JPH0587875A - 移動プローブ型インサーキツト・テスタ - Google Patents
移動プローブ型インサーキツト・テスタInfo
- Publication number
- JPH0587875A JPH0587875A JP3146537A JP14653791A JPH0587875A JP H0587875 A JPH0587875 A JP H0587875A JP 3146537 A JP3146537 A JP 3146537A JP 14653791 A JP14653791 A JP 14653791A JP H0587875 A JPH0587875 A JP H0587875A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- contact
- slider
- contact pins
- circuit tester
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 プローブの移動回数を減らし、テストに要す
る時間および測定点の座標プログラミングの時間を大幅
に削減できる移動プローブ型インサーキット・テスタを
得ること。 【構成】 複数の接触ピン５を１群として配置したプロ
ーブと、このプローブを保持してＸ−Ｙ方向に移動する
手段12と、プローブを所要の位置まで移動したときにプ
ローブを下降させて各接触ピン５を被測定点に接触させ
るプローブ押圧手段11と、各接触ピン５をインサーキッ
ト・テスタ９の回路部に接続するケーブル10で構成され
ている。そして、プローブの１度の移動で、多数の被測
定点に同時に接触でき、多数の項目のテストが実施でき
る。また、各種のプリント配線基板の回路パターンに合
わせた複数の接触ピン５を配置したプローブを用意して
おくことにより、テストすべきプリント配線基板の変更
に迅速に対応できる。
る時間および測定点の座標プログラミングの時間を大幅
に削減できる移動プローブ型インサーキット・テスタを
得ること。 【構成】 複数の接触ピン５を１群として配置したプロ
ーブと、このプローブを保持してＸ−Ｙ方向に移動する
手段12と、プローブを所要の位置まで移動したときにプ
ローブを下降させて各接触ピン５を被測定点に接触させ
るプローブ押圧手段11と、各接触ピン５をインサーキッ
ト・テスタ９の回路部に接続するケーブル10で構成され
ている。そして、プローブの１度の移動で、多数の被測
定点に同時に接触でき、多数の項目のテストが実施でき
る。また、各種のプリント配線基板の回路パターンに合
わせた複数の接触ピン５を配置したプローブを用意して
おくことにより、テストすべきプリント配線基板の変更
に迅速に対応できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線基板のピ
ン間の半田ショートや回路パターンの断線チェック、回
路部品の常数や極性のチェック等に使用する移動プロー
ブ型インサーキット・テスタに関する。
ン間の半田ショートや回路パターンの断線チェック、回
路部品の常数や極性のチェック等に使用する移動プロー
ブ型インサーキット・テスタに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のインサーキット・テスタにおいて
は、１ピンのプローブが１つの移動機構に固定されてい
て、任意の１つの測定点に対して接触するもので、複数
の移動機構が装備されて任意の複数の測定点に接触する
ものであった。したがって、２点を対にして順次に接触
しながら測定するのが通常のやり方であった。
は、１ピンのプローブが１つの移動機構に固定されてい
て、任意の１つの測定点に対して接触するもので、複数
の移動機構が装備されて任意の複数の測定点に接触する
ものであった。したがって、２点を対にして順次に接触
しながら測定するのが通常のやり方であった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
移動プローブ型インサーキット・テスタによると、各移
動機構で保持するプローブには接触ピンが１本しかない
