KR100826257B1 - 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치 - Google Patents

휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 휴대전자기기용 FPCB 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 휴대전자기기용 전자부품이 실장된 FPCB의 전자회로가 정상적으로 동작되는지를 검사하는 전자회로 검사장치를 구성함에 있어서, 검사FPCB의 FPCB커넥터와 결합하는 소켓이 부착된 FPCB검사지그; 상기 소켓과 결합하는 검사FPCB가 놓이는 FPCB거치대: 상기 FPCB거치대가 놓이며, 시계 또는 반시계 방향으로 회전하는 인덱스테이블; 상기 검사가 끝난 검사FPCB를 상기 FPCB거치대로부터 인출하는 인출기;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치에 관한 것이다.
본 발명은 본 발명은 하나의 시스템에 여러 개의 FPCB소켓이 부착된 인터페이스 FPCB 와 프로빙 블록으로 구성된 검사 지그 및 회전하는 인텍스 테이블을 통하여 동시에 여러개의 FPCB 어세이(ASS'Y)를 검사하여 작업능률을 향상시키고 인건비를 절약하여 생산성을 극대화 할 수 있는 FPCB 검사 시스템을 제공한다.
FPCB검사지그, FPCB거치대, 인덱스테이블, 인출기

Description

휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치{FPCB test unit for portable electronic equipment}
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 구체예의 평면도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 구체예의 측면도.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 구체예의 측면도.
도 4는 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 측면도.
도 5는 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도.
도 6은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도.
도 7은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 측면도.
도 8은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 사용상태도.
도 9는 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 사용상태도.
도 10은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도.
도 11은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 평면도.
도 12는 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도.
도 13은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사용상태도.
도 14은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 측면도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
10:FPCB 검사장치 20:검사FPCB
100:FPCB검사지그 110:지그몸체.
120:상판 125:샤프트
130:하판
140:소켓
145:결합가이드 147:프로빙 블록
150:소켓몸체 155:가이드 부싱
160:가압판
170:제 1탄성체 180:제 2탄성체
190:소켓폭 195:완충스프링
200:FPCB거치대 220:제품안착대
240:인터페이스FPCB 242:인터페이스FPCB 몸체
244:접촉패드 245:홀더
246:연결패드 248:프로빙 블록
249:프로브 핀촉
260:정렬조정기 280:정렬조정카메라
300:인덱스테이블
400:인출기
500:에어실린더 520:실린더샤프트
600:가이드레일 620:다운플레이트
본원 발명은 휴대전자기기용 FPCB 검사 장치에 관한 것이다. 하나의 인덱스테이블에 여러 개의 FPCB 검사제품을 안착하고, 이를 회전시켜 동시에 FPCB 어세이(ASS'Y)를 검사할 수 있는 FPCB 검사용 지그에 관한 것이다.
연성회로기판(Flexible Printed Circuit Board)은, 에폭시 혹은 페놀 등의 열경화성 수지Sheet에 동박을 적층한 경성회로기판(Rigid Printed Circuit Board)과는 달리, 얇고 자유로운 굴곡성과 함께 무게가 매우 가볍다는 특징을 지니고 있다. 때문에 전자기기의 협소한 공간에 효율적인 배열이 가능하고, 소형 및 경량화가 가능하고 설계, 디자인의 자유도가 매우 높은 프린트 배선기판으로 전자제품의 경박단소화 및 디지털화에 따라 그 수요가 매년 급격히 증가하고 있다.
주요 용도로는 노트북 컴퓨터, 카메라, 휴대전화, AV 기기 등으로 특히 소형 정밀 전자기기류에 많이 사용되고 있다.
본 발명은 소정부품이 삽입고정되어진 FPCB를 검사 측정하여 그 상태에 따라 합격품(GOOD) 또는 불합격품(NO GOOD)으로 선별 처리하는 FPCB 검사장치 및 이를 이용한 검사방법에 관한 것으로, 특히, FPCB 검사를 기계적인 장치를 이용, 자동화하여 생산성 및 작업성을 향상시킬 수 있도록함을 목적으로 개발된 FPCB 검사장치 및이를 이용한 검사방법에 관한 것이다.
