JPH0731185Y2 - プロービィング装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔概要〕 電子部品が実装されたプリント基板を垂直に定位置に固
定し入出力端子と接続も行う支持台と、プリント基板面
に圧接させるローブピンを保持する保持部材を有し、こ
れをプリント基板面と平行なＸ−Ｙ面及び垂直なＺ方向
に移動させる移動機構と、を備え、プローブピンをプリ
ント基板の所定パッドに圧接させてプリント基板の電気
特性を検出するプロービィング装置に関し、 電気特性を検出する試験の信頼性の向上を図ることを目
的とし、 第１の突出機構によって突出されプリント基板面に圧接
する複数個のプローブピンを配列したプローバと、第２
の突出機構によって突出されプリント基板面に圧接する
１個のプローブピンを配した１ピンプローバと、が保持
部材に併設されるように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本考案はプローブピンをプリント基板の所定パッドに圧
接させて入出力端子との間の電気特性を検出するプロー
ビィング装置に関する。

LSI素子などの電子部品が実装されることで構成される
プリント基板は、その製造工程に於いて電子部品の実装
が確実に行われたかどうか電気特性をチェックすること
が行われる。

このようなチェックは、一般的に、電子部品が固着され
たパッドにプローブピン10を当接させ、そのプリント基
板の入出力端子と接続した測定器に接続することで行わ
れる。

しかし、このようなプリント基板に於ける測定点となる
パッドは膨大な量となるため、１個のプローブピンによ
ってこれをチェックすることでは膨大な工数を要し、多
大な作業時間が必要となる。

従って、このチェック作業時間を短縮する為に、電気的
に群を構成する複数箇所のパッドに対して同数のプロー
ブピンを一斉に圧接させ、個々に移動させることなく電
気的に選択することにより順にチェックし、結果を群と
して纏めるように構成されたプロービィング装置が、通
常使用されている。

〔従来の技術〕

第３図に従来の説明図を示し、（ａ）は斜視図、（ｂ）
はプローバの斜視図、（ｃ）はプローブピン10の当接を
示す要部側面図である。

従来例は第３図に示すように、プリント基板４を定位置
に垂直に固定しその入出力端子と接続をも行う支持台３
と、このプリント基板４面に圧接するプローブピン10を
保持する保持部材11を、プリント基板４面と平行なＸ−
Ｙ面及び垂直なＺ方向に移動させる移動機構１とから成
り、移動機構１はプリント基板４を挟み両側に対称な一
対が備えられる。

移動機構１は、（ａ）図示の如く、下部の水平ガイド1C
の案内により水平方向（Ｘ）に移動するテーブル1Aと、
基部をテーブル1Aに置き昇降ガイド1Dを有し保持部材11
を垂直方向（Ｙ）に昇降させるマスト1Bと、から構成さ
れ、マスト1Bの基部がテーブル1Aに設けたＺ方向ガイド
1Eによりマスト1Bはプリント基板４面方向（Ｚ）に移動
可能としてある。

保持部材11は、（ｂ）図示のように、複数のプローブピ
ン10を全面に配置した多ピンプローバ７と、これをＺ方
向（図示矢印Ｆ方向）に突出移動させる第１の突出機構
６とから成りる。

多ピンプローバ７は、複数のプローブピン10をプリント
基板４の測定パッド4A群の配置に合わせて前面に配置す
ると共に、各プローブピン10に外部接続を行うコネクタ
7Cを備えたブロック7Bと、これを固着し第１の突出機構
６に係着するアタッチメント7Aとから成る。

ここで、保持部材11でのプローブピン10が無突出状態に
あって、プリント基板４の所定位置に対して、Ｘ方向移
動、Ｙ方向移動及びＺ方向ガイド1EによるＺ方向移動が
されてプローブピン10が所定に位置決めされてから、第
１の突出機構６を動作させて突出させる。

この突出動作にて、（Ｃ）図示の如く、電子部品５のリ
ード端子5Aがプリント基板４のパッド4Aにボンディング
された箇所に、初めて全プローブピン10が一斉に圧接
し、この接触圧の調整は第１の突出機構６が行ってい
る。

