KR102042923B1

KR102042923B1 - 비젼 정렬을 위한 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록

Info

Publication number: KR102042923B1
Application number: KR1020180054827A
Authority: KR
Inventors: 이재하
Original assignee: 화인인스트루먼트 (주); 이재하
Priority date: 2018-05-14
Filing date: 2018-05-14
Publication date: 2019-11-11

Abstract

본 발명은 디스플레이모듈 검사용 접촉 장치인 프로브 블록에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피 검사체인 디스플레이 모듈의 신호 입력 단자인 커넥터의 단자와 프로브 핀의 정렬을 비젼장치로 자동 정렬 하고, 전기적 노이즈가 적은 프로브 핀을 사용하여 전기적으로 안정적인 접촉을 용이하게 하는 프로브 블록에 관한 것이다.
또한, 프로브 핀을 인쇄회로 기판에 직접 접합하지 않고 핀 블록 형태로 만들어 수리가 용이하게 하는 프로브 핀 블록을 사용한 프로브 블록에 관한 것이다
본 발명에 따르면 검사용 프로브 블록은 신호 발생기와 연결되는 인쇄회로기판; 상기 인쇄회로기판에 장착되는 프로브 핀 블록으로 구성되며, 프로브 핀 블록은 프로브 핀, 지지축과 스페이서, 또는 핀 가이드로 구성된 핀 뭉치, 프로브 핀의 탐침 간격을 일정하게 하는 가이드 슬릿이 있으며, 커넥터가 안착되는 가이드 소켓, 프로브 핀의 하부 팁부 간격을 일정하게 하는 가이드 슬릿이 있는 가이드 슬릿 판, 상기 핀 뭉치를 고정하는 고정 프레임, 그리고 상기의 모든 구성품들과 결합하는 베이스로의 하부 프레임을 포함 한다.

Description

비젼 정렬을 위한 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록{Probe Block for Vision Alignment of Display Module Test}

본 발명은 비젼 정렬(Vision Alignment) 가능한 디스플레이모듈 검사용 프로브 블록(Probe Block)에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 휴대폰과 같은 통신 기기에 사용되는 디스플레이 모듈의 전기적 검사를 안정적으로 수행할 수 있는 프로브 블록에 관한 것이다.

일반적으로 디스플레이 모듈이란 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode), 액정디스플레이 (LCD: Liquid Crystal Display), 등의 화면 표시장치와 화면 표시 장치에 영상을 구현하기 위해 많은 전자 부품들이 배치된 회로 기판이 결합되어 구성 된다.

이에 따라, 디스플레이 모듈을 완성하기 위해 실장 되는 많은 전자 부품과 회로 기판, 그리고 액정 표시 장치의 불량 유무를 판별하기 위한 검사 공정을 진행하게 된다.

이와 같은 디스플레이 모듈에 대한 검사 공정에서는 디스플레이 모듈의 신호 입력단자인 커넥터에 전기적 신호를 인가해 화면을 구동 시켜 화면 표시 장치의 불량여부를 판단한다.

이와 같은 디스플레이 모듈을 검사하기 위한 방법으로서, 현재 디스플레이 모듈의 입력 단자인 커넥터에 전기적 신호를 공급하기 위해 한국 등록 특허 제10-1722403 “피치 간격을 조절할 수 있는 핀 블록”와 같이 핀 블록을 사용한 검사용 소켓이 사용되고 있다.

하지만 디스플레이 모듈을 검사하기 위해 디스플레이 모듈의 신호 입력 단자인 커넥터에 신호를 인가하는 과정에서 문제가 발생이 되어 디스플레이 모듈의 상태가 정상임에도 불구하고 불량으로 판정되는 경우가 발생 된다.