일반적으로 FPCB 검사에는 납땜쇼트, 단선등을 검사하는 쇼트-오프검사, 부품을 측정하는 부품검사등을 실시하는바, 종래의 경우, FPCB 검사는 작업자에 의해 일일히 FPCB를 수작업으로 검사장치(TESTER)에 삽입후 측정스위치를 눌러, FPCB를 측정케한 후 합격품 또는 불합격품 판정에 따라 FPCB를 검사선별하여 합격품은 다음 공정에, 불합격품은 수리 또는 적재장치에 적재시키는 과정을 반복하는 것이므로, 생산성 품질저하는 물론 불필요한 인력 낭비로 인하여 가격 경쟁력을 확보하는데 가장 큰 걸림돌이 되었으며, 공장의 자동화를 저해하는 등 여러 결점이 있었다.
보다 상세하게는 FPCB가 제 기능을 발휘하는지 검사하기 위해서 종래에는 FPCB를 검사장비에 연결된 연결 FPCB패턴에 손으로 직접 접촉하는 방식이 사용되었는데, 이 방식은 검사속도가 매우 느리고 먼지나 이물질에 의한 접촉이 용이하지 않은 문제점이 있있다
다른 검사 방식으로는 집게식의 지그를 이용하는 방식이 있었는데, 이 방식은 프로브를 검사장비에 연결된 연결FPCB의 패턴에 납땜을 실시하여 FPCB를 프로브 에 접촉하는 방식으로, 여러 개의 프로브 중 단 하나의 프로브가 마모되거나 파손되어 교체하고자 하는 경우 교체가 불가능하고 이에 따라 검사 지그 자체를 재사용할 수 없어 버려야 하는 문제점이 있다.
또 다른 검사방식으로는 프로브와 연결 FPCB를 전기적으로 연결할 때 결합수단에 의해 고정한 후 연결 FPCB의 패턴에 프로브를 탄성적으로 접촉하는 방식이 있다. 이러한 방식의 경우 프로브의 마모나 파손시 교체가 용이하다는 장점이 있으나
하나의 FPCB의 어세이를 동시에 검사할 수 없는 문제가 있었다.
따라서, 이와 같은 종래의 방식은 제품의 종류에 맞추어 검사장치를 개발하여야 하므로 비용이 많이 드는 동시에 새로운 FPCB의 생산에 따른 검사시기가 늦어지는 문제가 있었다.
상기한 문제점을 해결하기 위하여, 본원 발명은 하나의 시스템에 여러 개의 FPCB 검사제품을 안착한 FPCB 검사용 지그 및 회전하는 테스트테이블을 통하여 동시에 FPCB 어세이(ASS'Y)를 검사하여 작업능률을 향상시키고 인건비를 절약할 수 있는 FPCB 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 휴대전자기기용 전자부품이 실장된 FPCB의 전자회로가 정상적으로 동작되는지를 검사하는 전자회로 검사장치를 구성함에 있어서, 각각 장방형의 상판과 하판으로 구성되되, 상기 상판과 하판은, 상판과 하판의 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트에 의해 연결되는 지그몸체와, 상기 지그 몸체의 하판의 하단에 구비되어, 검사FPCB의 FPCB커넥터와 결합하는 소켓이 구비되는 소켓몸체로 구성되는 FPCB검사지그; 상기 소켓과 결합하는 검사FPCB가 놓이는 FPCB거치대; 상기 FPCB거치대가 놓이며, 시계 또는 반시계 방향으로 회전하는 인덱스테이블; 및 상기 검사가 끝난 검사FPCB를 상기 FPCB거치대로부터 인출하는 인출기;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
삭제
또한 본 발명의 상기 FPCB검사지그에는, 상판과 하판사이에 구비되는 가압판을 포함하되, 상기 상판과 가압판 사이의 샤프트의 둘레에 걸쳐 감싸면서 구비되며, 상기 검사FPCB의 커넥터와 상기 소켓의 결합을 용이하게 하는 제 1탄성체; 상기 하판과 가압판 사이의 지지대에 구비되는 제 2탄성체;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 상기 소켓몸체는, 상기 하판과 가이드 부싱에 의해 나사결합하되, 상기 하판으로부터 좌우 및 상하로 이격 가능하도록 결합하는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 상기 소켓몸체는, 상기 소켓몸체에 형성되어 있는 소켓이 상기 검사의 대상이 되는 검사FPCB의 케넥터에 삽입되는 방식에 의해 검사FPCB와 결합하되, 상기 소켓의 삽입 폭은 검사 FPCB 커넥터의 폭보다 같거나 큰 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 상기 FPCB거치대는, 검사의 대상이 되는 검사FPCB가 놓이는 제품안착대, 검사FPCB와 검사장치를 연결하기 위한 인테페이스 FPCB; 상기 검사FPCB 및 인터페이스 FPCB의 연결패드를 정렬하기 위한 정렬조정기; 상기 FPCB거치대의 하단에 부착되어, 상기 검사FPCB 및 인테페이스 FPCB의 OLB패드를 확대하는 정렬조정카메라로 구성되는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발며의 상기 인터페이스 FPCB는, 얇은 패널형태의 인터페이스 FPCB몸체; 상기 인터페이스 FPCB몸체의 표면에 