KR102451715B1 - Atm용 pcb 기능검사장치 - Google Patents

Atm용 pcb 기능검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR102451715B1
KR102451715B1 KR1020220082743A KR20220082743A KR102451715B1 KR 102451715 B1 KR102451715 B1 KR 102451715B1 KR 1020220082743 A KR1020220082743 A KR 1020220082743A KR 20220082743 A KR20220082743 A KR 20220082743A KR 102451715 B1 KR102451715 B1 KR 102451715B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
substrate
unit
atm
height
Prior art date
Application number
KR1020220082743A
Other languages
English (en)
Inventor
차명준
Original Assignee
(주)승진전자
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)승진전자 filed Critical (주)승진전자
Priority to KR1020220082743A priority Critical patent/KR102451715B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102451715B1 publication Critical patent/KR102451715B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2815—Functional tests, e.g. boundary scans, using the normal I/O contacts
    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07F—COIN-FREED OR LIKE APPARATUS
    • G07F19/00—Complete banking systems; Coded card-freed arrangements adapted for dispensing or receiving monies or the like and posting such transactions to existing accounts, e.g. automatic teller machines
    • G07F19/20—Automatic teller machines [ATMs]
    • G07F19/201—Accessories of ATMs
    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07F—COIN-FREED OR LIKE APPARATUS
    • G07F19/00—Complete banking systems; Coded card-freed arrangements adapted for dispensing or receiving monies or the like and posting such transactions to existing accounts, e.g. automatic teller machines
    • G07F19/20—Automatic teller machines [ATMs]
    • G07F19/209—Monitoring, auditing or diagnose of functioning of ATMs

Abstract

ATM용 PCB 기능검사장치가 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치는, 기판거치부에 안착된 검사대상 기판에 전력을 제공하는 전력공급부를 내장하며, 기판거치부를 통해 전달되는 응답신호를 검출하여 측면에 장착된 PC연결케이블을 통해 PC에 전달하며, 전면에 작동스위치가 장착된 구조의 검사본체부; 상기 검사본체부의 상부면에 탈부착 가능한 구조로 장착되고, 검사하고자 하는 기판과 대응되는 만입홈 구조가 형성되며, 만입홈 구조에 안착된 기판과 전기적 접속되는 다수의 제1접속단자가 구비된 기판거치부; 상기 검사본체부의 상부면으로부터 소정 높이만큼 이격된 위치에 장착되고, 위치변경부에 의해 상하 높이방향으로 위치변경되며, 상부면에 현금지급기의 키패드가 장착된 구조의 검사버튼부; 상기 검사버튼부의 하부면에 장착되고, 기판거치부에 안착된 기판과 전기적으로 접속되는 다수의 제2접속단자가 구비된 구조이며, 키패드로부터 입력되는 신호를 검사하고자 하는 기판에 전달하는 기판접속부; 및 상기 검사본체부의 일측에 장착되고, 검사본체부의 전방으로 소정 각도만큼 회전되는 구조의 작동레버를 통해 사용자에 의해 작동하여, 검사버튼부의 상하 높이방향 위치를 변경하여 기판접속부의 하부면을 기판거치부에 안착된 기판의 상부면과 접속시키거나 접속 해제하는 구조의 위치변경부;를 포함하는 것을 구성의 요지로 한다.
본 발명에 따르면, 현금지급기의 키패드에 탑재되는 인쇄회로기판의 정상 작동 여부를 확인함에 있어 많은 인력이 필요한 문제점과 긴 시간이 소모되는 문제점을 해결할 수 있고, 정확한 검사 결과를 보장할 수 있는 장치를 제공할 수 있다.

Description

ATM용 PCB 기능검사장치{PCB Function Inspection Apparatus For ATM}
본 발명은 ATM용 PCB 기능검사장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 현금지급기의 키패드에 탑재되는 인쇄회로기판의 정상작동여부를 신속하고 정확하게 확인할 수 있는 장치에 관한 것이다.
일반적으로 PCB는 절연물인 판에 구리박을 씌운 기판을 회로의 배선패턴에 따라서 에칭하여 필요한 회로를 형성하여 여러 종류의 부품을 탑재할 수 있게 하는 것으로, 이러한 PCB는 패턴에 의한 회로를 형성한 후 완성된 패턴이 정상적으로 제작되었는지 검사하는 전기적 검사를 수행하게 된다.
