JP2003017208A - 半導体装置用ソケット - Google Patents

半導体装置用ソケット

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JP2003017208A
JP2003017208A JP2001195417A JP2001195417A JP2003017208A JP 2003017208 A JP2003017208 A JP 2003017208A JP 2001195417 A JP2001195417 A JP 2001195417A JP 2001195417 A JP2001195417 A JP 2001195417A JP 2003017208 A JP2003017208 A JP 2003017208A
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semiconductor device
terminal
movable contact
positioning member
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JP2001195417A
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Masaru Sato
優 佐藤
Hiroyuki Kitada
浩之 北田
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Yamaichi Electronics Co Ltd
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Yamaichi Electronics Co Ltd
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    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
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    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体装置の一連の装着動作中において、位
置決め部材と半導体装置とが不所望な干渉を生じる虞が
なく、しかも、検査効率の低下に繋がる虞がないこと。 【解決手段】 装着される半導体素子26の収容部が、
ソケット本体24に位置規制されて支持される位置決め
部材32の収容部と、ソケット本体24に位置決め部材
32に対し相対的に移動可能に支持される位置決め部材
30の収容部により形成されるもの。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の試験
に用いられる半導体装置用ソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】電子機器などに実装される半導体装置
は、実装される以前の段階で種々の試験が行われその潜
在的欠陥が除去される。その試験は、熱的および機械的
環境試験などに対応した電圧ストレス印加、高温動作、
高温保存などにより非破壊的に実施される。その種々の
試験のうちで初期動作不良集積回路の除去に有効とされ
る試験としては、高温条件のもとで一定時間の動作試験
を行うバーンイン(burn in)試験が行われてい
る。
【0003】このような試験に供される半導体装置用ソ
ケットは、例えば、特許第3059946号公報、およ
び図11にも示されるように、所定の試験電圧が供給さ
れるとともに被検査物としての半導体装置からの短絡等
をあらわす異常検出信号を送出する入出力部を有するプ
リント配線基板2と、プリント配線基板2上に固定され
後述するコンタクト偏移部材8をコンタクト端子16a
iの一対の可動接点部に対し相対的に移動可能に収容す
るソケット本体4と、半導体装置として、例えば、BG
A型(Ball Grid Array)の半導体素子
6が装着される収容部10aを有する位置決め部材10
と、所定の方向に沿って往復動可能にソケット本体4内
に配され位置決め部材10の底部を支持するとともに後
述するコンタクト端子16aiの一方の可動接点部16
Mを他方の可動接点部16Fに対し近接または離隔させ
るコンタクト偏移部材8と、作用される操作力を図示が
省略されるコンタクト偏移部材8の駆動機構を介して駆
動力としてコンタクト偏移部材8に伝達するフレーム部
材12とを含んで構成されている。
【0004】プリント配線基板2における所定位置に
は、その入出力部に導体層を通じて電気的に接続される
電極群が形成されている。その電極群には、プリント配
線基板2上に配されるソケット本体4に設けられる複数
のコンタクト端子16ai(i=1〜n,nは自然数)
の基端側の端子16Bが接続されている。
【0005】ソケット本体4は、複数のコンタクト端子
16aiの可動接点部16Mおよび16Fが突出する収
容部4aを内側に有している。
【0006】各コンタクト端子16aiは、装着される
半導体素子6の各電極部6aに対応してソケット本体4
に設けられる基端側の端子16Bと、その端子16Bに
結合され半導体素子6の各電極部6aを選択的に挟持す
る一対の可動接点部16Fおよび16Mと、からなる。
一対の可動接点部16Fおよび16Mは、図13および
図14に示されるように、コンタクト偏移部材8の移動
に応じて互いに近接し半導体素子6の各電極部6aを挟
持し、または、互いに離隔し半導体素子6の各電極部6
aを解放状態とするものとされる。
【0007】コンタクト偏移部材8は、ソケット本体4
の収容部4aに、各コンタクト端子16aiの可動接点
部16Mおよび16Fの運動方向に沿って移動可能に配
されている。コンタクト偏移部材8は、各コンタクト端
子16aiの可動接点部16Mおよび16Fが突出する
開口部を有している。各開口部は、それぞれ、図示が省
略される隔壁により仕切られている。
【0008】コンタクト偏移部材8における各コンタク
ト端子16aiの可動接点部16Mおよび16Fが突出
する各開口部には、可動接点部16Mと可動接点部16
Fとの間の空間を仕切るように形成される可動接点押圧
部としての隔壁部8Pがそれぞれ設けられている。さら
に、コンタクト偏移部材8の一端とソケット本体4の収
容部4aの内周部との間には、図示が省略されるが、コ
ンタクト偏移部材8を図11に示される初期位置に戻す
べく付勢する付勢部材が設けられている。
【0009】また、コンタクト偏移部材8における位置
決め部材10の底部が載置される上端部には、図13に
示されるように、コンタクト偏移部材8が一方向に移動
せしめられるとき、位置決め部材10の突起部10pに
係合される凹部8aが設けられている。従って、コンタ
クト偏移部材8は、図12および図13に示されるよう
に、その底部および位置決め部材10に対して所定の範
囲、相対的に摺動可能とされ、また、位置決め部材10
と一体となって移動せしめられる。
【0010】さらに、コンタクト偏移部材8は、特許第
3059946号公報にも示されるような、レバーおよ