형성되는, 검사장치의 프로빙 블럭이 결합하는 패드; 상기 인터페이스 FPCB몸체의 일단에 형성되는, 검사의 대상이 되는 검사FPCB와 연결하는 연결패드;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 상기 패드는, 컴퓨터의 데이터선과 결합하는 커넥터에 의해 연결되어, 소프트웨어에 의해 검사가 이루어지는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 상기 인덱스테이블은, 인덱스테이블 콘트롤러에 의해 제어되어, 회전가능한 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 상기 인출기는, 진공패드를 장착한 로봇팔을 구비하여 검사가 끝난 검사FPCB를 인출하는 것을 특징으로 한다.
이하에서는 첨부된 도면의 바람직한 실시예를 들어 본 발명을 상세하게 설명한다. 도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 구체예의 평면도, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 구체예의 측면도, 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 구체예의 측면도, 도 4는 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 측면도, 도 5는 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도, 도 6은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도, 도 7은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 측면도, 도 8은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 사용상태도, 도 9는 본 발명의 다른 일실시예에 따른 구체예의 사용상태도, 도 10은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도, 도 11은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 평면도, 도 12는 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도, 도 13은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사용상태도, 도 14은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 측면도이다.
도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명인 휴대전자기기용 전자부품이 실장된 FPCB의 전자회로가 정상적으로 동작되는지를 검사하는 전자회로 검사장치를 구성함에 있어서, 검사FPCB의 FPCB커넥터과 결합하는 소켓가 부착된 FPCB검사지그; 상기 소켓와 결합하는 검사FPCB가 놓이는 FPCB거치대; 상기 FPCB거치대를 반시계방향으로 회전하는 인덱스테이블; 상기 검사가 끝난 검사FPCB를 상기 거치대로부터 인출하는 인출기를 포함하여 구성하였다.
바람직하게는 상기 FPCB검사지그(100)는, 각각 장방형의 상판(120)과 하판(130)으로 구성되되, 상기 상판(120)과 하판(130)은, 상판(120)과 하판(130)의 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트(125)에 의해 연결되는 지그몸체(110); 상기 지그몸체(110)의 하판(130)의 하단에 구비되어, 검사FPCB(20)의 FPCB커넥터과 결합하는 소켓(140)가 구비되는 소켓몸체(150)로 구성하여 실시하는 것이 바람직하다.
먼저, 도 5는 본 발명인 FPCB검사지그(100))의 사시도이다. 보다 상세하게는 지그몸체(110)의 하판(130)의 하단에 구비된 소켓(140)의 설치모습을 상세하게 보이기 위하여 거꾸로 뒤집은 형상의 사시도를 도시한 것이다. 그리고 도 2는 FPCB 검사지그(100)의 측면도이다.
즉, 도 5와 같이 본 발명은 휴대전자기기용 전자부품이 실장된 FPCB의 전자회로가 정상적으로 동작하는지를 검사하는 전자회로 검사장치를 구성함에 있어서,
FPCB 지그몸체(110)를 각 장방형의 상판(120)과 하판(130)으로 구성하되, 이러한 상기 상판(120)과 하판(130)은, 상판(120)과 하판(130)의 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트(125)에 의해 연결되도록 구성하였다. 1
그리고, 상기 FPCB 지그몸체(110)의 하판(130)의 하단에는 검사의 대상이 되는 검사FPCB(20)의 FPCB커넥터과 결합하는 소켓(140)를 구비하도록 하였다.
