CN110133429B - 裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请提出了一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置，包括底座模块、气缸模块、继电器模块、大探针模块、小探针模块、控制模块，通过在升降气缸上设置继电器模块和大探针模块，使升降气缸带动继电器模块和大探针模块向下运动，通过大探针模块中的大探针模块中PCB金属板上的金属触点连接，再使小探针模块中的小探针与待测插头连接，由于大探针与金属触点接触，避免了大探针刮伤检测插头外观，并且在底座模块中采用仿形治具，仿形治具可以一次性装载多个待测插头，通过多个小探针与多个待测插头连接，从而实现一次性检测多个产品。

Description

裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置

技术领域

本申请涉及插头检测技术领域，尤其涉及一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置。

背景技术

在生产裸露式插头的过程中，必须对裸露式插头进行检测，才能保证出厂时产品处于合格状态。对于裸露式触点插头的检测，常用的检测方法是将被检测的插头内插入到特定的外包裹检测治具中，检测治具内的弹簧触点与被检测插头的触点接触形成导通，检测治具再通过导线或其他形式连接到最终的测试设备。这种做法有两个比较明显的缺陷，第一，将被检测的插头内插入到外包裹的检测治具中时，被检测的插头与外包裹的检测治具间的配合间隙很难控制，间隙过小，则可能划伤被检测插头，间隙过大，则可能造成触点对不准接触不良，检测无法进行。第二，这种方法每次装载只能检测一个插头，检测效率较低。

发明内容

本申请的目的在于提供一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置，以解决现有技术中存在对裸露式插头检测不准确以及检测效率低的问题，以及解决现有技术中采用两个或多个PFC模块并联导致的需要两套采样和控制系统的问题。

本申请是这样实现的，本申请第一方面提供一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置，所述检测装置包括：

底座模块，所述底座模块用于固定仿形治具模块，所述仿形治具模块用于装载待测插头；

气缸模块，所述气缸模块与所述底座模块固定连接；

继电器模块，所述继电器模块安装在所述气缸模块上，所述继电器模块与测试设备连接；

大探针模块，所述大探针模块固定安装在所述继电器模块上；

小探针模块，所述小探针模块固定在所述底座模块上，并与所述仿形治具模块相对设置，所述小探针模块位于所述大探针模块的下方；

控制模块，所述控制模块安装在所述继电器模块上，用于控制气缸模块带动所述大探针模块向下运动，使所述大探针模块中的大探针接触所述小探针模块的PCB板的金属触点，并使所述小探针模块中的小探针接触所述待测插头的金属触点，并通过控制继电器模块使所述测试设备对所述待测插头进行检测。

本申请提出了一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置，通过在升降气缸上设置继电器模块和大探针模块，使升降气缸带动继电器模块和大探针模块向下运动，通过大探针模块中的大探针模块中PCB金属板上的金属触点连接，再使小探针模块中的小探针与待测插头连接，由于大探针与金属触点接触，避免了大探针刮伤检测插头外观，并且在底座模块中采用仿形治具，仿形治具可以一次性装载多个待测插头，通过多个小探针与多个待测插头连接，从而实现一次性检测多个产品。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置的结构图；

图2是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的待测插头的结构图；

图3是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的仿形治具的结构图；

图4是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的底座模块的结构图；

图5是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的继电器模块的结构图；

图6是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的大探针模块的结构图；

图7是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的大探针模块的结构图；

图8是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的小探针模块的结构图；

图9是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的小探针模块的结构图；

图10是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置中的气缸模块的结构图；

图11是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置的工作流程图；

图12是本申请实施例提供的一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置的电路图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

