JP2759451B2 - プリント基板検査治具 - Google Patents
プリント基板検査治具Info
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- JP2759451B2 JP2759451B2 JP62100752A JP10075287A JP2759451B2 JP 2759451 B2 JP2759451 B2 JP 2759451B2 JP 62100752 A JP62100752 A JP 62100752A JP 10075287 A JP10075287 A JP 10075287A JP 2759451 B2 JP2759451 B2 JP 2759451B2
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- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- pin
- circuit board
- pitch
- adapter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、検査装置のプローブピンと基板接点との電
気的接続を行うプリント基板検査治具に係わり、特に検
査装置と、所定ピッチ以外のピッチで配列された接点を
有するプリント基板との電気的接続に好適なプリント基
板検査治具に関する。 （従来の技術） 従来、例えばIC等の接点は、0.1インチ（2.54mm）の
所定のピッチで形成されるよう規格化されており、プリ
ント基板の試験測定を行うプリント基板検査装置には、
この所定ピッチで多数のプローブピンが配列されてい
る。 そして、このような所定ピッチ以外のピッチで接点を
形成されたプリント基板の試験測定を行う場合は、例え
ば第３図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試
験測定を行っている。 すなわち、0.1インチの所定ピッチで多数配列された
プローブピン21を備えた検査装置20上に載置されるボト
ムボード１は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート
等から構成されており、上記プローブピン21と同ピッチ
で多数の透孔1aが形成されている。 ボトムボード１の上部には、複数の支柱２によって支
持されたトップボード３が配置されている。このトップ
ボード３は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔3aが形成されている。 そして、トップボード３の透孔3aと、ボトムボード１
の透孔1aとの間には、コンタクトピン４が配置され、検
査装置20のプローブピン21と、プリント基板30の接点31
との電気的接続を行い測定を行う。 上記構成のプリント基板検査治具では、プローブピン
21のピッチと、接点31のピッチとが異なる場合でも、プ
ロープビン21と接点31との間にコンタクトピン４が斜め
に配置されることにより、プローブピン21と接点31との
電気的接続を行い、測定可能とするものである。また、
コンタクトピン４は、容易に脱着が可能とされ、種類の
異なるプリント基板30の測定を行なう場合は、接点31に
対応した透孔3aを備えたトップボード３のみを交換する
ことによって測定することができるよう構成されてい
る。 （発明が解決しようとする問題点） しかしながら近年は、高集積化のため、基板に形成さ
れる接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッ
チで形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント
基板検査治具では、所定の基準ピッチと異なるピッチ、
例えば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数の接点
を連続して形成された基板等の場合、コンタクトピンを
配置することが困難となり、測定を行うことができない
という問題がある。 本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもの
で、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基
準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成
された基板等でも、試験測定を行うことができ、かつ、
トップボードのみを交換することによって多種類のプリ
ント基板の測定を行うことのできるプリント基板検査治
具を提供しようとするものである。 ［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） すなわち本発明は、検査装置のプローブピンのピッチ
で配列された多数の透孔を有するボトムボードと、プリ
ント基板の接点位置に対応して配列された透孔を有する
トップボードとを備え、前記検査装置のプローブピンと
プリント基板接点との電気的接続を行うプリント基板検
査治具において、 筒状部材と、この筒状部材内に設けられたスプリング
と、このスプリングによって付勢され前記筒状部材の上
端部から上下動自在に突設されたピン本体と、前記筒状
部材の側面に突出するよう配設された弾性部材とを具備
したアダプタピンと、 一端が、上方に前記トップボードが存在しない位置に
おいて前記検査装置のプローブピンに接続され、他端が
前記アダプタピンに接続されたフレキシブル導体と、 内側に前記弾性部材を係止するための段差部が形成さ
れ、下方から挿入された前記アダプタピンが、前記ピン
本体の上端部が突出した状態で前記段差部によって係止
されるよう前記トップボードに穿設されたアダプタピン
用透孔と を備えたことを特徴とする。 （作 用） 本発明のプリント基板検査治具では、所定の基準ピッ