ため、１つの測定に際し、最低２つの座標をプログラム
する必要があった。また、１０個の部品のリード線間を
チェックする場合、４５回以上にわたってプローブを移
動させることが必要であった。
移動プローブ型インサーキット・テスタによると、各移
動機構で保持するプローブには接触ピンが１本しかない
ため、１つの測定に際し、最低２つの座標をプログラム
する必要があった。また、１０個の部品のリード線間を
チェックする場合、４５回以上にわたってプローブを移
動させることが必要であった。
【０００４】本発明は前記のような従来の問題を解決
し、プローブの移動回数を減らし、テストに要する時間
および測定点の座標プログラミングの時間を大幅に削減
できる移動プローブ型インサーキット・テスタを提供す
ることを目的としている。
し、プローブの移動回数を減らし、テストに要する時間
および測定点の座標プログラミングの時間を大幅に削減
できる移動プローブ型インサーキット・テスタを提供す
ることを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】複数の接触ピンを配置し
たプローブと、このプローブを保持してＸ−Ｙ方向に移
動する手段と、プローブを所要の位置まで移動したとき
プローブを下降させて各接触ピンを被測定点に接触させ
る下降手段と、各接触ピンをインサーキット・テスタの
回路部に接続するケーブルとを具備するものである。
たプローブと、このプローブを保持してＸ−Ｙ方向に移
動する手段と、プローブを所要の位置まで移動したとき
プローブを下降させて各接触ピンを被測定点に接触させ
る下降手段と、各接触ピンをインサーキット・テスタの
回路部に接続するケーブルとを具備するものである。
【０００６】また、プローブを、スライダとこのスライ
ダを上下に摺動自在に保持するプローブ・ハウジングで
構成し、このスライダに嵌め込まれるプローブ押圧手段
を介して、各接触ピンとインサーキット・テスタの回路
部とを電気的に接続するように構成してもよい。
ダを上下に摺動自在に保持するプローブ・ハウジングで
構成し、このスライダに嵌め込まれるプローブ押圧手段
を介して、各接触ピンとインサーキット・テスタの回路
部とを電気的に接続するように構成してもよい。
【０００７】
【作用】プローブには、標準化された回路パターンに合
わせた複数の接触ピンを１群として保持しているから、
プローブの１度の移動で多数の被測定点に同時に接触で
き、多数の項目のテストができる。また、プローブは、
電気的にも機械的にもプローブ押圧手段と着脱自在に構
成されているので、各種のプリント配線基板の回路パタ
ーンに合わせた複数の接触ピン群を用意しておくことに
より、テストすべきプリント配線基板の変更に迅速に対
応することができる。
わせた複数の接触ピンを１群として保持しているから、
プローブの１度の移動で多数の被測定点に同時に接触で
き、多数の項目のテストができる。また、プローブは、
電気的にも機械的にもプローブ押圧手段と着脱自在に構
成されているので、各種のプリント配線基板の回路パタ
ーンに合わせた複数の接触ピン群を用意しておくことに
より、テストすべきプリント配線基板の変更に迅速に対
応することができる。
【０００８】
【実施例】図１(ａ)の縦断面に示すように、本発明に係
る移動プローブ型インサーキット・テスタで使用するプ
ローブは、スライダ１と、このスライダ１を上下に摺動
自在に保持するプローブ・ハウジング２で構成され、こ
のハウジング２の外周に形成された凹部８をハウジング
保持部材７で保持される。
る移動プローブ型インサーキット・テスタで使用するプ
ローブは、スライダ１と、このスライダ１を上下に摺動
自在に保持するプローブ・ハウジング２で構成され、こ
のハウジング２の外周に形成された凹部８をハウジング
保持部材７で保持される。
【０００９】スライダ１は、図１(ｂ)の下面図に示すよ
うに、下端に複数の接触ピン５を被測定点に合わせて配
置にして保持し、図１(ｃ)の上面図に示すように、上端
に複数の露出した接点４を備えており、各接触ピン５と
各接点４との間は、リ−ド線６で電気的に接続されてい
る。
うに、下端に複数の接触ピン５を被測定点に合わせて配