전기적 검사는 테스트 설비를 활용하여 회로의 시작과 끝 부분에서 저항을 측정하여 회로의 끊어짐(Open) 또는 회로 붙음(Short) 등을 검사하는 것으로, 테스트 설비에는 PCB를 탑재하여 검사를 수행할 수 있도록 검사장치가 사용되며, 검사장치는 다층으로 판이 이루어져 PCB에 전기적으로 접촉하기 위한 다수의 검사용 핀이 삽입되어 테스트 설비와 PCB간을 연결하여 검사를 수행하게 된다.
특히, 최근에는 고밀로 집적회로가 형성된 기기들이 지속적으로 개발되고 있기 때문에 PCB가 점차 복잡해지고 고밀도화되어 가고 있으므로 한정된 면적에 많은 수량의 검사용 핀이 삽입된다.
특히 데디케이트(dedicate type) 검사장비에 사용되는 PCB 검사용 지그는 검사하고자 하는 제품에 맞는 전용 지그를 사용하여야 하기 때문에 지그 제작에 따른 시간적, 금전적 손실을 초래하게 되는 것이다.
즉, 종래에 사용되어온 데디케이트 검사장비용 지그는, 도 1에 도시된 구조를 가지는 바, 제품에 맞는 지그를 제작하기 위해서는 지그의 설계, 가공, 조립 및 검사 공정을 거쳐야 하는 것으로, 설계 공정에서는 검사 포인트 추출, 헤드부품 설정, 그리드 부품 설정, 맵(map) 작성, 파라미터(Parameter) 작성을 순차적으로 수행하고, 가공 공정에서는 그리드가공, 헤드 가공을 순차적으로 수행하며, 조립 및 검사 공정에서는 그리드 조립, 스프링 와이어 삽입, 스프링 와이어 와핑(Warping), 와핑 검사, 헤드 조립, 검사핀 삽입, 전체조립을 순차적으로 수행하게 된다.
따라서 지그 설계에서 검사공정까지 수행되기 위해서는 수일까지 소요되기 때문에 검사의뢰에서부터 검사완료까지의 검사기간이 오래 걸린다는 문제가 있고, 특히 종래의 지그는 검사핀의 수에 따라서 순번에 맞추어 제작이 이루어지므로 설계공정에서는 도 2와 같이 맵 작성이 반드시 필요하기 때문에 설계에서 가공 검사까지 공정과 시간이 많이 소요된다.
그리고 최근에는 고성능, 고기능, 소형화가 이루어지는 산업의 특성상 고밀도 실장기술이 요구되고 이러한 기판은 검사핀의 수량이 수천 개 이상으로 이루어지기 때문에 설계, 가공, 조립 등의 시간이 더욱 오래 걸리며, 특히 조립공정에는 패널을 적층한 이후에 매우 조밀한 간격으로 와이어가 연결된 핀을 정해진 위치에 삽입하는 선작업이 매우 정밀한 작업이기 때문에 숙달된 숙련자가 2인이상 함께 작업해야 하는 어려움이 있음은 물론, 각각의 검사핀 위치에 맞게 조립하고 검수하는 시간도 매우 오래 걸리게 되는 문제가 있다.
뿐만 아니라, 종래의 검사방식은 지그 패널에 검사핀을 조립할 때 검사핀의 하단부를 납땜을 하거나 랩핑을 하여 고정하는 방식이기 때문에 한 번 사용한 검사핀을 재활용할 수 없고 일회용으로만 사용되기 때문에 가격이 매우 고가인 검사핀의 낭비가 심하여 불필요한 지출을 초래하는 요인이 되었다.
이러한 낭비를 방지하기 위하여 최근에는 지그 자체를 PCB로 만들어서 소켓스프링에 PCB를 깔고 제작한 방식이 제안된 바 있으나, 이렇게 다층 레이어로 구현하기 위해서는 PCB가 수십층으로 적층되는 구조로 이루어지기 때문에 회로 설계비용 및 PCB제조비용이 비싸다는 문제가 있다.
또한, 이러한 PCB적층 구조는 접점이 지나치게 많아지기 때문에 검사시 저항치가 높아지게 되는 문제가 있으며, 이는 접촉저항에 의한 검사장치로써의 신뢰성이 저하되는 문제가 있다.
물론, 이러한 문제를 해결하기 위하여 장비내에서 핀을 두 배로 삽입하여 전류와 전압을 이용하여 접촉저항을 상쇄하기 위한 개선된 검사법도 제안되었으나, 이는 검사핀의 간격이 더 조밀하게 이루어지기 때문에 더욱 정밀한 제작을 요하고 투입되는 검사핀의 수량이 많아지게 되기 때문에 결국에는 제작비가 급격히 증가하는 문제가 있기 때문에 경제성이 매우 떨어진다.
