JPH1164426A - プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット - Google Patents
プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキットInfo
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- JPH1164426A JPH1164426A JP9227776A JP22777697A JPH1164426A JP H1164426 A JPH1164426 A JP H1164426A JP 9227776 A JP9227776 A JP 9227776A JP 22777697 A JP22777697 A JP 22777697A JP H1164426 A JPH1164426 A JP H1164426A
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- G01R1/07335—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards for double-sided contacting or for testing boards with surface-mounted devices (SMD's)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】部品点数が少なく、部材コストが安く、軽量で
かつ精度の高いプリント基板の検査装置を提供すること
を目的とする。 【解決手段】両端に針部を有し、かつ外周にフランジを
有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ前
記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔を
有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と平
行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と反
対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当接
する位置に導電性のパターンを有するインターフェイス
部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記イン
ターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配置
され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動であ
り、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接する
ものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材の
貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを特
徴とするプリント基板の検査装置。
かつ精度の高いプリント基板の検査装置を提供すること
を目的とする。 【解決手段】両端に針部を有し、かつ外周にフランジを
有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ前
記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔を
有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と平
行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と反
対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当接
する位置に導電性のパターンを有するインターフェイス
部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記イン
ターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配置
され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動であ
り、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接する
ものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材の
貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを特
徴とするプリント基板の検査装置。
Description
【発明の属する技術分野】この発明は、プローブを用い
てプリント基板の不良を検査するためのプリント基板の
検査装置および前記検査装置の組み立てキットに関する
ものである。
てプリント基板の不良を検査するためのプリント基板の
検査装置および前記検査装置の組み立てキットに関する
ものである。
【従来の技術】従来、被検査基板であるプリント基板の
パターンの断線、パターン間のショート、およびプリン
ト基板に実装された電子部品の不良等を検査するため
に、図４に示す検査装置を使用して検査をしていた。図
４は被検査基板を検査中の検査装置の概要を示すもので
ある。図４を参照して従来の装置を説明する。インター
フェイス板４０１とソケット保持板４０２を含む検査ユ
ニット４００は、駆動手段（図示せず）により上下動さ
れる。検査ユニットを上昇させた状態で被検査基板４０
３を基板セット板４０４に載置した後、検査ユニット４
００を下降させてプローブ４０７を被検査基板４０３に
当接させ、検査を行う。ソケット保持板４０２にはソケ
ット４０６が固定されている。ソケットには、第１のプ
ローブ４０７と第２のプローブ４０５が挿入されてい
る。第１のプローブ４０７は被検査基板４０３上のパタ
ーン４０９に当接し、第２のプローブ４０５はインター
フェイス板４０１に設けられたパッド４０８に当接す
る。ソケット４０６の外周には環状の凸部が設けられて
おり、ソケット４０６を専用の工具を使用してソケット
保持板４０２に打ち込むことにより、ソケット４０６は
圧着固定される。ソケット保持板４０２とインターフェ
イス板４０１とは、支柱４２０で接続されている。この
支柱４２０の長さは、第２のプローブ４０５が所定のピ
ン圧力でインターフェイス板４０１に当接するように設
定されている。インターフェイス板４０１はプリント基
板であり、第２のプローブ４０５が当接するパッド４０
８とコネクタＡ４１１のリードとをパターンで接続す
る。したがって、被検査基板４０３のパターンとテスタ
ーは、第１のプローブ４０７、ソケット４０６、第２の
プローブ４０５、インターフェイス基板４０１のパター
ン、コネクタＡ４１１、コネクタＢ４１２およびケーブ
ル４１３を介して接続されているので、テスターからプ
リント基板からなるインターフェイス板４０１のある箇
所に電気信号を与え、インターフェイス板４０１の所定
の箇所の電気信号をテスターで見ることにより被検査基
板４０３の検査をすることができる。
パターンの断線、パターン間のショート、およびプリン
ト基板に実装された電子部品の不良等を検査するため
に、図４に示す検査装置を使用して検査をしていた。図
４は被検査基板を検査中の検査装置の概要を示すもので
ある。図４を参照して従来の装置を説明する。インター
フェイス板４０１とソケット保持板４０２を含む検査ユ
ニット４００は、駆動手段（図示せず）により上下動さ
れる。検査ユニットを上昇させた状態で被検査基板４０
３を基板セット板４０４に載置した後、検査ユニット４
００を下降させてプローブ４０７を被検査基板４０３に
当接させ、検査を行う。ソケット保持板４０２にはソケ
ット４０６が固定されている。ソケットには、第１のプ
ローブ４０７と第２のプローブ４０５が挿入されてい
る。第１のプローブ４０７は被検査基板４０３上のパタ
ーン４０９に当接し、第２のプローブ４０５はインター