びピンからなる駆動機構に連結されている。その駆動機
構のレバーの一端は、フレーム部材12の端部に当接し
ている。
【0011】これにより、図11に示される矢印の示す
方向に沿った、フレーム部材12の下降動作に応じてコ
ンタクト偏移部材8が図13に示される矢印の示す方向
に、付勢手段の付勢力に抗して移動せしめられるとき、
隔壁部8Pが各コンタクト端子16aiの可動接点部1
6Mを可動接点部16Fに対して離隔させるように移動
せしめられる。一方、図14に示されるように、フレー
ム部材12の上昇動作に応じて図13の矢印の示す方向
とは反対方向に、コンタクト偏移部材8が付勢手段の付
勢力および可動接点部16Mの復元力により移動せしめ
られる。
【0012】位置決め部材10は、図11に示されるよ
うに、その中央部に、半導体素子6が装着される収容部
10aを有している。収容部10aの内周面は、正方形
の半導体素子6の各端面がそれぞれ当接する平坦面およ
び上端面とその平坦面とを結合する斜面部と、平坦面に
交叉する底面部とにより形成されている。収容部10a
の内周面の寸法は、所定の公差をもって装着される半導
体素子6の外形寸法よりも大に設定されている。
【0013】収容部10aの底部には、コンタクト偏移
部材8における開口部に連通する開口部10bが形成さ
れている。収容部10aの底部におけるコンタクト偏移
部材8に対向する部分には、コンタクト偏移部材8の凹
部8aの周縁に係合する突起部10pが形成されてい
る。また、位置決め部材10の底部におけるソケット本
体4に対向する両端部には、それぞれ、ソケット本体4
の溝4gaおよび4gbに案内されるとともに規制され
る突起部10caおよび10cbが形成されている。
【0014】フレーム部材12は、位置決め部材10の
外周を包囲するように開口を内側に有している。フレー
ム部材12は、ソケット本体4に対し昇降動可能にソケ
ット本体4に支持されている。
【0015】かかる構成において、半導体素子6が図1
1に示されるように、図示が省略される搬送ロボットの
ハンドHAに保持され、位置決め部材10の収容部10
aに収容される直前の状態である場合、半導体素子6が
搬送ロボットのハンドHAの軸心と半導体素子6の中心
とが一致するように搬送ロボットのハンドHAに保持さ
れている。その際、位置決め部材10の突起部10pと
コンタクト偏移部材8の凹部8aの周縁とは互いに非係
合状態とされる。また、搬送ロボットのハンドHAは、
そのハンドHAの軸心の位置が位置決め部材10の収容
部10aの中心位置に対し、図11において左側に所定
の距離ΔHだけずれるように配置されている。
【0016】保持される半導体素子6が位置決め部材1
0の収容部10a内に装着されるとき、先ず、フレーム
部材12が搬送ロボットの押圧部PUにより図13に示
される最下端位置まで下降せしめられるとともに半導体
素子6が下降せしめられる。
【0017】これにより、図13に示されるように、コ
ンタクト偏移部材8が付勢手段の付勢力に抗して移動せ
しめられる。また、位置決め部材10の突起部10pと
コンタクト偏移部材8の凹部8aの周縁とが係合状態と
されることにより、位置決め部材10は、その突起部1
0caおよび10cbがそれぞれ,溝4ga,4gbの
閉端部に衝突するまで移動せしめられる。
【0018】次に、図13に示されるように、隔壁部8
Pが各コンタクト端子16aiの可動接点部16Mを可
動接点部16Fに対して離隔させるように移動せしめら
れ保持される状態において、半導体素子6が位置決め部
材10の収容部10aに載置されることにより、半導体
素子6の電極部6aが各コンタクト端子16aiの可動
接点部16Mと可動接点部16Fとの間に対し位置決め
される。
【0019】その際、位置決め部材10の収容部10a
が所定量移動したので搬送ロボットのハンドHAは、位
置決め部材10の移動に応じて図13にニ点鎖線で示さ
れるように、そのハンドHAの軸心の位置CLと位置決
め部材10の収容部10aの中心位置とが一致した状態
で下降せしめられることとなる。
【0020】そして、半導体素子6の各電極6aが各コ
ンタクト端子16aiの可動接点部16Mおよび16F
の相互間に配された状態で、図14に示されるように、
フレーム部材12が上昇せしめられるとき、コンタクト
偏移部材8が付勢手段の付勢力および可動接点部16M
の復元力により初期の位置まで移動せしめられることに
より、隔壁部8Pが可動接点部16Mから離隔し可動接
点部16Fに対して接触することとなる。なお、図14
は、コンタクト偏移部材8が矢印の示す方向に沿って移
動し始めるときを示す。
【0021】従って、図14に示されるように、半導体
素子6の各電極部6aが各コンタクト端子16aiの可
動接点部16Mおよび可動接点部16Fにより挟持され
ることにより、半導体素子6の各電極部6aが各コンタ
クト端子16aiに電気的に接続状態となる。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、位置決
め部材10に関連する各構成部品の製造誤差に基づく位
置決め部材10の位置ずれにより、搬送ロボットのハン
ドHA、フレーム部材12および位置決め部材10の移
動中、図12に示されるように、半導体素子6の端部が
位置決め部材10の収容部10aの内周部に干渉する場
合がある。
【0023】このような場合、例えば、フレーム部材1
2が最下端の位置まで下降せしめられ、また、位置決め
部材10が図13に示されるように、その突起部10c
aおよび10cbがそれぞれ,溝4ga,4gbの閉端
部に衝突するまで移動せしめられた後、半導体素子6を
保持する搬送ロボットのハンドHAが遅れて下降すれば
このような事態は回避されるが、検査効率の低下に繋が
り得策とは言えない。
【0024】さらに、位置決め部材10の位置ずれを修
正するために位置決め部材10に関連する各構成部品を
新たに交換することは、生産効率の観点からも量産にお
いては困難である。その際、位置決め部材10の位置ず
れ量を少なくすることにも、各ロット相互間における各
部品の製造誤差のばらつきの範囲内においてばらつく可
能性があり、一定の限界がある。
【0025】以上の問題点を考慮し,本発明は、半導体
装置の試験に用いられる半導体装置用ソケットであっ
て、半導体装置の一連の装着動作中において、位置決め
部材と半導体装置とが不所望な干渉を生じる虞がなく、
しかも、検査効率の低下に繋がる虞がない半導体装置用
ソケットを提供することを目的とする。
【0026】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明に係る半導体装置用ソケットは、半導体装
置の端子に選択的に当接し電気的に接続される可動接点
を有するコンタクト端子の基端部を支持する支持体と、
支持体内に移動可能に配されコンタクト端子の可動接点
を半導体装置の端子に近接または離隔させる押圧部を有
するコンタクト端子偏移部材と、コンタクト端子偏移部
材の移動方向に沿った移動が規制されて支持体に支持さ
れ、装着される前記半導体装置の端子をコンタクト端子
の可動接点に対し相対的に位置決めする収容部を有する
第1の位置決め部材と、第1の位置決め部材に対向しコ
