KR200352421Y1 - 엘시디 검사용 프로브 블록 - Google Patents

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KR200352421Y1
KR200352421Y1 KR20-2004-0005290U KR20040005290U KR200352421Y1 KR 200352421 Y1 KR200352421 Y1 KR 200352421Y1 KR 20040005290 U KR20040005290 U KR 20040005290U KR 200352421 Y1 KR200352421 Y1 KR 200352421Y1
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block
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lcd
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KR20-2004-0005290U
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조준수
남철원
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Abstract

본 고안은 엘시디 검사용 프로브 블록에 관한 것으로서,
테스트 장비에 부착되는 블록바디(10)와; 상기 블록바디(10)의 저면 일측에 결합되는 회로기판(20)과; 상기 블록바디(10)의 저면 타측에 결합되는 헤드베이스블록(30)과; 상기 헤드베이스블록(30)의 저면에 결합하는 동시에 일단이 상기 회로기판(20)과 접하는 프로브 가이드필름(40)과; 상기 프로브 가이드필름(40)의 저면에 위치하고 일단이 회로기판(20)에 접촉하는 프로브(50)와; 상기 프로브 가이드필름(40)과 프로브(50)의 사이에 삽입되는 프로브헤드(60)와; 상기 프로브(50)의 하부에 결합하는 프로브로드(70)와; 상기 블록바디(10)의 양측면에 결합하는 사이드커버(80)를 포함하여 이루어진다.
따라서 본 고안은, 종래의 각각의 블록에 설치되는 프로브와 회로기판를 하나의 바디블록 상에 설치가능케함으로써 구조를 단순화하고 제작비용을 절감해주는 효과가 있다.
또한, 종래의 니들형태의 긴 프로브를 대체하여 얇은 도전성 시트를 사용함으로써 프로브 블록의 전장폭을 대폭 감소시켜주는 효과가 있다.

Description

엘시디 검사용 프로브 블록{PROBE BLOCK FOR TESTING LCD}
본 고안은 엘시디 검사용 프로브 블록에 관한 것으로서, 보다 세부적으로 말하자면 종래의 각각의 블록(BLOCK)에 설치되는 프로브(PROBE)와 회로기판을 하나의 블록상에 설치가능케함으로써 구조를 단순화해주는 엘시디 검사용 프로브 블록에 관한 것이다.
일반적으로 소형 텔레비전이나 노트북 컴퓨터와 같은 영상 표시장치에 주로 사용되는 LCD(액정표시장치)에는 가장자리 부분에 다양한 전기적 신호(영상신호, 동기신호, 색상신호 등)가 인가되도록 하는 수 십내지 수 백개의 접속 단자가 고밀도로 배치되어 있다.
이러한 LCD는 제품에 장착되기 전에 우선 시험신호를 인가하여 화면의 불량여부를 검사 및 시험하는 출화검사(出畵檢査)를 거치게 된다.
이렇게 LCD의 전기적 특성을 검사하기 위한 장치로서 구비되는 것이 프로브 블록이며, 도 1 내지 도 3은 종래에 주로 사용되고 있는 엘시디용 프로브 블록을도시한 것이다.
종래 사용되던 LCD용 프로브 블록은, 도 1 내지 도 3을 참조하면, 크게 어셈블리홀더(10')와; 이 어셈블리홀더(10')의 저면 일측에 체결되는 기판홀더(20')와; 상기 기판홀더(20')과 대응되는 타측에 체결되는 프로브홀더(30')와; 상기 기판홀더(20')의 저면에 부착되는 회로기판(40')과; 상기 회로기판(40')측 회로 패턴과 LCD측 회로 패턴간을 전기적으로 연결되도록 프로브홀더(30')의 저면에 부착되는 다수의 프로브(50')를 포함하여 이루어진다.
이와 같은 구성에서 회로기판(40')의 프로브홀더(30')측 끝단부에는 판면에 가이드 홀(63)이 천공되어 있는 가이드필름(60')이 부착되도록 하고 있다.
그리고 프로브홀더(30')는 저면을 기판홀더(20')측 단부측으로 상향 경사지게 형성하고, 이 경사면에는 다수의 프로브(50')가 에폭시 수지(70')에 의해 접합되도록 하고 있다.
프로브홀더(30')에 구비되는 프로브(50')는 일단부가 하향 절곡되므로서 LCD의 패턴과 접촉되는 접속단부(51')를 이루고, 타단부는 기판홀더(20')측으로 상향 연장되면서 그 끝단부가 상향 절곡되게 하여 가이드필름(60')에 천공된 가이드홀(63')내의 회로기판(40')에 인쇄된 패턴과 접속이 이루어지도록 하고 있다.
