JPH0637771U - プロービング装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 印刷基板上に形成された、隣接間隔の極めて
狭い導体パターンの導通状態をチェックできる、構造が
簡単で、制作が容易なプロービング装置を提供する。 【構成】 内部にリード線１４布線用の空間２０を有
し、可撓性のある弾性部材で形成された筒１６に、複数
のプローブピン１２を設ける。プローブピン１２は筒１
６の軸方向に平行に、所定の間隔をあけて配設される。
プローブピン１２の頭頂部１２ｂは、印刷基板面上にパ
ターン形成された接触端子１０４と接触し、また、プロ
ーブピン１２の先端１２ａは測定回路とリード線１４に
よって接続される。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、回路基板のパターン間の導通試験等を行う導通チェッカに関し、特 に、基板の端に設けられるおすコネクタ等のような、回路基板上にパターニング された導電パターン相互間の導通試験を行うプロービング装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

図３に示すように、マザーボード等の他の回路基板に設けられた直接型印刷回 路基板用コネクタ１００に回路基板１０２を直接挿入して、マザーボード等と回 路基板１０２とを電気的に接続する「おすコネクタ」がある。このおすコネクタ は基板の端に設けられ、直接型印刷回路基板用コネクタ１００のコンタクト１０ ６と接触する複数の接触端子１０４の導電パターンが回路基板１０２面上にパタ ーニングされて形成されている。これら接触端子１０４は、上記直接型印刷回路 基板用コネクタ１００からの電力供給及びグランド接続、又は信号接続等の役割 を果たしている。このような接触端子１０４同士、例えば、信号用の接触端子１ ０４と電源用の接触端子１０４とは通常短絡していないのが正常である。

【０００３】 従って、電力供給用の接触端子１０４とグランド接続の接触端子１０４とが短 絡していたり、信号接続用の接触端子１０４と電力供給用の接触端子１０４とが 短絡していると、この回路基板を上記直接型印刷回路基板用コネクタ１００に挿 入した場合に装置故障、さらには回路基板の焼損破壊等を招くことになる。この ような接触端子１０４間の短絡は、新たな回路基板をアートワーク等から制作し た場合のアートワーク不良や、回路基板への電子部品ハンダデイップ時等に発生 する虞がある。例えば、ハンダデイップ作業時において、作業の不完全性により 、チップの各ピン同士がハンダで短絡されることがある。従って、回路基板製造 の最終製品チェック時には、少なくとも接触端子１０４間の短絡をチェックする 必要があるし、さらには、回路基板上に形成された導電パターン、例えば、各デ バイスのピン間若しくはデバイスの各ピンと上記おすコネクタの接触端子１０４ との間等を接続する導電パターンが正しいか否かチェックする必要がある場合が ある。

【０００４】 特に近年の実装密度の高度化は、信号間短絡等の製造不良発生の危険性が高く なり、このチェックの必要性がより一層高まっている。また、回路部品がディッ プされた回路基板製造の最終製品チェックの際に、この回路基板へ所定の信号を 入力した際に、この回路基板から出力される信号が所望するタイミング又は演算 処理結果等を出力するか、上記おすコネクタの接触端子１０４でチェックする場 合がある。

【０００５】 このような回路基板のおすコネクタの接触パターン１０４同士の導通チェック 又は導電パターンのチェックを行う、従来のプロービング装置の構成概略図を図 ４に示す。この図４において、プロービング装置のプローブプレート１０８には 複数のプローバー１１２が、直線的でしかも等間隔を有するように設けられてい る。この各プローバー１１２は、下部にフランジ１１６を有し、且つ上下動する プローブピン１２２と、プローブプレート１０８にプローバー１１２を取り付け る為のフランジ１１８と、フランジ１１６とフランジ１１８との間に挟まれたバ ネ１１４とを有している。さらにプローバー１１２の上端には、導通チェックを 行う図示しない測定回路と接続するための配線１２０がハンダ等で接続されてい る。このプローバー１１２の隣あう間隔１１０は、被検査対象である回路基板１ ０２の隣あう接触端子１０４の間隔に等しい。