チと異なるピッチ、例えば所定の基準ピッチより小さな
ピッチで多数連続して形成された接点等は、上記アダプ
タピンおよびフレキシブル導体を介して電気的に接続
し、試験測定を行うことができる。また、従来と同様に
トップボードのみを交換することによって多種類のプリ
ント基板の測定も行うことができる。 （実施例） 以下本発明のプリント基板検査治具を、第１図および
第２図を参照して実施例について説明する。 0.1インチの所定ピッチで多数配列されたプローブピ
ン21を備えた検査装置20上に載置されるボトムボード11
は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等から構成
されており、上記プローブピン21と同ピッチで多数の透
孔11aが形成されている。また、例えばボトムボード11
の上面端部には、下端が上記プローブピン21に接触され
る複数のピン11bが植設されている。 ボトムボード11の上部には、複数の支柱12によって支
持されたトップボード13が配置されている。このトップ
ボード13は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔13aが形成されてい
る。 トップボード13の透孔13aが、0.1インチの所定ピッチ
で配列された部位には、前述の従来のプリント基板検査
治具と同様にコンタクトピン14が配置されている。 そして、トップボード13の透孔13aが、0.1インチの所
定ピッチより小ピッチで配列された部位には、アダプタ
15のアダプタピン16が挿入されている。 このアダプタ15は、複数のアダプタピン16と、コネク
タ17と、このコネクタ17と複数のアダプタピン16とをそ
れぞれ電気的に接続する複数のフレキシブル導体18とか
ら構成されている。なお、コネクタ17は、ボトムボード
11のピン11b上部に嵌合され、フレキシブル導体18とピ
ン11bとをそれぞれ電気的に接続する。 また、アダプタピン16は、第２図に示すように構成さ
れている。 すなわち、中空円筒状の筒状部材16a内にはコイルス
プリング16bが配置されている。また、筒状部材16a一端
の開口には、ピン本体16cが挿入されている。このピン
本体16cは、側面に凸部16dが形成されており、この凸部
16dにより開口の端部に係止され、コイルスプリング16b
によって図示矢印方向に付勢されている。そして、筒状
部材16aの下側端部には、フレキシブル導体18の一端が
接続され、このフレキシブル導体18とピン本体16cと
は、コイルスプリング16bを介して電気的に接続されて
いる。 また、筒状部材16aには、筒状部材16a側面に突出する
凸部を形成する弾性部材16eが配設されている。そし
て、アダプタピン16は、弾性部材16eが変形することに
より、トップボード13の透孔13aに下側から押圧挿入、
引き抜き可能とされるとともに、弾性部材16eによって
透孔13a内の段差部13b上面に係止される。 上記構成のこの実施例のプリント基板検査治具では、
プリント基板30に0.1インチの所定ピッチより小ピッチ
で配列された接点31と、検査装置20のプローブピン21と
の電気的接続を、アダプタ15によって行う。すなわち、
アダプタピン16をトップボード13の透孔13aに下方から
挿入して係止させ、コネクタ17をボトムボード11のピン
11bに嵌合させる。この状態でアダプタピン16上部にプ
リント基板30を配置し、アダプタピン16と接点31とを接
触させ、接点31とプローブピン21とを電気的に接続す
る。 したがって、小ピッチで配列された接点31が連続して
多数配置されたプリント基板30でも測定を行うことがで
きる。また、アダプタ15のアダプタピン16は、容易に脱
着を行えるので、上述の接点31のピッチおよび位置が異
なる場合でも、トップボード13のみを交換するだけで、
多種類のプリント基板30の測定を行うことができる。 ［発明の効果］ 上述のように、本発明のプリント基板検査治具では、
所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基準ピ
ッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成され
た基板等でも、試験測定を行うことができ、かつ、トッ
プボードのみを交換することによって多種類のプリント
基板の測定を行うことができる。
気的接続を行うプリント基板検査治具に係わり、特に検
査装置と、所定ピッチ以外のピッチで配列された接点を
有するプリント基板との電気的接続に好適なプリント基
板検査治具に関する。 （従来の技術） 従来、例えばIC等の接点は、0.1インチ（2.54mm）の
所定のピッチで形成されるよう規格化されており、プリ
ント基板の試験測定を行うプリント基板検査装置には、
この所定ピッチで多数のプローブピンが配列されてい
る。 そして、このような所定ピッチ以外のピッチで接点を
形成されたプリント基板の試験測定を行う場合は、例え
ば第３図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試
験測定を行っている。 すなわち、0.1インチの所定ピッチで多数配列された
プローブピン21を備えた検査装置20上に載置されるボト
ムボード１は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート
等から構成されており、上記プローブピン21と同ピッチ
で多数の透孔1aが形成されている。 ボトムボード１の上部には、複数の支柱２によって支
持されたトップボード３が配置されている。このトップ
ボード３は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔3aが形成されている。 そして、トップボード３の透孔3aと、ボトムボード１