ンタクト端子偏移部材の移動方向に沿って移動可能に支
持体に支持され、第1の位置決め部材と協働して装着さ
れる半導体装置の端子を前記コンタクト端子の可動接点
に対し相対的に位置決めする収容部を有する第2の位置
決め部材とを備えて構成される。
【0027】また、第2の位置決め部材は、コンタクト
端子偏移部材が移動するとき、コンタクト端子偏移部材
に選択的に係合される係合部を有し、第1の位置決め部
材に対し近接または離隔するように移動せしめられても
よい。
【0028】さらに、本発明に係る半導体装置用ソケッ
トは、半導体装置の端子に選択的に当接し電気的に接続
される可動接点を有するコンタクト端子の基端部を支持
する支持体と、支持体内に移動可能に配されコンタクト
端子の可動接点を半導体装置の端子に近接または離隔さ
せる押圧部を有するコンタクト端子偏移部材と、コンタ
クト端子偏移部材の移動方向に沿った移動が規制されて
支持体に支持され、半導体装置の端子を可動接点に対し
相対的に位置決めし半導体装置を収容する収容部を有す
る位置決め部材と、半導体装置が位置決め部材の収容部
に装着されるとき、コンタクト端子偏移部材の移動方向
に沿った前記位置決め部材の移動を規制する位置規制部
材とを備えて構成される。
【0029】位置規制部材は、位置決め部材をコンタク
ト端子偏移部材の移動方向に沿って一方向に付勢する弾
性部材であってもよい。
【0030】本発明に係る半導体装置用ソケットは、半
導体装置の端子に選択的に当接し電気的に接続される可
動接点を有するコンタクト端子の基端部を支持する支持
体と、支持体内に移動可能に配されコンタクト端子の可
動接点を半導体装置の端子に近接または離隔させる押圧
部を有するコンタクト端子偏移部材と、コンタクト端子
偏移部材の移動方向に沿った移動が規制されて支持体に
支持され、底部に載置される半導体装置の端子を可動接
点に対し相対的に位置決めし収容する収容部を有する位
置決め部材と備えて構成される。
【0031】
【発明の実施の形態】図1は、本発明に係る半導体装置
用ソケットの第1実施例を、装着される半導体素子とと
もに示す。なお、図1においては、後述するプリント配
線基板20上に縦横に固定される複数の半導体装置用ソ
ケットのうちのひとつの半導体装置用ソケットを示す。
【0032】図1において、半導体装置用ソケットは、
所定の試験電圧が供給されるとともに被検査物としての
半導体装置からの短絡等をあらわす異常検出信号を送出
する入出力部を有するプリント配線基板20と、プリン
ト配線基板20上に固定され後述するコンタクト偏移部
材38をコンタクト端子36aiの一対の可動接点部に
対し相対的に移動可能に収容するソケット本体24と、
半導体装置として、例えば、BGA型(Ball Gr
id Array)の半導体素子26が装着される収容
部を協働して形成する位置決め部材30および32と、
所定の方向に沿って往復動可能にソケット本体24内に
配され位置決め部材30および32の底部をそれぞれ支
持するとともに後述するコンタクト端子36aiの一方
の可動接点部36Mを他方の可動接点部36Fに対し近
接または離隔させるコンタクト偏移部材38と、作用さ
れる操作力を図示が省略されるコンタクト偏移部材38
の駆動機構を介して駆動力としてコンタクト偏移部材3
8に伝達するフレーム部材22とを含んで構成されてい
る。
【0033】プリント配線基板20における所定位置に
は、その入出力部に導体層を通じて電気的に接続される
電極群が形成されている。その電極群には、プリント配
線基板20上に配されるソケット本体24に設けられる
複数のコンタクト端子36ai(i=1〜n,nは自然
数)の基端側の端子36Bが接続されている。
【0034】ソケット本体24は、複数のコンタクト端
子36aiの可動接点部36Mおよび36Fが突出する
収容部24aを内側に有している。収容部24aの底部
には、各コンタクト端子36aiの基端部がそれぞれ圧
入される貫通孔24bが複数設けられている。各貫通孔
24bは、装着される半導体素子26の電極26aに対
応して設けられている。各貫通孔24bを形成する壁面
における収容部24aの底部側には、斜面部24sが形
成されている。斜面部24sは、後述する図3に示され
るように、コンタクト端子36aiの一方の可動接点部
36Mを案内するように右下方に向けて傾斜している。
【0035】各コンタクト端子36aiは、装着される
半導体素子26の各電極部26aに対応してソケット本
体24に設けられる基端側の端子36Bと、その端子3
6Bに結合され半導体素子26の各電極部26aを選択
的に挟持する一対の可動接点部36Fおよび36Mとか
らなる。一対の可動接点部36Fおよび36Mは、図3
および図4に示されるように、コンタクト偏移部材38
の移動に応じて互いに近接し半導体素子26の各電極部
26aを挟持し、または、互いに離隔し半導体素子26
の各電極部26aを解放状態とするものとされる。
【0036】コンタクト偏移部材38は、ソケット本体
24の収容部24aに、各コンタクト端子36aiの可
動接点部36Mおよび36Fの運動方向に沿って移動可
能に配されている。コンタクト偏移部材38は、各コン
タクト端子36aiの可動接点部36Mおよび36Fが
それぞれ突出する開口部を有している。隣接する各コン
タクト端子36aiに対応する各開口部は、それぞれ、
図示が省略される隔壁により仕切られている。
【0037】コンタクト偏移部材38における各コンタ
クト端子26aiの可動接点部26Mおよび26Fが突
出する各開口部の相互間には、可動接点部16Mと可動
接点部16Fとの間の空間を仕切るように形成される可
動接点押圧部としての隔壁部38Pがそれぞれ設けられ
ている。さらに、コンタクト偏移部材38の一端とソケ
ット本体24の収容部24aの内周部との間には、図示
が省略されるが、図3に示される状態のコンタクト偏移
部材38を、図4に示される初期位置に戻すべく付勢す
る付勢部材が設けられている。
【0038】また、コンタクト偏移部材38における位
置決め部材30の底部が載置される上端部には、図1に
示されるように、コンタクト偏移部材38が一方向に移
動せしめられるとき、位置決め部材30の突起部に係合
される凹部38aが設けられている。
【0039】従って、位置決め部材30および32の底
部と収容部24aの底面との間に配されるコンタクト偏
移部材38は、図1および図3に示されるように、その
底部、位置決め部材30および32に対して所定の範
囲、相対的に摺動可能とされ、また、位置決め部材30
を伴なって移動せしめられる。
【0040】さらに、コンタクト偏移部材38の外周部
に一対設けられる係合ピン38dは、図2に示されるよ
うに、フレーム部材22の昇降動に応じてコンタクト偏
移部材38を移動させる駆動機構のレバー部材40の長
孔40dにそれぞれ連結されている。係合ピン38d
は、例えば、コンタクト偏移部材38の一方の端部側に
設けられている。
【0041】その駆動機構の各レバー部材40の基端部
は、ソケット本体24の収容部24aの内周部に設けら
れる支持軸24sに回動可能に係合される透孔40aを
有している。
【0042】各レバー部材40の先端40tは、常にフ
