KR101999521B1 - 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓 - Google Patents

Abstract

본 발명은 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피 검사체의 단자와 접촉하여 검사장치와 회로 연결을 위한 소켓의 프로브 핀 사이거리를 축소시키면서, 단자와의 접촉불량이나, 판상의 프로브가 단자와의 접촉에 의해 휘어지거나, 파손되는 것을 방지하기 위한 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓에 관한 것이다.
또한, 피 검사체의 단자와 접촉하여 검사장치와 회로 연결되기 위한 소켓에 있어서, 단자와의 다중 접촉이 가능하도록 복수 개의 접촉면을 가지는 복수 개의 프로브 핀과 상기 프로브 핀이 수직하게 배치되는 하우징과 상기 하우징의 단자가 결합되는 단자 삽입홈로 돌출된 각 프로브 핀 사이에 배치되어 프로브 핀의 파손을 방지하기 위한 몰드부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓{pin breakage prevention type multi contact socket}

본 발명은 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피 검사체의 단자와 접촉하여 검사장치와 회로 연결을 위한 소켓의 프로브 핀 사이거리를 축소시키면서, 단자와의 접촉불량이나, 판상의 프로브가 단자와의 접촉에 의해 휘어지거나, 파손되는 것을 방지하기 위한 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓에 관한 것이다.

일반적으로 전자기기에 구성되는 회로기판은 많은 전자부품들이 배치되어 있으며, 많은 전자 부품의 설치되는 과정에서 발생하는 불량은 회로기판을 전기적으로 연결하여 회로를 구성한 후 전기적 신호를 통해 불량여부를 판단하게 된다.

또한, 전자기기의 회로기판뿐만 아니라, 제조과정에서의 개별적인 부품의 불량 여부를 검사할 수도 있다.

예를 들면, 완성된 무선통신 단말기의 회로기판뿐만 아니라, 무선통신 단말기를 구성하는 디스플레이, 카메라모듈 등 개별적인 각 부품별로 제조과정에서 검사를 수행하게 된다.

즉, 완성된 형태뿐만 아니라, 제조과정 중에 각 부품별로 지속적인 검사를 수행하게 되는 것이다.

이와 같은 회로기판 및 부품은 회로연결을 위한 각 단자가 배치되어 검사장치의 소켓이 결합될 수 있도록 구성되어 있으며, 최근 전자기기의 박판화 및 경량화로 인하여 단자크기도 크게 축소되고 있다.

반면, 종래의 원통형태의 프로브 핀은 핀 자체 크기를 축소시키거나, 프로브 핀 사이 간격을 축소시키기 어려운 문제점이 있었다.

이에 따라, 얇은 판형태의 프로브 핀을 이용한 소켓이 개발되었으나, 하나의 소켓을 이용하여 복수 개의 회로기판 및 부품을 반복적으로 검사하는 과정에서 검사 소켓의 얇은 판형태의 프로브 핀이 쉽게 휘어지거나, 파손되는 문제점이 있었다.

이에 따라, 한국등록특허 제10-0999864호 "이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록"과 같이 손상된 판상의 프로브를 쉽게 교체할 수 있는 방법이 개발되었으나, 프로브 핀을 교체한 후 폐기함에 따라, 교체 소모되는 비용이 과도하게 발생되는 문제점이 있었다.

즉, 프로브의 손상 자체를 방지하지는 못하는 문제점이 있었다.

또한, 원통 형태의 프로브 핀보다 접촉점이 극히 얇아진 판형태의 프로르핀은 피검사체의 단자와 결합시 접촉불량이 자주 발생되는 문제점이 있었다.

이에 따라, 판상의 프로브를 이용할 때, 발생될 수 있는 프로브의 휘어짐이나, 파손을 방지하고, 접촉불량을 해결하기 위한 기술 개발의 필요성이 제기되고 있다.

한국등록특허 제10-0999864호 "이종 액정디스플레이패널 검사용 프로브블록"

본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 판형태의 프로브 핀이 피검사체의 단자에 결합되는 과정에서 휘거나, 파손되는 것을 방지하기 위한 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓을 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 판형태의 프로브 핀이 피검사체의 단자에 결합될 때, 접촉불량이 발생되는 것을 방지하기 위한 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓을 제공하는 것이다.