이와 같은 문제의 원인으로는 디스플레이 모듈을 검사 장치에 놓을 때 발생하는 위치 공차, 그리고 기판에 실장 되는 커넥터의 위치 공차 등이 발생을 하는데, 이러한 위치 공차가 클 경우 검사용 소켓이 위와 같은 공차 범위에 맞추어 자동 정렬하여 접촉시키기 어려운 문제점이 있다.

한국등록특허 제10-1722403호(2017.03.28. 등록)

본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 디스플레이 모듈의 동작을 위해 신호발생기에서 온 신호를 디스플레이 모듈의 커넥터에 전달하기 위한 과정에서 프로브 블록의 프로브 핀들을 디스플레이 모듈의 커넥터에 비젼 정렬(Vision Alignment)방식으로 자동 정렬할 수 있도록 프로브 핀들의 탐침 부위를 비젼 장치로 식별 할 수 있게 하여, 전기적 접촉을 안정적으로 제공하는데 있다.

본 발명의 다른 목적은 프로브 핀을 인쇄회로기판의 패드(Pad)에 직접 접합 하지 않고 상하 접점을 이루는 프로브 핀 블록 형태로 제작하여 프로브 핀에 문제 발생 경우 현장에서 쉽게 교체가 용이하게 하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 프로브 블록은 신호 발생기와 연결되는 인쇄회로 기판, 상기 인쇄회로 기판은 프로브 핀의 팁 부분이 노출 될 수 있도록 관통 홀이 형성되어 있으며, 다수의 프로브 핀, 상기 프로브 핀의 고정과 위치 정렬을 위한 지지축 관통 홀이 있는 지지부; 상기 지지부의 상부에 연결되며, 상기 지지부에 대해서 일측으로 뻗어 있는 상부 탄성부; 상기 상부 탄성부의 끝단에 연결되며, 상기 상부 탄성부에 대해서 위로 뻗어 있는 상부 팁지지부; 상기 상부 팁지지부의 끝단에서 외측 사선으로 돌출되어 있는 비젼 정렬 팁부; 상기 상부 팁지지부의 측면에서 내측 사선으로 돌출되어 있는 핀 정렬부; 상기 지지부의 하부에 연결되며, 상기 지지부에 대해서 일측으로 뻗어 있는 하부 탄성부; 상기 하부 탄성부의 끝단에 연결되며, 상기 하부 탄성부 대해서 아래로 뻗어 있는 하부 팁부를 포함한다.

상기 하부 탄성부는 상기 지지부의 하부 아래로 지그재그 형태로 연장되어 형성 될 수도 있다.

또한 상기 프로브 블록은 프로브 핀의 위치를 일정하게 고정하기 위해 상기 프로브 핀의 지지부에 형성된 지지축 관통 홀이 끼워지는 지지축을 포함할 수 있다.

또한 상기 프로브 핀의 간격을 일정하게 유지하기 위해 프로브 핀들의 사이에 위치하여 상기 지지축에 끼워지는 절연체인 스페이서를 포함할 수 있다.

또한 상기 프로브 핀이 끼워진 상기 지지축을 고정하기 위한 고정 프레임을 포함한다.

또한 상기 고정 프레임을 수용하여 고정하는 하부 프레임을 포함한다.

또한 상기 하부 프레임에 위치하며, 상기 프로브 핀들의 하부 팁부의 위치를 일정하게 유지시키는 가이드 슬릿 판을 포함할 수 있다.

또한 상기 프로브 블록은 프로브 핀의 팁 정렬부의 위치를 일정하게 하는 가이드 소켓 슬릿이 내부에 있으며, 디스플레이 모듈의 커넥터가 안착 되는 커넥터 수용부가 있는 가이드 소켓을 포함한다.

본 발명은 또한 상기 프로브 블록의 프로브 핀들의 위치를 디스플레이 모듈 커넥터 단자의 간격에 맞춰 일정하게 고정하기 위해 상기 프로브 핀의 지지부를 핀 가이드 슬릿에 끼우는 핀 가이드를 포함 할 수 있다.