【０００６】 そして、プロービング装置の検査台等に仮止めされた回路基板１０２の各接触 端子１０４に、対応するプローバー１１２のプローブピン１２２を接触するよう にプローブプレート１０８を下降移動させると、バネ１１４の弾力性によって、 各プローブピン１２２はそれぞれの接触端子１０４に押しつけられ、接触させら れる。このような状態で、各プローバー１１２間の電気抵抗を測定したり、それ ぞれのプローバー１１２に所定の信号を入力した場合のプローバー１１２出力を チェックすることによって、接触端子１０４の短絡状態又は導電パターンの良否 等の各種チェックをすることができる。

【０００７】 他のプロービング装置を図５に示す。この図５におけるプロービング装置では 、図４に示すプロービング装置のプローバー１１２の代わりに、導電性のあるゴ ム１２４を不導電性のゴム１２６で交互にサンドイッチしたものが用いられてい る。そして、それぞれのゴム１２４は図示しないプロービング装置の測定回路に 導電パターン等によって接続されている。これら複数のゴム１２６及びゴム１２ ４を被検査対象である回路基板１０２のおすコネクタ部分に、強く押し当てるこ とで、各接触端子１０４と各ゴム１２４とが接触し、導通チェックを行うことが できる。

【０００８】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、図４のプロービング装置では、各プローバー１１２がフランジ １１６を備えるプローブピン１２２等で構成されているので、間隔１１０は、フ ランジ１１６若しくはフランジ１１８の直径と、所定の強度を持たせるために必 要な最小限度のプローブピン１２２直径とによって一義的に定められてしまう。 つまり、間隔１１０の最小距離は、上下動する隣あうプローブピン１２２の各フ ランジ１１６が接触しないような距離となる。しかし、近年の装置全体の小型化 及び多機能化傾向によって、接触端子１０４又は導電パターンの間隔をより一層 狭くすることが要求される傾向にあるが、上述した様な従来のプロービング装置 では、物理的にプローバー１１２の間隔１１０を狭くすることは事実上極めて困 難である。

【０００９】 また、図５の従来のプロービング装置では、ゴム１２４及びゴム１２６の横方 向の幅を薄くすれば、導電性のあるゴム１２４の間隔を狭くすることが可能であ るが、ゴム１２４，１２６からなるプローバ全体の弾力性が小さく、ゴム１２４ と接触端子１０４との接触不良を起こす度合いが高い。従って、各ゴム１２４を それぞれの接触端子１０４に完全に接触させるためには、プローバ全体をおすコ ネクタに強く押し付けなければならない。このため、例えば、被測定対象である 回路基板１０２が極めて薄くかつ、湾曲していた場合、ゴム全体を回路基板１０ ２に強く押し当てることによって、基板に無理な力がかかり、基板の導電パター ン又はスルーホール等を破壊してしまう虞がある。またＬＣＤの場合でも、強く プローバを押しつけることでＬＣＤ自体を破壊してしまう虞があるので、同様に 強く押しつけることができない。従って、被測定対象の種類によっては、このよ うな図５に示すプロービング装置で導通チェック又は導電パターンのチェックを 行うことができない場合がある。

【００１０】 本考案は、間隔が極めて狭い接触端子間の導通チェックを行うことができ、し かも構造が簡単で、制作が容易なプロービング装置を提供することを目的とする 。

【００１１】

【課題を解決するための手段】

本考案に係るプロービング装置は、回路基板面上にパターン形成された導体パ ターン相互の導電性をチェックするプロービング装置において、測定回路に接続 される複数の配線用リード線を布線する空間を内部に有し、弾力性を持った可撓 性材料で形成された長軸な中空体と、この中空体に所定の間隔を有して設けられ 、頭頂部が前記中空体外周面に露出して前記回路基板の導電パターンと接触し、 かつ基端部が前記リード線に接続される複数のプローブピンとを備えたことを特 徴とする。

【００１２】

【実施例】

以下図示実施例により、本考案を説明する。 図１および図２は、本考案の一実施例であるプロービング装置を示す。この図 において、プローブプレート１０８の上面は、底面が円弧状に窪んだ溝１８が形 成され、この溝１８には、弾力性を持ち、しかも可撓性のあるゴム等の材料で成 形された中空の筒１６の外部側面の一部分が接着剤１９等で固着されている。こ の筒１６の上部には、鋲形状でしかも導電性材料で形成された複数のプローブピ ン１２が筒１６の軸方向に平行に設けられる。このプローブピン１２の鋲先端１ ２ａは筒１６内部に突出し、またプローブピン１２の頭頂部１２ｂは筒１６の外 面に露出している。これら複数のプローブピン１２の頭頂部１２ｂは平らに形成 されており、隣あうプローブピン１２の間隔は各プローブピン１２が接触端子１ ０４にそれぞれ接触するように所定の間隔を有している。各プローブピン１２の 先端１２ａにはリード線１４がそれぞれ接続されており、このリード線１４はプ ロービング装置の図示しない測定回路にそれぞれ接続される。

【００１３】 本実施例の作用を説明する。 接触端子１０４がプローブピン１２に対向するようにして、被測定対象である 回路基板１０２がプロービング装置の回路基板保持台等に取り付けられる。そし て、プローブプレート１０８が昇降させられ、筒１６上部が回路基板１０２に軽 く押しつけられる。回路基板１０２への筒１６押しつけにより、この筒１６の側 円部分１０が撓むことになる。筒１６は上述したように、弾力性を有する材料で 形成されているので、この側円部分１０が撓むことにより発生する復元力によっ て、各プローブピン１２の頭頂部１２ｂは対応する接触端子１０４にそれぞれ押 しつけられることになる。この後、各プローブピン１２を介して接触端子１０４ の電気信号出力状態又は、各プローブピン１２同士の導電性がチェックされるこ とによって、回路基板１０２の導電パターンがチェックされる。

【００１４】 上述した導電パターンチェック完了の後、プローブプレート１０８が下降され る。 以上説明したように、本実施例は、各プローブピン１２が単純な鋲形状である ため、隣あうプローブピン１２間隔を極めて狭くすることができる。またプロー ブピン１２を被測定対象である回路基板１０２の接触端子１０４に良好に接触さ せる力を、可撓性及び弾力性を持った材料で形成された筒１６の復元力で生じさ せたので、おすコネクタの接触端子１０４間隔が極めて狭い回路基板１０２にも 十分に対応させることができると共に、回路基板１０２を破壊するような強い力 を加えることなく、プローブピンを良好に目的とする接触端子１０４に接触させ ることができる。

【００１５】 なお上記実施例における各プローブピン１２間隔は特に限定するものではなく 、例えば、おすコネクタの接触端子１０４間隔が異なる複数の回路基板に対応で きるように、各プローブピン１２の間隔を変化させて筒１６に取り付けるように したり、さらには、複数の筒１６を一つのプローブプレート１０８に取り付け、 回路基板上にパターンニングされた導電パターン間のチェックを行えるようにし てもよい。さらに、プローブピン１２の形状についても、頭頂部１２ｂに突起を 設けて、より接触端子１０４との接触性を高めるようにしてもよい。

【００１６】 筒１６の材質についても、ゴムのみならず、他の可撓性及び弾力性がありしか も導電性のないポリブタジエン等の有機材料で形成してもよく、筒１６の断面形 状についても真円のみならず、楕円、台形等の良好な復元性を持った形状である ならば、いかなる形状であってもよい。

【００１７】

【考案の効果】

以上のように本考案によれば、鋲形状の様な簡単な形状のプローブピンおよび 、可撓性及び弾力性を持った材料で形成された筒とを用いて、プローブピンを筒 に挿入固定するとともに、各プローブピンのリード線を全て筒内に収容するので 、プローブピン間隔をより狭くすることができると共に、リード線の布線取回し を容易にでき、制作コスト及び制作工数を低減できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例のプロービング装置のプロー
ブピンの配列構成を示す概略図である。

【図２】図１に示すプロービング装置のプローブピンと
被測定対象である回路基板との接触時の断面図である。

【図３】回路基板のおすコネクタ斜視図である。

【図４】従来の他のプロービング装置のプローバ部分の
構成概略図である。

【図５】従来のプロービング装置の概略図である。

【符号の説明】

１２ プローブピン １２ａ 先端 １２ｂ 頭頂部 １４ リード線 １６ 筒 １８ 溝

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 回路基板面上にパターン形成された導体
   パターン相互の導電性をチェックするプロービング装置
   において、測定回路に接続される複数の配線用リード線
   を布線する空間を内部に有し、弾力性を持った可撓性材
   料で形成された長軸な中空体と、この中空体に所定の間
   隔を有して設けられ、頭頂部が前記中空体外周面に露出
   して前記回路基板の導電パターンと接触し、かつ基端部
   が前記リード線に接続される複数のプローブピンとを備
   えたことを特徴とするプロービング装置。