따라서 회로기판(40')의 인쇄된 회로를 통해 가이드필름(60')측으로 전기적 신호가 전달되면 가이드필름(60')의 가이드홀(63')에서 회로기판(40')의 패턴과 접속된 상태인 프로브(50')의 일단과 LCD의 패턴에 접속되어 있는 타단의접속단부(51')를 통해 전기적 신호가 전달되면서 LCD의 전기적 특성 검사를 수행하게 된다.
하지만 종래의 엘씨디용 프로브 블록은 프로브가 장착되는 프로브홀더(30')와 이에 연결되는 회로기판(40')가 장착되는 기판홀더(20')이 분리되어 있어 이를 동시에 고정해주는 어셈블리홀더(10')이 필요하여 구조가 복잡해지는 문제점이 있다.
이 고안의 목적은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 종래의 각각의 블록에 설치되는 프로브와 회로기판를 하나의 블록상에 설치가능케함으로써 구조를 단순화해주는 엘시디 검사용 프로브 블록을 제공하는데 있다.
도 1은 종래의 엘시디 검사용 프로브 블록의 사시도이다.
도 2는 종래의 엘시디 검사용 프로브 블록의 분해사시도이다.
도 3은 종래의 엘시디 검사용 프로브 블록의 단면도이다.
도 4는 본 고안의 일 실시예에 따른 엘시디 검사용 프로브 블록의 사시도이다.
도 5는 본 고안의 일 실시예에 따른 엘시디 검사용 프로브 블록의 분해사시도이다.
도 6은 본 고안의 일 실시예에 따른 엘시디 검사용 프로브 블록의 단면도이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
10 : 블록바디 11 : 결합홈
20 : 회로기판 30 : 헤드베이스블록
40 : 프로브 가이드필름 41 : 제2가이드홀
50 : 프로브 51 : 기판접속단부
53 : 접속단부 55 : 삽입부
57 : 눌림부 60 : 프로브헤드
61 : 가이드 70 : 프로브로드
80 : 사이드커버 90 : 가이드필름
91 : 제1가이드홀
이하, 이 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이 고안을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 이 고안의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조로 하여 상세히 설명하기로 한다. 이 고안의 목적, 작용, 효과를 포함하여 기타 다른 목적들, 특징점들, 그리고 동작상의 이점들이 바람직한 실시예의 설명에 의해 보다 명확해질 것이다.
참고로, 여기에서 개시되는 실시예는 여러가지 실시가능한 예중에서 당업자의 이해를 돕기 위하여 가장 바람직한 실시예를 선정하여 제시한 것일 뿐, 이 고안의 기술적 사상이 반드시 이 실시예에만 의해서 한정되거나 제한되는 것은 아니고, 본 고안의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 다양한 변화와 부가 및 변경이 가능함은 물론, 균등한 타의 실시예가 가능함을 밝혀 둔다.
이 고안의 일 실시예에 따른 엘시디용 프로브 블록의 구성은, 도 3 내지 도 6에 도시되어 있는 바와 같이, 테스트 장비에 부착되는 블록바디(10)와; 상기 블록바디(10)의 저면 일측에 결합되어 테스트 장비로부터 전기적 신호를 받는 회로기판(20)과; 상기 블록바디(10)의 저면 타측에 결합되는 헤드베이스블록(HEAD BASE BLOCK)(30)과; 상기 헤드베이스블록(30)의 저면에 결합하는 동시에 일단이 상기 회로기판(20)과 접하는 프로브가이드필름(PROBE GUIDE FILM)(40)과; 상기 프로브가이드필름(40)의 저면에 위치하고 일단이 회로기판(20)에 접촉하여 테스트 장비의 전기적 신호를 LCD패널에 전달해주는 프로브(50)와; 상기 프로브가이드필름(40)과 프로브(50)의 사이에 삽입되어 상기 프로브간의 간격을 일정하게 유지시켜주는 프로브헤드(PROBE HEAD)(60)와; 상기 프로브(50)의 하부에 결합하여 상기 프로브(50)의 상부 일단이 상기 회로기판(20)에서 떨어지지 않도록 지지 및 고정해주는 프로브로드(PROBE ROD)(70)와; 상기 블록바디(10)의 양측면에 결합하여 상기 프로브로드(70)가 상기 프로브(50)를 상부로 밀착 및 고정시키는 사이드커버(80)를 포함하여 이루어진다.
상기 블록바디(10)는 절연 재질로서 구비되며, 저면의 일단에는 헤드베이스블록(30)의 결합되는 소정크기의 결합홈(11)이 형성되어 있다.
상기 회로기판(20)은 IC 회로로서, 외부검사장치의 테스트 신호를 받아서 신호 변경을 하여 LCD 패널에 보내준다. 또한 그 하부 일측에 상기 프로브(50)의 일단이 회로기판(20)에 접촉시 빠지지 않도록 고정시켜주는 수개의 제1가이드홀(91)이 형성된 가이드 필름(90)이 부착되는 것이 바람직하다.