또한 상기 핀 가이드를 수용하여 고정하는 하부 프레임을 포함한다.

본 발명에 따르면, 인쇄회로 기판과, 가이드 슬릿 판 그리고 가이드 소켓에 형성되어 있는 관통 홀을 통해 프로브 핀의 비젼 정렬 팁부와 디스플레이 모듈의 커넥터 단자 부분을 비젼 장치로 정렬하여 완벽하게 접점을 위치 시켜 프로빙하는 효과가 있다.

또한 프로브 핀에 문제가 생겨 교체가 필요 할 때 프로브 핀 블록을 인쇄회로 기판에서 분리하여, 프로브 핀 블록을 분해하여 문제가 생긴 프로브 핀을 현장에서 쉽게 교체하는 용이한 수리성을 제공하는 효과가 있다.

또한 프로브 핀이 지지부를 기준으로 고정 되어 하부 프로브 팁이 인쇄회로기판의 패드(Pad)에 접촉이 되고, 상부의 프로브 팁이 디스플레이 모듈의 커넥터의 단자에 접촉이 되어 전기적으로 우수한 안정성을 제공하는 효과가 있다.

도 1은 제1 실시예에 따른 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록의 사시도이다.
도 2는 제1 실시예에 따른 프로브 블록의 분해사시도이다.
도 3은 제1 실시예에 따른 프로브 핀의 사시도 이다.
도 4는 제1 실시예에 따른 프로브 핀 블록의 정면 투시도 이다.
도 5는 제1 실시예에 따른 프로브 핀 블록의 우측면 투시도이다.
도 6은 제1 실시예에 따른 프로브 블록의 윗면도이다.
도 7은 제1 실시예에 따른 프로브 핀 블록의 아래면도이다
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 프로브 핀의 사시도이다.
도 9은 본 발명의 제2 실시예에 따른 프로브 블록의 분해 사시도 이다.
도 10은 본 발명의 제2 실시예에 따른 프로브 블록의 사시도이다
도 11는 제2 실시예에 따른 프로브 핀 블록의 정면 투시도 이다.
도 12는 제2 실시예에 따른 프로브 핀 블록의 우측면 투시도이다.

하기의 설명에서는 본 발명의 실시예를 이해하는데 필요한 부분만이 설명되며, 그 이외 부분의 설명은 본 발명의 요지를 흩트리지 않는 범위에서 생략될 것이라는 것을 유의하여야 한다.

이하에서 설명되는 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념으로 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.

[제 1 실시예]

도 1에 도시된 바와 같이, 실시예에 따른 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록(300)은 인쇄회로기판(200), 프로브 핀 블록(100)을 포함하여 구성된다.

인쇄회로기판(200)은 도시하지 않았으나 인쇄회로기판(200)에 장착된 커넥터를 통해 외부 신호 발생 장치와 전기적으로 연결되며, 양방향으로 신호를 입출력 한다. 인쇄회로기판(200)은 디스플레이 모듈 검사가 진행될 때, 디스플레이 모듈을 검사하기 위한 동작 신호를 프로브 핀 블록(100)을 통해 디스플레이 모듈의 커넥터에 인가한다.

인쇄회로기판(200)은 도시하지 않았으나 상면과 하면, 그리고 내부에 형성된 회로 접속부인 패드(202)와 전기적으로 연결되는 도전성 회로패턴들이 형성되어 있으며, 내부에는 도전성 회로 패턴들을 연결하는 비아홀 들이 형성되어 있다.

그리고 인쇄회로기판(200)에는 복수의 프로브 핀(10)들을 디스플레이 모듈의 커넥터 단자에 대응 하여 배치하기 위해 프로브 핀(10)들의 하부 팁 부(15)가 접촉되는 패드(202)가 두 열로 위치하고, 그 두 패드(202)열의 위치 중간에 프로브 핀(10)들을 볼 수 있는 인쇄회로기판 관통 홀(201)이 형성된다.