상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓은 피 검사체의 단자와 접촉하여 검사장치와 회로 연결되기 위한 소켓에 있어서, 단자와의 다중 접촉이 가능하도록 복수 개의 접촉면을 가지는 복수 개의 프로브 핀과 상기 프로브 핀이 수직하게 배치되는 하우징과 상기 하우징의 단자가 결합되는 단자 삽입홈로 돌출된 각 프로브 핀 사이에 배치되어 프로브 핀의 파손을 방지하기 위한 몰드부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 프로브 핀은 단자의 커넥터 핀 상면에 접촉하는 제1 접촉면이 하단에 형성된 제1 접촉단과 단자의 커넥터 핀 외측면에 접촉하는 제2 접촉면이 내측으로 형성된 제2 접촉단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 프로브 핀은 단자의 커넥터 핀 내측면에 다중 접촉하도록 제1 접촉면과 제2 접촉면이 양측에 형성된 접촉단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 프로브 핀은 단자의 커넥터 핀에 접촉하는 접촉면이 일측으로 형성된 제1 접촉단과 단자의 커넥터 핀에 접촉하는 접촉면이 타측으로 형성된 제2 접촉단을 포함하며, 상기 제1 접촉단과 제2 접촉단은 각 접촉면이 마주하도록 배치되어 하나의 커넥터 핀 양측에 각각 접촉되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 몰드부는 단자의 커넥터 핀 외측면을 감싸주도록 제2 접촉단의 형상과 대응되는 형태로 돌출된 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 몰드부는 단자의 커넥터 핀 내측으로 소정의 깊이만큼 요입되도록 양측으로 접촉면이 형성된 접촉단의 단부 형상과 대응되는 형태로 돌출된 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 몰드부는 단자의 커넥터 핀 양측을 감싸주도록 내측으로 각 접촉면이 마주도록 배치된 제1 접촉단과 제2 접촉단의 단부 형상과 대응되는 형태로 돌출된 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 프로브 핀은 복수 개의 접촉면이 형성된 접촉단과 상기 접촉단이 단부에 배치되는 제1 몸체와 상기 제1 몸체에 탄성을 부여하기 위한 탄성부와 상기 탄성부를 통해 연장되어 검사장치에 회로 연결되는 제2 몸체를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 하우징의 상부에 피 검사체의 단자가 안착되고, 상기 단자의 상부에 밀착되는 정렬부와 상기 정렬부를 통해 피 검사체의 단자를 상부에서 가압하여 프로브 핀이 내장된 하우징에 접촉시켜주는 가압부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 피 검사체의 단자가 안착되는 정렬부와 상기 정렬부에 안착된 단자의 상부에서 프로브 핀이 내장된 하우징을 가압하여 피 검사체의 단자에 접촉시켜주는 가압부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓에 의하면, 판형태의 프로브 핀 사이에 돌출되어 프로브 핀을 지지하는 몰드부에 의해 피검사체의 단자에 결합되는 과정에서 프로브 핀이 휘거나, 파손되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.

또한, 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓에 의하면, 피검사체의 단자에 결합되는 프로브 핀이 다중 접촉이 가능하도록 복수 개의 접촉면을 가지도록 구성되어 접촉불량이 발생되는 것을 효과적으로 방지할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓을 도시한 도면.
도 2는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓을 분해도시한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제1 실시예를 확대도시한 도면.
도 4는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제2 실시예를 확대도시한 도면.
도 5는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제3 실시예를 분해도시한 도면.
도 6은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제3 실시예를 확대도시한 도면.
도 7 내지 도 9는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 접촉단과 커넥터 핀의 접촉을 도시한 도면.
도 10은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 탑 고정 방식을 도시한 도면.
도 11은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 바텀 고정 방식을 도시한 도면.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 1은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓을 도시한 도면이며, 도 2는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓을 분해도시한 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제1 실시예를 확대도시한 도면이며, 도 4는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제2 실시예를 확대도시한 도면이고, 도 5는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제3 실시예를 분해도시한 도면이며, 도 6은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제3 실시예를 확대도시한 도면이고, 도 7 내지 도 9는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 접촉단과 커넥터 핀의 접촉을 도시한 도면이며, 도 10은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 탑 고정 방식을 도시한 도면이고, 도 11은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 바텀 고정 방식을 도시한 도면이다.

도 1은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓을 도시한 것이며, 피 검사체의 단자와 접촉하여 검사장치와 회로 연결되기 위한 소켓(100)에 있어서, 단자와의 다중 접촉이 가능하도록 복수 개의 접촉면을 가지는 복수 개의 프로브 핀(1)과 상기 프로브 핀(1)이 수직하게 배치되는 하우징(4)과 상기 하우징(4)의 단자가 결합되는 단자 삽입홈(3)로 돌출된 각 프로브 핀(1) 사이에 배치되어 프로브 핀(1)의 파손을 방지하기 위한 몰드부(2)를 포함하여 구성된다.