为了说明本申请的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。

本申请实施例一提供一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置，如图1所示，检测装置：

底座模块17，底座模块17用于固定仿形治具12模块，仿形治具12模块用于装载待测插头11；

气缸模块18，气缸模块18与底座模块17固定连接；

继电器模块15，继电器模块15安装在气缸模块18上，继电器模块15与测试设备连接；

大探针模块14，大探针模块14固定安装在继电器模块15上；

小探针模块13，小探针模块13安装在底座模块17上，并与仿形治具12模块相对设置，小探针模块13位于大探针模块14的下方；

控制模块16，控制模块16安装在继电器模块15上，用于控制气缸模块18带动继电器模块15向下运动，使大探针模块14中的大探针接触小探针模块13的PCB板的金属触点，并使小探针模块13中的小探针接触待测插头11的金属触点，并通过控制继电器模块15使测试设备对待测插头11进行检测。

其中，底座模块17通过固定件固定仿形治具12模块，通过在仿形治具12模块上设置仿形槽安装待测插头11；气缸模块18上设有升降气缸，可以根据控制信号上下运动，继电器模块15中包含多个继电器，用于根据外部控制信号使检测模块与待测插头11连接，继电器模块15安装在气缸模块18的升降气缸上，并可以跟随升降气缸上下运动；大探针模块14包括多个大探针，大探针模块14固定在继电器模块15上，并使大探针与继电器一一对应连接，并且大探针模块14在跟随继电器模块15向下运动至预设位置时与小探针模块13中的PCB板的金属触点连接，进而使PCB板的金属触点与继电器模块15中的继电器连接；小探针模块13位于大探针模块14的下方，小探针模块13中包括PCB板和多个小探针，小探针与PCB板上的金属触点一一对应连接，当气缸带动大探针模块14向下运动时，小探针模块13中的小探针与待测插头11的金属触点连接，进而使待测插头11的金属触点通过小探针，小探针模块13中的PCB板、大探针以及继电器与测试设备连接，通过控制继电器导通既可以实现测试设备对待测插头11的检测。

本实施例的技术效果在于：通过在升降气缸上设置继电器模块15和大探针模块14，使升降气缸带动继电器模块15和大探针模块14向下运动，通过大探针模块14中的大探针模块14中PCB金属板上的金属触点连接，再使小探针模块13中的小探针与待测插头11连接，由于大探针与金属触点接触，避免了大探针刮伤检测插头外观，并且在底座模块17中采用仿形治具12，仿形治具12可以一次性装载多个待测插头11，通过多个小探针与多个待测插头11连接，从而实现一次性检测多个产品。

对于待测插头11，如图2所示，待测插头11包括插头座23、触点底座22、金属触点21以及导线24，触点底座22设置在插头座23内，触点底座22上设有多个金属触点21，例如，金属触点21的数量可以为8个，导线21设置在插头座23内，导线分别与每个金属触点连接，将待测插头11放置在检测装置中，使待测插头11的金属触点21与通过检测装置内的探针和PCB板与测试设备导通，达到与测试设备进行通信和交互数据的目的，进而检测待测插头11中金属触点21的质量。

对于仿形治具模块12，作为一种实施方式，如图3所示，仿形治具模块12包括仿形治具底座35，仿形治具底座35设置在底座模块17上，仿形治具底座35上设有多组仿形槽，每组仿形槽包括依次连接的导线仿形槽33、插头仿形槽32以及触点仿形槽31，导线仿形槽33、插头仿形槽32以及触点仿形槽31用于放置待测插头11。

其中，仿形治具底座35上设有多组仿形槽，每组仿形槽放置一个待测插头11，可以一次性放置多个待测插头11，例如，包括8组仿形位置，可以一次性放置8个被检测插头，每组仿形槽包括导线仿形槽33、插头仿形槽32以及触点仿形槽31，用于放置待测插头11，使待测插头11贴合放置在仿形治具模块12中，此时，待测插头11的金属触点21被固定在预设位置。

