KR100648014B1 - 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치의 pcb 접속용지그 - Google Patents
평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치의 pcb 접속용지그 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치에서 프로브 베이스위에 설치된 PCB와, FPC 연결시트의 일단을 서로 접속하여 고정하기 위한 PCB 접속용 지그에 관한 것으로, 특히 상기 프로브 베이스(10)에 대한 설치위치를 가변시킬 수 있도록 상기 프로브 베이스(10)위에 슬라이드가능하게 설치되는 베이스 블록(42)과, 상기 베이스 블록(42)의 상면에 돌출된 적어도 2개의 위치결정핀(44)과, 일단에는 상기 위치결정핀(44)이 끼워지는 결합구멍(32A)이 형성되고, 타단은 상기 프로브 베이스(10)위에 고정된 상기 PCB(20)쪽으로 수평연장되어 저면에 상기 PCB(20)의 배선과 접촉하는 상기 FPC 연결시트(30)의 일단을 부착한 접속블록(32)과, 상기 접속블록(32)과 상기 베이스 블록(42)을 상기 프로브 베이스(10)에 고정하는 고정나사(46)을 포함하여, 피검사체의 사양이나 종류에 따라 교체되는 PCB(20)에 대응하여 연결시트(30)의 고정위치를 자유롭게 변경할 수 있는 것이다.
평판형 디스플레이, 프로브장치, PCB, FPC 연결시트, 접속지그
Description
도 1은 프로브장치에서 종래의 PCB접속 지그의 구조를 개략적으로 도시한 분리사시도,
도 2는 도 1의 종래 PCB접속 지그의 설치구조를 보인 결합단면도,
도 3은 본 발명에 따른 PCB접속 지그의 구조를 개략적으로 도시한 분리사시도,
도 4는 도 3에 도시된 본 발명의 PCB접속 지그의 설치구조를 보인 결합단면도이다.
※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1: 피검사체 10: 프로브 베이스
10A: 공간부 12: 위치결정핀
20: PCB 21: 배선
25: 프로브 블록 30: 연결시트
32: 접속블록 32A: 결합구멍
32B,42A: 나사구멍 33: 가압돌기
40: 본 발명에 따른 지그 42: 베이스 블록
43: 슬라이드홈 44: 위치결정핀
46: 고정나사
본 발명은 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치에 관한 것으로, 특히 프로브장치의 프로브 베이스위에 설치된 PCB와, PCB와 프로브 블록을 서로 연결하는 FPC 연결시트의 일단을 PCB에 접속하여 고정하기 위한 PCB 접속용 지그에 관한 것이다.
일반적으로 평판형 디스플레이패널을 검사하기 위한 프로브장치는 도 1에 도시된 바와 같이, 내측에 피검사체(디스플레이 패널,1)를 장착하기 위한 공간부(10A)가 마련된 프로브 베이스(10)를 구비하고, 상기 프로브 베이스(10)위에 설치되어 상기 피검사체(1)의 통전시험용 신호를 제공하는 PCB(20)와, 상기 피검사체의 전극(도시생략)에 접촉하여 상기 PCB(20)를 통하여 제공되는 검사신호를 피검사체91)에 인가하는 프로브 블록(25)을 포한한다.
그리고 상기 프로브 블록(25)은 FPC(Flexibl Printed Circuit)의 연결시트(30)를 통하여 상기 PCB(20)와 연결되어 PCB(20)로부터 검사용 신호를 전달받는다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 PCB(20)는 프로브 베이스(10)위의 정해진 위치에 고정되고, 상기 PCB(20)와 상기 연결시트(30)는, 연결시트(30)의 선단에 구비된 접속블록(32)이 프로브 베이스(10)에 고정설치된 2개의 고정핀(12)에 삽입되어 고정나사(13)로 체결됨으로써 서로 접속고정된다.
그런데 피검사체, 즉 LCD, PDP 등과 같은 평판형 디스플레이의 종류나 크기가 바뀌면 프로브 유니트로써 탐침하고자 하는 배선의 갯수, 피치, 위치 등이 달라지게 된다. 즉, 종래의 방식은 프로브 베이스(10)위에 고정설치된 고정핀(12)에 의해 위치결정되므로 피검사체의 종류나 크기에 따라 PCB(20)가 교체될 때마다 고정핀(12)이 고정된 위치가 변경된 새로운 프로브 베이스로 교체하여야 하는 단점이 있었다.
이로인하여 검사장비 셋팅에 많은 시간이 소요되고, 작업이 불편할 뿐아니라 비용이 상승하는 단점이 있었다.