따라서, 상기 언급한 종래 기술에 따른 문제점을 해결할 수 있는 기술이 필요한 실정이다.
한국공개특허공보 제10-2014-0142661호 (공개일자: 2014년12월12일)
본 발명의 목적은, 현금지급기의 키패드에 탑재되는 인쇄회로기판의 정상 작동 여부를 확인함에 있어 많은 인력이 필요한 문제점과 긴 시간이 소모되는 문제점을 해결할 수 있고, 정확한 검사 결과를 보장할 수 있는 장치를 제공하는 것이다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치는, 기판거치부에 안착된 검사대상 기판에 전력을 제공하는 전력공급부를 내장하며, 기판거치부를 통해 전달되는 응답신호를 검출하여 측면에 장착된 PC연결케이블을 통해 PC에 전달하며, 전면에 작동스위치가 장착된 구조의 검사본체부; 상기 검사본체부의 상부면에 탈부착 가능한 구조로 장착되고, 검사하고자 하는 기판과 대응되는 만입홈 구조가 형성되며, 만입홈 구조에 안착된 기판과 전기적 접속되는 다수의 제1접속단자가 구비된 기판거치부; 상기 검사본체부의 상부면으로부터 소정 높이만큼 이격된 위치에 장착되고, 위치변경부에 의해 상하 높이방향으로 위치변경되며, 상부면에 현금지급기의 키패드가 장착된 구조의 검사버튼부; 상기 검사버튼부의 하부면에 장착되고, 기판거치부에 안착된 기판과 전기적으로 접속되는 다수의 제2접속단자가 구비된 구조이며, 키패드로부터 입력되는 신호를 검사하고자 하는 기판에 전달하는 기판접속부; 및 상기 검사본체부의 일측에 장착되고, 검사본체부의 전방으로 소정 각도만큼 회전되는 구조의 작동레버를 통해 사용자에 의해 작동하여, 검사버튼부의 상하 높이방향 위치를 변경하여 기판접속부의 하부면을 기판거치부에 안착된 기판의 상부면과 접속시키거나 접속 해제하는 구조의 위치변경부;를 포함하는 구성일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 기판거치부는, 상기 검사본체부의 상부면으로부터 소정 높이만큼 돌출되어 소정 면적을 가지는 사각형 거치면을 형성하는 거치플랫폼; 상기 거치플랫폼의 네 꼭지점과 인접하여 대칭 형태로 다수 장착되고, 상방으로 소정 높이만큼 연장된 환봉형 구조의 가이드돌기; 상기 거치플랫폼의 거치면으로부터 소정 깊이만큼 만입되고, 검사하고자 하는 기판과 대응되는 구조이며, 내부에 검사하고자 하는 기판과 전기적 접속되는 다수의 제1접속단자가 구비된 안착만입홈; 및 상기 거치플랫폼의 거치면으로부터 소정 높이만큼 돌출 형성되고, 검사 대상 기판의 일측면과 접촉하여 하방으로 눌려 삽입되어 검사 대상 기판의 안착 여부를 검출하는 기판검출돌기;를 포함하고, 상기 거치플랫폼은 검사본체부의 상부면에 측방으로 슬라이딩 삽입되거나 탈거되는 구조로 장착될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 기판접속부는, 상기 검사버튼부의 하부면에 결속되는 고정판; 상기 기판거치부의 상부면과 면접촉하는 판상형 구조이고, 가이드돌기와 대응되는 위치에 가이드돌기가 삽입되거나 토출될 수 있는 구조의 관통구가 형성되며, 중앙부에 제2접속단자가 장착된 스톱판; 상기 고정판의 하부와 스톱판의 상부를 서로 연결하고, 다수의 링크구조를 구비하며, 스톱판으로부터 상방으로 인가되는 가압력에 대항하여 탄성복원력을 제공하는 완충링크; 및 상기 고정판으로부터 하방으로 소정 길이만큼 연장되도록 장착되고, 검사버튼부로부터 입력되는 입력신호를 스톱판에 장착된 제2접속단자에 전달하는 입력신호전달돌기;를 포함하는 구성일 수 있다.