또한, 도 1에서는 상기 단자 삽입홈(3)이 상부를 향하도록 도시되어 있으나, 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓(100)이 피검사체의 하부에서 검사할 때와 피 검사체의 상부에서 검사할 때, 상,하부 방향은 바뀔 수 있으며, 하기 아래 도 10과 도 11에서 보다 상세하게 설명한다.

또한, 상기 하우징(4)은 상기 단자 삽입홈(3)이 형성된 플로팅 플레이트(41)와 바텀 플레이트(42)로 구성될 수도 있다.

보다 상세하게는, 도 2에 도시된 바와 같이 상기 플로팅 플레이트(41)에는 복수 개의 슬롯(5)이 형성되어 있으며, 상기 슬롯(5)에는 판상의 프로브 핀(1)이 삽입되어 배치된다.

또한, 상기 플로팅 플레이트(41)에 배치된 프로프 핀(1)이 이탈하지 않도록 바텀 플레이트(42)를 덮어 고정시키게 되며, 상기 바텀 플레이트(42)에는 상기 프로브 핀(1)의 단부가 노출되거나, 관통하여 검사장치와 회로연결된다.

또한, 상기 프로브 핀(1)은 복수 개의 접촉면이 형성된 접촉단(10)과 상기 접촉단(10)이 단부에 배치되는 제1 몸체(31)와 상기 제1 몸체(31)에 탄성을 부여하기 위한 탄성부(32)와 상기 탄성부(32)를 통해 연장되어 검사장치에 회로 연결되는 제2 몸체(33)를 포함하여 구성된다.

상기 접촉단(10)의 형상 및 접촉면이 배치되는 위치 등은 접속할 피검사체의 단자 형상에 따라 달라질 수 있다.

예를 들면, 도 3 또는 도 7에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제1 실시예에 따르면, 상기 단자 삽입홈(3)으로 돌출된 프로브 핀(1) 형상에 맞춰 상기 몰드부(2)는 단자의 커넥터 핀 내측으로 소정의 깊이만큼 요입되도록 양측으로 접촉면이 형성된 접촉단의 단부 형상과 대응되는 형태로 돌출되도록 구성될 수 있는 것이다.

또 다른 예를 들면, 도 4 또는 도 8에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제2 실시예에 따르면, 상기 단자 삽입홈(3)으로 돌출된 프로브 핀(1) 형상에 맞춰 상기 몰드부(2)는 단자의 커넥터 핀 외측면을 감싸주도록 제1 접촉단(11) 보다 더 돌출된 제2 접촉단(12)의 형상과 대응되는 형태로 돌출되도록 구성될 수도 있다

즉, 상기 몰드부(2)는 단자 삽입홈(3)으로 돌출된 프로브 핀(1)의 형상에 맞춰 대응되는 형태로 구성되어, 상기 프로브 핀(1)의 측면을 지지하여 프로브 핀(1)이 체결과정에서 휘어지거나, 파손되는 것을 방지하게 된다.

도 5 또는 도 6은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 제3 실시예를 분해도시한 것이며, 상기 하우징(4)은 단자가 체결되는 플로팅 플레이트(41)에 복수 개의 프로브 핀이 배치된 핀 하우징(43)이 삽입되어 내부에 배치되고, 바텀 플레이트(42)가 핀 하우징(43)을 덮어주도록 구성될 수도 있다.

즉, 상기 플로팅 플레이트(41)에 직접적으로 프로브 핀이 결합되지 않고 복수 개의 프로브 핀이 배열되어 있는 별도의 핀 하우징(43)을 삽입시켜 사용할 수도 있는 것이며, 이를 통해 보다 쉽고 빠르게 프로브 핀을 교체하거나, 프로브 핀의 배열을 달리구성할 수 있다.

이때, 상기 핀 하우징(43)의 단부 형태는 상기 위에서 설명한 다양한 프로브 핀(1)의 단부 접촉단 형태에 맞춰 다양한 형태의 몰드부가 배치될 수 있다.