の透孔1aとの間には、コンタクトピン４が配置され、検
査装置20のプローブピン21と、プリント基板30の接点31
との電気的接続を行い測定を行う。 上記構成のプリント基板検査治具では、プローブピン
21のピッチと、接点31のピッチとが異なる場合でも、プ
ロープビン21と接点31との間にコンタクトピン４が斜め
に配置されることにより、プローブピン21と接点31との
電気的接続を行い、測定可能とするものである。また、
コンタクトピン４は、容易に脱着が可能とされ、種類の
異なるプリント基板30の測定を行なう場合は、接点31に
対応した透孔3aを備えたトップボード３のみを交換する
ことによって測定することができるよう構成されてい
る。 （発明が解決しようとする問題点） しかしながら近年は、高集積化のため、基板に形成さ
れる接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッ
チで形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント
基板検査治具では、所定の基準ピッチと異なるピッチ、
例えば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数の接点
を連続して形成された基板等の場合、コンタクトピンを
配置することが困難となり、測定を行うことができない
という問題がある。 本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもの
で、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基
準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成
された基板等でも、試験測定を行うことができ、かつ、
トップボードのみを交換することによって多種類のプリ
ント基板の測定を行うことのできるプリント基板検査治
具を提供しようとするものである。 ［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） すなわち本発明は、検査装置のプローブピンのピッチ
で配列された多数の透孔を有するボトムボードと、プリ
ント基板の接点位置に対応して配列された透孔を有する
トップボードとを備え、前記検査装置のプローブピンと
プリント基板接点との電気的接続を行うプリント基板検
査治具において、 筒状部材と、この筒状部材内に設けられたスプリング
と、このスプリングによって付勢され前記筒状部材の上
端部から上下動自在に突設されたピン本体と、前記筒状
部材の側面に突出するよう配設された弾性部材とを具備
したアダプタピンと、 一端が、上方に前記トップボードが存在しない位置に
おいて前記検査装置のプローブピンに接続され、他端が
前記アダプタピンに接続されたフレキシブル導体と、 内側に前記弾性部材を係止するための段差部が形成さ
れ、下方から挿入された前記アダプタピンが、前記ピン
本体の上端部が突出した状態で前記段差部によって係止
されるよう前記トップボードに穿設されたアダプタピン
用透孔と を備えたことを特徴とする。 （作 用） 本発明のプリント基板検査治具では、所定の基準ピッ
チと異なるピッチ、例えば所定の基準ピッチより小さな
ピッチで多数連続して形成された接点等は、上記アダプ
タピンおよびフレキシブル導体を介して電気的に接続
し、試験測定を行うことができる。また、従来と同様に
トップボードのみを交換することによって多種類のプリ
ント基板の測定も行うことができる。 （実施例） 以下本発明のプリント基板検査治具を、第１図および
第２図を参照して実施例について説明する。 0.1インチの所定ピッチで多数配列されたプローブピ
ン21を備えた検査装置20上に載置されるボトムボード11
は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等から構成
されており、上記プローブピン21と同ピッチで多数の透
孔11aが形成されている。また、例えばボトムボード11
の上面端部には、下端が上記プローブピン21に接触され
る複数のピン11bが植設されている。 ボトムボード11の上部には、複数の支柱12によって支
持されたトップボード13が配置されている。このトップ
ボード13は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔13aが形成されてい
る。 トップボード13の透孔13aが、0.1インチの所定ピッチ
で配列された部位には、前述の従来のプリント基板検査
治具と同様にコンタクトピン14が配置されている。 そして、トップボード13の透孔13aが、0.1インチの所
定ピッチより小ピッチで配列された部位には、アダプタ
15のアダプタピン16が挿入されている。 このアダプタ15は、複数のアダプタピン16と、コネク
タ17と、このコネクタ17と複数のアダプタピン16とをそ
れぞれ電気的に接続する複数のフレキシブル導体18とか
ら構成されている。なお、コネクタ17は、ボトムボード
11のピン11b上部に嵌合され、フレキシブル導体18とピ
ン11bとをそれぞれ電気的に接続する。 また、アダプタピン16は、第２図に示すように構成さ
れている。 すなわち、中空円筒状の筒状部材16a内にはコイルス
プリング16bが配置されている。また、筒状部材16a一端
の開口には、ピン本体16cが挿入されている。このピン
本体16cは、側面に凸部16dが形成されており、この凸部
16dにより開口の端部に係止され、コイルスプリング16b
によって図示矢印方向に付勢されている。そして、筒状
部材16aの下側端部には、フレキシブル導体18の一端が
接続され、このフレキシブル導体18とピン本体16cと
は、コイルスプリング16bを介して電気的に接続されて
いる。 また、筒状部材16aには、筒状部材16a側面に突出する