これにより、プローブピン10の先端がパッド4Aを介して
パターン配線4Bに電気導通を有するように接続される。

一方、（ａ），（ｂ）図示のように、電気特性を計測す
るテスター12が、一端はの接続ケーブルにてブロック
7Bのコネクタ7Cと接続しプローブピン10に接続され、他
端はの接続ケーブルにて支持台３に接続して支持した
プリント基板４の入出力端子と接続されて、プローブピ
ン10の接続パッド4Aとプリント基板４の対応する入出力
端子との間の電気特性を計り、自動的に良否を判定する
チェックが成される。

一例として、１個のブロック7Bには40個のプローブピン
10が設けられ、このブロック7Bの４個が矩形状に配置さ
れ、１辺40個のプローブピン10が矩形状に配列され合計
160個のプローブピン10が配置される。

これは、例えば、１個のLSI素子に対するチェックは多
ピンプローバ７を移動させ１回当てる動作で済み、移動
作業の大幅な削減が行えチェック作業の効率化が図られ
る。

従って、最初に測定すべきLSI素子に保持部材11を位置
決めし、第１の突出機構６によって多ピンプローバ７を
突出させ、全プローブピン10を一斉に圧接させ、順次選
択して電気特性チェックをし終えたら、再度第１の突出
機構６を動作させて多ピンプローバ７を後退させる。次
に、次に測定すべきLSI素子に保持部材11を移動させて
前記動作を繰り返してチェックを行う。

又、かようなチェックは、プリント基板４の両側に移動
機構１を配設すれば、１台では削減不可であった保持部
材11の位置決めのための移動時間を、交互に測定するこ
とで削減できる。更に、独立した２個の測定機能を有す
るテスター12を用いれば両面から同時にチェックするこ
とができ作業時間は半減される。

尚、前述の第１の突出機構６はエアシリンダとソレノイ
ドバルブから構成されたものであって、ソレノイドバル
ブの制御によりエアシリンダが動作し、多ピンプローバ
７の突出、後退が行われる。

〔考案が解決しようとする課題〕

このような多ピンプローバ７によるチェックは、プリン
ト基板４に対して同時に複数のプローブピン10を圧接す
ることができるため、チェック時間の短縮を図ることが
できるものの、多くのプローブピン10がリード端子5Aを
固着したパッド4Aの夫々に接触するので、全部のプロー
ブピン10が最適接触状態を得ることが困難となる。

即ち、各プローブピン10の接触圧を向上させようとして
多ピンプローバ７の突出力を大きくすると、片当たりし
た場合はそこが過度に加圧されパッド4Aを損傷させてし
まうので、多ピンプローバ７のプローブピン10をパッド
4Aに当接させる圧力には限界があった。

従って、多数のプローブピン10を夫々のパッド4Aに同時
に圧接させた場合、接触不良が起こることがしばしば発
生し、接触不良が発生するとプリント基板４に異常が無
くても所定の電気特性が得られないことがある。

そこで、この様な場合は、再トライによって多ピンプロ
ーバ７を少し移動させ、再チェックを行う。

しかし、再トライによって多ピンプローバ７を移動させ
ても、前述の如く、プローブピン10の当接圧力には限界
があることから、プローブピン10の接触不良による所定
の電気特性が得られなくなることを避けることができな
い。

従って、実際にはプリント基板４に異常が無くても、再
度プリント基板４が不良と判定される問題があった。

そこで、本考案は電気特性を検出する試験の信頼性の向
上を図ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記の目的は、第１図に示すように、電子部品５が実装
されたプリント基板４を垂直に定位置に固定し入出力端
子と接続も行う支持台３と、プリント基板４面に圧接さ
せるローブピン10を保持する保持部材２を有し、これを
プリント基板４面と平行なＸ−Ｙ面及び垂直なＺ方向に
移動させる移動機構１と、を備え、プローブピン10をプ
リント基板４の所定パッド4Aに圧接させてプリント基板
４の電気特性を検出するプロービィング装置であって、
第１の突出機構６によって突出されプリント基板４面に
圧接する複数個のプローブピン10を配列した多ピンプロ
ーバ７と、第２の突出機構９によって突出されプリント
基板４面に圧接する１個のプローブピン10を配した１ピ
ンプローバ８と、が保持部材２に併設されて成るプロー
ビィング装置によって達成される。

〔作用〕

即ち、多ピンプローバ７によりチェックを行い、不良判
定箇所の再測定トライは接触状態の不良が発生しない１
ピンプローバ８を用いてその不良箇所毎に正確に再チェ
ックすれば、プリント基板４の不良以外は不良とならず
試験の信頼性は高まる。