상기 헤드베이스블록(30)은 절연 재질로서 구비되며, 상기 블록바디(10)에 결합시 상기 헤드베이스블록(30)의 밑면이 블록바디(10)의 밑면보다 소정높이 돌출된다. 이때 헤드베이스블록(30)의 돌출높이는 블록바디(10)의 밑면에 회로기판(20)이 부착된 후의 높이와 동일하도록 하는 것이 바람직하다.
상기 프로브 가이드필름(40)은 절연 재질로 구비되며, 헤드베이스블록(30)의 저면을 덮고 타측이 일부분이 블록바디(10)의 저면에 부착된 회로기판(20)의 일부분을 덮는다. 또한 상기 프로브 가이드필름(40)이 회로기판(20)에 부착되는 부분에는 프로브(50)의 일단이 삽입되는 제2가이드홀(41)이 일정간격으로 형성되어 있고 그 개수는 상기 가이드 필름(90)의 제1가이드홀(91)과 동일한 개수인 것이 바람직하다.
상기 프로브(50)는 얇은 도전성 금속판으로 구비되며, 한개의 단을 가지는 층계형으로 상부 일단은 상향 절곡되어 회로기판의 접촉되는 소정높이 돌출된 기판접속단부(51)가 형성되고 그 반대단에는 하향 절곡되어 LCD 패턴에 접촉되는 접속단부(53)가 형성된다. 또한 상기 접속단부(53)에서 상부로 연장된후 수평으로 절곡된 삽입부(55)가 형성되고 이 삽입부(55)는 상기 프로브헤드(60)의 가이드(61)에 삽입되어 프로브(50)간의 간격을 유지 및 고정해준다. 또한 상기 기판접속단부(53)에서 하부로 연장된후 수평으로 절곡된 눌림부(57)가 형성된다.
상기 프로브헤드(PROBE HEAD)(60)는 절연 재질로 구비되며, 프로브 가이드필름(40)의 일측 하부에 부착되는 동시에 그 저면에는 수개의 슬릿(SLIT)형태의 가이드(61)가 일정간격으로 형성되어 상기 프로브(50)를 일정간격으로 정렬 및 고정해준다.
상기 프로브로드(PROBE ROD)(70)는 절연 재질의 소정길이를 가지는 막대로, 상기 프로브(50)가 가이드필름(40)에 삽입시 하부로 빠지지않도록 프로브(50)의 눌림부(57)를 걸친 상태로 위로 올려 고정시켜준다.
상기 사이드커버(80)는 소정넓이의 판 형태로, 상기 헤드베이스블록(30)의 양측면에서 결합되어 상기 헤드베이스블록(30) 및 프로브로드(70)를 일체로 고정시켜준다.
상기한 구성에 따른 본 고안의 조립과 작용에 대해서 설명하면 다음과 같다.
본 고안은 우선 블록바디(10)의 저면의 일측에는 가이드필름(90)이 구비된 회로기판(20)이 부착되고 반대측의 결합홈(11)에는 헤드베이스블록(30)이 삽입되어 나사에 의해 결합 고정된다. 이때 회로기판(20)은 상기 가이드필름(90)이 구비된 측이 헤드베이스블록(30)측으로 위치하고, 상기 회로기판(20)에 부착된 가이드필름(90)의 높이와 헤드베이스블록(30)의 높이는 거의 같아진다.
이어서, 동일한 높이로 형성된 헤드베이스블록(30)과 가이드필름(90)의 하부의 양측에 걸쳐 프로브 가이드필름(40)이 부착된다. 이때 제2가이드홀(41)은 상기 가이드필름(90)의 제1가이드홀(91)과 일치하도록 한다.
이어서, 상기 프로브 가이드필름(40)의 하부 외측에 프로브헤드(60)를 결합시킨다. 이때 상기 프로브헤드(60)의 가이드(61)가 형성된 면을 아래를 향하게 한다.
이어서, 상기 프로브(50)의 기판접속단부(51)는 상기 프로브 가이드필름(40)의 제2가이드홀(41)에 삽입되고, 삽입부(55)가 상기 프로브헤드(60)에 형성된 가이드(61)에 삽입된다.
이와같은 상기 과정에서 프로브(50)는 각 프로브(50)간 일정한 간격을 유지되어 고정이 가능해지기때문에 물리적, 전기적으로 단절된 상태를 유지할 수 있게 된다.
이어서, 상기 프로브(50)의 눌림부(57)를 프로브로드(70)가 받치게 되고 그 양측에 사이드커버(80)가 결합된다. 이때 결합된 사이드커버(80)는 상기 헤드베이스블록(30)의 측면과 나사결합되어 상기 프로브로드(70)를 고정해준다.