置にして保持し、図１(ｃ)の上面図に示すように、上端
に複数の露出した接点４を備えており、各接触ピン５と
各接点４との間は、リ−ド線６で電気的に接続されてい
る。
【００１０】そして、スライダ１は、プローブ・ハウジ
ング２の中において、コイルバネ３の弾力により上向き
に付勢された状態で上下に摺動自在に保持されている。
ング２の中において、コイルバネ３の弾力により上向き
に付勢された状態で上下に摺動自在に保持されている。
【００１１】接触ピン５は、プリント配線基板の被測定
点と接触するもので、例えば、実開昭５９−７５７０号
公報に記載されているように従来より周知のものでよ
く、図１(ｄ)に示すように、先端のコンタクト5bが、外
筒5aに対して摺動自在に保持されるとともに、内部にコ
イルバネ5cを設けて、コンタクト5bを下方へ付勢してお
り、プリント配線基板の被測定点の高さのバラツキ等に
対処できて、適当な押圧力で被測定点と接触できるよう
に構成されている。
点と接触するもので、例えば、実開昭５９−７５７０号
公報に記載されているように従来より周知のものでよ
く、図１(ｄ)に示すように、先端のコンタクト5bが、外
筒5aに対して摺動自在に保持されるとともに、内部にコ
イルバネ5cを設けて、コンタクト5bを下方へ付勢してお
り、プリント配線基板の被測定点の高さのバラツキ等に
対処できて、適当な押圧力で被測定点と接触できるよう
に構成されている。
【００１２】なお、図１(ｂ)においては、所定のピッチ
間隔ｐで横一列に４つの接触ピン５を配置したものが例
示されているが、プリント配線基板の実装部品や回路パ
ターン合わせて、ミリピッチやインチピッチで配列した
標準化されたものが都合がよく、さらに、他の配置であ
っても良いことは勿論である。
間隔ｐで横一列に４つの接触ピン５を配置したものが例
示されているが、プリント配線基板の実装部品や回路パ
ターン合わせて、ミリピッチやインチピッチで配列した
標準化されたものが都合がよく、さらに、他の配置であ
っても良いことは勿論である。
【００１３】このように構成されたプローブは、図２に
示すように、Ｘ−Ｙ方向移動手段12に取り付けられる。
取り付けに際して、プローブ・ハウジング２の凹部８
を、ハウジング保持部材７で把持し、プローブ押圧手段
11をスライダ１の頂部に嵌め込む。
示すように、Ｘ−Ｙ方向移動手段12に取り付けられる。
取り付けに際して、プローブ・ハウジング２の凹部８
を、ハウジング保持部材７で把持し、プローブ押圧手段
11をスライダ１の頂部に嵌め込む。
【００１４】このプローブ押圧手段11には、スライダ１
の各接点４と接触する端子を備えており、これらの各端
子は、ケーブル10を介してインサーキット・テスタ９の
回路部に接続されている。
の各接点４と接触する端子を備えており、これらの各端
子は、ケーブル10を介してインサーキット・テスタ９の
回路部に接続されている。
【００１５】次に、プローブを移動させて、被測定プリ
ント配線基板をテストする構成について説明する。
ント配線基板をテストする構成について説明する。
【００１６】図２の斜視図に示すように、複数の接触ピ
ン５を一体に保持したスライダ１はプローブ・ハウジン
グ２とともにアッセンブリに組み立てられて、ハウジン
グ保持部材７を介して、検査台13上を走行するＸ−Ｙ方
向移動手段12に取り付けられている。
ン５を一体に保持したスライダ１はプローブ・ハウジン
グ２とともにアッセンブリに組み立てられて、ハウジン
グ保持部材７を介して、検査台13上を走行するＸ−Ｙ方
向移動手段12に取り付けられている。
【００１７】一方、検査台13には、例えば、エッジ・コ
ネクタ15を有する被測定プリント配線基板14が、ソケッ
ト16に挿し込んで載置されている。このソケット16の多
数の各端子は、ケーブル10を介してインサーキット・テ
スタ９の回路部に接続されている。
ネクタ15を有する被測定プリント配線基板14が、ソケッ
ト16に挿し込んで載置されている。このソケット16の多
数の各端子は、ケーブル10を介してインサーキット・テ
スタ９の回路部に接続されている。
【００１８】プリント配線基板14におけるピン間の半田
ショートや回路パターンの断線チェックを行なう際、例