本实施方式的技术效果在于：通过在仿形治具底座35上设有多组仿形槽，可以一次性放置多个待测插头11，可以对多个待测插头11进行同时检测，能有效减少操作者的装配时间，并且通过设置导线仿形槽33、插头仿形槽32以及触点仿形槽31分别对待测插头11的导线24、插头座23以及触点底座22进行固定，使待测插头11的金属触点21固定在预设位置，便于整个检测装置对待测插头11触点的检测。

进一步的，对于仿形治具模块12中的触点仿形槽31，作为一种实施方式，触点仿形槽31的下部进行镂空处理，边缘进行倒角处理，减少与触点底座接触面积和使接触光滑过渡，能进一步减少触点底座被划伤的风险，并且触点底座仿形槽背部安装有磁铁，勇于吸附触点底座，将触点底座固定在触点仿形槽中，方便操作者对待测插头11进行装配。

进一步的，仿形治具模块12上还设有小探针模块定位销38，用于与小探针模块13定位孔配合，小探针模块定位销38的数量可以为1对，小探针模块13根据这对销孔配合确定小探针模块13中的小探针与待测插头11的金属触点21的相对位置，确保小探针与待测插头11的金属触点21准确接触。

进一步的，仿形治具模块12上还设有端面磁铁36，用于将仿形治具模块12放置到底座模块17时，与底座模块17磁铁互相吸附，进而有助于对仿形治具模块12进行定位。

对于底座模块17，作为一种实施方式，如图4所示，底座模块17包括底座74，底座74的两个侧边上分别设有第一挡边71和第二挡边72，第一挡边71沿底座74的宽度方向设置，第二挡边72沿底座74的长度方向设置，仿形治具模块12被固定在第一挡边和第二挡边形成的区域内。

其中，底座模块17用于固定仿形治具模块12，通过第一挡边71和第二挡边72形成固定区域，第一挡边71沿底座74的宽度方向设置，即图4中X轴方向，第二挡边72沿底座74的长度方向设置，即图4中Y轴方向，对于固定仿形治具模块12的方式可以采用磁铁固定，作为一种实施方式，第二挡边72上设有磁铁，第二挡边72通过磁铁将仿形治具模块12固定在第一挡边71和第二挡边72形成的区域内。

本实施方式的技术效果在于：通过在底座74上设置第一挡边71和第二挡边72，将仿形治具模块12固定在该区域内，并且在第二挡边72上设有磁铁，通过第二挡边72上的磁铁与仿形治具模块12中的端面磁铁36互相吸附，有助于将仿形治具模块12定位到底座74上。

进一步的，底座模块17的底座74上还包含一组固定气缸模块18的安装孔，通过该安装孔将底座模块17与气缸模块18固定在一起，该安装孔还用于保证气缸模块18与底座模块17的相对位置。

对于继电器模块15，作为一种实施方式，如图5所示，继电器模块15包括继电器模块机加件65，继电器模块机加件65固定在气缸模块18上，继电器模块机加件65与大探针模块14固定连接，继电器模块15机加件上还设有多个继电器61、PCB板排线接头、测试设备接头以及控制信号接头，继电器61通过控制信号接头接收外部控制信号，继电器61通过PCB板排线接头与大探针模块14连接，继电器61通过测试设备接头与测试设备连接。

其中，每个继电器61有三个连接端，继电器61的第一个连接端通过控制信号接头与控制模块16连接，根据控制模块16的控制信号导通或者关断，继电器的第二个连接端通过PCB板排线接头与大探针模块14连接，PCB板排线接头可以与大探针模块14的PCB板引线接头通过排线连接，将经过大探针模块14接收的待测插头信号导通到继电器模块15，继电器61的第三个连接端通过测试设备接头与测试设备连接，测试设备接头每次将一组被检测插头导通到检测设备，对于继电器61的电压和数量，例如，继电器61可以采用通用的24V继电器，每4个继电器作为1组，控制1个产品8个触点连线的通断。