도 2에 도시된 바와 같이, 프로브 핀 블록(100)은 다수의 프로브 핀(10), 프로브 핀(10)을 고정 지지하는 지지축(70), 프로브 핀(10) 사이에서 간격을 유지시키며 절연 시켜주는 스페이서(60), 프로브 핀(10)과 스페이서(60)가 교대로 지지축(70)에 끼워져 구성되는 프로브 핀 뭉치(19), 프로브 핀 뭉치(19)가 들어가 프로브 핀 뭉치(19)의 지지축(70)을 지지축 홈(31)에 끼워 고정 하는 고정 프레임(30), 고정 프레임(30)이 안착되는 수용부(42)를 포함하는 하부 프레임(40), 하부 프레임(40)의 하부프레임(40)에 위치하며 프로브 핀(10)의 하부 팁부(15)를 정렬하는 가이드 슬릿 판(50), 하부 프레임(40)과 결합되며, 프로브 핀(10)의 핀 정렬부(18)를 정렬하는 가이드 소켓 슬릿(23)을 포함하는 가이드 소켓(20)으로 구성된다.

도 3에 도시된 바와 같이 프로브 핀(10)은 지지축 관통 홀(17)이 있는 지지부(11), 지지부(11)의 상부에 연결되며, 지지부(11)에 대해서 일측으로 뻗어 있는 상부 탄성부(12), 상기 탄성부(12)의 끝단에 연결되며, 위로 뻗어 있는 상부 팁지지부(13), 상부 팁지지부(13)의 끝단에서 외측 사선 방향으로 돌출되어 형성된 비젼 정렬 팁부(16), 그리고 상부 팁지지부(13)의 끝단에서 내측 사선으로 돌출되어 형성된 핀 정렬부(18), 지지부(11)의 하부에 연결되며, 지지부(11)에 대해서 일측으로 뻗어 있는 하부 탄성부(14), 하부 탄성부(14)의 끝단에서 아래로 뻗어 내려간 하부 팁 부(15)를 포함한다.

프로브 핀(10)에서 디스플레이 모듈의 커넥터 단자부에 접촉이 되는 탐침부가 비젼 정렬 팁부(16)와 같이 돌출된 형태로 형성되어 비젼(Vision) 장치로 프로브 핀(10)의 탐침인 비젼 정렬 팁부(16)와 디스플레이 모듈의 커넥터 단자부를 정렬할 때 짧은 피사계 심도를 제공하여 동시에 피사체인 두 부분을 보면서 정렬을 용이하게 할 수 있게 한다.

도2에 도시된 바와 같이 프로브 핀(10)의 지지축 관통 홀(17)은 지지축(70)에 끼워지고, 프로브 핀(10)들 사이와 최 외곽에 스페이서(60)가 끼워져 하나의 핀 뭉치(19)로 형성 된다. 핀 뭉치(19)는 고정 프레임(30)의 핀 뭉치 수용부(32)에 위치하여, 두 개의 지지축 홈(31)에 지지축(70)이 끼워져 고정 된다. 핀 뭉치 수용부(32)에는 두 개의 핀 뭉치(19)가 놓여 지는데, 두 개의 핀 뭉치(19)가 끼워지는 지지축 홈(31)사이의 간격은 디스플레이 모듈의 커넥터에 있는 두 열의 단자 위치에 맞추어 프로브 핀(10)의 비젼 정렬 팁부(16)가 배열되는 거리에 의해 계산되어 형성된다, 이후 핀 뭉치(19)를 결합한 고정 프레임(30)은 하부 프레임(40)의 프로브 핀 수용부(42)에 위치하고, 하부 프레임(40)에 나사로 고정 된다. 이때 도 4에 도시된 바와 같이, 인쇄회로기판(200)의 패드(202)와 대응 되는 위치에 형성된 가이드 슬릿 판(50)의 가이드 슬릿(51) 아래로 프로브 핀(10)의 하부 팁 부(15)가 돌출 된다, 이후 프로브 핀 블록(100)이 인쇄회로 기판(200)에 나사로 고정이 되면, 프로브 핀(10)의 하부 팁 부(15)가 하부 탄성부(14)의 탄성력의 힘으로 인쇄회로기판(200)의 패드(202)에 접촉 된다. 또한 상부 탄성부(12)는 하부 탄성부(14)의 길이 보다 길게 형성 되어, 프로브 핀 블록(100)의 관통 홀들을 통해 하부 프레임(40) 쪽에서 비젼 정렬 팁부(16)가 보이게 하여 디스플레이 모듈의 커넥터 단자와 정확한 정렬을 이룰 수 있게 한다.