レーム部材22の下端面に当接している。
【0043】これにより、図2に示される矢印の示す方
向に沿ったフレーム部材22の下降動作に応じて各レバ
ー部材40の先端40tは、図2に二点鎖線で示される
ように,反時計回り方向に回動される。従って、コンタ
クト偏移部材38は、矢印の示す方向に付勢手段の付勢
力に抗して移動せしめられる。
【0044】その際、図3に示されるように、コンタク
ト偏移部材38の各隔壁部38Pが各コンタクト端子3
6aiの可動接点部36Mを可動接点部36Fに対して
離隔させるように移動せしめられる。
【0045】一方、図4に示されるように、フレーム部
材22の上昇動作に応じて矢印の方向に、コンタクト偏
移部材38が付勢手段の付勢力および可動接点部36M
の復元力により、上述の方向とは反対方向に、移動せし
められる。
【0046】所謂、2ピースの位置決め部材である位置
決め部材30および32は、図1に示されるように、そ
の中央部に、半導体素子26が位置決めされて装着され
る収容部34を協働して形成している。
【0047】位置決め部材30の内周面は、正方形の半
導体素子26における一方の辺の端面およびその連なる
両側面がそれぞれ当接する平坦面30fと、その上端面
とその平坦面30fとを結合する斜面部30sと、平坦
面30fに交叉する底面部30bとにより囲まれて形成
されている。
【0048】位置決め部材30における相対向する平坦
面の相互間距離は、装着される半導体素子26の一辺の
長さよりも所定の公差をもって大に設定されている。
【0049】位置決め部材30の底部におけるコンタク
ト偏移部材38に対向する部分には、コンタクト偏移部
材38の凹部38aの周縁に係合する突起部30paが
形成されている。また、位置決め部材30の底部におけ
るソケット本体24に対向する端部には、ソケット本体
24の溝24gaに案内されるとともに位置規制される
突起部30pbが形成されている。
【0050】一方、位置決め部材32の内周面は、正方
形の半導体素子26における他方の辺の端面およびその
連なる両側面がそれぞれ当接する平坦面32fと、その
上端面とその平坦面32fとを結合する斜面部32s
と、平坦面32fに交叉する底面部32bとにより囲ま
れて形成されている。
【0051】位置決め部材32における相対向する平坦
面32fの相互間距離は、装着される半導体素子26の
一辺の長さよりも所定の公差をもって大に設定されてい
る。
【0052】位置決め部材32の底部におけるソケット
本体24に対向する端部には、ソケット本体24の溝2
4gbに係合されて位置規制される突起部32pが形成
されている。
【0053】なお、その位置規制は、完全に固定されて
おらず、多少ガタがあっても良い。即ち、半導体素子2
6の装着が完了する前、位置決め部材32が半導体素子
26に干渉しないように規制される構成であればよい。
また、位置決め部材32は、上述の所定位置にソケット
本体24と一体に形成されても良い。
【0054】その際、図1および図3に示されるよう
に、フレーム部材22の下降開始位置から最下端位置ま
での間において、常に、位置決め部材32における平坦
面32fと搬送ロボットのハンドHAの軸心の移動軌跡
との距離Lが、平坦面32fに対し所定の隙間をもって
半導体素子26が装着されるように設定されている。
【0055】フレーム部材22は、位置決め部材30お
よび32の外周を包囲するように開口22aを内側に有
している。フレーム部材22は、各辺にそれぞれ、図示
が省略されるソケット本体24の外周に形成される案内
溝に所定距離、移動可能に係合される爪部を有してい
る。これにより、フレーム部材22は、昇降動可能にソ
ケット本体24に支持されることとなる。また、フレー
ム部材22とソケット本体24との間には、フレーム部
材22を上方に向けて付勢するコイルスプリング部材が
設けられている。
【0056】かかる構成において、半導体素子26が図
1に示されるように、搬送ロボットのハンドHAに保持
され、位置決め部材30および32により形成される収
容部34に収容される直前の状態である場合、搬送ロボ
ットのハンドHAの軸心と半導体素子26の中心とが一
致するように半導体素子26が搬送ロボットのハンドH
Aの先端に保持されている。
【0057】その際、ニ点鎖線で示されるように、位置
決め部材30の突起部30paとコンタクト偏移部材3
8の凹部38aの周縁とは互いに非係合状態とされる。
また、位置決め部材30の突起部30pbと案内溝24
gaの閉端とも互いに非係合状態とされる。
【0058】次に、保持される半導体素子26が収容部
34内に装着されるとき、先ず、フレーム部材22が搬
送ロボットの押圧部PUによりコイルスプリングの付勢
力に抗して図3に示される最下端位置まで下降せしめら
れる。
【0059】これにより、コンタクト偏移部材38が、
図1に示される状態から図3に示される状態に、付勢手
段の付勢力に抗して移動せしめられる。その際、位置決
め部材30の突起部30paとコンタクト偏移部材38
の凹部38aの周縁とが係合状態とされるとともに、位
置決め部材30は、その突起部30pbが溝24gaの
閉端部に衝突するまで位置決め部材32に向って移動せ
しめられる。従って、その隔壁部38Pが各コンタクト
端子36aiの可動接点部36Mを可動接点部36Fに
対して離隔させるように移動せしめられる。
【0060】次に、図3にニ点鎖線で示されるように、
隔壁部38Pが各コンタクト端子36aiの可動接点部
36Mを可動接点部36Fに対して離隔されて保持され
る状態において、半導体素子26が位置決め部材30お
よび32により形成される収容部34に載置され、しか
も、その外周部が位置規制されることにより、半導体素
子26の電極部26aが各コンタクト端子36aiの可
動接点部36Mと可動接点部36Fとの間に対し位置決
めされる。
【0061】その際、位置決め部材30が位置決め部材
32に対し所定量近接したのでその収容部34の内周面
と半導体素子26の外周面との間の隙間が減少すること
となる。また、形成される収容部34の中心位置は、搬
送ロボットのハンドHAの軸心と一致することとなる。
【0062】続いて、半導体素子26が搬送ロボットの
ハンドHAから取り外される。
【0063】従って、位置決め部材30の平坦面30f
と半導体素子26の外周部との間に常に所定の隙間が形
成されるので位置決め部材30および32と半導体素子
26の外周部との間の干渉が確実に回避されることとな
る。
【0064】そして、半導体素子26の各電極26aが
各コンタクト端子36aiの可動接点部36Mおよび3
6Fの相互間に配された状態で、図4に示されるよう
に、フレーム部材22が上昇せしめられるとき、コンタ
クト偏移部材38が付勢手段の付勢力および可動接点部
36Mの復元力により初期の位置まで移動せしめられる
ことにより、収容部34の容積が拡大しつつ、隔壁部3
8Pが可動接点部36Mから離隔し可動接点部36Fに
対して接触することとなる。なお、図4は、コンタクト
偏移部材38が矢印の示す方向に沿って移動した直後を
示す。
【0065】従って、図4に示されるように、半導体素
子26の各電極部26aが各コンタクト端子36aiの