本实施方式的技术效果在于：通过控制继电器61动作，使待测插头11的金属触点21通过小探针模块13以及大探针模块14与测试设备接头一对一导通，再通过测试设备接头与测试设备连通，最终使测试设备与待测插头11连通，达到一对一测试待测插头的目的。

对于大探针模块14，作为一种实施方式，如图5和图6所示，大探针模块14包括大探针模块加件56、大探针PCB板54、大探针护套52以及大探针51，大探针模块机加件56固定在继电器模块15上，大探针模块机加件56上设有大探针PCB板54，大探针PCB板54的一面设有PCB板引线接头55，PCB板引线接头55与继电器模块15连接，大探针PCB板54的另一面设有PCB板触点以及大探针护套52，大探针51安装在大探针护套52内，大探针51与PCB板触点接触。

其中，大探针PCB板54一面设有PCB板引线接头55，大探针PCB板54的另一面分布着与大探针51位置对应的PCB板触点，PCB板引线接头55引出扁平排线，扁平排线与继电器模块15的排线接头连接，大探针51安装在大探针护套52内，大探针PCB板54一面的PCB触点与PCB板引线接头通过PCB内部电路导通，大探针51的形状为圆头大探针，圆头大探针的一端与大探针PCB板触点接触，圆头大探针的另一端为圆头端，圆头端与小探针模块13中的PCB板背板大金属触点接触。

本实施方式的技术效果在于：通过设置大探针PCB板54和大探针51，使大探针51通过大探针PCB板54与继电器模块15连接，当大探针51与小探针模块13连接时，实现将小探针与继电器模块15连接，将大探针51与小探针模块13的PCB板连接的一端设置成圆头端，能减少PCB背板被刮伤和撞成凹坑的风险；通过设置大探针保护套52，实现了固定大探针以及限定大探针位置，保证大探针的两端能分别接触到小探针PCB板背板触点和大探针PCB板触点。

进一步的，大探针机加件56上还设有与小探针模块13上的定位孔相互配合的定位销53。

其中，当大探针模块14下降与小探针模块13接触时，定位销53与小探针模块13定位孔配合，大探针模块14根据这对销孔配合确定大探针51与小探针PCB板背板金属触点相对位置，确保接触精度。

对于小探针模块13，作为一种实施方式，如图7和图8所示，小探针模块13包括小探针模块机加件45、多个小探针41、小探针护套42以及小探针PCB板43；小探针PCB板43安装在小探针模块机加件45内，小探针PCB板43的一面设有多个PCB板触点44，小探针PCB板43的另一面设有小探针护套42，小探针护套42内设有小探针41，小探针41与PCB板触点44的背面一一对应连接。

其中，小探针PCB板43安装在小探针模块机加件45内，小探针模块机加件45设有镂空，小探针PCB板43的一面上设有的多个PCB板触点44与该镂空相对设置，大探针模块14中的大探针51可以通过该镂空与PCB板触点44接触，与大探针51接触的PCB板触点44为放大的圆形大金属触点，小探针41与PCB板触点44的背面一一对应连接，分布在小探针PCB板43背面的PCB板触点的面积小于与大探针51接触的PCB板触点，小探针41的另一端为圆头端，与待测插头11的金属触点21接触；小探针保护套42用于固定探针和限定小探针位置，保证小探针41的两端能分别接触到待测插头11的金属触点21和PCB板触点，为了保持探针与金属触点接触时的平衡性，每一个金属触点的位置使用2根探针，如图9所示，小探针41的大部分长度被小探针护套42包裹与固定，在与待测插头11接触的圆头这端露出约0.5mm，小探针41的另一端与PCB板43接触，小探针41内部有弹簧，可以有1mm左右的伸缩量，此伸缩量更有利于小探针41与待测插头11的金属触点21进行充分接触。