이에 본 발명은 상기 종래 PCB 접속용 지그가 가진 단점을 해소하여 피검사체의 사양이 변경되어 PCB가 교체되는 경우에도 호환성이 있는 PCB 접속용 지그를 제공함에 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 지그는, 프로브 베이스위 고정위치를 가변시킬 수 있도록 프로브 베이스위에 슬라이드가능하게 설치되는 베이스 블록과, 상기 베이스 블록의 상면에 돌출된 적어도 2개의 위치결정핀과, 일단에는 상기 위치결정핀이 끼워지는 핀결합구멍이 형성되고, 타단은 상기 프로브 베이스위에 고정 된 상기 PCB쪽으로 수평연장되어 저면에 상기 PCB의 배선과 접촉하는 상기 FPC 연결시트의 일단을 부착한 접속블록과,
상기 접속블록과 상기 베이스 블록을 상기 프로브 베이스에 고정하는 고정수단을 포함한 구성으로 된다.
상기 본 발명은 피검사체의 사양이 변경되어 PCB가 교체되더라도 상기 고정수단을 고정해제시키고, 베이스 블록을 프로브 베이스위를 슬라이드이동시켜 교체된 PCB의 정위치에 배치한 후 다시 고정수단으로 프로브 베이스위에 고정함으로써 변경된 PCB에 대응하여 위치를 가변시킬 수 있게 된다.
그리고 상기 접속블록의 저면에는 가압돌기가 구비되어 접속블록이 고정수단에 의해 베이스 블록에 고정될 때 FPC연결시트는 가압돌기에 의해 아래쪽으로 돌출되어 PCB위로 가압함으로써 FPC연결시트와 PCB의 접촉이 양호하게 된다.
이하, 본 발명에 따른 PCB접속용 지그의 실시예를 첨부도면에 따라 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명에 따른 PCB 접속용 지그의 구조를 나타낸 프로브장치의 개략적인 사시도이고, 도 4는 프로브장치의 프로브 베이스에 설치된 본 발명에 따른 PCB접속용 지그의 결합단면도이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 평판형 디스플레이패널을 검사하기 위한 프로브장치는 내측에 피검사체(디스플레이 패널,1)를 장착하기 위한 공간부(10A)가 마련된 프로브 베이스(10)를 구비하고, 상기 프로브 베이스(10)위에는 상기 피검사체(1)의 전극과 접촉하여 피검사체(1)에 검사용 신호를 인가하는 복수개의 프로브 블록(25)이 설치된다.
상기 프로브 베이스(10)위에는 상기 피검사체(1)의 통전시험용 신호를 제공하는 PCB(20)가 고정설치되며, 상기 피검사체(1)의 전극에 접촉하여 상기 PCB(20)를 통하여 제공되는 검사신호를 피검사체(1)에 인가하는 프로브 블록(25)을 포한한다.
상기 프로브 블록(25)의 프로브는 연결시트(30)를 통하여 프로브 베이스(10)위의 PCB(20)와 서로 통전되게 연결된다. 상기 연결시트(30)는 FPC타입으로 이루어지고, 일측 선단은 프로브 블록(25)에 결합되고, 타측 선단은 접속블록(32)을 구비하여 상기 PCB(20)에 접촉하며 본 발명에 따른 지그(40)에 의해 고정된다.
본 발명의 지그(40)는 프로브 베이스(10)의 뒤쪽 선단에 결합되는 베이스 블록(42), 베이스 블록(42)을 프로브 베이스(10)위에 고정해주는 고정수단인 고정나사(46), 상기 베이스 블록(42)에 구비되어 연결시트(30)의 선단에 구비된 접속블록(32)을 베이스 블록(42)에 대하여 위치결정해주는 적어도 2개의 위치결정핀(44)을 구비한다.
상기 베이스 블록(42)은 슬라이드홈(43)을 구비하여 상기 프로브 베이스(10)의 후단에 슬라이드가능하게 끼워져 고정수단, 바람직하게는 고정나사(46)로 고정된다. 상기 고정나사(46)를 풀면 베이스 블록(42)은 프로브 베이스(10)를 따라 슬라이드이동될 수 있다. 베이스 블록(42)을 PCB(20)의 대응위치에 배치하고나서 다시 고정나사(46)를 조이면 그 위치에 고정된다.
상기 베이스 블록(42)의 상면에서 위쪽으로 돌출된 적어도 2개의 위치결정핀(44)은, 연결시트(30)의 후단에 구비된 접속블록(32)의 결합구멍(32A)과 결합함으로써 연결시트(30)의 접속블록(32)을 베이스 블록(42)에 대하여 위치고정된다.
상기 고정수단은 바람직하게 고정나사(46)로 이루어진다. 이 경우 상기 접속블록(32)과 베이스 블록(42)에 각각 나사구멍(32B,42A)을 관통하게 형성하고, 상기 고정나사(46)를 이들 나사구멍(32B,42A)을 관통하여 프로브 베이스(10)에 체결함으로써 상기 접속블록(32)과 베이스 블록(42)이 서로 고정된 상태로 프로브 베이스(10)에 고정된다.