이 경우, 상기 위치변경부에 의해 검사버튼부가 하방으로 위치변경되어 기판접속부의 제2접속단자가 검사하고자 하는 기판과 전기적으로 접속되고, 이와 동시에 입력신호전달돌기와 제2접속단자가 전기적으로 접속될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 위치변경부는, 상기 검사본체부의 일측으로부터 상방으로 소정 높이만큼 연장된 구조로 장착되고, 내부에 상하 높이방향으로 연장된 가이드바가 측방으로 소정 거리만큼 이격되어 장착된 측커버본체; 상기 측커버본체의 일측면에 회전가능하도록 장착되는 작동레버; 상기 작동레버의 회전중심에 장착되고, 측커버본체의 내부에 회전가능하도록 장착되는 회전축; 상기 회전축에 장착되고, 작동레버의 회전동작에 의해 검사버튼부의 상하 높이를 변경하는 높이변경링크; 및 상기 가이드바에 장착되고, 검사버튼부의 하부면을 지지하는 탄성부재;를 포함하는 구성일 수 있다.
이 경우, 상기 검사버튼부는, 상기 가이드바에 상하 높이방향으로 슬라이딩 위치 변경 가능하도록 장착되는 검사버튼본체부; 및 상기 검사버튼본체부의 상부면 중앙에 탈부착 가능한 구조로 장착되는 키패드;를 포함하는 구성일 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 ATM용 PCB 기능검사장치에 따르면, 특정 구조의 검사본체부, 기판거치부, 키패드, 검사버튼부, 기판접속부, 작동레버 및 위치변경부를 구비함으로써, 현금지급기의 키패드에 탑재되는 인쇄회로기판의 정상 작동 여부를 확인함에 있어 많은 인력이 필요한 문제점과 긴 시간이 소모되는 문제점을 해결할 수 있고, 정확한 검사 결과를 보장할 수 있는 장치를 제공할 수 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 PCB 검사장치를 나타내는 정면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치를 나타내는 사진이다.
도 3은 검사 대상이 되는 ATM용 PCB를 나타내는 사진이다.
도 4는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 검사버튼부를 나타내는 사진이다.
도 5는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치를 측상방에서 바라본 상태를 나타내는 사진이다.
도 6은 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치를 전방에서 바라본 상태를 나타내는 사진이다.
도 7은 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치를 전방에서 바라본 상태를 나타내는 사진이다.
도 8은 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 기판거치부를 나타내는 사진이다.
도 9는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 위치변경부를 나타내는 사진이다.
도 10은 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 위치변경부를 이용하여 기판거치부의 위치를 변경하는 모습을 나타내는 사진이다.
도 11은 도 10에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 검사버튼부를 이용하여 PC 화면에 출력되는 정보를 바탕으로 검사를 수행하는 모습을 나타내는 사진이다.
이하 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 아니되며, 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
본 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 "상에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다. 본 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 2에는 본 발명의 일 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치를 나타내는 사진이 도시되어 있고, 도 3에는 검사 대상이 되는 ATM용 PCB를 나타내는 사진이 도시되어 있다.
이들 도면을 참조하면, 본 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치(100)는, 특정 구조의 검사본체부(110), 기판거치부(120), 키패드(131), 검사버튼부(130), 기판접속부(140), 작동레버(151) 및 위치변경부(150)를 구비함으로써, 현금지급기의 키패드(131)에 탑재되는 인쇄회로기판의 정상 작동 여부를 확인함에 있어 많은 인력이 필요한 문제점과 긴 시간이 소모되는 문제점을 해결할 수 있고, 정확한 검사 결과를 보장할 수 있는 장치를 제공할 수 있다.
이하에서는 도면을 참조하여, 본 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치(100)를 구성하는 각 구성에 대해 상세히 설명한다.
도 4에는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 검사버튼부를 나타내는 사진이 도시되어 있고, 도 5에는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치를 측상방에서 바라본 상태를 나타내는 사진이 도시되어 있으며, 도 6에는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치를 전방에서 바라본 상태를 나타내는 사진이 도시되어 있다. 또한, 도 7에는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치를 전방에서 바라본 상태를 나타내는 사진이 도시되어 있고, 도 8에는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 기판거치부를 나타내는 사진이 도시되어 있으며, 도 9에는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 위치변경부를 나타내는 사진이 도시되어 있다. 또한, 도 10에는 도 2에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 위치변경부를 이용하여 기판거치부의 위치를 변경하는 모습을 나타내는 사진이 도시되어 있고, 도 11에는 도 10에 도시된 ATM용 PCB 기능검사장치의 검사버튼부를 이용하여 PC 화면에 출력되는 정보를 바탕으로 검사를 수행하는 모습을 나타내는 사진이 도시되어 있다.