本实施方式的技术效果在于：由于待测插头11的金属触点21间距非常小，位置精度很高，大探针51无法直接接触到待测插头11的金属触点21，而又因为小探针41刚性较弱，如果小探针41直接安装到上下运动的气缸上，则容易造成小探针41被折弯或接触位置不精准，导致检测失败。因此在本方案中，采用小探针模块13与大探针模块14配合使用，小探针模块13主要起到转接导通和保证精度的作用，使小探针41与待测插头11的金属触点21接触，将待测插头11的金属触点21导通到大探针模块14中；通过将小探针41的一端设置为圆头端，能有效防止待测插头11的金属触点21被刮伤，通过设置小探针保护套42，可以用于固定小探针41和限定小探针41的位置，使小探针41仅伸出一部分长度，例如伸出0.5mm，能有效防止小探针41被异物碰撞导致弯曲；通过在小探针PCB板43上设置放大的圆形大金属触点44，便于大探针51接触金属触点44，可以降低对大探针51精度的要求，有利于加工。

进一步的，如图8所示，小探针模块13侧面设有弹簧块47，使小探针模块13有一定运动余量，当大探针模块14下压接触到小探针模块13时，此弹簧块47被压缩，小探针模块13下降，使小探针41与待测插头11的金属触点21直接接触。

进一步的，小探针模块13上设有第一定位孔46和第二定位孔47，第一组定位孔46与仿形治具模块12上的定位销38配合，保证小探针模块13与仿形治具模块12接触配合的定位精度，第二定位孔47与大探针模块14上的定位销53配合，保证大探针模块14与小探针模块13接触配合的定位精度。

对于气缸模块18，作为一种实施方式，如图10所示，气缸模块18包括气缸机加件82、升降气缸81以及微调模组83，升降气缸81和微调模组83安装在气缸机加件82上，微调模组83用于对升降气缸81在纵向或者横向上进行调节。

本实施方式的技术效果在于：由于小探针模块13中的小探针41伸出探针保护套42需要一定力度，且小探针41与待测插头11的金属触点21接触要保持一定时间，考虑到经济性与控制灵活性，采用气缸模块18进行控制。将继电器模块15和大探针模块14安装在气缸模块18的升降气缸81上，通过控制升降气缸81动作，先使大探针51与小探针PCB背板43接触，再使小探针41与待测插头11的金属触点21接触，从而实现金属触点21与继电器模块15导通。在升降气缸81位置上安装继电器模块15，减少大探针模块14与继电器模块15的连接距离，使整个装置结构更紧凑；在气缸模块18的底座增加了X/Y轴微调模组，可以对升降气缸81的安装位置进行微调，确保安装在升降气缸81的大探针模块14的定位销与小探针模块13的定位孔能准确配合，保证大探针与小探针PCB背板准确接触。

如图11和图12所示，本发明实施例提供的裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置的工作过程为：将继电器模块15和大探针模块14安装在气缸模块18中的升降气缸81上，将仿形治具模块12安装在底座模块17上，将底座模块17固定在气缸模块18上，将待测插头11安装在仿形治具12内的仿形槽内，将小探针模块13安装在方形治具的定位销上，将各模块初始化，控制升降气缸81升到预设位置，并控制继电器模块15中的所有继电器断开，控制升降气缸81携带大探针模块14向下运动，使大探针模块14的定位销进入小探针模块13的定位孔，使大探针51接触小探针模块13中小探针PCB板43的PCB板触点44，升降气缸81继续下压，使大探针模块14对小探针模块13施加压力，小探针模块13整体下降，使小探针模块13的小探针41直接与待测插头11的金属触点21接触，使待测插头11的金属触点21、小探针41、小探针PCB板44、大探针51、大探针PCB板54、继电器61以及测试设备形成回路，如图11所示，控制模块16控制继电器KA1-KA4吸合，导通第1组触点，检测第1个产品，第1个产品检测完成，断开继电器KA1-KA4，吸合继电器KA5-KA8，检测第2个产品，当第2个产品检测完成，断开继电器KA5-KA8，依次吸合和断开其余6组继电器，检测其余6组产品，如果遇到有问题的产品，控制模块16记录有问题的产品位置，并给出提示，检测完成一个治具的产品后，升起气缸，取走治具，重复上述步骤继续检测下一个治具的产品，依次循环，直至检测完成。