えば、ＩＣ用パターン17をチェックする際には、２mmま
たは2.54mmのピッチで接触ピン５を直線状に配置したプ
ローブをＸ−Ｙ方向移動手段12によって、所定のテスト
位置上空へ移動させる。
ショートや回路パターンの断線チェックを行なう際、例
えば、ＩＣ用パターン17をチェックする際には、２mmま
たは2.54mmのピッチで接触ピン５を直線状に配置したプ
ローブをＸ−Ｙ方向移動手段12によって、所定のテスト
位置上空へ移動させる。
【００１９】所定のテスト位置の上空まで移動したと
き、プッシャー(図示せず)などによって、プローブ押圧
手段11を押し下げると、プローブ押圧手段11の端子とス
ライダ１の接点４が接触して、接触ピン５よりケーブル
10に至る回路が形成される。さらに、プローブ押圧手段
11およびスライダ１をプローブ・ハウジング２内のコイ
ルバネ３の弾力に抗して押し下げると、各接触ピン５の
コンタクト5bがプリント配線基板の各被測定点に押圧さ
れる。
き、プッシャー(図示せず)などによって、プローブ押圧
手段11を押し下げると、プローブ押圧手段11の端子とス
ライダ１の接点４が接触して、接触ピン５よりケーブル
10に至る回路が形成される。さらに、プローブ押圧手段
11およびスライダ１をプローブ・ハウジング２内のコイ
ルバネ３の弾力に抗して押し下げると、各接触ピン５の
コンタクト5bがプリント配線基板の各被測定点に押圧さ
れる。
【００２０】このようにして、各接触ピン５のコンタク
ト5bは、内蔵されているコイルバネ5cにより、各々の被
測定点に適当な押圧力でもって接触する。そして、イン
サーキット・テスタ９の測定部において、回路を順次に
切換えながら必要な測定を行なう。
ト5bは、内蔵されているコイルバネ5cにより、各々の被
測定点に適当な押圧力でもって接触する。そして、イン
サーキット・テスタ９の測定部において、回路を順次に
切換えながら必要な測定を行なう。
【００２１】次に、プローブ押圧手段11の押圧力を解除
して、スライダ１を上昇させてから、同様に、次の測定
点の上空までプローブを移動させる。このような動作を
繰り返し行なって、被測定プリント配線基板14をテスト
する。
して、スライダ１を上昇させてから、同様に、次の測定
点の上空までプローブを移動させる。このような動作を
繰り返し行なって、被測定プリント配線基板14をテスト
する。
【００２２】そして、抵抗挿入穴18などのピッチの異な
る部分を測定する場合には、異なるピッチで配列した接
触ピンを持つ他のプローブをハウジング保持部材７に入
れ替えて、同様の測定を繰り返す。
る部分を測定する場合には、異なるピッチで配列した接
触ピンを持つ他のプローブをハウジング保持部材７に入
れ替えて、同様の測定を繰り返す。
【００２３】
【発明の効果】本発明は、以上で説明したように構成さ
れているから、(１)プローブの移動回数を減らし、検査
時間および測定点を決める座標プログラミングの時間を
大幅に短縮できる、(２)１つのプローブに１本の接触ピ
ンを有する従来の装置に比べて、多数の接触ピンを同時
に被測定点に接触させることにより、短絡、断線などの
不良箇所の発見および解析する能力は、著しく向上す
る、(３)標準化されたピッチで配置された接触ピンを有
するプローブを数本用意することにより、多様なプリン
ト配線基板に対応できるので、設備コストが安い、(４)
被測定プリント配線基板の変更に対応してプローブを交
換する際、リ−ド線やケーブルの接続変更が簡素化でき
る、などの優れた効果を奏することができる。
れているから、(１)プローブの移動回数を減らし、検査
時間および測定点を決める座標プログラミングの時間を
大幅に短縮できる、(２)１つのプローブに１本の接触ピ
ンを有する従来の装置に比べて、多数の接触ピンを同時
に被測定点に接触させることにより、短絡、断線などの
不良箇所の発見および解析する能力は、著しく向上す
る、(３)標準化されたピッチで配置された接触ピンを有
するプローブを数本用意することにより、多様なプリン
ト配線基板に対応できるので、設備コストが安い、(４)
被測定プリント配線基板の変更に対応してプローブを交