그리고 소켓(140)에는 검사의 대상이 되는 FPCB커넥터와 결합하는 프로빙 블럭(147)을 구비하여 FPCB커넥터의 정상작동여부를 감지하는 역할을 수행하도록 구성하였다.
도면에는 도시하지 않았지만, 상기 각각의 소켓(140)에는 데이터선이 연결되어 이를 제어하는 제어기에 연결되도록 하여 실시하는 것이 바람직하다.
또한 본 발명을 실시함에 있어서는, 상기 상판(120)과 하판(130)사이에 구비되는 가압판(160)을 포함하여 본 발명을 실시할 수 있다. 그리고 상기 상판(120)과 가압판(1690)사이에는 샤프트(125)를 구비하고, 상기 검사FPCB(20)의 FPCB커넥터과 상기 소켓(140)의 결합을 용이하게 하는 제 1탄성체(170) 및 상기 하판(130)과 가압판(160)사이의 샤프트(125)에는 제 2탄성체(180)를 구비하여 실시할 수 있다.
여기서 가압판(160)은 소켓(140)와 검사의 대상이 되는 FPCB 커넥터와의 결합을 용이하게 하기 위하여 구비되는 것으로서, 즉 가압판(160)이 하판(130)을 가압함으로써 소켓(140)에 형성되어 있는 프로빙 블럭(147)이 FPCB커넥터에 형성되어 있는 결합공에 삽입되는 경우에 보다 큰힘을 주어 결합을 용이하도록 한 것이다.
여기서 결합공이란 도시되지는 않았지만,상기 프로빙 블럭이 결합하는 FPCB에 형성된 홀을 의미한다. 이는 일반적으로 FPCB커넥터에 형성된 것으로 자세한 설명은 생략한다. 또한 FPCB커넥터이란 FPCB에 결합되어 있는 일반적인 FPCB커넥터을 의미하는 것으로서 도면부호는 생략한다.
본 실시에 사용하는 제 1탄성체(170)는 상기 상판(120)과 가압판(160)사이에서 각각의 샤프트(125)를 감싸는 형태로 제공된다. 이는 가압판(160)이 상기 하판(130)을 가압하고 난 후에 제 2탄성체(180)에 의해 밀리는 경우 상판(120)에 부딪히지 않도록 하는 역할을 수행한다.
그리고 제 2탄성체(180)는 상기 하판(130)에 구비된 소켓(140)와 테스트대상이 되는 FPCB커넥터의 결합공과의 결합을 돕기 위한 장치이다.
일반적으로 FPCB의 제조과정에서는 FPCB의 설계치수에 의해 FPCB를 제조하지만, 통상의 경우 칩 및 커넥터를 솔더링 하면 위치에 대한 오차가 생기는 것이 현실이다. 따라서 FPCB검사를 자동화한다 하더라도 FPCB커넥터 등의 검사시에는 FPCB커넥터등의 솔더링 오차로 인해 용이하게 FPCB검사를 자동화하는 데에 어려움이 있다.
따라서 이러한 문제를 해결하기 위하여 본 발명은 소켓 몸체를 상기 하판과 나사에 의해 결합하되, 소켓몸체(150)가 어느 정도 FPCB검사지그(100)의 하판(130)으로부터 이격하도록 느슨하게 결합하도록 구성하였다.
이렇게 구성하므로써, 상기 소켓(140)와 결합하는 FPCB커넥터의 위치가 다소 다르더라도 상기 FPCB검사지그(100)의 하판(130)에 느슨하게 결합된 소켓몸체(150)가 옆으로 이격되면서 상기 FPCB커넥터를 포개면서 결합할 수 있도록 구성한 것이다.