フェイス板４０１に設けられたパッド４０８に当接す
る。ソケット４０６の外周には環状の凸部が設けられて
おり、ソケット４０６を専用の工具を使用してソケット
保持板４０２に打ち込むことにより、ソケット４０６は
圧着固定される。ソケット保持板４０２とインターフェ
イス板４０１とは、支柱４２０で接続されている。この
支柱４２０の長さは、第２のプローブ４０５が所定のピ
ン圧力でインターフェイス板４０１に当接するように設
定されている。インターフェイス板４０１はプリント基
板であり、第２のプローブ４０５が当接するパッド４０
８とコネクタＡ４１１のリードとをパターンで接続す
る。したがって、被検査基板４０３のパターンとテスタ
ーは、第１のプローブ４０７、ソケット４０６、第２の
プローブ４０５、インターフェイス基板４０１のパター
ン、コネクタＡ４１１、コネクタＢ４１２およびケーブ
ル４１３を介して接続されているので、テスターからプ
リント基板からなるインターフェイス板４０１のある箇
所に電気信号を与え、インターフェイス板４０１の所定
の箇所の電気信号をテスターで見ることにより被検査基
板４０３の検査をすることができる。
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の技術では以下の問題がある。第１に、プローブ４０
７，４０５とソケット４０６との２つの部材を使用して
いる。このため、部材コストが高くかつ組立工数が増加
する。また、プローブ４０７，４０５をソケット４０６
に圧入するためにはプローブ４０７，４０５の外径とソ
ケット４０６の内径には所定の遊びが必要であり、これ
がプローブ４０７，４０５の先端の位置精度の誤差の要
因となっている。第２に、プローブ４０７，４０５の先
端の位置精度を高くするためには、ソケット４０６のソ
ケット保持板４０２に対する垂直度を高める必要があ
る。このためには、ソケット保持板４０２を厚くする必
要があるが、厚くすると検査ユニット４００が重くなる
という欠点がある。第３に、半田付けの際に発生するフ
ラックスが被検査基板４０３に付着する場合があり、プ
ローブ４０７，４０５と被検査基板４０３の接触不良を
なくすためには、プローブ４０７，４０５から被検査基
板４０３に所定の荷重をかける必要がある。その際、プ
ローブ４０７，４０５の本数が多い場合には、ソケット
保持板４０２に相当の力がかかるので、ソケット保持板
４０２を厚くすることが必要になる。そのため、検査ユ
ニット４００がさらに重くなるという欠点がある。第４
に、ソケット保持板４０２に多数のソケット４０６を正
確に打ち込むには、熟練した技能が必要である。したが
って、検査ユニット４００にソケット４０６やプローブ
４０７，４０５を全て組み込んだ後に、検査ユニット４
００は検査装置製造業者からユーザーに送られる。この
ため、プローブ４０７，４０５の先端を保護するために
特別な梱包が必要であり、さらに組立品を送るので梱包
のサイズが大きいという問題もある。この発明は特殊な
プローブを使用することにより、ソケットを使用せずに
プローブをプローブ保持板に保持し、かつプローブがス
ライドできるようにしたもので、部品点数が少なく、部
材コストが安く、軽量でかつ精度の高いプリント基板の
検査装置を提供することを目的とする。さらに、ユーザ
ーでも組立が容易なプリント基板の検査装置の組立キッ
トを提供することを目的としている。
来の技術では以下の問題がある。第１に、プローブ４０
７，４０５とソケット４０６との２つの部材を使用して
いる。このため、部材コストが高くかつ組立工数が増加
する。また、プローブ４０７，４０５をソケット４０６
に圧入するためにはプローブ４０７，４０５の外径とソ
ケット４０６の内径には所定の遊びが必要であり、これ
がプローブ４０７，４０５の先端の位置精度の誤差の要
因となっている。第２に、プローブ４０７，４０５の先
端の位置精度を高くするためには、ソケット４０６のソ
ケット保持板４０２に対する垂直度を高める必要があ
る。このためには、ソケット保持板４０２を厚くする必
要があるが、厚くすると検査ユニット４００が重くなる
という欠点がある。第３に、半田付けの際に発生するフ
ラックスが被検査基板４０３に付着する場合があり、プ
ローブ４０７，４０５と被検査基板４０３の接触不良を
なくすためには、プローブ４０７，４０５から被検査基
板４０３に所定の荷重をかける必要がある。その際、プ
ローブ４０７，４０５の本数が多い場合には、ソケット
保持板４０２に相当の力がかかるので、ソケット保持板
４０２を厚くすることが必要になる。そのため、検査ユ
ニット４００がさらに重くなるという欠点がある。第４
に、ソケット保持板４０２に多数のソケット４０６を正
確に打ち込むには、熟練した技能が必要である。したが
って、検査ユニット４００にソケット４０６やプローブ
４０７，４０５を全て組み込んだ後に、検査ユニット４
００は検査装置製造業者からユーザーに送られる。この
ため、プローブ４０７，４０５の先端を保護するために
特別な梱包が必要であり、さらに組立品を送るので梱包
のサイズが大きいという問題もある。この発明は特殊な
プローブを使用することにより、ソケットを使用せずに
プローブをプローブ保持板に保持し、かつプローブがス
ライドできるようにしたもので、部品点数が少なく、部
材コストが安く、軽量でかつ精度の高いプリント基板の
検査装置を提供することを目的とする。さらに、ユーザ
ーでも組立が容易なプリント基板の検査装置の組立キッ
トを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】すなわちこの発明のプリ
ント基板の検査装置は、両端に針部を有し、かつ外周に
フランジを有するプローブと、前記プローブの径より大
きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫通す
る貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保
持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して被検
査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の
一方が当接する位置に導電性のパターンを有するインタ
ーフェイス部材とを具備し、プローブの前記フランジ
は、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部材
との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも一
つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査基
板に当接するものであり、前記プローブは、前記プロー
ブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されて
いることを特徴とするものである。したがって、図４に
示すソケット４０６が無くても、検査時にプローブが被
検査基板に当接する際に、プローブがプローブ保持部材
に設けた貫通孔をスライドするので、被検査基板に所定
の荷重をプローブから与え、プリント基板の検査をする
ことができる。また、前記プローブ保持部材を、平行に
配置された複数の部材で構成することにより、プローブ
の垂直度が高まり、プローブの針（ピン）の先端の位置
精度が向上する。また、前記被検査基板と前記プローブ
保持部材の間に、被検査基板を支持する部材が、前記プ
ローブ保持部材に対して弾性を有して設けられているの
で、非検査時においては、弾性に依ってプローブ保持部
材と被検査基板を支持する部材の間隔が長くなり、プロ
ーブの先端が前記被検査基板を支持する部材に依って保
護される。さらに、前記プローブ保持部材と前記被検査
基板を支持する部材との間に、前記被検査基板に誤部品
が実装されていることを検知する手段が設けられている
ので、予定に反してプローブ保持部材と被検査基板を支
持する部材の間隔が狭くなった時に、誤部品が実装され
ていることを検知できる。この発明のプリント基板の検
査装置の組み立てキットは、両端に針部を有し、かつ外
周にフランジを有するプローブと、前記プローブの径よ
り大きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫
通する貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プロー
ブ保持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して
被検査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針
部の一方が当接する位置に導電性のパターンを有するイ
ンターフェイス部材とを具備し、プローブの前記フラン
ジは、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部
材との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも
一つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査
基板に当接するものであり、前記プローブは、前記プロ
ーブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持され
ていることを特徴としている。したがって、組み立てキ
ットの各部材をネジ等を使用して組み立てることによ
り、容易に検査装置を作ることができる。以上説明して
きたように、この発明のプリント基板の検査装置および
プリント基板の検査装置の組み立てキットによれば、図
１に示すプローブを使用するだけで、従来はプローブを
保持するために必要とされていたソケットを不要にした
ものである。この結果、熟練した技能がなくても検査装
置を容易に組み立てることができる。また、検査装置の
分解が容易にあるので、不要になった検査装置を廃棄す
る際にも、材料別に分別して廃棄ができるので、産業廃
棄物の処理の観点からも好ましい。
ント基板の検査装置は、両端に針部を有し、かつ外周に
フランジを有するプローブと、前記プローブの径より大
きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫通す
る貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保
持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して被検
査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の
一方が当接する位置に導電性のパターンを有するインタ
ーフェイス部材とを具備し、プローブの前記フランジ
は、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部材
との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも一
つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査基
板に当接するものであり、前記プローブは、前記プロー
ブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されて
いることを特徴とするものである。したがって、図４に
示すソケット４０６が無くても、検査時にプローブが被
検査基板に当接する際に、プローブがプローブ保持部材
に設けた貫通孔をスライドするので、被検査基板に所定
の荷重をプローブから与え、プリント基板の検査をする
ことができる。また、前記プローブ保持部材を、平行に
配置された複数の部材で構成することにより、プローブ
の垂直度が高まり、プローブの針（ピン）の先端の位置
精度が向上する。また、前記被検査基板と前記プローブ
保持部材の間に、被検査基板を支持する部材が、前記プ
ローブ保持部材に対して弾性を有して設けられているの
で、非検査時においては、弾性に依ってプローブ保持部
材と被検査基板を支持する部材の間隔が長くなり、プロ
ーブの先端が前記被検査基板を支持する部材に依って保
護される。さらに、前記プローブ保持部材と前記被検査
基板を支持する部材との間に、前記被検査基板に誤部品
が実装されていることを検知する手段が設けられている
ので、予定に反してプローブ保持部材と被検査基板を支
持する部材の間隔が狭くなった時に、誤部品が実装され
ていることを検知できる。この発明のプリント基板の検
査装置の組み立てキットは、両端に針部を有し、かつ外
周にフランジを有するプローブと、前記プローブの径よ
り大きくかつ前記フランジの径より小さいプローブが貫
通する貫通孔を有するプローブ保持部材と、前記プロー
ブ保持部材と平行であって、プローブ保持部材に対して
被検査基板と反対側に配置され、かつ前記プローブの針
部の一方が当接する位置に導電性のパターンを有するイ
ンターフェイス部材とを具備し、プローブの前記フラン
ジは、前記インターフェイス部材と前記プローブ保持部
材との間に配置され、前記プローブの針部の少なくとも
一つは可動であり、前記プローブの針部の他方は被検査
基板に当接するものであり、前記プローブは、前記プロ
ーブ保持部材の貫通孔に沿ってスライド可能に保持され
ていることを特徴としている。したがって、組み立てキ
ットの各部材をネジ等を使用して組み立てることによ
り、容易に検査装置を作ることができる。以上説明して
きたように、この発明のプリント基板の検査装置および
プリント基板の検査装置の組み立てキットによれば、図
１に示すプローブを使用するだけで、従来はプローブを
保持するために必要とされていたソケットを不要にした
ものである。この結果、熟練した技能がなくても検査装
置を容易に組み立てることができる。また、検査装置の
分解が容易にあるので、不要になった検査装置を廃棄す
る際にも、材料別に分別して廃棄ができるので、産業廃
棄物の処理の観点からも好ましい。
【発明の実施の形態】以下、この発明のプリント基板の
検査装置およびプリント基板の検査装置の組み立てキッ
トの実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に説明
する。この発明に使用するプローブの詳細を図１に示
す。図１（ａ）は、プローブ１０に荷重がかかっていな
い状態を示す。プローブ１０は、外筒１１と、外筒１１
の下部に固定された固定針１２と、外筒１１の上部にお
いて伸縮自在に設けられた可動針１３とを備えている。
外筒１１内には、コイルバネ１４等の弾性部材が収容さ
れている。上方から可動針１３に力が加減されると、可
動針１３は外筒１１の内壁に沿って伸縮する。外筒１１
の上端にはフランジ１５が設けられている。固定針１２
および可動針１３の先端は、被検査基板のパターンと確
実に接触させるために多点構造を有している。図１
（ｂ）は、プローブ１０に荷重がかかり、可動針１３が
外筒１１内に沈み込んだ状態を示す。図２は、この発明
の上部検査ユニット１００と下部検査ユニット２００と
を従来から知られている検査装置本体に取り付け、被検
査基板２０を検査装置本体にセットした状態を示すもの
である。図３は、上部検査ユニット１００が下降し、下
部検査ユニット２００が上昇して、検査をしている状態
を示すものである。図２、図３においては、上下に各１
本のプローブ１０が示されているだけであるが、実際の
装置では数百本のプローブ１０が設けられている。上部
および下部検査ユニット１００、２００からなる検査ユ
ニットは、被検査基板２０であるプリント基板の種類毎
に異なる。しかし、検査ユニットおよび被検査基板２０
を位置合わせするための機構、検査ユニットの固定機
構、検査ユニットを上下動させる駆動手段、被検査基板
２０を搬入し、固定し、搬出する手段等で構成される検
査装置本体は、多種類の被検査基板２０に対して共通に
使用される。図２、図３においては、検査装置本体のう
ちで、この発明を説明するのに必要な部分のみを示す。
被検査基板２０を載置した基板セット板３０は、検査装
置本体に搬入され、位置合わせ機構および固定手段（図
示せず）により、所定の位置で固定される。基板セット
板３０には、被検査基板２０を所定の位置に設置するた
めのガイドピン３１と被検査基板２０を支持する支柱３
２が設けられている。上部検査ユニット１００は、ベー
ス板１０１、インターフェイス板１０２、第１のプロー
ブ保持板１０３、第２のプローブ保持板１０４、基板押