可動接点部36Mおよび可動接点部36Fにより挟持さ
れることにより、半導体素子26の各電極部26aが各
コンタクト端子36aiに電気的に接続状態となる。そ
の際、半導体素子26の外周部の一端部が位置決め部材
30の平坦面部30fに当接し、また、位置決め部材3
0の突起部30paとコンタクト偏移部材38の凹部3
8aの周縁とは互いに非係合状態とされる。また、位置
決め部材30の突起部30pbと案内溝24gaの閉端
とも互いに非係合状態とされる。
【0066】なお、所定の試験終了後、試験済みの半導
体素子26を収容部34から取り外し、新たな半導体素
子26を収容部34に装着するにあたっては、上述した
ようなフレーム部材22の昇降が再度行なわれるととも
に、搬送ロボットのハンドHAにより試験済みの半導体
素子26が保持されて取り外される。
【0067】図5は、本発明に係る半導体装置用ソケッ
トの第2実施例を、装着される半導体素子とともに示
す。なお、図5に示される例および後述する実施例にお
いては、図1に示される例における構成要素と同一の構
成要素について同一の符合を付して示し、その重複説明
を省略する。
【0068】ソケット本体44は、複数のコンタクト端
子36aiの可動接点部36Mおよび36Fが突出する
収容部44aを内側に有している。収容部44aの底部
には、各コンタクト端子36aiの基端部がそれぞれ圧
入される貫通孔44bが複数設けられている。各貫通孔
44bにおける収容部44aの底部側の内周部には、斜
面部44sが形成されている。斜面部44sは、後述す
る図6に示されるように、コンタクト端子36aiの一
方の可動接点部36Mを案内するように右下方に向けて
傾斜している。各貫通孔44bは、装着される半導体素
子26の電極26aに対応して設けられている。
【0069】コンタクト偏移部材58は、ソケット本体
44の収容部44aに、各コンタクト端子36aiの可
動接点部36Mおよび36Fの運動方向に沿って移動可
能に配されている。コンタクト偏移部材58は、各コン
タクト端子36aiの可動接点部36Mおよび36Fが
それぞれ突出する開口部を有している。隣接する各コン
タクト端子36aiに対応する各開口部は、それぞれ、
図示が省略される隔壁により仕切られている。
【0070】コンタクト偏移部材58における各コンタ
クト端子36aiの可動接点部36Mおよび36Fが突
出する各開口部の相互間には、可動接点部36Mと可動
接点部36Fとの間の空間を仕切るように形成される可
動接点押圧部としての隔壁部58Pがそれぞれ設けられ
ている。さらに、コンタクト偏移部材58の一端とソケ
ット本体44の収容部44aの内周部との間には、図示
が省略されるが、図6に示される状態のコンタクト偏移
部材58を、図5に示される初期位置に戻すべく付勢す
る付勢部材が設けられている。
【0071】従って、後述する位置決め部材50の底部
と収容部44aの底面との間に配されるコンタクト偏移
部材58は、図5および図6に示されるように、位置決
め部材50に対して所定の範囲、相対的に摺動可能とさ
れる。
【0072】さらに、コンタクト偏移部材38の外周部
は、実施例1において上述したような、フレーム部材2
2の昇降動に応じてコンタクト偏移部材58を移動させ
る駆動機構にそれぞれ連結されている。
【0073】その駆動機構における各レバー部材の先端
は、常にフレーム部材22の下端面に当接している。
【0074】これにより、図5に示される矢印の示す方
向に沿ったフレーム部材22の下降動作に応じて各レバ
ー部材の先端は、所定の方向に回動される。従って、コ
ンタクト偏移部材58は、図6の矢印の示す方向に付勢
手段の付勢力に抗して移動せしめられる。
【0075】その際、図6に示されるように、コンタク
ト偏移部材58の各隔壁部58Pが各コンタクト端子3
6aiの可動接点部36Mを可動接点部36Fに対して
離隔させるように移動せしめられる。
【0076】一方、図7に示されるように、フレーム部
材22の上昇動作に応じて矢印の方向に、コンタクト偏
移部材58が付勢手段の付勢力および可動接点部36M
の復元力により移動せしめられる。
【0077】位置決め部材50の底部の中央部には、開
口部50aが形成されている。位置決め部材50の底部
の一方側には、ソケット本体44の上端部に形成される
凹部58aの周縁に係合される突起部50cが設けられ
ている。
【0078】また、位置決め部材50の底部には、突起
部58cに対向して突起部50dが設けられている。突
起部50dとソケット本体44の内周部との間には、付
勢部材として、例えば、弾性部材であるコイルスプリン
グ52が設けられている。
【0079】コイルスプリング52は、突起部50dを
介して位置決め部材50の突起部50cを凹部58aの
周縁に係合させ突き当てるように付勢するものとされ
る。
【0080】なお、本実施例においては、付勢部材とし
てコイルスプリング52が用いられているが、斯かる例
に限られることなく、付勢部材が例えば、ゴム材料など
の他の弾性部材であってもよく、また、位置決め部材ま
たはソケット本体に一体に設けられても良い。
【0081】突起部50cは、図5に示されるように、
初期位置において、位置決め部材50の収容部の中心位
置と、搬送ロボットのハンドの中心軸線の移動軌跡とが
一致するように設定されている。
【0082】位置決め部材50の収容部50Mを形成す
る内周面は、正方形の半導体素子26における一方の辺
の端面およびその連なる両側面がそれぞれ当接する平坦
面50fと、その上端面とその平坦面30fとを結合す
る斜面部50sと、平坦面50fに交叉する底面部50
bとにより囲まれて形成されている。平坦面50fの相
互間距離は,半導体素子26の一辺の長さよりも大に設
定されている。
【0083】かかる構成において、半導体素子26が図
5に示されるように、搬送ロボットのハンドHAに保持
され、位置決め部材50の収容部50Mに収容される直
前の状態の場合、搬送ロボットのハンドHAの軸心と半
導体素子26の中心とが一致するように半導体素子26
が搬送ロボットのハンドHAの先端に保持されている。
【0084】次に、保持される半導体素子26が収容部
50M内に装着されるとき、先ず、フレーム部材22が
搬送ロボットの押圧部PUによりコイルスプリングの付
勢力に抗して図6に示される最下端位置まで下降せしめ
られる。その際、コンタクト偏移部材58の移動が開始
されるが、一方、位置決め部材50の突起部50cとソ
ケット本体44の凹部44gの周縁とが互いに係合状態
となるように維持されている。
【0085】これにより、コンタクト偏移部材38が、
図5に示される状態から図6に示される状態に、付勢手
段の付勢力に抗して移動せしめられる。従って、その隔
壁部38Pが各コンタクト端子36aiの可動接点部3
6Mを可動接点部36Fに対して離隔させるように移動
せしめられる。
【0086】次に、図6にニ点鎖線で示されるように、
隔壁部38Pが各コンタクト端子36aiの可動接点部
36Mを可動接点部36Fに対して離隔されて保持され
る状態において、半導体素子26が位置決め部材50の
収容部50Mの底部に載置され、しかも、その外周部が
位置規制されることにより、半導体素子26の電極部2