이들 도면을 참조하면, 본 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치(100)의 검사본체부(110)는, 기판거치부(120)에 안착된 검사대상 기판에 전력을 제공하는 전력공급부를 내장하며, 기판거치부(120)를 통해 전달되는 응답신호를 검출하여 측면에 장착된 PC연결케이블을 통해 PC에 전달하며, 전면에 작동스위치(111)가 장착된 구조이다.
본 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치(100)의 기판거치부(120)는, 검사본체부(110)의 상부면에 탈부착 가능한 구조로 장착되고, 검사하고자 하는 기판과 대응되는 만입홈 구조가 형성되며, 만입홈 구조에 안착된 기판과 전기적 접속되는 다수의 제1접속단자(121)가 구비된 구조이다.
구체적으로, 본 실시예에 따른 기판거치부(120)는, 특정 구조의 거치플랫폼(122), 가이드돌기(123), 안착만입홈(124) 및 기판검출돌기(125)를 포함하는 구성일 수 있다.
기판 거치부(120)의 거치플랫폼(122)은, 검사본체부(110)의 상부면으로부터 소정 높이만큼 돌출되어 소정 면적을 가지는 사각형 거치면을 형성하는 구조이다. 기판거치부(120)의 가이드돌기(123)는, 거치플랫폼(122)의 네 꼭지점과 인접하여 대칭 형태로 다수 장착되고, 상방으로 소정 높이만큼 연장된 환봉형 구조이다. 기판거치부(120)의 안착만입홈(124)은, 거치플랫폼(122)의 거치면으로부터 소정 깊이만큼 만입되고, 검사하고자 하는 기판과 대응되는 구조이며, 내부에 검사하고자 하는 기판과 전기적 접속되는 다수의 제1접속단자(121)가 구비된 구조이다. 기판거치부(120)의 기판검출돌기(125)는, 거치플랫폼(122)의 거치면으로부터 소정 높이만큼 돌출 형성되고, 검사 대상 기판의 일측면과 접촉하여 하방으로 눌려 삽입되어 검사 대상 기판의 안착 여부를 검출하는 구조이다.
이 때, 거치플랫폼(122)은 검사본체부(110)의 상부면에 측방으로 슬라이딩 삽입되거나 탈거되는 구조로 장착됨이 바람직하다.
본 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치(100)의 검사버튼부(130)는, 검사본체부(110)의 상부면으로부터 소정 높이만큼 이격된 위치에 장착되고, 위치변경부(150)에 의해 상하 높이방향으로 위치변경되며, 상부면에 현금지급기의 키패드(131)가 장착된 구조이다.
본 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치(100)의 기판접속부(140)는, 검사버튼부(130)의 하부면에 장착되고, 기판거치부(120)에 안착된 기판과 전기적으로 접속되는 다수의 제2접속단자(141)가 구비된 구조이며, 키패드(131)로부터 입력되는 신호를 검사하고자 하는 기판에 전달하는 구조이다.
구체적으로, 본 실시예에 따른 기판접속부(140)는, 특정 구조의 고정판(142), 스톱판(143), 완충링크(144) 및 입력신호전달돌기(145)를 포함하는 구성일 수 있다. 기판접속부(140)의 고정판(142)은, 검사버튼부(130)의 하부면에 결속되는 구조이다. 기판접속부(140)의 스톱판(143)은 기판거치부(120)의 상부면과 면접촉하는 판상형 구조이고, 가이드돌기(123)와 대응되는 위치에 가이드돌기(123)가 삽입되거나 토출될 수 있는 구조의 관통구가 형성되며, 중앙부에 제2접속단자(141)가 장착된 구조이다. 기판접속부(140)의 완충링크(144)는 고정판(142)의 하부와 스톱판(143)의 상부를 서로 연결하고, 다수의 링크구조를 구비하며, 스톱판(143)으로부터 상방으로 인가되는 가압력에 대항하여 탄성복원력을 제공할 수 있다. 또한, 기판접속부(140)의 입력신호전달돌기(145)는, 고정판(142)으로부터 하방으로 소정 길이만큼 연장되도록 장착되고, 검사버튼부(130)로부터 입력되는 입력신호를 스톱판(143)에 장착된 제2접속단자(141)에 전달하는 구조이다.
이 경우, 위치변경부(150)에 의해 검사버튼부(130)가 하방으로 위치변경되어 기판접속부(140)의 제2접속단자(141)가 검사하고자 하는 기판과 전기적으로 접속되고, 이와 동시에 입력신호전달돌기(145)와 제2접속단자(141)가 전기적으로 접속됨이 바람직하다.