さえ板１０５、およびプローブ１０等から構成される。
ベース板１０１、インターフェイス板１０２、第１およ
び第２のプローブ保持板１０３，１０４は、支柱１０７
および１０８，１０９，１１０等の連結手段で相互に固
定されている。基板押さえ板１０５は、第２のプローブ
保持板１０４に対して、バネ等の弾性部材を有する連結
部材１１１により上下動可能にとりつけられている。ま
た、ベース板１０１は、検査装置本体の上部プレート４
１に着脱可能に固定されている。したがって、上部プレ
ート４１が上下動する事により、上部検査ユニット１０
０全体が上下動する。ベース板１０１には、支柱１０７
と押さえ棒１０６が取り付けられている。インターフェ
イス板１０２にプローブ１０から荷重がかかった時に、
支柱１０７がインタフェイス板１０２を上面から支持す
るので、インターフェイス板１０２は反らないようにな
っている。また、ベース板１０１とインターフェイス板
１０２は、支柱１０８によって固定されている。インタ
ーフェイス板１０２は、厚さが１．６ｍｍのプリント基
板で作られており、プローブ１０が当接する位置に導電
性のパターンであるパッド１１３が設けられている。図
４に示したように、パッド１１３のコネクタ（図示せ
ず）のリードをインターフェイス板１０２上のパターン
で接続することにより、テスター（図示せず）とプロー
ブ１０の間で電気信号を伝達できる。第１および第２の
プローブ保持板１０３，１０４は、厚さが１．６ｍｍの
ガラスエポキシ樹脂の板であり、従来技術を示す図４の
ソケット保持板４０２に相当するものである。そしてプ
ローブ１０が通る位置には貫通孔１１４，１１５が設け
られている。直径が１．００ｍｍのプローブを使用する
場合、貫通孔１１４，１１５の直径を１．０３ｍｍから
１．０５ｍｍ程度にすることにより、所定の精度が出る
ようにしている。また、被検査基板２０側のプローブ１
０の先端の必要とされる位置精度に応じて、貫通孔１１
４，１１５の直径は、適宜拡大もしくは縮小される。プ
ローブ１０に設けたフランジ１５の直径は、貫通孔１１
４，１１５の直径より大きくしてある。また、図２に示
す検査前の状態で、インターフェイス板１０２と第１の
プローブ保持板１０３の間隔は、図１（ａ）のＰ１より
も短く設定されている。したがって、プローブ１０のフ
ランジ１５がインターフェイス板１０２で動きが制限さ
れ、プローブ１０の可動針１３が沈み込み、僅かな荷重
がかかる。この結果、プローブ１０とインターフェイス
板１０２とは常に接触しているので、接触不良が発生し
ない。また、その際の荷重が僅かであるので、第１のプ
ローブ保持板１０３にプローブ１０のフランジ１５を介
して過大な荷重がかかることがない。したがって、第１
のプローブ保持板１０３を薄くすることができ、上部検
査ユニット１００の軽量化を実現できる。なお、予めプ
ローブ１０の可動針１３に荷重をかけておくこと、およ
び可動針１３をインターフェイス板１０２側に置くこと
は、この発明の作用効果を高めることではあるが、必須
要件ではない。図３に示す検査時においては、プローブ
１０に荷重がかかり、プローブ１０は図１（ｂ）に示す
状態となる。図２から図３の状態になる過程において、
プローブ１０は、第１および第２のプローブ保持板１０
３，１０４の貫通孔１１４，１１５に沿ってスライドす
る。このように、第１および第２のプローブ保持板１０
３，１０４自体がソケットとして機能する。したがっ
て、ソケットを使う必要がなくなり、部品点数が減り装
置の信頼性を高めることができるとともに、ソケット４
０６をソケット保持板４０２に打ち込むという作業が不
要になるというメリットがある。また、図３に示す検査
時においては、プローブ１０からの荷重はインターフェ
イス板１０２にのみかかるので、第１および第２のプロ
ーブ保持板１０３，１０４には荷重がかからない。した
がって、第１および第２のプローブ保持板１０３，１０
４を薄い部材で作ることができ、上部検査ユニット１０
０の軽量化を実現することができる。第１のプローブ保
持板１０３と第２のプローブ保持板１０４との間隔は、
支柱１１０によって５ｍｍに設定されている。この結
果、上記第１および第２のプローブ保持板１０３，１０
４が薄くても、プローブ１０の垂直精度を出すことがで
きる。なお、インターフェイス板１０２、第１および第
２のプローブ保持板１０３，１０４は、取り付け場所に
もよるが、例えば、両側が雌ネジの支柱１０９，１１０
とネジを用いて、または片側が雌ネジで他の側が雄ネジ
の支柱１０９，１１０とネジとナットとを用いて固定さ
れる。上記基板押さえ板１０５は、上部検査ユニット１
００の最下部に取り付けられている。基板押さえ板１０
５には、支柱１１２が取り付けられている。そして図３
に示すように、被検査基板２０が下面のプローブ１０か
ら力を受けて上方に反らないように、支柱１１２で上面
から支持する。この支柱１１２は、ネジ、接着剤等によ
り基板押さえ板１０５に取り付けることができる。ま
た、ベース板１０１に取り付けられた押さえ棒１０６
が、基板押さえ板１０５に対して相対的に下降すること
により、検査装置本体の上部プレート４１からの力を基
板押さえ板１０５に伝えることができる。つまり、押さ
え棒１０６、基板押さえ板１０５、支柱１１２とで、被
検査基板２０を上面から支持する。基板押さえ板１０５
は、連結部材１１１を介して第２のプローブ保持板１０
４に上下動可能に保持されている。第２のプローブ保持
板１０４と基板押さえ板１０５間に設けられた連結部材
１１１が通る貫通孔１１６，１１７は、所定の遊びを持
っている。前記遊びにより、基板押さえ板１０５が左右
に動いた際に、プローブ１０が影響を受けないように、
基板押さえ板１０５に設けられたプローブ１０が通る貫
通孔１１８の直径が決められている。上述のように上部
検査ユニット１００は、支柱１０８，１０９，１１０お
よび連結部材１１１により、一体となっているので、検
査装置本体から取り外して棚等に容易に保管することが
できる。また、連結部材１１１のバネの力により、保管
時にプローブ１０の先端が基板押さえ板１０５の支柱１
１２よりも前に出ないので、プローブ１０の先端を保護
することができる。実施例では、第１および第２のプロ
ーブ保持板１０３，１０４を使用したが、１枚の厚いプ
ローブ保持板で代用できることは言うまでもない。ま
た、第２のプローブ保持板１０４を省略して、基板押さ
え板１０５にその機能を併せ持たせることも可能であ
る。つまり、要求されているプローブ１０先端の位置精
度、重量、価格等を総合的に判断して、採用する方法が
決められる。次に、下部検査ユニット２００について説
明する。下部検査ユニット２００は、ベース板２０１、
インターフェイス板２０２、第１のプローブ保持板２０
３、第２のプローブ保持板２０４、プローブ１０等から
構成される。下部検査ユニット２００は、上部検査ユニ
ット１００と類似の構成である。しかし、上部検査ユニ
ット１００の基板押さえ板１０５に相当するものがない
ので、被検査基板２０を押さえるための機構が異なって
いる。上部検査ユニット１００では、プローブ１０の移
動と基板押さえ板１０５の移動とが一体で行われたが、
下部検査ユニット２００では、プローブ１０と被検査基
板２０を押さえるための機構とは独立に移動する。下部
検査ユニット２００のベース板２０１が、検査装置本体
の下部プレート４２に取り付けられているので、下部プ
レート４２が昇降することにより、下部検査ユニット２
００も昇降する。押さえ棒２０６は下方にフランジを有
し、下部検査ユニット２００から外れないようになって
いる。検査装置本体の一部である押さえ棒駆動板４３に
は、押さえ棒駆動棒４４が取り付けられ、押さえ棒駆動
棒４４の上端は、押さえ棒２０６の下端に接している。
押さえ棒駆動板４３が昇降することにより、押さえ棒２
０６が単独に昇降するようになっている。そこで、実際
に検査を行う際の上部検査ユニット１００および下部検
査ユニット２００の動きについて説明する。図２の状態
から、押さえ棒駆動板４３が上昇し、押さえ棒２０６の
上端が基板セット板３０に接する位置まで上昇する。次
に、上部検査ユニット１００が、図２に示すＬ１だけ下
降し、基板押さえ板１０５に取り付けられた支柱１１２
の下端が被検査基板２０に接する。もし、被検査基板２
０の部品２１の代わりに間違った部品２１が実装されて