6aが各コンタクト端子36aiの可動接点部36Mと
可動接点部36Fとの間に対し位置決めされる。
【0087】その際、収容部50Mの中心位置は、搬送
ロボットのハンドHAの軸心と一致しているので半導体
素子26の外周部が位置決め部材50の収容部50Mの
内周部に干渉する虞がない。
【0088】続いて、半導体素子26が搬送ロボットの
ハンドHAから取り外される。
【0089】そして、半導体素子26の各電極26aが
各コンタクト端子36aiの可動接点部36Mおよび3
6Fの相互間に配された状態で、図7に示されるよう
に、フレーム部材22が上昇せしめられるとき、コンタ
クト偏移部材58が付勢手段の付勢力および可動接点部
36Mの復元力により初期の位置まで移動せしめられる
ことにより、隔壁部58Pが可動接点部36Mから離隔
し可動接点部36Fに対して接触することとなる。な
お、図7は、隔壁部58Pが可動接点部36Fに対して
接触していない状態であるコンタクト偏移部材58が矢
印の示す方向に沿って移動した直後を示す。
【0090】従って、図7に示されるように、半導体素
子26の各電極部26aが各コンタクト端子36aiの
可動接点部36Mおよび可動接点部36Fにより挟持さ
れることにより、半導体素子26の各電極部26aが各
コンタクト端子36aiに電気的に接続状態となる。そ
の際、可動接点部36Mの復元力により半導体素子26
の外周部の一端部が位置決め部材50の平坦面部50f
に当接し、また、可動接点部36Mの復元力によって、
位置決め部材50が移動せしめられることにより、位置
決め部材50の突起部50cが、ソケット本体44の凹
部38aの周縁とは互いに非係合状態とされる。
【0091】なお、所定の試験終了後、試験済みの半導
体素子26を収容部50Mから取り外し、新たな半導体
素子26を収容部50Mに装着するにあたっては、上述
したようなフレーム部材22の昇降が再度行なわれると
ともに、搬送ロボットのハンドHAにより試験済みの半
導体素子26が保持されて取り外される。
【0092】図8は、本発明に係る半導体装置用ソケッ
トの第3実施例を、装着される半導体素子とともに示
す。
【0093】ソケット本体64は、複数のコンタクト端
子36aiの可動接点部36Mおよび36Fが突出する
収容部64aを内側に有している。収容部64aの底部
には、各コンタクト端子36aiの基端部がそれぞれ圧
入される貫通孔64bが複数設けられている。各貫通孔
64bを形成する壁面における収容部64aの底部側に
は、斜面部64sが形成されている。斜面部64sは、
後述する図9に示されるように、コンタクト端子36a
iの一方の可動接点部36Mを案内規制するように右下
方に向けて傾斜している。各貫通孔64bは、装着され
る半導体素子26の電極26aに対応して設けられてい
る。
【0094】コンタクト偏移部材68は、ソケット本体
64の収容部64aに、各コンタクト端子36aiの可
動接点部36Mおよび36Fの運動方向に沿って移動可
能に配されている。コンタクト偏移部材68は、各コン
タクト端子36aiの可動接点部36Mおよび36Fが
それぞれ突出する開口部を有している。隣接する各コン
タクト端子36aiに対応する各開口部は、それぞれ、
図示が省略される隔壁により仕切られている。
【0095】コンタクト偏移部材68における各コンタ
クト端子36aiの可動接点部36Mおよび36Fが突
出する各開口部の相互間には、可動接点部36Mと可動
接点部36Fとの間の空間を仕切るように形成される可
動接点押圧部としての隔壁部68Pがそれぞれ設けられ
ている。さらに、コンタクト偏移部材68の一端とソケ
ット本体64の収容部64aの内周部との間には、図示
が省略されるが、図9に示される状態のコンタクト偏移
部材68を、図8に示される初期位置に戻すべく付勢す
る付勢部材が設けられている。
【0096】従って、後述する位置決め部材60の底部
と収容部64aの底面との間に配されるコンタクト偏移
部材68は、図8および図9に示されるように、位置決
め部材60に対して所定の範囲、相対的に摺動可能とさ
れる。
【0097】さらに、コンタクト偏移部材68の外周部
には、実施例1において上述したような、フレーム部材
22の昇降動に応じてコンタクト偏移部材68を移動さ
せる駆動機構がそれぞれ連結されている。
【0098】その駆動機構における各レバー部材の先端
は、常にフレーム部材22の下端面に当接している。
【0099】これにより、図8に示される矢印の示す方
向に沿ったフレーム部材22の下降動作に応じて各レバ
ー部材の先端は、所定の方向に回動される。従って、コ
ンタクト偏移部材68は、図8の矢印の示す方向に付勢
手段の付勢力に抗して移動せしめられる。
【0100】その際、図9に示されるように、コンタク
ト偏移部材68の各隔壁部68Pが各コンタクト端子3
6aiの可動接点部36Mを可動接点部36Fに対して
離隔させるように移動せしめられる。
【0101】一方、図10に示されるように、フレーム
部材22の上昇動作に応じて矢印の方向に、コンタクト
偏移部材68が付勢手段の付勢力および可動接点部36
Mの復元力により移動せしめられる。
【0102】位置決め部材60の底部の中央部には、開
口部60aが形成されている。
【0103】位置決め部材60の底部の一方側には、ソ
ケット本体64の上端部に形成される凹部64gaに係
合される突起部60dが設けられている。また、位置決
め部材60の底部には、突起部60dに対向して突起部
60eが設けられている。
【0104】突起部60dおよび60eのソケット本体
64に対する相対位置は、図8に示されるように、初期
位置において、位置決め部材60の収容部60Mの中心
位置と、搬送ロボットのハンドの中心軸線の移動軌跡と
が一致し、かつ、隙間CL1が、図8に示されるよう
に、その内周面と半導体素子26の外周面との間に形成
されるように設定されている。
【0105】なお、突起部60dおよび60eと凹部6
4gaおよび64gbとの係合は、完全に固定されず多
少ガタがあっても位置決め部材60の収容部60Mと移
動中の半導体素子26の外周部とが干渉しない程度であ
ればよい。
【0106】位置決め部材60の収容部60Mを形成す
る内周面は、正方形の半導体素子26における全周の端
面がそれぞれ当接する平坦面60fと、その上端面とそ
の平坦面60fとを結合する斜面部60sと、平坦面6
0fに交叉する底面部60bとにより囲まれて形成され
ている。相対向する平坦面60fの相互間距離は、半導
体素子26の外周面とその平坦面との間に所定の隙間が
形成されるように設定されている。
【0107】かかる構成において、半導体素子26が図
8に示されるように、搬送ロボットのハンドHAに保持
され、位置決め部材60の収容部60Mに収容される直
前の状態である場合、搬送ロボットのハンドHAの軸心
と半導体素子26の中心とが一致するように半導体素子
26が搬送ロボットのハンドHAの先端に保持されてい
る。
【0108】次に、保持される半導体素子26が収容部
60M内に装着されるとき、先ず、フレーム部材22が
搬送ロボットの押圧部PUによりコイルスプリングの付
勢力に抗して図9に示される最下端位置まで下降せしめ
られる。