한편, 상기 FPC연결시트(30)의 접속블록(32)의 저면에는 PCB(20)의 배선(21)과 접촉하는 부분을 접속블록(32)의 저면보다 돌출되게 가압돌기(33)가 형성된다. 이 가압돌기(33)는 연결시트(30)의 접속블록(32)이 베이스 블록(42)에 결합될 때 연결시트(30)를 PCB(20)의 배선(21)에 가압하여 접촉성을 향상시킨다.
이하, 상기한 본 발명의 지그를 프로브 베이스(10)위에서 위치변경하는 과정을 설명한다. 프로브 베이스(10)에 피검사체(1)에 대응하는 PCB(20)를 설치한다. 프로브 블록(25)에서 연장된 FPC 연결시트(30)의 후단에 구비된 접속블록(32)을 PCB(20)의 배선과 일치하도록 정렬한다.
접속블록(32)이 정위치에 배치되면, 그 접속블록(32)이 정위치에 고정되게 베이스 블록(42)을 접속블록(32)이 배치된 위치로 슬라이드 이동시켜 베이스 블록(42)에 구비된 위치결정핀(44)에 상기 접속블록(32)의 결합구멍(32A)을 끼워 서로 결합한다. 이 상태에서 다시 접속블록(32)의 저면에 구비된 FPC 연결시트(30)의 배선이 PCB(20)위의 배선과 정확하게 일치시킨다.
그리고나서 상기 접속블록(32)의 나사구멍(32B)을 베이스 블록(42)의 나사구멍(42A)에 일치시켜 이들 나사구멍(32B,42A)안으로 체결하여 하단이 프로브 베이스(10)의 상면에 압착되게 함으로써 상기 베이스 블록(42)과 접속블록(32)이 프로브 베이스(10)의 정위치에 고정되게 된다.
이 상태에서 피검사체를 검사하고나서 피검사체의 사양이나 종류가 변경되어 그 새로운 피검사체에 대응하는 PCB로 교체하여야 하는 경우, 상기 프로브 베이스(10)위에 고정된 베이스 블록(42)을 상기한 과정의 역순의 과정을 거쳐 고정해제하고나서 다시 상기한 과정을 되풀이하여 새로운 PCB(20)에 접속블록이 접속되게 베이스 블록(42)의 위치를 가변시킨다.
상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 지그에 따르면, 피검사체의 종류나 사양이 변경되어 그에 따른 PCB도 교체되는 경우, PCB가 고정되는 프로브 베이스 전체를 교체할 필요없이 지그의 베이스 블록을 프로브 베이스에서 고정해제하여 위치이동시킨 후 다시 고정하는 간단한 작업만으로 새로운 피검사체의 검사에 대응할 수 있다. 이와 같이 본 발명의 지그는 1대의 프로브장치로써 다양한 피검사체를 검사할 수 있어 검사효율을 높일 수 있고, 원가를 절감할 수 있다.
Claims (3)
- 프로브장치의 프로브 베이스(10)위에 설치된 PCB(20)와, 상기 프로브 장치의 프로브 블록(25)에서 연결되어 연장된 FPC 연결시트(30)의 일단을 서로 접속하여 고정하기 위한 PCB 접속용 지그에 있어서,상기 PCB 접속용 지그는,상기 프로브 베이스(10)에 대한 설치위치를 가변시킬 수 있도록 상기 프로브 베이스(10)위에 슬라이드가능하게 설치되는 베이스 블록(42)과,상기 베이스 블록(42)의 상면에 돌출된 적어도 2개의 위치결정핀(44)과,일단에는 상기 위치결정핀(44)이 끼워지는 결합구멍(32A)이 형성되고, 타단은 상기 프로브 베이스(10)위에 고정된 상기 PCB(20)쪽으로 수평연장되어 저면에 상기 PCB(20)의 배선과 접촉하는 상기 FPC 연결시트(30)의 일단을 부착한 접속블록(32)과,상기 접속블록(32)과 상기 베이스 블록(42)을 상기 프로브 베이스(10)에 고정하는 고정수단을 포함한 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치의 PCB접속용 지그.
- 제1항에 있어서, 상기 베이스 블록(42)은 상기 프로브 베이스(10)의 선단 가장자리에 끼워지는 슬라이드홈(43)을 구비한 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치의 PCB접속용 지그.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 접속블록(32)은 저면에 상기 FPC 연결시트(30)를 상기 PCB(20)쪽으로 돌출시켜 FPC 연결시트를 PCB(20)쪽으로 가압하기 위한 가압돌기(33)가 폭방향을 따라 연장된 것을 특징으로 하는 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치의 PCB접속용 지그.
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E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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