nが下面側の孔18aの開口端周縁に係止されるように互いに離隔可能とされる。
各係止部10nには、所定の勾配を有する斜面部10Sが、ロック片N1の先端の外面から張り出し下方に向けて傾斜するように形成されている。ロック片10N1および10N2がプリント配線基板18に固定される場合、各斜面部10Sは、図1に拡大されて示されるように、プリント配線基板18における下面に形成される孔18aの開口端の周縁に当接している。
斯かる固定用爪部10NCをプリント配線基板18における孔18aに固定するにあたっては、先ず、ロック片10N1および10N2が孔18aに対し位置合わせされた後、
ソケット本体10の底部から突出したコンタクト端子20aiの固定側端子20Cの弾性力に抗してソケット本体10が押圧される。これにより、ロック片10N1および10N2の係止部10nの端面が、その上面における孔18aの開口端の周縁に当接しさらに押圧されるとき、互いに近接する方向に一旦、弾性変位した後、孔18aを通過し、互いに離隔する方向に弾性変位する。従って、図6に拡大されて示されるように、各斜面部10Sは、プリント配線基板18における下面に形成される孔18aの開口端の周縁に当接する。その際、タッピングねじTBsが孔10Nsにねじ込まれる。
ソケット本体10の底部から突出したコンタクト端子20aiの固定側端子20Cの弾性力に抗してソケット本体10が押圧される。これにより、ロック片10N1および10N2の係止部10nの端面が、その上面における孔18aの開口端の周縁に当接しさらに押圧されるとき、互いに近接する方向に一旦、弾性変位した後、孔18aを通過し、互いに離隔する方向に弾性変位する。従って、図6に拡大されて示されるように、各斜面部10Sは、プリント配線基板18における下面に形成される孔18aの開口端の周縁に当接する。その際、タッピングねじTBsが孔10Nsにねじ込まれる。
次に、図1に拡大して示されるように、タッピングねじTBsが孔10Nsにさらにねじ込まれる。これにより、ロック片10N1および10N2の係止部10nは、互いに離隔する方向にさらに弾性変位するので各斜面部10Sに摺接しながらソケット本体10がプリント配線基板18に引き寄せられることとなる。従って、プリント配線基板18の板厚のばらつきに起因した各斜面部10Sと孔18aの周縁との隙間が生じることがないのでコンタクト端子20aiの固定側端子20Cの接触圧力が所定値以下に低減することが回避される。
斯かる構成において、半導体装置DVの試験を行うにあたっては、先ず、図示が省略される搬送ロボットに設けられる押圧部材の押圧面部がカバー部材12の上面に当接されて上述のコイルスプリング16の付勢力に抗して下方に向けて所定のストロークで押圧される。
これにより、押え部材16Aおよび16Bが互いに離隔し待機位置とされる。また、例えば、被検査物としての半導体装置DVが、図示が省略される搬送ロボットの搬送アームにより吸引保持されてカバー部材12の開口部および位置決め部14の真上となる位置まで搬送される。
次に、搬送アームにより吸引保持された半導体装置DVは、カバー部材12の開口部を通じて下降せしめられて位置決め部14の半導体装置収容部14Aに位置決めされ装着される。続いて、カバー部材12は、上述の押圧部材の押圧面部がカバー部材12の上面に当接された状態で上昇されるとき、上述のコイルスプリング16の付勢力等により最上端位置まで上昇せしめられる。その際、押え部材16Aおよび16Bの先端の当接部は、それぞれ、略同一のタイミングで、回動され、半導体装置DVをコンタクト端子20aiに向けて押圧することとなる。
そして、カバー部材12が最上端位置に維持されるもとでプリント配線基板18の入出力部に検査信号が供給されるとき、コンタクト端子20aiを通じてその検査信号が半導体装置DVに供給されるとともにその回路の異常が検出される場合、半導体装置DVからの異常検出信号が入出力部を通じて外部の故障診断装置に供給されることとなる。
図7は、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例に用いられるコンタクト端子の他の一例およびプリント配線基板を示す。
なお、図7においては、図5に示される例において同一とされる構成要素について同一の符号を付して示し、その重複説明を省略する。
ソケット本体10は、プリント配線基板18’に形成される導体パターンにおける所定位置にそれぞれ配されている。その導体パターンにおける所定位置には、後述するコンタクト端子30ai(i=1〜n,nは正の整数)の固定側端子30Cの接点部30tが挿入されるめっきスルーホール18’thが複数個、縦横に形成されている。また、各めっきスルーホール18’th群の周辺における4箇所には、固定用爪部10NA〜10NDが固定される上述の孔18aと同様な孔が形成されている。