본 실시예에 따른 ATM용 PCB 기능검사장치(100)의 위치변경부(150)는, 검사본체부(110)의 일측에 장착되고, 검사본체부(110)의 전방으로 소정 각도만큼 회전되는 구조의 작동레버(151)를 통해 사용자에 의해 작동하여, 검사버튼부(130)의 상하 높이방향 위치를 변경하여 기판접속부(140)의 하부면을 기판거치부(120)에 안착된 기판의 상부면과 접속시키거나 접속 해제하는 구조이다.
구체적으로, 본 실시예에 따른 위치변경부(150)는 특정 구조의 가이드바(153), 측커버본체(152), 작동레버(151), 회전축(154), 높이변경링크(155) 및 탄성부재(156)를 포함하는 구성일 수 있다.
위치변경부(150)의 측커버본체(152)는, 검사본체부(110)의 일측으로부터 상방으로 소정 높이만큼 연장된 구조로 장착되고, 내부에 상하 높이방향으로 연장된 가이드바(153)가 측방으로 소정 거리만큼 이격되어 장착된 구조이다. 위치변경부(150)의 작동레버(151)는, 측커버본체(152)의 일측면에 회전가능하도록 장착되는 구조이다. 회전축(154)은 작동레버(151)의 회전중심에 장착되고, 측커버본체(152)의 내부에 회전가능하도록 장착되는 구조이다. 높이변경링크(155)는, 회전축(154)에 장착되고, 작동레버(151)의 회전동작에 의해 검사버튼부(130)의 상하 높이를 변경하는 구조이다. 또한, 탄성부재(156)는, 가이드바(153)에 장착되고, 검사버튼부(130)의 하부면을 지지하는 구조이다.
이 경우, 본 실시예에 따른 검사버튼부(130)는, 특정 구조의 검사버튼본체부 및 키패드(131)를 포함하는 구성일 수 있다. 구체적으로, 검사버튼본체부는, 가이드바(153)에 상하 높이방향으로 슬라이딩 위치 변경 가능하도록 장착되는 구조이다. 또한, 키패드(131)는, 검사버튼본체부의 상부면 중앙에 탈부착 가능한 구조로 장착되는 구조이다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 ATM용 PCB 기능검사장치에 따르면, 특정 구조의 검사본체부(110), 기판거치부(120), 키패드(131), 검사버튼부(130), 기판접속부(140), 작동레버(151) 및 위치변경부(150)를 구비함으로써, 현금지급기의 키패드(131)에 탑재되는 인쇄회로기판의 정상 작동 여부를 확인함에 있어 많은 인력이 필요한 문제점과 긴 시간이 소모되는 문제점을 해결할 수 있고, 정확한 검사 결과를 보장할 수 있는 장치를 제공할 수 있다.
이상의 본 발명의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시예에 대해서만 기술하였다. 하지만 본 발명은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
즉, 본 발명은 상술한 특정의 실시예 및 설명에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능하며, 그와 같은 변형은 본 발명의 보호 범위 내에 있게 된다.
100: ATM용 PCB 기능검사장치
110: 검사본체부
111: 작동스위치
120: 기판거치부
121: 제1접속단자
122: 거치플랫폼
123: 가이드돌기
124: 안착만입홈
125: 기판검출돌기
130: 검사버튼부
131: 키패드
140: 기판접속부
141: 제2접속단자
142: 고정판
143: 스톱판
144: 완충링크
145: 입력신호전달돌기
150: 위치변경부
151: 작동레버
152: 측커버본체
153: 가이드바
154: 회전축
155: 높이변경링크
156: 탄성부재

Claims (5)

  1. 기판거치부(120)에 안착된 검사대상 기판에 전력을 제공하는 전력공급부를 내장하며, 기판거치부(120)를 통해 전달되는 응답신호를 검출하여 측면에 장착된 PC연결케이블을 통해 PC에 전달하며, 전면에 작동스위치(111)가 장착된 구조의 검사본체부(110);
    상기 검사본체부(110)의 상부면에 탈부착 가능한 구조로 장착되고, 검사하고자 하는 기판과 대응되는 만입홈 구조가 형성되며, 만입홈 구조에 안착된 기판과 전기적 접속되는 다수의 제1접속단자(121)가 구비된 기판거치부(120);
    상기 검사본체부(110)의 상부면으로부터 소정 높이만큼 이격된 위치에 장착되고, 위치변경부(150)에 의해 상하 높이방향으로 위치변경되며, 상부면에 현금지급기의 키패드(131)가 장착된 구조의 검사버튼부(130);
    상기 검사버튼부(130)의 하부면에 장착되고, 기판거치부(120)에 안착된 기판과 전기적으로 접속되는 다수의 제2접속단자(141)가 구비된 구조이며, 키패드(131)로부터 입력되는 신호를 검사하고자 하는 기판에 전달하는 기판접속부(140); 및