도 4와 도 5에 도시된 바와 같이, 가이드 소켓(20)은 하부 프레임(40)과 고정 프레임(30) 위에 장착된다. 가이드 소켓(20)에는 디스플레이 모듈의 커넥터가 끼워지는 커넥터 수용부(22)가 형성 되며, 커넥터 수용부(22)는 디스플레이 모듈의 커넥터가 충분히 잘 보일 수 있는 크기로 형성 된다. 커넥터 수용부(22)안에는 디스플레이 모듈 커넥터의 단자 위치 간격에 맞추어 가이드 소켓 슬릿(23)이 형성 되고, 프로브 핀(10)의 핀 정렬부(18)가 가이드 소켓 슬릿(23)에 끼워져 프로브 핀(10)의 비젼 정렬 팁부(16)가 디스플레이 모듈의 커넥터 단자와 같은 간격을 유지 하게 한다. 디스플레이 모듈의 커넥터가 커넥터 수용부(22)에 안착되어 끼워지면 가이드 소켓 슬릿(23)안에 디스플레이 모듈의 커넥터 단자와 같은 간격으로 배치되어 있던 프로브 핀(10)의 비젼 정렬 팁부(16)가 상부 탄성체(12)의 탄성력에 의해 커넥터의 단자에 접촉되어 전기적 신호를 인가 할 수 있게 한다.

도 6과 도 7에 도시된 바와 같이, 가이드 소켓(20)에는 가이드 소켓 관통 홀(21)이 형성 되어 있고, 하부 프레임(40)에는 하부 프레임 관통 홀(41)이 형성 되어 있으며, 또한 하부 프레임(40)에 설치 된 가이드 슬릿 판(50)에도 가이드 슬릿 관통 홀(52)이 형성 되어 있어 도 7에 도시된 바와 같이 하부 프레임(40)쪽에서 프로브 핀(10)의 비젼 정렬 팁부(16)를 볼 수가 있어, 디스플레이 모듈 커넥터의 단자에 비젼 정렬 팁부(16)을 일치 하여 위치시킬 수 있게 한다. 이때 프로브 핀(10)의 상부 탄성부(12)는 하부 탄성부(14)의 길이 보다 길게 형성 되어, 인쇄회로기판 관통 홀(201)과 프로브 핀 블록(100)의 구성품들에 의해 형성된 관통 홀들을 통해 인쇄회로 기판(200) 쪽에서 비젼 정렬 팁부(16)가 보일 수 있다. 여기서 하부 프레임(40)의 형태는 도시 하지는 않았지만 검사용 이송 장치에 적합한 형태로 외형이 확장 되어 형성 할 수 있으며, 인쇄회로기판(200)에 나사로 고정될 수 있다.