도 7 내지 도 9는 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 접촉단과 커넥터 핀의 접촉을 도시한 것이며, 상기 프로브 핀(1)은 도 7에 도시된 바와 같이 단자의 커넥터 핀(102) 내측면에 양측에 다중 접촉하도록 제1 접촉면(21)과 제2 접촉면(22)이 양측에 마주하도록 형성된 접촉단(10)을 포함하여 구성될 수 있다.

또는, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 프로브 핀(1)은 단자의 커넥터 핀(102) 상면에 접촉하는 제1 접촉면(21)이 하단에 형성된 제1 접촉단(11)과 단자의 커넥터 핀(102) 외측면에 접촉하는 제2 접촉면(22)이 내측으로 형성된 제2 접촉단(12)을 포함하여 구성될 수도 있다.

또는, 상기 프로브 핀(1)은 단자의 커넥터 핀(102)에 접촉하는 접촉면(21)이 일측으로 형성된 제1 접촉단(11)과 단자의 커넥터 핀(102)에 접촉하는 접촉면(22)이 타측으로 형성된 제2 접촉단(12)을 포함하며, 상기 제1 접촉단(11)과 제2 접촉단(12)은 각 접촉면(21, 22)이 마주하도록 배치되어 하나의 커넥터 핀(102) 양측에 각각 접촉되도록 구성될 수도 있다.

도 10은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 탑 고정 방식을 도시한 것이며, 복수 개의 프로브 핀(1)이 배열된 하우징(4)의 상부에 피 검사체의 단자(101)가 안착되어 검사를 실시하도록 구성될 수 있다.

이때, 상기 단자(101)가 안착되어 검사를 진행할 때, 단자(101)의 들뜸을 방지하기 위해 상부에서 가압부(51)가 단자(101)를 하향으로 가압해주도록 구성될 수 있다.

특히, 상기 가압부(51)가 단자(101)를 가압할 때, 상기 단자(101)를 정확하게 수평한 상태로 접촉하지 않더라도 단자(101)의 파손이나, 접촉 불량이 발생되지 않도록 수평 방향 또는 수직 방향 또는 수평 및 수직 방향으로 유격을 가지는 정렬부(50)를 통해 단자(101)를 가압하여 프로브 핀이 내장된 하우징(4)에 접촉시켜주도록 구성됨이 바람직하다.

또한, 상기 가압부(51)와 정렬부(50) 사이에 상기 정렬부(50)를 탄성지지하기 위한 별도의 탄성체를 더 포함하도록 구성될 수도 있다.

도 11은 본 발명에 따른 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓의 바텀 고정 방식을 도시한 것이며, 복수 개의 프로브 핀(1)이 배열된 하우징(4)의 하부에 피 검사체의 단자(101)가 별도의 지지부(52)에 안착되어 검사를 실시하도록 구성될 수도 있다.

이때, 상기 단자(101)에 가압부(51)에 의해 하강하는 프로브 핀(12)이 내장된 하우징(4)이 접촉할 때, 단자(101)와의 유격이나, 들뜸에 의한 접촉 불량을 방지하기 위해 상기 단자(101)가 수평 방향 또는 수직 방향 또는 수평 및 수직 방향으로 유격을 가지는 정렬부(50)를 통해 안착되도록 구성되어 가압부(51)가 정렬부(50)에 안착된 단자(101)의 상부에서 프로브 핀이 내장된 하우징(4)을 가압하여 피 검사체의 단자(100)에 접촉시키게 된다.

또한, 상기 지지부(52)와 정렬부(50) 사이에 상기 정렬부(50)를 탄성지지하기 위한 별도의 탄성체를 더 포함하도록 구성될 수도 있다.

이상과 같이 본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 중심으로 기술되었지만 당업자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 범주를 벗어남이 없이 많은 다양한 자명한 변형이 가능하다는 것은 명백하다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형의 예들을 포함하도록 기술된 청구범위에 의해서 해석되어져야 한다.

1 : 프로브 핀
2 : 몰드부
3 : 단자 삽입홈
4 : 하우징
10 : 접촉단
11 : 제1 접촉단
12 : 제2 접촉단
20 : 접촉면
21 : 제1 접촉면
22 : 제2 접촉면
31 : 제1 몸체
32 : 탄성부
33 : 제2 몸체
41 : 플로팅 플레이트
42 : 바텀 플레이트
50 : 정렬부
51 : 승강부
22 : 지지부
100 : 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓
101 : 단자
102 : 커넥터 핀

Claims (10)

1. 피 검사체의 단자와 접촉하여 검사장치와 회로 연결되기 위한 소켓에 있어서,
   단자와의 다중 접촉이 가능하도록 복수 개의 접촉면을 가지는 복수 개의 프로브 핀과;
   상기 프로브 핀이 수직하게 배치되는 하우징과;
   상기 하우징의 단자가 결합되는 단자 삽입홈로 돌출된 각 프로브 핀 사이에 배치되어 프로브 핀의 파손을 방지하기 위한 몰드부를 포함하며,
   상기 프로브 핀은
   단자의 커넥터 핀 상면에 접촉하는 제1 접촉면이 하단에 형성된 제1 접촉단과;
   단자의 커넥터 핀 외측면에 접촉하는 제2 접촉면이 내측으로 형성된 제2 접촉단을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는
   핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓.
   