【0109】これにより、コンタクト偏移部材68が、
図8に示される状態から図9に示される状態に、付勢手
段の付勢力に抗して移動せしめられる。従って、その隔
壁部68Pが各コンタクト端子36aiの可動接点部3
6Mを可動接点部36Fに対して離隔させるように移動
せしめられる。
【0110】次に、隔壁部38Pが各コンタクト端子3
6aiの可動接点部36Mを可動接点部36Fに対して
離隔されて保持される状態において、図9にニ点鎖線で
示されるように、半導体素子26が位置決め部材60の
収容部60Mの底部に載置され、しかも、その外周部が
位置規制されることにより、半導体素子26の電極部2
6aが各コンタクト端子36aiの可動接点部36Mと
可動接点部36Fとの間に対し位置決めされる。
【0111】その際、収容部60Mの中心位置は、搬送
ロボットのハンドHAの軸心と一致しているので半導体
素子26の外周部が位置決め部材60の収容部60Mの
内周部に干渉する虞がない。
【0112】続いて、半導体素子26が搬送ロボットの
ハンドHAから取り外される。
【0113】そして、半導体素子26の各電極26aが
各コンタクト端子36aiの可動接点部36Mおよび3
6Fの相互間に配された状態で、図10に示されるよう
に、フレーム部材22が上昇せしめられるとき、コンタ
クト偏移部材68が付勢手段の付勢力および可動接点部
36Mの復元力により初期の位置まで移動せしめられる
ことにより、隔壁部68Pが可動接点部36Mから離隔
し可動接点部36Fに対して接触することとなる。な
お、図10は、隔壁部68Pが可動接点部36Fに対し
て接触していない状態であるコンタクト偏移部材68が
矢印の示す方向に沿って移動した直後を示す。
【0114】従って、図10に示されるように、半導体
素子26の各電極部26aが各コンタクト端子36ai
の可動接点部36Mおよび可動接点部36Fにより挟持
されることにより、半導体素子26の各電極部26aが
各コンタクト端子36aiに電気的に接続状態となる。
その際、可動接点部36Mの復元力により半導体素子2
6の外周部の一端部が所定の隙間CL2をもって位置決
め部材60の平坦面部60fに対し近接した状態とされ
る。なお、上述の例のように、半導体素子26の外周部
の一端部の位置が図9に一点鎖線で示される当接位置と
は、異なり、図9および図10に示されるように、隙間
CL2が形成されるので位置決め部材60のソケット本
体64に対する相対位置の製造誤差に起因した半導体素
子26と位置決め部材60の平坦面部60fとの不所望
な干渉が回避されることとなる。
【0115】なお、所定の試験終了後、試験済みの半導
体素子26を収容部60Mから取り外し、新たな半導体
素子26を収容部60Mに装着するにあたっては、上述
したようなフレーム部材22の昇降が再度行なわれると
ともに、搬送ロボットのハンドHAにより試験済みの半
導体素子26が保持されて取り外される。
【0116】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
に係る半導体装置用ソケットによれば、第1の位置決め
部材がコンタクト端子偏移部材の移動方向に沿った移動
が規制されて支持体に支持され、装着される半導体装置
の端子をコンタクト端子の可動接点に対し相対的に位置
決めする収容部を有するので半導体装置が収容部に位置
決めされるとき、コンタクト端子偏移部材の移動中にお
いても半導体装置が確実に収容部に位置決めされる。従
って、半導体装置の一連の装着動作中において、位置決
め部材と半導体装置とが不所望な干渉を生じる虞がな
く、しかも、検査効率の低下に繋がる虞がない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体装置用ソケットの第1の実
施例の構成を、試験される半導体素子と共に示す断面図
である。
【図2】図1に示される例におけるコンタクト偏移部材
の駆動機構の要部の構成を示す断面図である。
【図3】図1に示される例における動作説明に供される
断面図である。
【図4】図1に示される例における動作説明に供される
断面図である。
【図5】本発明に係る半導体装置用ソケットの第2の実
施例の構成を、試験される半導体素子と共に示す断面図
である。
【図6】図5に示される例における動作説明に供される
断面図である。
【図7】図5に示される例における動作説明に供される
断面図である。
【図8】本発明に係る半導体装置用ソケットの第3の実
施例の構成を、試験される半導体素子と共に示す断面図
である。
【図9】図8に示される例における動作説明に供される
断面図である。
【図10】図8に示される例における動作説明に供され
る断面図である。
【図11】従来の装置の構成を示す断面図である。
【図12】図11に示される装置の動作説明に供される
断面図である。
【図13】図11に示される装置の動作説明に供される
断面図である。
【図14】図11に示される装置の動作説明に供される
断面図である。
【符号の説明】
24,44,64 ソケット本体 26 半導体素子 30、32,50,60 位置決め部材 34、50M、60M 収容部 36ai コンタクト端子 38,58,68 コンタクト偏移部材

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体装置の端子に選択的に当接し電気
    的に接続される可動接点を有するコンタクト端子の基端
    部を支持する支持体と、 前記支持体内に移動可能に配され前記コンタクト端子の
    前記可動接点を前記半導体装置の端子に近接または離隔
    させる押圧部を有するコンタクト端子偏移部材と、 前記コンタクト端子偏移部材の移動方向に沿った移動が
    規制されて前記支持体に支持され、装着される前記半導
    体装置の端子を前記コンタクト端子の前記可動接点に対
    し相対的に位置決めする収容部を有する第1の位置決め
    部材と、 前記第1の位置決め部材に対向し前記コンタクト端子偏
    移部材の移動方向に沿って移動可能に前記支持体に支持
    され、前記第1の位置決め部材と協働して前記装着され
    る前記半導体装置の端子を前記コンタクト端子の前記可
    動接点に対し相対的に位置決めする収容部を有する第2
    の位置決め部材と、 を具備して構成される半導体装置用ソケット。
  2. 【請求項2】 前記第2の位置決め部材は、前記コンタ
    クト端子偏移部材が移動するとき、該コンタクト端子偏
    移部材に選択的に係合される係合部を有し、前記第1の
    位置決め部材に対し近接または離隔するように移動せし
    められることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用
    ソケット。
  3. 【請求項3】 半導体装置の端子に選択的に当接し電気
    的に接続される可動接点を有するコンタクト端子の基端
    部を支持する支持体と、 前記支持体内に相対的に移動可能に配され前記コンタク
    ト端子の前記可動接点を前記半導体装置の端子に近接ま
    たは離隔させる押圧部を有するコンタクト端子偏移部材
    と、 前記コンタクト端子偏移部材の移動方向に沿った移動が