いて、その部品２１が支柱１１２に当たると、基板押さ
え板１０５は所定の位置まで下降せず、基板押さえ板１
０５と第２のプローブ保持板１０４の間隔が狭くなる。
図２には示してないが、例えば、第２のプローブ保持板
１０４の下面にリミットスイッチを設けておけば、この
ことを検知して、上部検査ユニット１００の下降を停止
することにより、被検査基板２０の破損を防止すること
ができる。さらに図２に示すＬ２の距離を下降すると、
プローブ１０の先端が被検査基板２０のパターン２２に
接する。さらに図２に示す（Ｌ３−Ｌ２）距離を下降す
ると、押さえ棒１０６の下端が基板押さえ板１０５に当
接し、基板押さえ板１０５が下面から力を受けても動か
ないようになる。また、この状態ではプローブ１０は当
初に比べて（Ｌ３−Ｌ２）だけ短くなり、所定の荷重で
被検査基板２０に当接する。この時点で、上部検査ユニ
ット１００は図３に示す状態となる。この際に、プロー
ブ１０内のコイルバネ１４（図１（ｂ）参照）は縮みな
がら、プローブ１０は第１および第２のスライド板１０
３，１０４の貫通孔１１４，１１５に沿ってスライドす
る。なお、予め被検査基板２０は押さえ棒２０６および
基板セット板３０の支柱３２で下面から支えられている
ので、上面のプローブ１０から荷重がかかっても反るこ
とはない。次に、検査装置本体の下部プレート４２が上
昇すると、押さえ棒２０６を除く下部検査ユニット２０
０全体が上昇し、プローブ１０の先端が被検査基板２０
の下面のパターン２３に接する。さらに下部検査ユニッ
ト２００が上昇し、プローブ１０に所定の荷重がかかる
位置までくると停止し、図３に示す状態となる。その
際、被検査基板２０は予め基板押さえ板１０５の支柱１
１２で上面から支えられているので、下面のプローブ１
０から荷重がかかっても反らないようになっている。上
部検査ユニット１００の組み立て順序について説明す
る。第１に、ベース板１０１に押さえ棒１０６と支柱１
０７とを取り付ける。第２に、基板押さえ板１０５に支
柱１１２を取り付ける。第３に、第１のプローブ保持板
１０３と第２のプローブ保持板１０４とを支柱１０９を
介して固定する。第４に、第２のプローブ保持板１０４
と基板押さえ板１０５とを連結部材１１１により連結さ
せる。第５に、プローブ１０のフランジ１５が第１のプ
ローブ保持板１０３の上面で引っかかるようにして、プ
ローブ１０を第１および第２のプローブ保持板１０３，
１０４と基板押さえ板１０５とに挿入する。第６に、イ
ンターフェイス板１０２を押しながら、インターフェイ
ス板１０２と第１のプローブ保持板１０３とを支柱１０
９を介して固定する。第７に、押さえ棒１０６をインタ
ーフェイス板１０２等に挿入して、ベース板１０１とイ
ンターフェイス板１０２を支柱１０８を介して固定す
る。なお、インターフェイス板１０２、プローブ保持板
１０３，１０４等の間の支柱１０９，１１０を固定する
ネジ等を外すことにより、容易にプローブ１０を交換で
きる。下部検査ユニット２００についても、上記と同様
の手順で組み立てができる。以上説明したように、上部
検査ユニット１００および下部検査ユニット２００は容
易に組み立て可能なような部品構成となっている。例え
ば、上部検査ユニット１００は、「検査装置本体に取り
付けるためのベース板１０１」、「所望のパターンが配
線されたインターフェイス板１０２」、「プローブ１０
および押さえ棒１０６が通る貫通孔１１４，１１５が設
けられた第１および第２のプローブ保持板１０３，１０
４」、「支柱１１２を接着剤で付ける位置に印の付けら
れた、または支柱１１２を取り付ける位置に取り付け用
のネジ穴の設けられた基板押さえ板１０５」、「プロー
ブ１０」、「連結部材１１１」、「押さえ棒１０６」、
その他「支柱１０７，１０８，１０９，１１０」、「ネ
ジ等」があれば、特別な技能がなくても容易に組み立て
ることができる。もちろん、下部検査ユニット２００も
同様にして部品を準備することにより、簡単に組み立て
ることができる。つまり、検査装置製造業者で前記の部
品を作り、ユーザーに送れば、ユーザーが組み立てるこ
とができる。したがって従来のように検査ユニットを組
み立てて送るのではなく、部品の形態で送ることができ
るので、プローブを保護する梱包が不要であるととも
に、梱包が小さくなるという効果がある。以上、プリン
ト基板の検査装置についての実施例を説明したが、この
発明はこれらに限定されるものではなく、第１および第
２のプローブ保持板１０３，１０４の材質、厚さ、間隔
等についても適宜変更して使用できるものである。ま
た、プローブ１０から受ける荷重により被検査基板２０
の反りを防止する手段についても適宜変更して使用でき
るものである。例えば、上記実施例では支柱１１２で被
検査基板２０を支持するようにしたが、支柱１１２に代
えて、被検査基板２０上の部品２１の形状に合わせてル
ータ加工等で削り取った板で押さえてもよい。また実施
例では、ベース板１０１を使用した場合について説明し
たが、押さえ棒１０６をインターフェイス板１０２に取
り付ける構成にしてベース板１０１を省略することもで
きる。さらに、実施例では被検査基板２０の両面からプ
ローブ１０を当接させて検査をする例を示したが、この
発明は被検査基板２０の片面のみからプローブ１０を当
接させて検査を行う際にも適用できるものである。なお
この発明は、電子部品を実装したプリント基板の検査の
みでなく、電子部品を実装する前のプリント基板の検査
にも使用することができる。
検査装置およびプリント基板の検査装置の組み立てキッ
トの実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に説明
する。この発明に使用するプローブの詳細を図１に示
す。図１（ａ）は、プローブ１０に荷重がかかっていな
い状態を示す。プローブ１０は、外筒１１と、外筒１１
の下部に固定された固定針１２と、外筒１１の上部にお
いて伸縮自在に設けられた可動針１３とを備えている。
外筒１１内には、コイルバネ１４等の弾性部材が収容さ
れている。上方から可動針１３に力が加減されると、可
動針１３は外筒１１の内壁に沿って伸縮する。外筒１１
の上端にはフランジ１５が設けられている。固定針１２
および可動針１３の先端は、被検査基板のパターンと確
実に接触させるために多点構造を有している。図１
（ｂ）は、プローブ１０に荷重がかかり、可動針１３が
外筒１１内に沈み込んだ状態を示す。図２は、この発明
の上部検査ユニット１００と下部検査ユニット２００と
を従来から知られている検査装置本体に取り付け、被検
査基板２０を検査装置本体にセットした状態を示すもの
である。図３は、上部検査ユニット１００が下降し、下
部検査ユニット２００が上昇して、検査をしている状態
を示すものである。図２、図３においては、上下に各１
本のプローブ１０が示されているだけであるが、実際の
装置では数百本のプローブ１０が設けられている。上部
および下部検査ユニット１００、２００からなる検査ユ
ニットは、被検査基板２０であるプリント基板の種類毎
に異なる。しかし、検査ユニットおよび被検査基板２０
を位置合わせするための機構、検査ユニットの固定機
構、検査ユニットを上下動させる駆動手段、被検査基板
２０を搬入し、固定し、搬出する手段等で構成される検
査装置本体は、多種類の被検査基板２０に対して共通に
使用される。図２、図３においては、検査装置本体のう
ちで、この発明を説明するのに必要な部分のみを示す。
被検査基板２０を載置した基板セット板３０は、検査装
置本体に搬入され、位置合わせ機構および固定手段（図
示せず）により、所定の位置で固定される。基板セット
板３０には、被検査基板２０を所定の位置に設置するた
めのガイドピン３１と被検査基板２０を支持する支柱３
２が設けられている。上部検査ユニット１００は、ベー
ス板１０１、インターフェイス板１０２、第１のプロー
ブ保持板１０３、第２のプローブ保持板１０４、基板押
さえ板１０５、およびプローブ１０等から構成される。
ベース板１０１、インターフェイス板１０２、第１およ
び第２のプローブ保持板１０３，１０４は、支柱１０７
および１０８，１０９，１１０等の連結手段で相互に固
定されている。基板押さえ板１０５は、第２のプローブ
保持板１０４に対して、バネ等の弾性部材を有する連結
部材１１１により上下動可能にとりつけられている。ま