또한, 이때 상기 소켓(140)는 도 6에 도시된 바와 소켓(140)에 결합가이드(145)를 구비하여 보다 용이하게 소켓(140)와 FPCB커넥터를 결합할 수 있다. 즉 상기 결합가이드(145)는 결합홈쪽으로 비스듬하게 경사가 진 형태로 구비되어, 상기 소켓(140)와 FPCB커넥터의 결합에 있어 오차가 있더라도, 상기 소켓몸체(150)가 상기 FPCB검사지그(100)의 하판(130)으로부터 이격되는 동시에 결합가이드(145)에 의해 미끄러지면서 보다 용이하게 소켓(140)가 검사FPCB(20)를 감싸는 형태로 결합할 수 있도록 구성하였다.
그리고 소켓(140)의 내부에는 완충스프링(195)을 구비함으로써 상기 소켓(140)과 FPCB커넥터의 결합시 과도한 충격을 방지하도록 구성하였다.
도 8 및 도 9는 본 발명인 FPCB검사지그(100)를 이용한 구체적인 일실시예의 사용상태도이다. 바람직하게는 본 발명인 FPCB검사지그(100)를 FPCB검사장치로서 에어실린더(500) 및 가이드레일(600)를 이용하여 상하로 이동가능하도록 구성할 수 있다.
즉 본 발명을 실시함에 있어서 도 4에 도시된 바와 같이, FPCB검사지그(100)를 에어실린더(500)를 이용하여 기계적으로 상하운동을 하도록 구성할 수 있다. 이때 FPCB검사지그(100)를 상하로 운동시 일정한 방향을 따라 작동할 수 있도록 하기 위하여 가이드레일(600)을 설치하였으며, 다운플레이트(620)에 연결로드(620)를 이용하여 에어실린더(500)의 실린더샤프트(520)와 결합하도록 구성하였다.
이렇게 함으로써, 사람이 작업을 하는 경우보다 검사의 정확도를 높이고 검사시간을 단축할 수 있도록 구성하였다.
도 10은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도, 도 11은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 평면도, 도 12는 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사시도, 도 13은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 사용상태도, 도 14은 본 발명의 또다른 일실시예에 따른 구체예의 측면도이다.
먼저, 본 발명의 실시에 사용하는 인터페이스 FPCB몸체(242)는 도 1과 같이 얇은 패널형태를 취하고 있다. 인터페이스 FPCB(240)는 인쇄회로기판(PRINTED CIRCUIT BOARD, 인쇄회로기판을 형성시킨 판)의 일종으로서, 테스트의 대상이 되는 검사FPCB(20)의 회로에 대응하는 회로가 인쇄되어 있다.
또한, 본 발명인 인터페이스 FPCB(240)는 검사FPCB(20)의 전기적 흐름을 측 정하기 위하여 인터페이스 역할을 한다는 점에서 기능상의 특징을 가지고 있다..
인터페이스 FPCB(240)에 형성되어 있는 구멍형태의 여러개의 접촉패드(244)은 검사의 대상이 되는 검사FPCB(20)를 검사하는 검사장치의 프로빙 블럭(248)이 결합하는 것으로서 검사하고자 하는 검사FPCB(20)의 전기적 흐름 등을 테스트한다.
이때 사용하는 검사장치는 도면에 도시되지는 않았지만, 첨부한 도 14와 같이 인터페이스 FPCB(240)에 형성된 패드에 프로빙 블록이 접촉하고 프로빙 블록이 조립된 인터페이스 보드 끝단에 도 14와 같이 커넥터를 설치하고, 케이블이 연결된 상대물 커넥터를 삽입하여, 시스템과 연결한다.
인터페이스 FPCB와 프로빙 블록으로 나누어져 있기 때문에 인덱스 테이블 적용이 가능하며, 예전처럼 인터페이스 FPCB에 커넥터가 직접 설치되어 있어 중앙처리장치와 연결되어 있을 경우에는 인덱스 테이블 적용이 불가하며, 자동화 장비를 구현할 수 없다.