    상기 검사본체부(110)의 일측에 장착되고, 검사본체부(110)의 전방으로 소정 각도만큼 회전되는 구조의 작동레버(151)를 통해 사용자에 의해 작동하여, 검사버튼부(130)의 상하 높이방향 위치를 변경하여 기판접속부(140)의 하부면을 기판거치부(120)에 안착된 기판의 상부면과 접속시키거나 접속 해제하는 구조의 위치변경부(150);
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 ATM용 PCB 기능검사장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 기판거치부(120)는,
    상기 검사본체부(110)의 상부면으로부터 소정 높이만큼 돌출되어 소정 면적을 가지는 사각형 거치면을 형성하는 거치플랫폼(122);
    상기 거치플랫폼(122)의 네 꼭지점과 인접하여 대칭 형태로 다수 장착되고, 상방으로 소정 높이만큼 연장된 환봉형 구조의 가이드돌기(123);
    상기 거치플랫폼(122)의 거치면으로부터 소정 깊이만큼 만입되고, 검사하고자 하는 기판과 대응되는 구조이며, 내부에 검사하고자 하는 기판과 전기적 접속되는 다수의 접속단자가 구비된 안착만입홈(124); 및
    상기 거치플랫폼(122)의 거치면으로부터 소정 높이만큼 돌출 형성되고, 검사 대상 기판의 일측면과 접촉하여 하방으로 눌려 삽입되어 검사 대상 기판의 안착 여부를 검출하는 기판검출돌기(125);
    를 포함하고,
    상기 거치플랫폼(122)은 검사본체부(110)의 상부면에 측방으로 슬라이딩 삽입되거나 탈거되는 구조로 장착되는 것을 특징으로 하는 ATM용 PCB 기능검사장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 기판접속부(140)는,
    상기 검사버튼부(130)의 하부면에 결속되는 고정판(142);
    상기 기판거치부(120)의 상부면과 면접촉하는 판상형 구조이고, 가이드돌기(123)와 대응되는 위치에 가이드돌기(123)가 삽입되거나 토출될 수 있는 구조의 관통구가 형성되며, 중앙부에 제2접속단자(141)가 장착된 스톱판(143);
    상기 고정판(142)의 하부와 스톱판(143)의 상부를 서로 연결하고, 다수의 링크구조를 구비하며, 스톱판(143)으로부터 상방으로 인가되는 가압력에 대항하여 탄성복원력을 제공하는 완충링크(144); 및
    상기 고정판(142)으로부터 하방으로 소정 길이만큼 연장되도록 장착되고, 검사버튼부(130)로부터 입력되는 입력신호를 스톱판(143)에 장착된 제2접속단자(141)에 전달하는 입력신호전달돌기(145);
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 ATM용 PCB 기능검사장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 위치변경부(150)에 의해 검사버튼부(130)가 하방으로 위치변경되어 기판접속부(140)의 제2접속단자(141)가 검사하고자 하는 기판과 전기적으로 접속되고, 이와 동시에 입력신호전달돌기(145)와 제2접속단자(141)가 전기적으로 접속되는 것을 특징으로 하는 ATM용 PCB 기능검사장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 위치변경부(150)는,
    상기 검사본체부(110)의 일측으로부터 상방으로 소정 높이만큼 연장된 구조로 장착되고, 내부에 상하 높이방향으로 연장된 가이드바(153)가 측방으로 소정 거리만큼 이격되어 장착된 측커버본체(152);
    상기 측커버본체(152)의 일측면에 회전가능하도록 장착되는 작동레버(151);
    상기 작동레버(151)의 회전중심에 장착되고, 측커버본체(152)의 내부에 회전가능하도록 장착되는 회전축(154);
    상기 회전축(154)에 장착되고, 작동레버(151)의 회전동작에 의해 검사버튼부(130)의 상하 높이를 변경하는 높이변경링크(155); 및
    상기 가이드바(153)에 장착되고, 검사버튼부(130)의 하부면을 지지하는 탄성부재(156);
    를 포함하고,
    상기 검사버튼부(130)는,
    상기 가이드바(153)에 상하 높이방향으로 슬라이딩 위치 변경 가능하도록 장착되는 검사버튼본체부; 및
    상기 검사버튼본체부의 상부면 중앙에 탈부착 가능한 구조로 장착되는 키패드(131);
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 ATM용 PCB 기능검사장치.