[제2 실시예]

한편 제1 실시예에 따른 프로브 핀(10)은 비젼장치로 프로브 핀(10)을 확인하여 디스플레이 모듈의 커넥터 단자에 정렬하기 위해 프로브 핀(10)의 상부 탄성부(12)와 비젼 정렬 팁부(16)가 비젼장치로 확인 가능하게 돌출되고, 인쇄회로기판(200)에서 신호를 전달 받는 하부 팁부(15)와 연결된 하부 탄성부(14)가 지지부(11)의 하부에서 일측으로 상부 탄성부(12)보다 짧게 뻗은 외팔보 형태의 하부 탄성부(14)가 형성된 예를 개시 하였지만 프로브 핀(10)의 하부 탄성부(14)의 형태는 이것에 한정 되는 것은 아니다. 예컨대 도 8에 도시된 바와 같이 하부 탄성부(14)는 지지부(11)의 하부에 연결되어 지그재그 연장된 형태로 하부 탄성부(14)를 형성 할 수도 있다.

도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 프로브 핀(10)을 보여주는 사시도이다.

도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 프로브 블록(300)을 보여주는 분해 사시도이며, 도 10은 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록(300)의 사시도 이다.

도 9 및, 도10을 참조하면, 제 2 실시예에 따른 프로브 핀 블록(100)은 다수의 프로브 핀(10)과, 프로브 핀(10)을 지지하는 지지부(11)가 핀 가이드(80)의 핀 가이드 슬릿(81)에 끼워져 고정되어 구성된 핀 뭉치(19), 디스플레이 모듈의 커넥터에 있는 두 열의 단자 위치에 맞추어 프로브 핀(10)들의 비젼 정렬 팁부(16)가 배열되는 위치에 맞춰 좌 우 한 쌍의 프로브 핀 뭉치(19)가 고정되는 수용부(42)를 포함하는 하부 프레임(40), 하부 프레임(40)의 프레임(40)에 위치하여 프로브 핀(10)의 하부 팁 부(15)를 인쇄회로기판(200)의 패드(202)에서 벗어나지 않게 정렬하는 가이드 슬릿 판(50), 하부 프레임(40)에 고정되며, 프로브 핀(10)의 핀 정렬부(18)를 정렬하는 가이드 소켓 슬릿(23)을 포함하는 가이드 소켓(20)으로 구성된다.

도 11과 도 12에 도시된 바와 같이, 가이드 소켓(20)은 하부 프레임(40) 위에 장착된다. 가이드 소켓(20)에는 디스플레이 모듈의 커넥터가 끼워지는 커넥터 수용부(22)가 형성 되며, 상기 커넥터 수용부(22)는 디스플레이 모듈의 커넥터가 충분히 잘 보일 수 있는 크기로 형성 된다. 커넥터 수용부(22)안에는 디스플레이 모듈 커넥터의 단자 위치 간격에 맞추어 가이드 소켓 슬릿(23)이 형성 되고, 프로브 핀(10)의 핀 정렬부(18)가 가이드 소켓 슬릿(23)에 끼워져 프로브 핀(10)의 비젼 정렬 팁부(16)가 디스플레이 모듈의 커넥터 단자와 같은 간격을 유지 하게 한다. 디스플레이 모듈을 검사하기 위해 디스플레이 모듈의 커넥터가 커넥터 수용부(22)에 안착되어 끼워지면 가이드 소켓 슬릿(23)안에 배치되어 있던 프로브 핀(10)의 비젼 정렬 팁부(16)가 상부 탄성체(12)의 탄성력에 의해 커넥터의 단자에 접촉되어 전기적 신호를 인가 할 수 있게 한다. 가이드 소켓(20)에는 가이드 소켓 관통 홀(21)이 형성 되어 있고, 하부 프레임(40)에는 하부 프레임 관통 홀(41)이 형성 되어 있으며, 또한 하부 프레임(40)에 설치 된 가이드 슬릿 판(50)에도 가이드 슬릿 관통 홀(52)이 형성 되어 있어 도 11에 도시된 바와 같이 하부 프레임(40)쪽에서 프로브 핀(10)의 비젼 정렬 팁부(16)를 볼 수가 있어, 디스플레이 모듈 커넥터의 단자에 비젼 정렬 팁부(16)을 일치 하여 위치시킬 수 있게 한다. 여기서 하부 프레임(40)의 형태는 도시 하지는 않았지만 검사용 이송 장치에 적합한 형태로 외형이 확장 되어 형성 할 수 있으며, 인쇄회로기판(200)에 나사로 고정될 수 있다.