た、ベース板１０１は、検査装置本体の上部プレート４
１に着脱可能に固定されている。したがって、上部プレ
ート４１が上下動する事により、上部検査ユニット１０
０全体が上下動する。ベース板１０１には、支柱１０７
と押さえ棒１０６が取り付けられている。インターフェ
イス板１０２にプローブ１０から荷重がかかった時に、
支柱１０７がインタフェイス板１０２を上面から支持す
るので、インターフェイス板１０２は反らないようにな
っている。また、ベース板１０１とインターフェイス板
１０２は、支柱１０８によって固定されている。インタ
ーフェイス板１０２は、厚さが１．６ｍｍのプリント基
板で作られており、プローブ１０が当接する位置に導電
性のパターンであるパッド１１３が設けられている。図
４に示したように、パッド１１３のコネクタ（図示せ
ず）のリードをインターフェイス板１０２上のパターン
で接続することにより、テスター（図示せず）とプロー
ブ１０の間で電気信号を伝達できる。第１および第２の
プローブ保持板１０３，１０４は、厚さが１．６ｍｍの
ガラスエポキシ樹脂の板であり、従来技術を示す図４の
ソケット保持板４０２に相当するものである。そしてプ
ローブ１０が通る位置には貫通孔１１４，１１５が設け
られている。直径が１．００ｍｍのプローブを使用する
場合、貫通孔１１４，１１５の直径を１．０３ｍｍから
１．０５ｍｍ程度にすることにより、所定の精度が出る
ようにしている。また、被検査基板２０側のプローブ１
０の先端の必要とされる位置精度に応じて、貫通孔１１
４，１１５の直径は、適宜拡大もしくは縮小される。プ
ローブ１０に設けたフランジ１５の直径は、貫通孔１１
４，１１５の直径より大きくしてある。また、図２に示
す検査前の状態で、インターフェイス板１０２と第１の
プローブ保持板１０３の間隔は、図１（ａ）のＰ１より
も短く設定されている。したがって、プローブ１０のフ
ランジ１５がインターフェイス板１０２で動きが制限さ
れ、プローブ１０の可動針１３が沈み込み、僅かな荷重
がかかる。この結果、プローブ１０とインターフェイス
板１０２とは常に接触しているので、接触不良が発生し
ない。また、その際の荷重が僅かであるので、第１のプ
ローブ保持板１０３にプローブ１０のフランジ１５を介
して過大な荷重がかかることがない。したがって、第１
のプローブ保持板１０３を薄くすることができ、上部検
査ユニット１００の軽量化を実現できる。なお、予めプ
ローブ１０の可動針１３に荷重をかけておくこと、およ
び可動針１３をインターフェイス板１０２側に置くこと
は、この発明の作用効果を高めることではあるが、必須
要件ではない。図３に示す検査時においては、プローブ
１０に荷重がかかり、プローブ１０は図１（ｂ）に示す
状態となる。図２から図３の状態になる過程において、
プローブ１０は、第１および第２のプローブ保持板１０
３，１０４の貫通孔１１４，１１５に沿ってスライドす
る。このように、第１および第２のプローブ保持板１０
３，１０４自体がソケットとして機能する。したがっ
て、ソケットを使う必要がなくなり、部品点数が減り装
置の信頼性を高めることができるとともに、ソケット４
０６をソケット保持板４０２に打ち込むという作業が不
要になるというメリットがある。また、図３に示す検査
時においては、プローブ１０からの荷重はインターフェ
イス板１０２にのみかかるので、第１および第２のプロ
ーブ保持板１０３，１０４には荷重がかからない。した
がって、第１および第２のプローブ保持板１０３，１０
４を薄い部材で作ることができ、上部検査ユニット１０
０の軽量化を実現することができる。第１のプローブ保
持板１０３と第２のプローブ保持板１０４との間隔は、
支柱１１０によって５ｍｍに設定されている。この結
果、上記第１および第２のプローブ保持板１０３，１０
４が薄くても、プローブ１０の垂直精度を出すことがで
きる。なお、インターフェイス板１０２、第１および第
２のプローブ保持板１０３，１０４は、取り付け場所に
もよるが、例えば、両側が雌ネジの支柱１０９，１１０
とネジを用いて、または片側が雌ネジで他の側が雄ネジ
の支柱１０９，１１０とネジとナットとを用いて固定さ
れる。上記基板押さえ板１０５は、上部検査ユニット１
００の最下部に取り付けられている。基板押さえ板１０
５には、支柱１１２が取り付けられている。そして図３
に示すように、被検査基板２０が下面のプローブ１０か
ら力を受けて上方に反らないように、支柱１１２で上面
から支持する。この支柱１１２は、ネジ、接着剤等によ
り基板押さえ板１０５に取り付けることができる。ま
た、ベース板１０１に取り付けられた押さえ棒１０６
が、基板押さえ板１０５に対して相対的に下降すること
により、検査装置本体の上部プレート４１からの力を基
板押さえ板１０５に伝えることができる。つまり、押さ
え棒１０６、基板押さえ板１０５、支柱１１２とで、被
検査基板２０を上面から支持する。基板押さえ板１０５
は、連結部材１１１を介して第２のプローブ保持板１０
４に上下動可能に保持されている。第２のプローブ保持
板１０４と基板押さえ板１０５間に設けられた連結部材
１１１が通る貫通孔１１６，１１７は、所定の遊びを持
っている。前記遊びにより、基板押さえ板１０５が左右
に動いた際に、プローブ１０が影響を受けないように、
基板押さえ板１０５に設けられたプローブ１０が通る貫
通孔１１８の直径が決められている。上述のように上部
検査ユニット１００は、支柱１０８，１０９，１１０お
よび連結部材１１１により、一体となっているので、検
査装置本体から取り外して棚等に容易に保管することが
できる。また、連結部材１１１のバネの力により、保管
時にプローブ１０の先端が基板押さえ板１０５の支柱１
１２よりも前に出ないので、プローブ１０の先端を保護
することができる。実施例では、第１および第２のプロ
ーブ保持板１０３，１０４を使用したが、１枚の厚いプ
ローブ保持板で代用できることは言うまでもない。ま
た、第２のプローブ保持板１０４を省略して、基板押さ
え板１０５にその機能を併せ持たせることも可能であ
る。つまり、要求されているプローブ１０先端の位置精
度、重量、価格等を総合的に判断して、採用する方法が
決められる。次に、下部検査ユニット２００について説
明する。下部検査ユニット２００は、ベース板２０１、
インターフェイス板２０２、第１のプローブ保持板２０
３、第２のプローブ保持板２０４、プローブ１０等から
構成される。下部検査ユニット２００は、上部検査ユニ
ット１００と類似の構成である。しかし、上部検査ユニ
ット１００の基板押さえ板１０５に相当するものがない
ので、被検査基板２０を押さえるための機構が異なって
いる。上部検査ユニット１００では、プローブ１０の移
動と基板押さえ板１０５の移動とが一体で行われたが、
下部検査ユニット２００では、プローブ１０と被検査基
板２０を押さえるための機構とは独立に移動する。下部
検査ユニット２００のベース板２０１が、検査装置本体
の下部プレート４２に取り付けられているので、下部プ
レート４２が昇降することにより、下部検査ユニット２
００も昇降する。押さえ棒２０６は下方にフランジを有
し、下部検査ユニット２００から外れないようになって
いる。検査装置本体の一部である押さえ棒駆動板４３に
は、押さえ棒駆動棒４４が取り付けられ、押さえ棒駆動
棒４４の上端は、押さえ棒２０６の下端に接している。
押さえ棒駆動板４３が昇降することにより、押さえ棒２
０６が単独に昇降するようになっている。そこで、実際
に検査を行う際の上部検査ユニット１００および下部検
査ユニット２００の動きについて説明する。図２の状態
から、押さえ棒駆動板４３が上昇し、押さえ棒２０６の
上端が基板セット板３０に接する位置まで上昇する。次
に、上部検査ユニット１００が、図２に示すＬ１だけ下
降し、基板押さえ板１０５に取り付けられた支柱１１２
の下端が被検査基板２０に接する。もし、被検査基板２
０の部品２１の代わりに間違った部品２１が実装されて
いて、その部品２１が支柱１１２に当たると、基板押さ
え板１０５は所定の位置まで下降せず、基板押さえ板１
０５と第２のプローブ保持板１０４の間隔が狭くなる。
図２には示してないが、例えば、第２のプローブ保持板
１０４の下面にリミットスイッチを設けておけば、この
ことを検知して、上部検査ユニット１００の下降を停止
することにより、被検査基板２０の破損を防止すること