2. 피 검사체의 단자와 접촉하여 검사장치와 회로 연결되기 위한 소켓에 있어서,
   단자와의 다중 접촉이 가능하도록 복수 개의 접촉면을 가지는 복수 개의 프로브 핀과;
   상기 프로브 핀이 수직하게 배치되는 하우징과;
   상기 하우징의 단자가 결합되는 단자 삽입홈로 돌출된 각 프로브 핀 사이에 배치되어 프로브 핀의 파손을 방지하기 위한 몰드부를 포함하며,
   상기 프로브 핀은 단자의 커넥터 핀 내측면에 다중 접촉하도록 제1 접촉면과 제2 접촉면이 양측에 형성된 접촉단을 포함하여 구성되고,
   상기 몰드부는 단자의 커넥터 핀 내측으로 소정의 깊이만큼 요입되도록 양측으로 접촉면이 형성된 접촉단의 단부 형상과 대응되는 형태로 돌출된 것을 특징으로 하는
   핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓.
   
3. 피 검사체의 단자와 접촉하여 검사장치와 회로 연결되기 위한 소켓에 있어서,
   단자와의 다중 접촉이 가능하도록 복수 개의 접촉면을 가지는 복수 개의 프로브 핀과;
   상기 프로브 핀이 수직하게 배치되는 하우징과;
   상기 하우징의 단자가 결합되는 단자 삽입홈로 돌출된 각 프로브 핀 사이에 배치되어 프로브 핀의 파손을 방지하기 위한 몰드부를 포함하며,
   상기 프로브 핀은
   단자의 커넥터 핀에 접촉하는 접촉면이 일측으로 형성된 제1 접촉단과;
   단자의 커넥터 핀에 접촉하는 접촉면이 타측으로 형성된 제2 접촉단을 포함하며,
   상기 제1 접촉단과 제2 접촉단은 각 접촉면이 마주하도록 배치되어 하나의 커넥터 핀 양측에 각각 접촉되고,
   상기 몰드부는 단자의 커넥터 핀 양측을 감싸주도록 내측으로 각 접촉면이 마주도록 배치된 제1 접촉단과 제2 접촉단의 단부 형상과 대응되는 형태로 돌출된 것을 특징으로 하는
   핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓.
   
4. 제 1항에 있어서
   상기 몰드부는
   단자의 커넥터 핀 외측면을 감싸주도록 제2 접촉단의 형상과 대응되는 형태로 돌출된 것을 특징으로 하는
   핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓.
   
5. 제 1항 내지 제 3항 중 적어도 어느 하나의 항에 있어서,
   상기 프로브 핀은
   복수 개의 접촉면이 형성된 접촉단과;
   상기 접촉단이 단부에 배치되는 제1 몸체와;
   상기 제1 몸체에 탄성을 부여하기 위한 탄성부와;
   상기 탄성부를 통해 연장되어 검사장치에 회로 연결되는 제2 몸체를 포함하는 것을 특징으로 하는
   핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓.
   
6. 제 1항 내지 제 3항 중 적어도 어느 하나의 항에 있어서,
   상기 하우징의 상부에 피 검사체의 단자가 안착되고,
   상기 단자의 상부에 밀착되는 정렬부와;
   상기 정렬부를 통해 피 검사체의 단자를 상부에서 가압하여 프로브 핀이 내장된 하우징에 접촉시켜주는 가압부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
   핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓.
   
7. 제 1항 내지 제 3항 중 적어도 어느 하나의 항에 있어서,
   피 검사체의 단자가 안착되는 정렬부와;
   상기 정렬부에 안착된 단자의 상부에서 프로브 핀이 내장된 하우징을 가압하여 피 검사체의 단자에 접촉시켜주는 가압부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
   핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓.
   
8. 삭제
9. 삭제
10. 삭제

Images