コンタクト端子30aiは、弾性のある薄板状の金属材料でプレス加工により一体成形され、プリント配線基板18’の表面に対し略直交する方向に延びている。コンタクト端子30aiは、上述の半導体装置DVの球状の電極部を選択的に挟持する一対の可動側接触片部30mおよび固定側接触片部30fと、プリント配線基板18’のめっきスルーホール18’thに挿入される接点部30tを有する固定側端子30Cと、可動側接触片部30mおよび固定側接触片部30fと固定側端子30Cとを連結する固定部30Bとを含んで構成されている。
図7において、可動側接触片部30mは、固定側接触片部30fに対し近接または離隔可能となるように弾性を有している。可動側接触片部30mおよび固定側接触片部30fにおける上端部には、それぞれ、半導体装置DVの球状の電極部に当接する接点部が形成されている。各接点部は、スライダ部材22のスリット22bを通じて位置決め部14近傍の位置まで突出している。
また、図7において、スライダ部材22が矢印Fの示す方向に移動せしめられる場合、可動側接触片部30mの接点部は、スライダ部材22の押圧部22aにより押圧され、固定側接触片部30fの接点部に対し離隔せしめられる。一方、スライダ部材22が矢印Rの示す方向に移動され、その離隔した位置から初期位置に戻される場合、可動側接触片部30mの接点部は、固定側接触片部30fの接点部に対し近接せしめられる。
円弧状に形成される固定側端子30Cは、弾性を有し、その一端で固定部30Bに結合されており、また、固定側端子30Cの他端に形成される接点部30tは、プリント配線基板18’のめっきスルーホール18’th内に挿入されている。固定側端子30Cにおける円弧部と接点部30tとの境界部分には、めっきスルーホール18’thの開口端周縁に当接する円形状のストッパ部30bが形成されている。
従って、斯かる例においても、コンタクト端子30aiの固定側端子30Cにおけるプリント配線基板18’のめっきスルーホール18’thに対する半田付け作業が不要とされる。
上述の例においては、本発明の一例が、コンタクト収容部の上面部における平坦面に摺動されるスライダ部材22が、所定の方向に移動せしめられる場合、可動側接触片部20mの接点部は、スライダ部材22の押圧部22aにより押圧され、固定側接触片部20fの接点部に対し離隔せしめられる構成を備える半導体装置用ソケットに適用されているが、斯かる例に限られることなく、例えば、特開2004−111215号公報にも示されるように、一対の接触片部の相互間に配される仕切壁を備える移動板がソケット本体における上下方向に沿って移動せしめられることにより、一対の接触片部双方が互いに離隔するように移動せしめられる構成を備える半導体装置用ソケットに適用されてもよいことは勿論である。
10 ソケット本体
10NA,10NB,10NC,10ND 固定用爪部
10N1,10N2 ロック片部
10n 係止部
10S 斜面部
18、18’ プリント配線基板
18a 孔
20ai,30ai コンタクト端子
TBs タッピングねじ
10NA,10NB,10NC,10ND 固定用爪部
10N1,10N2 ロック片部
10n 係止部
10S 斜面部
18、18’ プリント配線基板
18a 孔
20ai,30ai コンタクト端子
TBs タッピングねじ
Claims (3)
- 電極群が形成される電極面を有する配線基板上に配され、半導体装置を着脱可能に収容する半導体装置収容部を有するソケット本体と、
前記半導体装置収容部に配され、前記半導体装置の端子を選択的に挟持する弾性のある一対の接触片部と、該接触片部に連なって前記配線基板の電極面に対し直交する方向に弾性変位可能に形成され前記配線基板の電極面に当接する固定側端子とを有し、該半導体装置の端子を該配線基板の電極面に電気的に接続するコンタクト端子と、
前記コンタクト端子の一対の接触片部における一方の接触片部を他方の接触片部に対し相対的に近接または離隔させるように該一方の接触片部、または、該一方および他方の接触片部の双方を移動させる押圧部を有するスライダ部材と、
前記ソケット本体に移動可能に支持され前記半導体装置の前記半導体装置収容部への着脱に応じて前記スライダ部材の押圧部に動作を行わせ、前記コンタクト端子の一対の接触片部を該半導体装置の端子に対し当接または離隔させるカバー部材と、
を具備して構成される半導体装置用ソケット。 - 前記ソケット本体の底部に一体に形成され、前記配線基板の固定用孔に係合状態または非係合状態とされる弾性変位可能な一対のロック片部を有し、該ソケット本体を該配線基板に係止する複数の固定用爪部と、
前記固定用爪部のロック片部を前記配線基板の固定用孔の周縁に対し付勢するねじ部材と、をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用ソケット。 - 二股状に形成される前記一対のロック片部における係止部は、前記配線基板の固定用孔の周縁に係合される斜面部を有し、前記ねじ部材は、前記一対のロック片部相互間に形成される円錐状の孔にねじ込まれることを特徴とする請求項2記載の半導体装置用ソケット。
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