ができる。さらに図２に示すＬ２の距離を下降すると、
プローブ１０の先端が被検査基板２０のパターン２２に
接する。さらに図２に示す（Ｌ３−Ｌ２）距離を下降す
ると、押さえ棒１０６の下端が基板押さえ板１０５に当
接し、基板押さえ板１０５が下面から力を受けても動か
ないようになる。また、この状態ではプローブ１０は当
初に比べて（Ｌ３−Ｌ２）だけ短くなり、所定の荷重で
被検査基板２０に当接する。この時点で、上部検査ユニ
ット１００は図３に示す状態となる。この際に、プロー
ブ１０内のコイルバネ１４（図１（ｂ）参照）は縮みな
がら、プローブ１０は第１および第２のスライド板１０
３，１０４の貫通孔１１４，１１５に沿ってスライドす
る。なお、予め被検査基板２０は押さえ棒２０６および
基板セット板３０の支柱３２で下面から支えられている
ので、上面のプローブ１０から荷重がかかっても反るこ
とはない。次に、検査装置本体の下部プレート４２が上
昇すると、押さえ棒２０６を除く下部検査ユニット２０
０全体が上昇し、プローブ１０の先端が被検査基板２０
の下面のパターン２３に接する。さらに下部検査ユニッ
ト２００が上昇し、プローブ１０に所定の荷重がかかる
位置までくると停止し、図３に示す状態となる。その
際、被検査基板２０は予め基板押さえ板１０５の支柱１
１２で上面から支えられているので、下面のプローブ１
０から荷重がかかっても反らないようになっている。上
部検査ユニット１００の組み立て順序について説明す
る。第１に、ベース板１０１に押さえ棒１０６と支柱１
０７とを取り付ける。第２に、基板押さえ板１０５に支
柱１１２を取り付ける。第３に、第１のプローブ保持板
１０３と第２のプローブ保持板１０４とを支柱１０９を
介して固定する。第４に、第２のプローブ保持板１０４
と基板押さえ板１０５とを連結部材１１１により連結さ
せる。第５に、プローブ１０のフランジ１５が第１のプ
ローブ保持板１０３の上面で引っかかるようにして、プ
ローブ１０を第１および第２のプローブ保持板１０３，
１０４と基板押さえ板１０５とに挿入する。第６に、イ
ンターフェイス板１０２を押しながら、インターフェイ
ス板１０２と第１のプローブ保持板１０３とを支柱１０
９を介して固定する。第７に、押さえ棒１０６をインタ
ーフェイス板１０２等に挿入して、ベース板１０１とイ
ンターフェイス板１０２を支柱１０８を介して固定す
る。なお、インターフェイス板１０２、プローブ保持板
１０３，１０４等の間の支柱１０９，１１０を固定する
ネジ等を外すことにより、容易にプローブ１０を交換で
きる。下部検査ユニット２００についても、上記と同様
の手順で組み立てができる。以上説明したように、上部
検査ユニット１００および下部検査ユニット２００は容
易に組み立て可能なような部品構成となっている。例え
ば、上部検査ユニット１００は、「検査装置本体に取り
付けるためのベース板１０１」、「所望のパターンが配
線されたインターフェイス板１０２」、「プローブ１０
および押さえ棒１０６が通る貫通孔１１４，１１５が設
けられた第１および第２のプローブ保持板１０３，１０
４」、「支柱１１２を接着剤で付ける位置に印の付けら
れた、または支柱１１２を取り付ける位置に取り付け用
のネジ穴の設けられた基板押さえ板１０５」、「プロー
ブ１０」、「連結部材１１１」、「押さえ棒１０６」、
その他「支柱１０７，１０８，１０９，１１０」、「ネ
ジ等」があれば、特別な技能がなくても容易に組み立て
ることができる。もちろん、下部検査ユニット２００も
同様にして部品を準備することにより、簡単に組み立て
ることができる。つまり、検査装置製造業者で前記の部
品を作り、ユーザーに送れば、ユーザーが組み立てるこ
とができる。したがって従来のように検査ユニットを組
み立てて送るのではなく、部品の形態で送ることができ
るので、プローブを保護する梱包が不要であるととも
に、梱包が小さくなるという効果がある。以上、プリン
ト基板の検査装置についての実施例を説明したが、この
発明はこれらに限定されるものではなく、第１および第
２のプローブ保持板１０３，１０４の材質、厚さ、間隔
等についても適宜変更して使用できるものである。ま
た、プローブ１０から受ける荷重により被検査基板２０
の反りを防止する手段についても適宜変更して使用でき
るものである。例えば、上記実施例では支柱１１２で被
検査基板２０を支持するようにしたが、支柱１１２に代
えて、被検査基板２０上の部品２１の形状に合わせてル
ータ加工等で削り取った板で押さえてもよい。また実施
例では、ベース板１０１を使用した場合について説明し
たが、押さえ棒１０６をインターフェイス板１０２に取
り付ける構成にしてベース板１０１を省略することもで
きる。さらに、実施例では被検査基板２０の両面からプ
ローブ１０を当接させて検査をする例を示したが、この
発明は被検査基板２０の片面のみからプローブ１０を当
接させて検査を行う際にも適用できるものである。なお
この発明は、電子部品を実装したプリント基板の検査の
みでなく、電子部品を実装する前のプリント基板の検査
にも使用することができる。
【発明の効果】以上説明してきたように、この発明のプ
リント基板の検査装置およびプリント基板の検査装置の
組み立てキットによれば、図１に示すプローブを使用す
るだけで、従来はプローブを保持するために必要とされ
ていたソケットを不要にしたものである。この結果、熟
練した技能がなくても検査装置を容易に組み立てること
ができる。また、検査装置の分解が容易にあるので、不
要になった検査装置を廃棄する際にも、材料別に分別し
て廃棄ができるので、産業廃棄物の処理の観点からも好
ましい。この発明のプリント基板の検査装置およびプリ
ント基板の検査装置の組み立てキットによれば、プロー
ブのみの交換が極めて容易であり、上部検査ユニットお
よび下部検査ユニットの不良プローブを簡単に交換する
ことができるようになった。
リント基板の検査装置およびプリント基板の検査装置の
組み立てキットによれば、図１に示すプローブを使用す
るだけで、従来はプローブを保持するために必要とされ
ていたソケットを不要にしたものである。この結果、熟
練した技能がなくても検査装置を容易に組み立てること
ができる。また、検査装置の分解が容易にあるので、不
要になった検査装置を廃棄する際にも、材料別に分別し
て廃棄ができるので、産業廃棄物の処理の観点からも好
ましい。この発明のプリント基板の検査装置およびプリ
ント基板の検査装置の組み立てキットによれば、プロー
ブのみの交換が極めて容易であり、上部検査ユニットお
よび下部検査ユニットの不良プローブを簡単に交換する
ことができるようになった。
【図１】この発明のプリント基板の検査装置に使用する
プローブを示す概略断面図である。
プローブを示す概略断面図である。
【図２】被検査基板を検査する前の検査装置の状態を示
す概略断面図である。
す概略断面図である。
【図３】被検査基板を検査している時の検査装置の状態
を示す概略断面図である。
を示す概略断面図である。
【図４】従来のプリント基板の検査装置を示す概略断面
図である。
図である。
１０ プローブ ２０ 被検査基板 ３０ 基板セット板 ４１ 上部プレート ４２ 下部プレート ４３ 押さえ棒駆動板 １００ 上部検査ユニット ２００ 下部検査ユニット １０１，２０１ ベース板 １０２，２０２ インターフェイス板 １０３，２０３ 第１のプローブ保持板 １０４，２０４ 第２のプローブ保持板 １０５ 基板押さえ板 １０６，２０６ 押さえ棒
Claims (5)
- 【請求項１】 両端に針部を有し、かつ外周にフランジ
を有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ
前記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔
を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と
平行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と
反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当
接する位置に導電性のパターンを有するインターフェイ
ス部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記イ
ンターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配
置され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動で
あり、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接す
るものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材
の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを
特徴とするプリント基板の検査装置。 - 【請求項２】 前記プローブ保持部材は、平行に配置さ
れた複数の部材で構成されている請求項１に記載のプリ
ント基板の検査装置。 - 【請求項３】 前記被検査基板と前記プローブ保持部材
の間に、被検査基板を支持する部材が、前記プローブ保
持部材に対して弾性を有して設けられている請求項１お
よび２に記載のプリント基板の検査装置。 - 【請求項４】 前記プローブ保持部材と前記被検査基板
を支持する部材との間に、前記被検査基板に誤部品が実
装されていることを検知する手段が設けられている請求
項３に記載のプリント基板の検査装置。 - 【請求項５】 両端に針部を有し、かつ外周にフランジ
を有するプローブと、前記プローブの径より大きくかつ
前記フランジの径より小さいプローブが貫通する貫通孔
を有するプローブ保持部材と、前記プローブ保持部材と
平行であって、プローブ保持部材に対して被検査基板と
反対側に配置され、かつ前記プローブの針部の一方が当
接する位置に導電性のパターンを有するインターフェイ
ス部材とを具備し、プローブの前記フランジは、前記イ
ンターフェイス部材と前記プローブ保持部材との間に配
置され、前記プローブの針部の少なくとも一つは可動で
あり、前記プローブの針部の他方は被検査基板に当接す
るものであり、前記プローブは、前記プローブ保持部材
の貫通孔に沿ってスライド可能に保持されていることを
特徴とするプリント基板の検査装置の組み立てキット。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9227776A JPH1164426A (ja) | 1997-08-25 | 1997-08-25 | プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット |
| TW087119816A TW380205B (en) | 1997-08-25 | 1998-11-30 | Testing apparatus and its assembly for printed circuit board |
| US09/201,681 US6130547A (en) | 1997-08-25 | 1998-11-30 | Test apparatus for printed circuit board and assembly kit therefor |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9227776A JPH1164426A (ja) | 1997-08-25 | 1997-08-25 | プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット |
| US09/201,681 US6130547A (en) | 1997-08-25 | 1998-11-30 | Test apparatus for printed circuit board and assembly kit therefor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1164426A true JPH1164426A (ja) | 1999-03-05 |
Family
ID=26527860
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9227776A Pending JPH1164426A (ja) | 1997-08-25 | 1997-08-25 | プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6130547A (ja) |
| JP (1) | JPH1164426A (ja) |
| TW (1) | TW380205B (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2008157831A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-10 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード |
| KR101097676B1 (ko) * | 2010-07-06 | 2011-12-22 | 삼성전기주식회사 | 기판 검사 장치 및 이를 이용한 기판 검사 방법 |
| JP2015184283A (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-22 | 旺▲夕▼科技股▲分▼有限公司 | 垂直型プローブモジュールおよびその柱状支持部 |
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| CN113189469A (zh) * | 2021-03-30 | 2021-07-30 | 深圳市磐锋精密技术有限公司 | 一种用于手机线路全自动检测的设备及其使用方法 |
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| DE102011016299A1 (de) * | 2011-04-07 | 2012-10-11 | Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh | Testkontaktor für eine Leiterplatte, Verwendung und Verfahren zum Prüfen |
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| US5663655A (en) * | 1995-09-22 | 1997-09-02 | Everett Charles Technologies, Inc. | ESD protection for universal grid type test fixtures |
| US5818248A (en) * | 1996-07-29 | 1998-10-06 | Delaware Capital Formation, Inc | Loaded board test fixture with integral translator fixture for testing closely spaced test sites |
| US5945836A (en) * | 1996-10-29 | 1999-08-31 | Hewlett-Packard Company | Loaded-board, guided-probe test fixture |
-
1997
- 1997-08-25 JP JP9227776A patent/JPH1164426A/ja active Pending
-
1998
- 1998-11-30 TW TW087119816A patent/TW380205B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-11-30 US US09/201,681 patent/US6130547A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6130547A (en) | 2000-10-10 |
| TW380205B (en) | 2000-01-21 |
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