以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种裸露式触点插头的多线程探针接触式检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：

底座模块，所述底座模块用于固定仿形治具模块，所述仿形治具模块用于装载待测插头；

气缸模块，所述气缸模块与所述底座模块固定连接；

继电器模块，所述继电器模块安装在所述气缸模块上，所述继电器模块与测试设备连接；

大探针模块，所述大探针模块固定安装在所述继电器模块上；

小探针模块，所述小探针模块固定在所述底座模块上，并与所述仿形治具模块相对设置，所述小探针模块位于所述大探针模块的下方；

控制模块，所述控制模块安装在所述继电器模块上，用于控制气缸模块带动所述大探针模块向下运动，使所述大探针模块中的大探针接触所述小探针模块的PCB板的金属触点，并使所述小探针模块中的小探针接触所述待测插头的金属触点，并通过控制继电器模块使所述测试设备对所述待测插头进行检测。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述仿形治具模块包括仿形治具底座，所述仿形治具底座设置在所述底座模块上，所述仿形治具底座上设有多组仿形槽，每组仿形槽包括依次连接的导线仿形槽、插头仿形槽以及触点仿形槽，所述导线仿形槽、所述插头仿形槽以及所述触点仿形槽用于放置所述待测插头。

3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述仿形治具底座上设有磁铁，所述仿形治具模块通过所述磁铁固定在所述底座模块上；

所述仿形治具模块上还设有与所述小探针模块相配合的定位销。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述底座模块包括底座，所述底座的两个侧边上分别设有第一挡边和第二挡边，所述第一挡边沿所述底座的宽度方向设置，所述第二挡边沿所述底座的长度方向设置，所述仿形治具模块被固定在所述第一挡边和所述第二挡边形成的区域内。

5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述第二挡边上设有磁铁，所述第二挡边通过所述磁铁将所述仿形治具模块被固定在所述第一挡边和所述第二挡边形成的区域内。

6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括继电器模块，所述继电器模块包括继电器模块机加件，所述继电器模块机加件与所述大探针模块固定连接，所述继电器模块机加件上还设有多个继电器、PCB板排线接头、测试设备接头以及控制信号接头，所述继电器通过所述控制信号接头接收外部控制信号，所述继电器通过PCB板排线接头与PCB板引线接头连接，所述继电器通过测试设备接头与测试设备连接。

7.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述大探针模块包括大探针模块机加件、大探针PCB板、大探针护套以及大探针，所述大探针模块机加件固定在所述继电器模块上，所述大探针模块机加件上设有所述大探针PCB板，所述大探针PCB板的一面设有PCB板引线接头，所述PCB板引线接头与所述继电器模块连接，所述大探针PCB板的另一面设有PCB板触点以及大探针护套，所述大探针安装在所述大探针护套内，所述大探针与所述PCB板触点接触。

8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述大探针机加件上还设有与所述小探针模块上的定位孔相互配合的定位销。

9.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述小探针模块包括小探针模块机加件、多个小探针、小探针护套以及小探针PCB板；

所述小探针PCB板安装在所述小探针模块机加件内，所述小探针PCB板的一面设有多个PCB板触点，所述大探针PCB板的另一面设有小探针护套，所述小探针护套内设有小探针，所述小探针与所述PCB板触点一一对应连接。

10.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述小探针模块还包括弹簧模块，所述弹簧模块位于所述小探针模块机加件与所述仿形治具模块接触的侧面上，当所述弹簧模块与所述仿形治具模块接触时，所述弹簧模块处于压缩状态。

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