凸部を形成する弾性部材16eが配設されている。そし
て、アダプタピン16は、弾性部材16eが変形することに
より、トップボード13の透孔13aに下側から押圧挿入、
引き抜き可能とされるとともに、弾性部材16eによって
透孔13a内の段差部13b上面に係止される。 上記構成のこの実施例のプリント基板検査治具では、
プリント基板30に0.1インチの所定ピッチより小ピッチ
で配列された接点31と、検査装置20のプローブピン21と
の電気的接続を、アダプタ15によって行う。すなわち、
アダプタピン16をトップボード13の透孔13aに下方から
挿入して係止させ、コネクタ17をボトムボード11のピン
11bに嵌合させる。この状態でアダプタピン16上部にプ
リント基板30を配置し、アダプタピン16と接点31とを接
触させ、接点31とプローブピン21とを電気的に接続す
る。 したがって、小ピッチで配列された接点31が連続して
多数配置されたプリント基板30でも測定を行うことがで
きる。また、アダプタ15のアダプタピン16は、容易に脱
着を行えるので、上述の接点31のピッチおよび位置が異
なる場合でも、トップボード13のみを交換するだけで、
多種類のプリント基板30の測定を行うことができる。 ［発明の効果］ 上述のように、本発明のプリント基板検査治具では、
所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基準ピ
ッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成され
た基板等でも、試験測定を行うことができ、かつ、トッ
プボードのみを交換することによって多種類のプリント
基板の測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例のプリント基板検査治具を示
す側面図、第２図は第１図の要部を示す側面図、第３図
は従来のプリント基板検査治具を示す側面図である。 11……ボトムボード、11a……透孔、13……トップボー
ド、13a……透孔、14……コンタクトピン、16……アダ
プタピン、17……コネクタ、18……フレキシブル導体、
20……測定装置、21……プローブピン、30……プリント
基板、31……接点。
す側面図、第２図は第１図の要部を示す側面図、第３図
は従来のプリント基板検査治具を示す側面図である。 11……ボトムボード、11a……透孔、13……トップボー
ド、13a……透孔、14……コンタクトピン、16……アダ
プタピン、17……コネクタ、18……フレキシブル導体、
20……測定装置、21……プローブピン、30……プリント
基板、31……接点。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 １．検査装置のプローブピンのピッチで配列された多数
の透孔を有するボトムボードと、プリント基板の接点位
置に対応して配列された透孔を有するトップボードとを
備え、前記検査装置のプローブピンとプリント基板接点
との電気的接続を行うプリント基板検査治具において、 筒状部材と、この筒状部材内に設けられたスプリング
と、このスプリングによって付勢され前記筒状部材の上
端部から上下動自在に突設されたピン本体と、前記筒状
部材の側面に突出するよう配設された弾性部材とを具備
したアダプタピンと、 一端が、上方に前記トップボードが存在しない位置にお
いて前記検査装置のプローブピンに接続され、他端が前
記アダプタピンに接続されたフレキシブル導体と、 内側に前記弾性部材を係止するための段差部が形成さ
れ、下方から挿入された前記アダプタピンが、前記ピン
本体の上端部が突出した状態で前記段差部によって係止
されるよう前記トップボードに穿設されたアダプタピン
用透孔と を備えたことを特徴とするプリント基板検査治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62100752A JP2759451B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62100752A JP2759451B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63265180A JPS63265180A (ja) | 1988-11-01 |
| JP2759451B2 true JP2759451B2 (ja) | 1998-05-28 |
Family
ID=14282253
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62100752A Expired - Lifetime JP2759451B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2759451B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02248876A (ja) * | 1989-03-23 | 1990-10-04 | Terenikusu:Kk | プリント基盤テスト用のスーパーアダプタ |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6267469A (ja) * | 1985-09-20 | 1987-03-27 | Kyoei Sangyo Kk | プリント配線板検査機用アダプタ |
-
1987
- 1987-04-23 JP JP62100752A patent/JP2759451B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63265180A (ja) | 1988-11-01 |
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