    規制されて前記支持体に支持され、前記半導体装置の端
    子を前記可動接点に対し相対的に位置決めし該半導体装
    置を収容する収容部を有する位置決め部材と、 前記半導体装置が前記位置決め部材の収容部に装着され
    るとき、前記コンタクト端子偏移部材の移動方向に沿っ
    た前記位置決め部材の移動を規制する位置規制部材と、 を具備して構成される半導体装置用ソケット。
  4. 【請求項4】 前記位置規制部材は、前記位置決め部材
    を前記コンタクト端子偏移部材の移動方向に沿って一方
    向に付勢する弾性部材であることを特徴とする請求項3
    記載の半導体装置用ソケット。
  5. 【請求項5】 半導体装置の端子に選択的に当接し電気
    的に接続される可動接点を有するコンタクト端子の基端
    部を支持する支持体と、 前記支持体内に相対的に移動可能に配され前記コンタク
    ト端子の前記可動接点を前記半導体装置の端子に近接ま
    たは離隔させる押圧部を有するコンタクト端子偏移部材
    と、 前記コンタクト端子偏移部材の移動方向に沿った移動が
    規制されて前記支持体に支持され、底部に載置される前
    記半導体装置の端子を前記可動接点に対し相対的に位置
    決めし収容する収容部を有する位置決め部材と、 具備して構成される半導体装置用ソケット。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10255617B4 (de) * 2001-11-30 2004-11-18 Enplas Corp., Kawaguchi Fassung für elektrische Bauteile
KR100907337B1 (ko) 2007-07-26 2009-07-13 주식회사 아이에스시테크놀러지 테스트용 소켓

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7256595B2 (en) * 2004-03-22 2007-08-14 Micron Technology, Inc. Test sockets, test systems, and methods for testing microfeature devices
US7189092B2 (en) * 2004-07-14 2007-03-13 Antares Contech, Inc. Modular semiconductor package testing contactor system
JP4312685B2 (ja) * 2004-08-31 2009-08-12 山一電機株式会社 半導体装置の着脱方法、それが用いられる半導体装置の着脱装置、および半導体装置用ソケット
JP4471941B2 (ja) * 2005-03-10 2010-06-02 山一電機株式会社 半導体装置用ソケット
US7583097B2 (en) * 2005-12-23 2009-09-01 Essai, Inc. Contactor nest for an IC device and method
US7425839B2 (en) * 2006-08-25 2008-09-16 Micron Technology, Inc. Systems and methods for testing packaged microelectronic devices
JP2009036679A (ja) * 2007-08-02 2009-02-19 Yamaichi Electronics Co Ltd 半導体装置用ソケット
JP4495200B2 (ja) * 2007-09-28 2010-06-30 山一電機株式会社 半導体装置用ソケット
US7857646B2 (en) 2008-05-02 2010-12-28 Micron Technology, Inc. Electrical testing apparatus having masked sockets and associated systems and methods
TWM350157U (en) * 2008-06-30 2009-02-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
JP2010118275A (ja) * 2008-11-13 2010-05-27 Yamaichi Electronics Co Ltd 半導体装置用ソケット
US8055638B2 (en) * 2008-12-11 2011-11-08 Microsoft Corporation Providing recent history with search results
US8060524B2 (en) * 2008-12-11 2011-11-15 Microsoft Corporation History answer for re-finding search results

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3059946B2 (ja) 1997-05-01 2000-07-04 山一電機株式会社 Icソケット
US5955888A (en) * 1997-09-10 1999-09-21 Xilinx, Inc. Apparatus and method for testing ball grid array packaged integrated circuits
JP2904782B1 (ja) * 1998-07-29 1999-06-14 山一電機株式会社 Icソケット
JP3720657B2 (ja) * 1999-11-29 2005-11-30 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
US6541991B1 (en) * 2001-05-04 2003-04-01 Xilinx Inc. Interface apparatus and method for testing different sized ball grid array integrated circuits
JP2003017206A (ja) * 2001-06-27 2003-01-17 Yamaichi Electronics Co Ltd 半導体装置用ソケット

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10255617B4 (de) * 2001-11-30 2004-11-18 Enplas Corp., Kawaguchi Fassung für elektrische Bauteile
KR100907337B1 (ko) 2007-07-26 2009-07-13 주식회사 아이에스시테크놀러지 테스트용 소켓

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Publication number Publication date
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