또한 별도로 도시 하지는 않았지만 제2 실시예의 도 8에 도시된 프로브 핀(10)을 사용하여, 프로브 핀 블록(100)의 구성을 제1 실시예의 도 2에 도시된 바와 같이, 다수의 프로브 핀(10), 프로브 핀(10)을 고정 지지하는 지지축(70), 프로브 핀(10) 사이에서 간격을 유지하며 절연 시켜주는 스페이서(60), 프로브 핀(10)과 스페이서(60)가 교대로 지지축(70)끼워져 구성되는 프로브 핀 뭉치(19), 프로브 핀 뭉치(19)가 들어가 프로브 핀 뭉치(19)의 지지축(70)을 지지축 홈(31)에 끼워 고정 하는 고정 프레임(30), 고정 프레임(30)이 안착되는 하부 프레임(40), 하부 프레임(40)의 하부프레임 관통 홀(41)의 내부에 위치하며 프로브 핀(10)의 하부 팁 부(15)를 정렬하는 가이드 슬릿 판(50), 하부 프레임(40)에 고정되며, 프로브 핀(10)의 핀 정렬부(18)를 정렬하는 가이드 소켓 슬릿(23)을 포함하는 가이드 소켓(20)으로 구성된 형태로 형성 될 수 도 있다,

10 : 프로브 핀
11 : 지지부
12 : 상부 탄성부
13 : 상부 팁지지부
14 : 하부 탄성부
15 : 하부 팁 부
16 : 비젼 정렬 팁부
17 : 지지축 관통 홀
18 : 핀 정렬부
19 : 핀 뭉치
20 : 가이드 소켓
21 : 가이드 소켓 관통 홀
22 : 커넥터 수용부
23 : 가이드 소켓 슬릿
30 : 고정 프레임
31 : 지지축 홈
32 : 핀 뭉치 수용부
40 : 하부 프레임
41 : 프레임 관통 홀
42 : 수용부
50 : 가이드 슬릿 판
51 : 가이드 슬릿
52 : 가이드 슬릿 관통 홀
60 : 스페이서
70 : 지지축
80 : 핀 가이드
81 : 핀 가이드 슬릿
100 : 프로브 핀 블록
200 : 인쇄회로기판
201 : 인쇄회로기판 관통 홀
202 : 패드
300 : 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록