즉, 상기 프로브(50)는 기판접속단부(51)가 제2가이드홀(41)에 삽입 고정되어 상기 회로기판(20)과 전기적으로 연결되고 프로브(50)의 하부를 프로브로드(70)가 받쳐주어 제2가이드홀(41)에서 기판접속단부(51)가 빠지지않게 지지해준다.
또한, 상기 프로브로드(70)가 하부에서 받쳐주기때문에 상기 프로브로드(70)의 삽입부는 프로브헤드(60)의 가이드(61)에 삽입된 상태로 고정이 가능하게 된다.
이어서 사용자는 상기 과정에서 완성된 블록바디 일체를 테스트 장비에 장착하고 테스트 신호를 입력시켜 상기 프로브(50)의 접속단부(53)에 접촉되는 LCD 패널의 양부를 검사한다.
이상의 일 실시예에서 살펴 본 바와 같이 이 고안은, 종래의 각각의 블록에 설치되는 프로브와 회로기판를 하나의 바디블록 상에 설치가능케함으로써 구조를 단순화하고 제작비용을 절감해주는 효과가 있다.
또한, 종래의 니들형태의 긴 프로브를 대체하여 얇은 도전성 시트를 사용함으로써 프로브 블록의 전장폭을 대폭 감소시켜주는 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 테스트 장비에 부착되는 블록바디(10)와;
    상기 블록바디(10)의 저면 일측에 결합되어 테스트 장비로부터 전기적 신호를 받는 회로기판(20)과;
    상기 블록바디(10)의 저면 타측에 결합되는 헤드베이스블록(30)과;
    상기 헤드베이스블록(30)의 저면에 결합하는 동시에 일단이 상기 회로기판(20)과 접하는 프로브가이드필름(40)과;
    상기 프로브가이드필름(40)의 저면에 위치하고 일단이 회로기판(20)에 접촉하여 테스트 장비의 전기적 신호를 LCD 패널에 전달해주는 프로브(50)와;
    상기 프로브가이드필름(40)과 프로브(50)의 사이에 삽입되어 상기 프로브간의 간격을 일정하게 유지시켜주는 프로브헤드(60)와;
    상기 프로브(50)의 하부에 결합하여 상기 프로브(50)의 상부 일단이 상기 회로기판(20)에서 떨어지지 않도록 지지 및 고정해주는 프로브로드(70)와;
    상기 블록바디(10)의 양측면에 결합하여 상기 프로브로드(70)가 상기 프로브(50)를 상부로 밀착 및 고정시키는 사이드커버(80)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 엘시디 검사용 프로브 블록.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 블록바디(10)는
    절연 재질로서 구비되며, 저면의 일단에는 헤드베이스블록(30)의 결합되는소정크기의 결합홈(11)이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 엘시디 검사용 프로브 블록.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 헤드베이스블록(30)은
    절연 재질로서 구비되며, 상기 블록바디(10)에 결합시 상기 헤드베이스블록(30)의 밑면이 블록바디(10)의 밑면보다 소정높이 돌출되어 헤드베이스블록(30)의 돌출높이가 블록바디(10)의 밑면에 회로기판(20)이 부착된 후의 높이와 동일하도록 하는 것을 특징으로 하는 엘시디 검사용 프로브 블록.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 프로브 가이드필름(40)은
    절연 재질로 구비되며, 상기 프로브(50)의 일단이 삽입되어 고정되는 수개의 제2가이드홀(41)이 일정간격으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 엘시디 검사용 프로브 블록.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 프로브(50)는
    얇은 도전성 금속판으로 구비되며, 한개의 단을 가지는 층계형으로 상부 일단은 상향 절곡되어 회로기판의 접촉되는 소정높이 돌출된 기판접속단부(51)와; 그 반대단에는 하향 절곡되어 LCD 패턴에 접촉되는 접속단부(53)와; 상기 접속단부(53)에서 상부로 연장된후 수평으로 절곡된 삽입부(55)와; 상기 기판접속단부(53)에서 하부로 연장된후 수평으로 절곡된 눌림부(57)를 포함하여 이루어지는것을 특징으로 하는 엘시디 검사용 프로브 블록.
  6. 제 1항에 있어서, 상기 프로브헤드(60)는
    절연 재질로 구비되며, 저면에 수개의 슬릿형태의 가이드(61)가 일정간격으로 형성되어있는 것을 특징으로 하는 엘시디 검사용 프로브 블록.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100610889B1 (ko) 2005-10-10 2006-08-08 (주)엠씨티코리아 초미세 피치를 갖는 평판형 디스플레이장치 검사용프로브유니트
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