換する際、リ−ド線やケーブルの接続変更が簡素化でき
る、などの優れた効果を奏することができる。
【図１】本発明の一実施例におけるプローブを示す図
で、(ａ)は縱断面図、(ｂ)は下面図、(ｃ)は上面図、
(ｄ)は接触ピンの断面図
で、(ａ)は縱断面図、(ｂ)は下面図、(ｃ)は上面図、
(ｄ)は接触ピンの断面図
【図２】本発明の実施例における移動プローブ型インサ
ーキット・テスタの概要を示す斜視図である。
ーキット・テスタの概要を示す斜視図である。
１ スライダ ２ プローブ・ハウジング ３ コイルバネ ４ 接点 ５ 接触ピン 5a 外筒 5b コンタクト ７ ハウジング保持部材 ９ インサーキット・テスタ 10 ケーブル 11 プローブ押圧手段 12 Ｘ−Ｙ方向移動手段 13 検査台 14 被測定プリント配線基板 15 エッジコネクタ 16 ソケット 17 ＩＣ用パターン 18 抵抗挿入穴
Claims (2)
- 【請求項１】 複数の接触ピンを配置したプローブと、
該プローブを保持してＸ−Ｙ方向に移動する手段と、前
記プローブを所要の位置まで移動したときプローブを下
降させて前記各接触ピンを被測定点に接触させる下降手
段と、前記各接触ピンをインサーキット・テスタの回路
部に接続するケーブルとを具備することを特徴とする移
動プローブ型インサーキット・テスタ。 - 【請求項２】 プローブを、複数の接触ピンを保持する
スライダと該スライダを上下に摺動自在に保持するハウ
ジングで構成し、前記スライダの頂部に設けられ、前記
複数の接触ピンとそれぞれ接続された複数の接点と、該
複数の接点とそれぞれ接触する端子を有し、前記スライ
ダに嵌め込まれるプローブ押圧手段と、前記各端子をイ
ンサーキット・テスタの回路部に接続するケーブルとを
具備することを特徴とする請求項１に記載の移動プロー
ブ型インサーキット・テスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3146537A JPH0587875A (ja) | 1991-05-23 | 1991-05-23 | 移動プローブ型インサーキツト・テスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3146537A JPH0587875A (ja) | 1991-05-23 | 1991-05-23 | 移動プローブ型インサーキツト・テスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587875A true JPH0587875A (ja) | 1993-04-06 |
Family
ID=15409895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3146537A Pending JPH0587875A (ja) | 1991-05-23 | 1991-05-23 | 移動プローブ型インサーキツト・テスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0587875A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110285848A (zh) * | 2019-07-11 | 2019-09-27 | 北京市水科学技术研究院 | 工程安全监测集线装置及工程安全监测人工测读系统 |
-
1991
- 1991-05-23 JP JP3146537A patent/JPH0587875A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110285848A (zh) * | 2019-07-11 | 2019-09-27 | 北京市水科学技术研究院 | 工程安全监测集线装置及工程安全监测人工测读系统 |
| CN110285848B (zh) * | 2019-07-11 | 2024-02-20 | 北京市水科学技术研究院 | 工程安全监测集线装置及工程安全监测人工测读系统 |
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