KR1020220082743A 2022-07-05 2022-07-05 Atm용 pcb 기능검사장치 KR102451715B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220082743A KR102451715B1 (ko) 2022-07-05 2022-07-05 Atm용 pcb 기능검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220082743A KR102451715B1 (ko) 2022-07-05 2022-07-05 Atm용 pcb 기능검사장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR102451715B1 true KR102451715B1 (ko) 2022-10-07

Family

ID=83596108

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020220082743A KR102451715B1 (ko) 2022-07-05 2022-07-05 Atm용 pcb 기능검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102451715B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116297461A (zh) * 2023-05-16 2023-06-23 威海壹言自动化科技有限公司 一种用于电子元件的质检装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0521469U (ja) * 1991-08-30 1993-03-19 株式会社東芝 Ｐｃｂ検査装置
JPH10253720A (ja) * 1997-01-27 1998-09-25 Jeung-Gun Kang Ｐｃｂ検査装置
KR200164392Y1 (ko) * 1994-12-07 2000-01-15 손욱 디지타이저 패널의 특성 검사용 시그널 공급장치
JP2007139450A (ja) * 2005-11-15 2007-06-07 Fujitsu Ltd デバイス試験装置およびデバイス試験方法
CN203572927U (zh) * 2013-11-01 2014-04-30 福建升腾资讯有限公司 一种主板中防拆功能的测试装置
KR20140142661A (ko) 2013-06-04 2014-12-12 니혼덴산리드가부시키가이샤 기판 검사 장치, 기판 검사 방법 및 기판 검사용 지그

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0521469U (ja) * 1991-08-30 1993-03-19 株式会社東芝 Ｐｃｂ検査装置
KR200164392Y1 (ko) * 1994-12-07 2000-01-15 손욱 디지타이저 패널의 특성 검사용 시그널 공급장치
JPH10253720A (ja) * 1997-01-27 1998-09-25 Jeung-Gun Kang Ｐｃｂ検査装置
JP2007139450A (ja) * 2005-11-15 2007-06-07 Fujitsu Ltd デバイス試験装置およびデバイス試験方法
KR20140142661A (ko) 2013-06-04 2014-12-12 니혼덴산리드가부시키가이샤 기판 검사 장치, 기판 검사 방법 및 기판 검사용 지그
CN203572927U (zh) * 2013-11-01 2014-04-30 福建升腾资讯有限公司 一种主板中防拆功能的测试装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116297461A (zh) * 2023-05-16 2023-06-23 威海壹言自动化科技有限公司 一种用于电子元件的质检装置
CN116297461B (zh) * 2023-05-16 2023-08-15 威海壹言自动化科技有限公司 一种用于电子元件的质检装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5198756A (en) Test fixture wiring integrity verification device
US5945836A (en) Loaded-board, guided-probe test fixture
EP0840130B1 (en) Standard- and limited-access hybrid test fixture
US20060024990A1 (en) Universal measuring adapter system
KR102451715B1 (ko) Atm용 pcb 기능검사장치
JPH1164426A (ja) プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット
CN212749137U (zh) 具有可配置探头固定装置的测试设备
US20030234656A1 (en) Wireless test fixture adapter for printed circuit assembly tester
KR101913274B1 (ko) 프로브 카드의 전기적 특성 측정장치
KR101000456B1 (ko) 유지 및 보수가 용이한 프로브유닛
CN101135706A (zh) 晶片测试模块
JPH077038B2 (ja) プリント基板検査装置
KR200407312Y1 (ko) 인쇄회로기판 검사용 픽스처를 위한 안정형 프로브
KR101973385B1 (ko) 휴대용 입출력단자 연결형 전자기판(pcb) 조립품 불량 검출 장치
JP4387292B2 (ja) 可撓性プリント基板の電気検査装置及び電気検査方法
JP2928121B2 (ja) Ｉｃソケットの検査装置
JP2006234639A (ja) 電気回路検査用プローブ装置
JP2759451B2 (ja) プリント基板検査治具
JPH1026646A (ja) コンタクト装置
JP2007281101A (ja) 制御基板のプリント配線構造
JPH05215814A (ja) 半導体デバイスの検査装置
JPH10197590A (ja) マルチテスト用治具とマルチテスター
JP4709541B2 (ja) コネクタの試験装置
CN114217206A (zh) 一种双面工艺pin二极管电源管理芯片的检测系统
JPH1038970A (ja) 検査治具および自動検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant