JPS63304180A - 印刷回路板テスト装置 - Google Patents

印刷回路板テスト装置

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JPS63304180A
JPS63304180A JP63093313A JP9331388A JPS63304180A JP S63304180 A JPS63304180 A JP S63304180A JP 63093313 A JP63093313 A JP 63093313A JP 9331388 A JP9331388 A JP 9331388A JP S63304180 A JPS63304180 A JP S63304180A
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plate
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は印刷回路板をテストする装置に関係している。
〈従来の技術〉 印刷回路板（ＰＣＢ）はそれが担持するように設計され
た部品を担持した状態で、ばね負荷されたテストピンを
使用して電気的完全性を屡々テストされ、テストピンは
テスト下の印刷回路板の下方に垂直に支持され、印刷回
路板の底面の露出したノードと接触する位置をとる。
例えば米国特許第４，１３２，９４８号明細書にはテス
トピンを印刷回路板と同一の孔パタンを有する印刷回路
板（部品を有していないもの）に取付け。
これによってテストピンが自動的に接触されるべきノー
ドに整列するようにするものが開示される。
テストピンは直接ワイヤに接続され、ワイヤはケーブル
組立体を経てテスト回路に接続される。異なるノードパ
タンを有するＰＣＢをテストするために回路板テスタを
使用するときは、そのＰＣＢのノード位置に対応するテ
ストピンを有するテストピン支持板に交換する。
公開欧州特許出願第０１１５１３５号明細書には大量の
テストピンを担持する永久的ベースシートと、挿入片（
インサート）を担持して選択された位置のテストピンを
作動位置に持ち上げて印刷回路板のノードと接触せしめ
る下方のカストム板とが開示される。異なる印刷回路板
に対してはその印刷回路板のノードと同一のパタンのイ
ンサートを有するカストム板が取付けられる。カストム
板の下方にインサートのワイヤ巻きポスト延長部がカス
トム板の側において端子に接続され、テスト回路に接続
される６ 公開欧州特許出願第００５０９１３号明細書にはテスト
ピンを均斉な格子パタンで担持する汎用プランｌ−フオ
ームと、選択された位置においてテストピンを作動せし
めて印刷回路板のノードに接触せしめる取外し可能な変
位モジュールを担持するバッキング板とを含むテスト用
取付具が示される。
バッキング板の反対側にワイヤ巻きポストが設けられて
モジュールを介してテストピンに電気的に接続されバッ
キング板の端部において多数ピンプラグに接続される。
別の従来技術によるテスト装置において印刷回路板にテ
スト信号を与えその結果の出力信号を受取るインストル
メントを含むチャンネル回路板はテストピンの下方に配
置され、インストルメントと印刷回路板との間の距離を
減少せしめテスト信号と出力信号との歪を小とする。こ
の場合複数のチャンネル板（チャンネルカードとも称さ
れる）の上端のコネクタに複数の上方に向けられたチャ
ンネルノードがあり、チャンネルノードはワイヤによっ
て米国特許第４，１３２，９４８号明細書に示されるも
のと同様なテストピン支持板に担持されたそれぞれのテ
ストピンに電気的に接続される。テストピンは小さい板
の上方に向けられた直角ポストに連結され、そのメッキ
された下方端はチャンネルカードに取付けられたゼロ挿
入力エツジカードコネクタに接続される。直角ポストに
ワイヤ巻き。
接続する前にこれらを担持する小さい板は取除かれ裏返
しにしてポストが下方、すなわちテストピンの下方延長
部と同一方向を向くようにして、ワイヤ巻きを容易とし
、ワイヤ巻き完了後に小さい板をもとに回転してエツジ
カードコネクタに取付け、ワイヤをその上に折返すこと
を可能とする。
この装置において、異なる位置にノードを有する異なる
形式の印刷回路板のために特定の自動テスタを使用する
ときは異なるテストピン支持板を使。
用する。テストされる印刷回路板の形式により、種々の
装備を有する種々のチャンネル板を備えた特定モデルの
自動テスタが準備され、使用者はチャンネル板を加えま
たは変更して同一モデルのテスタのチャンネルノードを
変更し、同一のテスタを別の時に別のテストに使用する
。
別の従来技術において両端型テストピンがプローブ板に
取付けられ、１つの形式においてテスト回路に接続され
たプローブに電気的に接続され、別の形式において両端
型テストピンの下方のばね負荷された接点に接触する位
置に上方に向けられたワイヤ巻きポストがプローブ板と
その下方のトランスレータ板との間に設けられ、下方に
延長するワイヤ巻きポストが下方のテスト回路プローブ
と接触する位置を占め、種々のワイヤ巻きポストが相互
に接続される。
く課題を解決するための手段〉 本発明の一態様は概略的に印刷回路板テスタに係り、印
刷回路板のノードに対応する予め定めた位置の第１のパ
タンのばね負荷された印刷回路板接点と、テスト回路の
回路板のチャンネルノードとの間の電気的接続を、テス
トピンの下方において種々のパタンについて達成するた
め、その上面から延長するばね負荷された印刷回路板接
点を担持する管状ハウジングとその下面から延長してチ
ャンネルノードに整合する下方導体とを有しそ九ぞれの
管状ハウジングを下方導体部材に電気的に接続するトラ
ンスレータ手段とを有するトランスレータ板を使用する
。印刷回路板接点にための管状ハウジングと下方導体と
を共通に有するトランスレータ板の使用により、異なる
パタンの印刷回路板接点とチャンネルノードとの電気的
接続が容易かつ直接に可能となり、印刷回路板ノードか
らチャンネル板上のテスト回路への経路の信号の完全性
が得られる。
下方導体の望ましい具体例は、テストピン支持板の下方
のキーパ板の孔を貫通延長するワイヤ巻きポストとなさ
れ、キーパ板の下方にインタフェース組立体があってチ
ャンネルノードに電気的に接続される。
本発明の別の態様によれば、１つのパタンの上方導体と
別のパタンの下方導体との間の電気的接続を行うトラン
スレータ板を、可能な印刷回路板位置の格子パタンのテ
ストピンを有する汎用テストピン支持板の下方に設け、
該トランスレータ板は特定の印刷回路板のためのノード
位置に対応する選択されたテストピンを作動せしめる変
位部材を担持する。異なる印刷回路板に使用するときは
別のトランスレータ板を使用して印刷回路板ノードの位
置に対応するテストピンのみを作動せしめかつこれらを
それぞれのテスト回路チャンネルノードに電気的に接続
する。
本発明の別の態様による印刷回路板テスト装置において
、汎用格子のばね負荷されたインタフェース接点を有す
る汎用板が、テスト回路のチャンネルノードとテストピ
ンとの間の電気的接続を行い、該チャンネルノードは汎
用格子のサブセットであるそれぞれの特定パタンとなさ
れる。チャンネルノードと同一パタンの変位部材が該チ
ャンネルノードに接続するために必要とされるばね負荷
された接点のみを作動位置に運動せしめる。チャンネル
ノードが例えば装備品の変更のためチャンネル回路板の
装備品変更によって変っても汎用板の異なるインタフェ
ース接点を使用すればよい６〈実施例〉 上述本発明の目的１作用および効果は図面を参照する以
下の説明により明らかとなされる。
第１図において数字１０はテスト中の印刷回路板（ＰＣ
Ｂ）　ｌ　２をテストする装置を示し、印刷回路板には
装備品１４が装備されそのいくつかのリード線は板１２
の孔を貫通してその底部に印刷され。
た導電性経路にノード１６として溶着される。ある装備
品１４は表面（上面または下面）に取付けられ、ノード
として作用する導電性パッドにはんだを使用せずに電気
的に接続される。印刷回路板１２の各異なるものについ
て関連するノード１６は異なるパタンを持つ。印刷回路
板１２のノードは通常２．５４ｍｍ（０，１”）（７）
　Ｘ−Ｙ格子パタン上、すなわち汎用格子パタンのサブ
セットとして配置される。（第８図の変形例においては
印刷回路板のノードは格子パタンではない。） 装置１０の頂部付近にオーバハング部分１９を有する側
壁１８があって、部分１９に１０”ＸＩＯ”（２５，４
Ｘ　２５．４ｃ＋ｓ）のダイアフラム板２２（耐火性ガ
ラス充填フェノール性板、厚さ４．７５ｍｍ（０，１８
７”）商品名ＦＲ４またはＧ−１０）かばね２０で押付
けられる。ダイアフラム板２２には中心間隔２．５４鵬
鳳（０，１”）で直径１．７７８ｍｍ（０，０７”）の
貫通孔が設けられ、板２２の周縁にゴムのシールリング
２３（高さ３．１７５ｍｍ（１／８”）　、幅２５．４
１１１１（１”）　＋７１ネオプレン）が部分１９と印
刷回路板１２とを真空封止する。
両端つきの３．１７５ｍ１１（１／８”）　（７）案内
ピン２４が印刷回路板１２の対応する孔を貫通して整合
させる。
板２２の表面の選択された位置には種々のゴムの支持パ
ッド（図示しない）があって、印刷回路板１２の孔を封
止しまたは真空圧が作用するときの変歪を防止する。
ピボット２６において側壁２４に、テストピン３０を担
持する汎用テストピン支持板２８がピボット的に取付け
られ、ピン３０は第２図に示すように管状ハウジング３
４と、上方に向けられた汎用印刷回路板接点４５と下方
に向けられた作動プランジャ４２とを有する。汎用板２
８の端部２９はたな３１によって支持される。汎用板２
８は板２２と同じ材質の厚さ３．１７５ｍｍ（１／８”
）の２枚のガラス充填フェノール性板を互いに約１９．
０５ｍｍ（３／４”）の間隔で配置して全体の厚さを約
２５．４ｍｍ（１”）とする、テストピン３０は汎用板
２８の孔３２に取付けられ、孔３２は中心間隔２．５４
１１！ｌ（０，１”）（前述汎用格子）を有し、板２２
の孔と整合する。
第２図においてテストピン３０は金メッキされたニッケ
ルー銀製の管状ハウジング３４を有し、その外径は１．
３７ｍｍ（０，０５４”）である、ハウジング３４は内
径１．４０ｍｍ（０，０５５”）のテストピンソケット
３５に緊密嵌合し、ソケット３５は支持板２８に固定装
着され、　１９．０５ｍｍ（３／４”）の間隔をおかれ
て汎用板２８に対する適当な間隔と構造的な支持を与え
る肩３７を有する。ハウジング３４は長さ３７．３４＋
ｕ＋（１，４７０”）で第１の縮径部３６は頂端からの
距離３．３０ｍｍ　（０，１３０”）で、第２の縮径部
３８は底端からの距離９．６５ｍｍ　（０，３８０”）
で、図示しない凹所が取外し可能にテストピンソケット
３５にハウジング３４を固定する。接触プランジャ４０
と作動プランジャ４２とがハウジング３４に滑動可能に
圧縮ばね４５を備えて担持される。プランジャ４０．４
２は熱処理されたベリリウム銅から製造されて、良好な
電気的接触を与えるためにニッケル板に金メッキされた
それぞれ尖った印刷回路板接点４５と作動部分４７と、
縮径部３６．３８とそれぞれ共働する膨出部４６．４８
と、ハウジング３４の直径より大きいオーバハング肩５
０゜５２とを有する。ばね４４は１４．４８ｍａ＋（０
，５７０”）の無負荷長さを有し、ピアノ線を３２４ｇ
／Ｃｍ（２９ｏｚ／ｉｎ）に巻く、第３図、第４図にお
いて、ばね４４の端部５４は中心から外れて小径部分と
なっていて、これにより、ばね４４と膨出部４６．４８
とはばね４４が圧縮されるとき横方向にハウジング３４
の内面に対して偏倚され良好な電気的接続を与える。ば
ね４４が圧縮されていないときプランジャ４０．４２と
ばね４４とは自由にハウジング３４内を滑動する。
第１図において厚さ９．５３＋ｕ＋　（３／８’″）の
取外し可能の作動／トランスレータ板５６（板２２と同
一材料製とする）が、ベリリウム銅の変位部材ピン５７
と、下方ピン５８と、整合ピン５９とを担持し、ピン５
９はハウジング９２に支持された側壁２４．６２に担持
されたブツシュ６０に収容される。各変位部材ピン５７
は１　、２７ｍｍ　（０、０５”）の直径で、板５６の
上方に６．３５ｍｍ　（１／４”）の高さに第５図に６
４に示すように延長し、各下方ピン５８は直径１．２７
ｍｍ（０，０５”）で２．０３ｍｍ（０，０８’つの高
さの延長部６５を有する。延長部６４の頂面は凹入して
テストピン３０の尖った端部４７を案内し拘束する。ピ
ン５７．５８は１．７３ｍ１Ｉ（０，０６８”）の直径
で。
板５６に圧入嵌合する粗面部分６６と、板５６の下方に
延長する０、６３５ｍｍ（０，０２５”）角のワイヤ巻
きポスト６８とを有する。
作動／トランスレータ板５６の下方にソケット７０の列
が支持され、その数はテストピン３０より少なく、チャ
ンネルカード７３（図示しない共通の水平バックプレン
によってその下端を支持されたドータ印刷回路板）の上
端に担持され、逍択されたポスト６８と整合し、収容さ
れ、電気的に接続される。選択されたポスト６８は変位
部材ピン５７の延長部６４と一体またはワイヤ７２によ
ってピン５７に接続される。ワイヤ７２は、垂直軸線に
沿って互いに重なるトランスレータ部分の周りに巻付け
られる。ソケット７０は回路カード７３、またはテスタ
の他の回路に電気的に接続される。
第８図に示す装置１１０は、装備品１１４が装備され下
面にノード１１６の格子パタンでない配列を有する印刷
回路板１１２の電気的完全性をテストする。印刷回路板
１１２の設計によりノード１１６のパタンは対応して変
化する。装置１１０は特定の設計の印刷回路板１１２に
適した取付具組立体１１８と、各種取付具１１８と共に
かつ任意のパタンのチャンネルノード１２２に対して使
用可能でチャンネルカード１２４に関連するポスト２１
０の頂部に設けられた汎用インタフェース組立体１２０
とを含む。
取付具組立体１１８は、上方オーバハング部分１２８を
有する側壁１２６を含み、部分１２８にトランスレータ
板１３０（厚さ７．８７１１＋ａ（０，３１”）のＧ−
１０材料製）が当接支持され、下方オーバハング部分１
３１には孔あきキーパ板１３２（透明な厚さ３．１８ｍ
ｍ（１／８”）のレフサン（Ｌｅｘａｎ）ポリカーボネ
ート製）が当接支持される。トランスレータ板１３０の
周縁付近にネオプレンゴムの封止リング１３４（高さ３
．１８ｍｍ（１／８”）幅２５．４ｍｍ（１”）　）と
ばね１３６とが支持される。封止リング１３４とばね１
３６との上方に厚さ４．７５ｍｍ（０，１８７”）　Ｇ
−１０材料のダイアフラム板がある。その上にネオプレ
ンゴムの封止リング１４０（高さ４．７６ｍｍ（３／１
６”）幅２５．４ｍｍ（１”））がある。アルミニュー
ムの封止リング１４２が封止リング１４０の下面とトラ
ンスレータ板１３０の上面との周縁にある。封止リング
１４０の頂部はＬ字形断面のトリムリング１４４となさ
れている。
トランスレータ板１３０は上方に延長するテストピン１
４０Ａ〜Ｅと下方に延長する下方伝導部材１４８とを含
む。テストピン１４０Ａ−Ｅは管状ハウジング１４５（
上方電気伝導部材をなす）を含み、ばね負荷された印刷
回路板接点１５０と下方延長部１４７とを担持し、０．
６４ｗ＋ｉ（０，０２５”）角のワイヤ巻きポスト１５
４Ａ−Ｅが延長部１４７の下方に設けられる。下方伝導
部材１４８は下方ワイヤ巻きポスト１５６を含んで、こ
れはポスト１５４Ａ−Ｅのワイヤ巻き部分と重なり、キ
ーノ（板１３２の孔１５８を貫通延長している。取付具
１１８のキーパ板１３２はそれと汎用インタフェース板
１８０との間を封止するネオプレンゴムの封止リング（
図示しない）の上に着座する。
第８図に３つのワイヤ巻き部が示される。第１例は左方
に示され、テストピン１４６Ａのワイヤ巻きポスト１５
４Ａがワイヤ１６０によって隣接する下方伝導体１４８
のワイヤ巻きポスト１５６に接続され、伝導体１４８は
テストピン１４６Ａが接続されるチャンネルノードに整
合している。
中央の例では、テストピン１４６Ｂのワイヤ巻きポスト
１５４Ｂがワイヤ１６１によって隣接する下方伝導体１
４８のワイヤ巻きポスト１５６に接続され、テストピン
１４６Ｃのワイヤ巻きポスト１５４Ｃがワイヤ１６２に
よってワイヤ巻きボスト延長部１６４に電気的に接続さ
れており、延長部１６４はテストピン１４６Ｃの直下方
にあって絶縁スリーブ１６６によってポスト１５４Ｃに
物理的に連結される。右方の例において、テストピン１
４６Ｄはワイヤ１６７によって隣接する下方伝導体１４
８のワイヤ巻きポスト１５６に電気的に接続され、テス
トピン１４６Ｅはワイヤ１６８によってワイヤ巻きポス
ト延長部１７０に電気的に接続され、延長部１７０はテ
ストピン１４６Ｄの直下方にあって絶縁スリーブ１７１
によってポスト１５４Ｄに物理的に連結される。
汎用インタフェース組立体１２０は汎用インタフェース
板１８０　（厚さ９．５３ｎｕｓ（３／８’すＧ−１０
材料）を含み、板１８０は一端がピボット的に（図示し
ない）取付けられて汎用プローブ１８１を担持し、プロ
ーブ１８１は上方に延長する汎用インタフェース接点１
８４を有する管状ハウジング１８２を有している。管状
ハウジング１８２は下方に延長する作動プランジャ１８
６も有している。プローブ１８１は各チャンネルカード
について２列に配置され、プローブ長さ２４．４ｍｍ（
０，９６″）、中心間隔２．５４ｍｍ（０，１”）とす
る、チャンネルカード１２４は１９．０５１１！ｌ（３
／４”）の間隔とする。第９図、第１０図において接点
１８４はプランジャ１８８上にあって、プランジャは、
管状ハウジング１８２の底部から延長してテストプロー
ブ１９４（中心線の長さ１９．１＋ｕ＋（０，７６’つ
、移動距離４．０６ｍｍ（０，１６０”））を受入れる
凹所１９２を有する下方部分１９０を含む。プランジャ
１８８は、ばね１９６によって上方に偏倚され、大径部
分１９８の下方環状表面およびハウジング１８２の内方
環状表面２００に支持される。ばね１９６は予荷重ゼロ
であって、変歪２．２８＋ａｍ（０，０９″）のとき接
点１８４，１８６に１１３．４　ｇ（４ｏｚ）の力を生
ずる。外径１．９１±０．０５ｍｍ内径０．９１±０．
０５＋ａ鳳（０，０７５±０．００２”、０．０３６０
±０　、００２　”の０−リング２０２が、プランジャ
１８８の外面（−！Ａ−径１．０４±０．０５＋＊ｓ＋
）とハウジング１８２の内面（内径１．７８±０．０５
ｍｍ）との間の封止を行い、転造収縮部２０４と収縮端
部２０６との間に抑留される。合成樹脂潤滑剤がＯ−リ
ング２０２と上述表面との間に適用され、滑動を容易と
する。インタフェース接点１８４はワイヤ巻きポスト１
５６と延長部１６４．１７０の下端２０８を受入れる凹
入部を有している。同様にプランジャ１８６はチャンネ
ルカード１２４のコネクタ２１２から上方に延長するポ
スト２１０　（０，６４ｍｍ、０．０２５”角）の上端
を受入れる凹入部を有している。ポスト２１０はそれぞ
れのチャンネルカード１２４に図示しない手段で連結さ
れたＵ−字形横方向支持体２１３によって支持される。
走−一繋 第１図ないし第５図の装置の作動時に印刷回路板１２の
近接可能ノード１６に対応する位置（すなわち、この位
置は印刷回路板１２に対応する特定位置である）に装架
された変位ピン５７を有する作動／トランスレータ板５
６は、汎用板２８を垂直な上昇位置として案内ピン５９
をブシュ６０に滑動せしめることにより装置１０に装架
される。
ポスト６８は、挿入力ゼロでそれぞれのソケット７０に
挿入され、つぎに横方向に（図示しない機構により）移
動せしめられて良好な電気的接続を得る。次に汎用支持
板２８を第１図に示す水平位置に回転し、その端部２９
を棚３１で支持する。
汎用板２８が所定位置をとると、テストピン３０の作動
プランジャ４２が変位ピン５７に整合してピンを上方に
押す、プランジャ４２が上方にハウジング３４内を滑動
すると、ばね４４が上方に押されそれに接触するプラン
ジャ４０と汎用印刷回路板接点４５がダイアフラム板２
２の孔を通って第１図に示す上昇位置をとる。このとき
、２つのプランジャの重量とばね以外の力は必要でない
。
次に印刷回路板１２は案内ピン２４によって所定位置に
装架されリング２３とばね２０の上に着座する。印刷回
路板１２の下方区域に真空圧が作用せしめられて、リン
グ２３とばね２０は圧縮され印刷回路板１２は下降して
ノード１６は圧縮ばね４４によって上昇せしめられてい
る対応する汎用印刷回路板接点に接触する。上昇せしめ
られているテストピンのばねのみが圧縮されているから
、接触せしめるための力は小である。
汎用印刷回路板接点４５はノード１６において、はんだ
または接点パッド内に穿入して良好な電気的接続を作る
。ばね４４の小径の端部５４は、膨出部４６．４８に側
方偏倚を与えテストピン３０を経由する良好な電気的接
続を達成する。作動部介接点４７はばね力により下方に
偏倚されて変位ピン５７の突出部６４との間に良好な電
気的接続を得る。電子的回路の電気的接続は変位ピン５
７の下方のソケット７０に直接に、またはソケット７０
に収容される下方ピン５８のポストにワイヤ７２を介し
て行われる。
テスト装置の電子的回路は印刷回路板１２にテスト信号
を与え、応答を検知する。重なり合うワイヤ巻き部分間
の短い直接的なワイヤ巻き接続によって、高速デジタル
回路において重要性が増大しておりかつ精密なアナログ
測定を可能とする信号の完全性が確保される。
異なる設計の印刷回路板１２をテストするときは、汎用
板２８を垂直位置にピボット運動せしめ作動／トランス
レータ板５６を新しい印刷回路板１２のノード１６に対
応する変位ピン５７を有する作動／トランスレータ板５
６に交換する。これによって、各種設計のＰＣＢに対し
て単に作動／トランスレータ板５６を交換するだけで適
用可能であり、特定の予め定めたパタンの比較的高価な
テストピン３０を準備する必要がない。さらに、異なる
設計の印刷回路板１２に対して突出ピン５８の配置を変
更して適合せしめることは、従来のテストピンの配置と
テスタ回路への接続を変更することに対比して容易であ
る。
第８図ないし第１０図の装置の作動時に、特定の印刷回
路板１１２のための取付具１１８が汎用インタフェース
板１８０に装架されて、外側封止リング上に着座し案内
ピン（両者とも図示しない）によって整合せしめられる
。このとき上昇せしめられているインタフェース接点１
８４の上端部はワイヤ巻きポストと延長部の下端２０８
の僅かに下方にあり、インタフェース接点１８４を偏倚
するばねは予荷重を受けていないので、これらにゼロの
力（接点１８４の重量を無視する）を作用する。真空圧
をトランスレータ板１３０と汎用インタフェース板１８
０との間に作用せしめてキーパ板１３２と板１８０との
間の封止リングを圧縮し、下方端の接点をインタフェー
ス接点１８４に圧接し、ばね１９６をいくらか圧縮する
。同時に下方接点１８６が下降してチャンネルノード１
２２に接触し、プローブ１９４内の関連するばねもいく
らか圧縮される。インタフェース接点１８４は予荷重を
受けておらず、これらの接点のみが圧縮されているから
、電気的接続は僅少の力で達成することができる。
取付具の頂部に印刷回路板１１２を配置して、印刷回路
板ノード１１６を印刷回路板接点１５０から僅少な間隔
とする。別の真空圧を印刷回路板１１２とトランスレー
タ板１３０の上面との間に作用せしめゴムリング１３４
．１４０を圧縮し、印刷回路板接点１５０と印刷回路板
ノード１１６とを接触せしめる。
取付具１１８の印刷回路板接点１５０は、印刷回路板１
１２の可能なノード位はのフィールドにおいて印刷回路
板ノード１１６に適合する特定のパタンを有する。印刷
回路板１１２の下方の対応するフィールドにおいてチャ
ンネルノード１２２に同様な特定のパタンか存在してお
り、それぞれのテストピンの位置とそれぞれの接点の位
置とはワイヤ１６０．１６１．１６７．１６８を使用す
るワイヤ巻きによって適合せしめられる。下方導体１４
８のワイヤ巻きポスト１５６と、ワイヤ巻きポスト延長
部１６４．１７０とはチャンネルノード１２２と同一パ
タンである。信号の完全性は重なり合うワイヤ巻きポス
ト部分間の短い直接的なワイヤ巻き接続によって確保さ
れる。
テスト装置１１０の与えられたモデルについて。
チャンネルノード１２２は製造者により所望される装備
によって、従ってテストされるＰＣＢと所望のテストと
によって異なる位置をとる。さらに。
特定の機器のチャンネルカード１２４と関連するチャン
ネルノード位置とは、チャンネルカードを付加しまたは
チャンネルカードをいくらか変更することによって変更
することができる。汎用インタフェース組立体１２０は
任意の形式のチャンネルカード配置、および印刷回路板
１１２の任意の形式の取付具１１８について使用可能で
あり、装置の標準化と構造の簡易化を達成する。
又−並一里 本発明の変形例は請求項によって限定される。
例えば第６図は変形例としてテストピン７４を。
示す、ばね７６は予荷重７０．９　ｇ（２，５ｏｚ）で
行程２／３で荷重１５３．１　ｇ（５，４ｏｚ）を生ず
る。テストピンソケット７８は支持板２８に固定的に装
架され内径１．４２ｍｍ　（０，０５６”）で外径１．
３７ｍｍ　（０，０５４”）のハウジング８０を滑動収
容する。使用時には変位ピン５７がハウジング８ｏをプ
ランジャ４０．４２とばね７６と共に上方に押す６ 第７図は支持テストピンの変形例を示す。テストピン支
持板８３は単一の厚さ１２．７ｍｍ（１／２”）の支持
板（板２２と同一材料）製で、皿孔８１が設けられて標
準型単一プランジャテストピン８４の頭部８２に適合す
る。ピン８４は板８３を貫通する孔８５に挿入される。
ピン８４の下端のキャップ８６が支持板を裏返したとき
のピンの脱落を防止する。絶縁ハニカム９０を使用して
電気的にテストピン８４を絶縁しそれぞれの変位ピン５
７と整合させる。使用時にすべてのテストピン８４は変
位ピン５７によって上方に運動せしめられる。
前述装置はチャンネルカードを底部に印刷回路板を頂部
に装架するものであるが他の形式のものであってもよい
。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明によるＰＣＢを試験する印刷回路板テス
ト装置の概略縦断面図、第２図は第１図の装置のテスト
ピン組立体の概略縦断面図、第３図は第２図のテストピ
ンのばねの端面図、第４図は第３図のばねの部分側面図
、第５図は第１図の装置の変位ピンと下方ピンの立面図
、第６図は本発明によるテストピン組立体の変形例の概
略縦断面図、第７図は本発明によるテストピン組立体の
さらに別の変形例の概略縦断面図、第８図は本発明によ
る印刷回路板テスト装置の望ましい実施例の概略縦断面
図、第９図は第８図の装置に使用される汎用プローブの
部分断面立面図、第１０図はプランジャを別の位置とし
て示す第９図の部分拡大図である。

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）複数のテスト下の印刷回路板の電気的完全性を試
    験するテスト装置であって、各印刷回路板には複数の下
    方に向けられた近接可能の印刷回路板ノードがその下面
    の予め定めた位置に第１のパタンをなして配置されてい
    る印刷回路板テスト装置において、 取外し可能に前記印刷回路板を支持する支持手段と、 前記支持手段の下方に上方に向けられたチャンネルノー
    ドを、前記印刷回路板の底面と重なるフィールドに予め
    定めた配置の第２のパタンを有する複数のチャンネル回
    路印刷回路板を含み、該第２のパタンが前記予め定めた
    位置の第１のパタンと適合していないテスト回路と、 前記チャンネルノードを印刷回路板ノードに電気的に接
    続する接続手段であって、前記第１のパタンに適合する
    パタンをなして印刷回路板が支持手段上に取付けられた
    とき印刷回路板チャンネルノードに整合し接触するに適
    した、ばね負荷された印刷回路板接点と、さらに、その
    上面から延長して前記印刷回路板接点を担持して該接点
    に電気的に接続される管状ハウジングを含む複数の上方
    伝導部材を担持するトランスレータ板とを含み、該トラ
    ンスレータ板はさらに、その下面から下方に延長する複
    数の下方伝導部材を含み、該下方伝導部材は前記チャン
    ネルノードのパタンに適合するパタンをなして設けられ
    、前記接続手段はそれぞれの管状ハウジングをトランス
    レータ板部分においてそれぞれの下方伝導部材に電気的
    に接続するトランスレータ手段を含むこと、を特徴とす
    る印刷回路板テスト装置。
  2. （２）前記管状のハウジングがそれらに接続されたワイ
    ヤ巻きポストを有し、前記下方伝導部材が第２のワイヤ
    巻きポストを有し、第１および第２のワイヤ巻きポスト
    が垂直軸線の対応する位置に沿って互いに重なる部分を
    有し、前記トランスレータ手段が第１および第２のワイ
    ヤ巻きポストをそれぞれ接続するワイヤを含むことを特
    徴とする請求項１に記載の印刷回路板テスト装置。
  3. （３）前記接続手段が前記トランスレータ板に連結され
    た側壁と前記トランスレータ板の下方において側壁に固
    定されたキーパ板とを有するフレームを含み、前記第２
    のワイヤ巻きポストがトランスレータ板から下方に延長
    してキーパ板の孔を貫通延長し、該孔は前記第２のパタ
    ンに適合するパタンをなしていることを特徴とする請求
    項２に記載の印刷回路板テスト装置。
  4. （４）前記接続手段が前記第２のワイヤ巻きポストとチ
    ャンネルノードとの間にインタフェース組立体を含み、
    該インタフェース組立体が前記第２のワイヤ巻きポスト
    とチャンネルノードとの間を電気的に接続する上方に向
    けられたばね負荷されたインタフェース接点を含むこと
    を特徴とする請求項２に記載の印刷回路板テスト装置。
  5. （５）前記インタフェース組立体が前記ばね負荷された
    インタフェース接点を担持する管状のハウジングを担持
    するインタフェース板と、インタフェース板の下面から
    延長して前記チャンネルノードに電気的に接続された下
    方に向けられたプランジャとを含むことを特徴とする請
    求項４に記載の印刷回路板テスト装置。
  6. （６）前記チャンネルノードに該チャンネルノードとプ
    ランジャとの間の水平支持体によって支持された複数の
    導体が設けられていることを特徴とする請求項５に記載
    の印刷回路板テスト装置。
  7. （７）前記下方に向けられたプランジャが前記インタフ
    ェース接点の下方延長部に担持されていることを特徴と
    する請求項５に記載の印刷回路板テスト装置。
  8. （８）前記インタフェース接点と前記インタフェース板
    の管状ハウジングとの間にエラストマーＯ−リングが設
    けられていることを特徴とする請求項７に記載の印刷回
    路板テスト装置。
  9. （９）前記トランスレータ板上の前記管状ハウジングが
    封止されており、前記上方に向けられたインタフェース
    接点が前記インタフェース組立体板に対して封止されて
    おり、真空圧を前記トランスレータ板と前記インタフェ
    ース組立体板との間に作用せしめる手段を含むことを特
    徴とする請求項５に記載の印刷回路板テスト装置。
  10. （１０）前記予め定めた位置の第２のパタンが可能なチ
    ャンネルノード位置の汎用グリッドパタンのサブセット
    であり、前記接続手段がチャンネルノードとトランスレ
    ータ板との間に位置する汎用インタフェース板を含み、
    該汎用インタフェース板が前記チャンネルノードの可能
    位置に対応する位置のグリッドパタンに管状ハウジング
    を担持しており、該管状ハウジングは前記下方伝導部材
    に整合する上方に向けられたインタフェース接点と、チ
    ャンネルノードと下方伝導部材との間の電気的接続を該
    下方伝導部材が整列したときに前記インタフェース接点
    に行わしめる下方に向けられた作動部分とを担持してい
    ることを特徴とする請求項１に記載の印刷回路板テスト
    装置。
  11. （１１）前記インタフェース接点が予荷重を受けていな
    いことを特徴とする請求項９に記載の印刷回路板テスト
    装置。
  12. （１２）複数のテスト下の印刷回路板の電気的完全性を
    試験するテスト装置であって、各印刷回路板には複数の
    下方に向けられた近接可能の印刷回路板ノードがその下
    面の予め定めた位置に第１のパタンをなして配置されて
    いる印刷回路板テスト装置において、 取外し可能に前記印刷回路板を支持する支持手段と、前
    記支持手段の下方に上方に向けられたチャンネルノード
    を、前記印刷回路板の底面と重なるフィールドに予め定
    めた位置の第２のパタンをなして配置してなる複数のチ
    ャンネル回路印刷回路板を含み、該第２のパタンは前記
    予め定めた位置の第１のパタンと適合していないテスト
    回路と、 前記チャンネルノードを印刷回路板ノードに電気的に接
    続する接続手段であって、前記第１のパタンに適合する
    パタンをなして印刷回路板が支持手段上に取付けられた
    とき印刷回路板ノードに整合し接触するに適したばね負
    荷された印刷回路板接点を含み、さらに、該接続手段が
    その上面から延長して前記印刷回路板接点に整合して電
    気的に接続される複数の上方伝導部材を担持するトラン
    スレータ板を含み、該トランスレータ板はその下面から
    下方に延長する複数の下方伝導部材を担持し、前記接続
    手段はそれぞれの上方伝導部材をトランスレータ部分に
    おいてそれぞれの下方伝導部材に電気的に接続するトラ
    ンスレータ手段とを含む前記接続手段と、 前記予め定めた位置の第１のパタンが可能な印刷回路板
    位置の汎用グリッドパタンのサブセットであり、前記接
    続手段が前記印刷回路板とトランスレータ板との間に位
    置する汎用テストピン支持板を含み、該汎用テストピン
    支持板が前記印刷回路板ノードの可能位置に対応する位
    置のグリッドパタンに管状ハウジングを担持しており、
    前記印刷回路板接点はハウジング内にかつ前記汎用テス
    トピン支持板から上方に延長して設けられ、印刷回路板
    接点と管状ハウジングとの数は前記近接可能ノードの数
    より大であり、各前記ハウジングは前記汎用テストピン
    支持板の他方側に可動の作動部分を担持して該作動部分
    がその直下の上方伝導部材によって上方に押されたとき
    前記印刷回路板接点が上方に作動位置に運動して印刷回
    路板ノードと接触し、その直下に伝導部材が存在しない
    とき下方の不作動位置にあるごとく構成したこと、を特
    徴とする印刷回路板テスト装置。
  13. （１３）複数のテスト下の印刷回路板の電気的完全性を
    試験するテスト装置であって、各印刷回路板には複数の
    下方に向けられた近接可能のノードを含む印刷回路板テ
    スト装置において、 取外し可能に前記印刷回路板を支持する支持手段と、 前記印刷回路板ノードに接触する位置に支持手段に支持
    されたばね負荷された印刷回路板接点と、複数の上方に
    向けられたチャンネルノードを前記支持手段の下方に有
    し、該チャンネルノードは適用特定パタンをなして配置
    されているテスト回路と、 前記支持手段の下方でチャンネルノードの上方にあって
    、可能なチャンネルノード位置の汎用グリッドパタンを
    なす管状ハウジングを担持し、前記適用特定パタンは汎
    用グリッドパタンの特定サブセットとなされている汎用
    板と、 該汎用板の下方にかつチャンネルノードの上方にあって
    前記適用特定パタンに適合するパタンの位置に支持され
    た複数の電気伝導性変位部材であって、チャンネルノー
    ドを介してテスト回路に電気的に接続される前記変位部
    材と、 前記汎用板の上面から延長する上方に向けられた汎用接
    点を担持し、汎用板の下面から延長して、前記変位部材
    が汎用接点に整列したとき前記印刷回路板接点とチャン
    ネルノードとを電気的に接続せしめる作動部分を有する
    各管状ハウジングと、を特徴とする印刷回路板テスト装
    置。
  14. （１４）チャンネルノードには該チャンネルノードと前
    記プランジャとの間に水平支持体によって支持された複
    数の導体が設けられていることを特徴とする請求項１３
    に記載の印刷回路板テスト装置。
  15. （１５）前記導体が前記テスト回路の複数の別個の回路
    板の上端の複数のコネクタに接続されていることを特徴
    とする請求項１４に記載の印刷回路板テスト装置。
  16. （１６）前記変位部材が印刷回路板接点に電気的に接続
    された複数の導体を含むことを特徴とする請求項１３に
    記載の印刷回路板テスト装置。
  17. （１７）前記管状のハウジングと汎用接点とが汎用板に
    真空封止されていることを特徴とする請求項１３に記載
    の印刷回路板テスト装置。
  18. （１８）前記作動部分が前記汎用接点に担持されたばね
    負荷されたプランジャを含んでいることを特徴とする請
    求項１４に記載の印刷回路板テスト装置。
  19. （１９）ハウジングと、 ハウジングの両端から延長する一対のプランジャと、 前記両プランジャ間にあって、圧縮されていないとき両
    プランジャがハウジングの両端にあって自由にハウジン
    グ内に滑動するときの両プランジャ間の距離よりも短い
    圧縮ばねとを含むことを特徴とするプローブ。
  20. （２０）ハウジングが金属製であることを特徴とする請
    求項１９に記載のテストピン。
  21. （２１）前記圧縮ばねが、直径の減少した端部を有して
    、該ばねが圧縮されたとき前記ハウジングに向ってプラ
    ンジャを横方向に変位せしめるようにしたことを特徴と
    する請求項２０に記載のテストピン。
  22. （２２）内部表面を有する管状ハウジングと、前記ハウ
    ジング内に位置する外部表面を有して該ハウジングの両
    端から延長する第１のばね負荷されたプランジャと、 前記ハウジングの内部表面と前記プランジャの外部表面
    間のエラストマー製の封止リングと、を含むことを特徴
    とするプローブ。
  23. （２３）前記第１のばね負荷されたプランジャに担持さ
    れ、かつその一端から延長する第２のばね負荷されたプ
    ランジャが設けられていることを特徴とする請求項２２
    に記載のプローブ。
  24. （２４）前記第１のばね負荷されたプランジャの予荷重
    がゼロである、請求項２３に記載のプローブ。
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