다수의 결합공의 갯수에 대응하는 프로빙 블럭(248)을 구비한 장치로서, 중앙처리장치와 테이터 통로인 피씨아이버스를 구성하고 있는 컴퓨터 메인보드상에 검사장치의 컨트롤 프로그램이 탑재되며,
중앙처리장치에는 측정대상의 종류에 따라 미리 만들어둔 측정대상 동작 일정표인 동작상태 명령코드를 입력받아 해독하여 스위치 동작 일정표를 만들어 처리된 자료가 피씨아이 버스를 통하여 스위치 구성 컨트롤러의 메모리로 저장되며, 작 업자의 시작명령에 따라 스위치구성 컨트롤러는 자동으로 메모리에 저장된 작업순서 명령에 따라 스위치 구동장치를 제어하여,
프로브 핀 장치의 연결단자에 연결된 측정대상의 각종 전기적 부품특성 값, 여러가지 아날로그 신호값을 사용자가 원하는 프로브 핀 장치의 번호를 선택적으로 연결하여 신호값을 측정할 수 있도록 측정장치인 멀티메타에 연결되어 측정하도록 구성하였다.
그리고, 도 10에 나타난 바와 같이 인터페이스 FPCB몸체(242)의 일단에는 검사의 대상이 되는 검사FPCB(20)와 전기적으로 연결되는 연결패드(246)가 형성되어 있다.
즉, 검사FPCB(20)에 형성되어 있는 전기회로의 선들이 인터페이스 FPCB(240)로 이어질수 있도록 연결하는 역할을 수행하는 것이다. 인터페이스 FPCB(240)는 테스트를 하고자 하는 검사FPCB(20)등과 검사장치인 컴퓨터등을 연결하는 인터페이스 기능을 겸하도록 구성한 것이다.
도 14는 본 발명의 다른 일실시예의 측면도이다. 즉, 본 발명을 실시함에 있어 인터페이스 FPCB몸체(242)에 형성되어 있는 다수의 접촉패드(244)에 컴퓨터의 데이터선과 결합하는 홀더(245)를 결합하여 컴퓨터 소프트웨어에 의해 검사가 이루어지도록 구성하였다.
즉, 상기 홀더(245)는 컴퓨터 하드디스크의 데이터선의 결합구와 결합하는 장치이다.
이렇게 구성함으로써, 별도의 프로빙 블록(248)으로서 검사하는 경우보다 간편하게 컴퓨터를 구동하여 전용소프트에 의해 검사FPCB(20)의 전기적인 흐름의 정상여부를 검사할 수 있는 것이다.
상기한 구성에 의한 실시에 의하여, 본원 발명은 하나의 지그에 여러개의 FP 검사센서를 부착된 FPCB 검사용 지그 및 회전하는 테스트테이블을 통하여 동시에 FPCB 어세이(ASS'Y)를 검사하여 작업능률을 향상시키고 인건비를 절약할 수 있는 FPCB검사시스템을 제공할 수 있다

Claims (10)

  1. 삭제
  2. 휴대전자기기용 전자부품이 실장된 FPCB의 전자회로가 정상적으로 동작되는지를 검사하는 전자회로 검사장치를 구성함에 있어서,
    각각 장방형의 상판과 하판으로 구성되되, 상기 상판과 하판은, 상판과 하판의 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트에 의해 연결되는 지그몸체와, 상기 지그 몸체의 하판의 하단에 구비되어, 검사FPCB의 FPCB커넥터와 결합하는 소켓이 구비되는 소켓몸체로 구성되는 FPCB검사지그;
    상기 소켓과 결합하는 검사FPCB가 놓이는 FPCB거치대;
    상기 FPCB거치대가 놓이며, 시계 또는 반시계 방향으로 회전하는 인덱스테이블; 및
    상기 검사가 끝난 검사FPCB를 상기 FPCB거치대로부터 인출하는 인출기;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
  3. 제 2항에서,
    상기 FPCB검사지그에는,
    상판과 하판사이에 구비되는 가압판을 포함하되,
    상기 상판과 가압판 사이의 샤프트의 둘레에 걸져 구비되며, 상기 검사FPCB의 커넥터와 상기 소켓의 결합을 용이하게 하는 제 1탄성체;
    상기 하판과 가압판 사이의 지지대에 구비되는 제 2탄성체;
    를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
  4. 제 2항에서,
    상기 하판과 나사에 의해 결합하되,
    가이드 부싱을 구성하여 검사 FPCB에 솔더링된 커넥터의 위치 오차가 발생하더라도 좌우상하로 이격 가능하도록 구성되고,
    가이드 부싱의 이격크기는 소켓에 설치된 커넥터를 가이드 하기 위한 모따기 양보다 같거나 작은 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
  5. 제 4항에서,
    상기 소켓몸체는,
    상기 소켓몸체에 형성되어 있는 소켓이 상기 검사의 대상이 되는 검사FPCB의 케넥터에 삽입되는 방식에 의해 검사FPCB와 결합하되,
    상기 소켓의 삽입 폭은 검사 FPCB 커넥터의 폭보다 같거나 큰 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