Claims

디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록에 있어서,
인쇄회로기판;
프로브 핀 블록, 상기 프로브 핀 블록은
프로브 핀;
상기 프로브 핀을 고정하는 지지축;
상기 프로브 핀들의 간격을 일정하게 하는 스페이서;
상기 프로브 핀과 상기 스페이서가 끼워진 지지축을 고정하는 고정 프레임;
상기 프로브 핀의 하부 팁부의 위치 정렬을 위한 가이드 슬릿 판;
상기 프로브 핀의 핀 정렬부의 정렬을 위한 가이드 소켓;
상기 가이드 소켓과 상기 고정 프레임, 그리고 상기 가이드 슬릿 판과 결합되는 하부 프레임;
으로 구성되는 것을 포함하는 것으로 하는 프로브 블록.
제 1항에 있어서,
상기 인쇄회로기판은
상기 프로브 핀의 비젼 정렬 팁부를 확인 할 수 있는 인쇄회로기판 관통 홀;
을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
제 1항에 있어서,
상기 프로브 핀은
지지축 관통 홀이 있는 지지부, 상기 지지부의 상부에 연결되어 일측으로 뻗어 있는 상부 탄성부; 상기 상부 탄성부의 끝단에 연결되어 위로 뻗어 있는 상부 팁지지부; 상기 상부 팁지지부의 끝단에서 외측 사선으로 돌출되어 형성된 비젼 정렬 팁부; 상기 상부 팁지지부의 측면에서 내측 사선으로 돌출되어 형성된 핀 정렬부;
상기 지지부의 하부의 일측으로 뻗어 있는 하부 탄성부; 상기 하부 탄성부의 끝단에 연결되어 아래로 뻗어 있는 하부 팁부;
를 포함하는 것으로 하는 프로브 블록.
제1항에 있어서,
상기 프로브 핀 블록은
프로브 핀;
상기 프로브 핀을 고정하는 지지축;
상기 프로브 핀들의 간격을 일정하게 하는 스페이서;
로 구성된 프로브 핀 뭉치;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
제 1항에 있어서,
상기 가이드 소켓은
디스플레이 모듈의 커넥터가 삽입되는 커넥터 수용부;
상기 프로브 핀의 핀 정렬부의 위치를 디스플레이 모듈 커넥터 단자부와 같은 간격을 유지하게 하는 가이드 소켓 슬릿;
상기 프로브 핀의 비젼 정렬 팁부를 확인 할 수 있는 가이드 소켓 관통 홀;
을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
제 1항에 있어서,
상기 하부 프레임은
상기 고정 프레임을 수용하기 위한 수용부;
상기 프로브 핀의 비젼 정렬 팁부를 확인 할 수 있는 프레임 관통 홀;
을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
제 1항에 있어서,
상기 가이드 슬릿 판은
상기 프로브 핀의 하부 팁부를 상기 인쇄회로기판의 패드위치에 정렬하는 가이드 슬릿;
상기 프로브 핀의 비젼 정렬 팁부를 확인 할 수 있는 가이드 슬릿 관통 홀;
을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록에 있어서,
인쇄회로기판;
프로브 핀 블록, 상기 프로브 핀 블록은
프로브 핀;
상기 프로브 핀을 고정하는 핀 가이드;
상기 핀 가이드와 가이드 슬릿 판이 장착되는 하부 프레임;
상기 프로브 핀의 하부 팁부의 위치 정렬을 위한 가이드 슬릿 판;
상기 프로브 핀의 상부 팁부의 정렬을 위한 가이드 소켓;
으로 구성되는 것을 포함하는 것으로 하는 프로브 블록.
제 8항에 있어서,
상기 인쇄회로기판은
상기 프로브 핀의 비젼 정렬 팁부를 확인 할 수 있는 인쇄회로기판 관통 홀;
을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
제 8항에 있어서,
상기 프로브 핀은
지지축 관통 홀이 있는 지지부, 상기 지지부의 상부에 연결되어 일측으로 뻗어 있는 상부 탄성부; 상기 상부 탄성부의 끝단으로 연결되어 위로 뻗어 있는 상부 팁지지부; 상기 상부 팁지지부의 끝단에서 외측 사선으로 돌출되어 형성된 비젼 정렬 팁부; 상기 상부 팁지지부의 측면 내측 사선으로 돌출 형성된 핀 정렬부;
상기 지지부의 하부 아래로 지그재그 형태로 연장된 하부 탄성부; 상기 하부 탄성부의 지그재그의 끝단에 연결되어 아래로 뻗어 있는 하부 팁부;
를 포함하는 것으로 하는 프로브 블록.
제8항에 있어서,
상기 프로브 핀 블록은
프로브 핀;
상기 프로브 핀을 고정하고 간격을 일정하게 하는 핀 가이드;
로 구성된 프로브 핀 뭉치;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.
제 8항에 있어서,
상기 하부 프레임은
프로브 핀;
상기 프로브 핀을 고정하고 간격을 일정하게 하는 핀 가이드;
로 구성된 핀 뭉치를 수용하는 수용부;
상기 프로브 핀의 비젼 정렬 팁부를 확인 할 수 있는 프레임 관통 홀;
을 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 블록.