  6. 제 2항에서,
    상기 FPCB거치대는,
    검사의 대상이 되는 검사FPCB가 놓이는 제품안착대,
    검사FPCB와 검사장치를 연결하기 위한 인테페이스 FPCB;
    상기 검사FPCB 및 인터페이스 FPCB의 연결패드를 정렬하기 위한 정렬조정기;
    상기 FPCB거치대의 하단에 부착되어, 상기 검사FPCB 및 인테페이스 FPCB의 OLB패드를 확대하는 정렬조정카메라;
    로 구성되는 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
  7. 제 6항에서,
    상기 인터페이스 FPCB는,
    얇은 패널형태의 인터페이스 FPCB몸체;
    상기 인터페이스 FPCB몸체의 표면에 형성되는, 검사장치의 프로빙 블럭이 결합하는 패드;
    상기 인터페이스 FPCB몸체의 일단에 형성되는, 검사의 대상이 되는 검사FPCB와 연결하는 연결패드;
    로 이루어지는 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
  8. 제 6항 또는 제 7항에서,
    상기 패드는,
    컴퓨터의 데이터선과 결합하는 커넥터에 의해 연결되어,
    소프트웨어에 의해 검사가 이루어지는 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
  9. 제 2항에서,
    상기 인덱스테이블은,
    인덱스테이블 콘트롤러에 의해 제어되어, 회전가능한 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
  10. 제 2항에서,
    상기 인출기는,
    진공패드를 장착한 로봇팔을 구비하여 검사가 끝난 검사FPCB를 인출하는 것을 특징으로 하는 휴대전자기기용 에프피씨비 검사장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101352526B1 (ko) 2012-11-13 2014-01-16 주식회사 서일에프에이씨스템 Fpcb 검사장치

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103586851A (zh) * 2013-11-22 2014-02-19 苏州博众精工科技有限公司 一种转盘机构
KR101588570B1 (ko) 2015-03-27 2016-01-26 주식회사 플렉스컴 실장부품이 탑재된 완제품의 연성회로기판(fpcb) 통합 검사장치
CN104786031B (zh) * 2015-04-23 2017-08-08 苏州博众精工科技有限公司 一种双转盘机构
CN108899740A (zh) * 2018-08-13 2018-11-27 宁波均普工业自动化有限公司 一种pcb板的浮动导向检测连接装置
KR102205712B1 (ko) 2019-09-27 2021-01-21 에스엠파워텍 주식회사 연성인쇄회로기판 검사장치용 연성인쇄회로기판 장착 어댑터 및 이를 포함하는 연성인쇄회로기판 검사장치
KR102191902B1 (ko) * 2019-12-04 2020-12-16 주식회사 파워로직스 지그 모듈 및 이를 이용한 테스트 방법
KR102191903B1 (ko) * 2019-12-04 2020-12-16 주식회사 파워로직스 지그 모듈 및 이를 이용한 테스트 방법
KR102191904B1 (ko) * 2019-12-04 2020-12-16 주식회사 파워로직스 지그 모듈 및 이를 이용한 테스트 방법

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06300818A (ja) * 1993-04-16 1994-10-28 Olympus Optical Co Ltd フレキシブル基板検査装置
KR200349821Y1 (ko) * 2004-02-18 2004-05-08 한동희 평판표시소자용 후처리 시스템

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06300818A (ja) * 1993-04-16 1994-10-28 Olympus Optical Co Ltd フレキシブル基板検査装置
KR200349821Y1 (ko) * 2004-02-18 2004-05-08 한동희 평판표시소자용 후처리 시스템

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101352526B1 (ko) 2012-11-13 2014-01-16 주식회사 서일에프에이씨스템 Fpcb 검사장치

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