多ピンプローバ７では常に全プローブピン10が最適接触
状態となることは無理であり、接触不良を生じることは
回避できない。

しかし、１ピンプローバ８では、他のプローブピン10と
の競合がないので、良接触性能を得るための専用構造と
することが可能であり、加圧力、先端形状も接触面を傷
付けない範囲で最良の状態にすることができるので、接
触不良を起こすことは無い。

又、実際に多ピンプローバ７を用いて不良と判定される
箇所は、全測定箇所に比べて遥に少ない数である。従っ
て、この不良判定箇所の再トライを１ピンプローバ８に
て行わせても差ほどの作業増とはならず、しかし、チェ
ックの判定は高確度で行うことができ、プリント基板４
の電気特性をチェックする試験の信頼性を極限まで高め
ることが可能であり、高価なLSI素子等の電子部品５を
実装したプリント基板４を不良と誤判定してしまうこと
は避けられる。

〔実施例〕

以下本考案を第１図を参考に詳細に説明する。

第１図は本考案による一実施例の説明図で、（ａ）は斜
視図、（ｂ）はプローバの側面図であり、全図を通し同
一符号は同一対象物を示す。

本考案は（ａ）図示の如く、前述第２図に示す従来例と
同じのプリント基板４の支持台３と、プローブピン10を
保持する保持部材２をＸ、Ｙ、Ｚ方向に移動させる移動
機構１とから成り、この保持部材２には、従来例と同じ
多ピンプローバ７が第１の突出機構６を介して係着され
る他に、１ピンプローバ８が第２の突出機構９を介して
係着してある。

この移動機構１、支持台３、多ピンプローブ７は同一の
ため説明省略する。

１ピンプローバ８は、（ｂ）図示のように、１個のプロ
ーブピン10をスライド可能に保持すると共にプローブピ
ン10の外部接続端子を備えるガイド8Aと、プローブピン
10を押圧するスプリング8Bとから成り、第２の突出機構
９に係着され、これの動作により図示矢印Ｆ方向に突出
移動し、プローブピン10の先端がプリント基板４の所定
位置のパッド4Aに圧接し、チェック後には元の位置に後
退する。

この圧接力はスプリング8Bの撓み反発力により得られ、
最適値としている。

プローブピン10が圧接した状態でのプリント基板４の電
気特性の測定は、その一端をの接続ケーブル13にて多
ピンプローバ７のコネクタ7Cに接続し、更にの接続ケ
ーブル13にても１ピンプローバ８の端子に接続し、他端
をの接続ケーブル13にてプリント基板４の支持台３と
接続しその入出力端子と接続させたテスター12にて計測
される。

先づ、移動機構１を動作させて保持部材２をＸ方向、Ｙ
方向及びＺ方向ガイド1EにてＺ方向に移動させ、プリン
ト基板４の所定位置の電子部品５に位置決め固定する。

次に、第１の突出機構６を動作させて多ピンプローバ７
を突出させ、前面の全プローブピン10をプリント基板４
のパッド4Aに圧接させる。この状態でプローブピン10を
順次選択すると同時にプリント基板４の入出力端子も対
応選択して電気特性を測定し、良否を判定して行く。判
定結果は全て記憶、記録させ、全数が終了すれば再度第
１の突出機構６を動作させて多ピンプローバ７を元の位
置に後退させる。

次に、移動機構１を動作させて測定すべき隣の電子部品
５の位置に保持部材２を移動位置決め固定させ、前記と
同じに測定を繰り返す。

以下、測定すべき全数の電子部品５或いはプリント基板
４の電気特性を測定し終えたら、記憶された不良判定箇
所毎に１ピンプローバ８を用いて再トライを行う。その
結果も記憶、記録し、全箇所を行って終了する。

この場合は１プローブピン10のため多ピンプローバ７の
場合に比べて接触圧力を大きくすることができると共
に、先端形状も最適形状にすることで接触不良の発生を
皆無としており、従って、この１ピンプローバ８による
再トライによっても測定結果が不良判定が生じた時は、
そのプリント基板４或いは当該電子部品５を不良と断定
することができる。

〔考案の効果〕

以上の如く、本考案のプロービィング装置により、多ピ
ンプローバによるプリント基板のチェックの能率化を図
ると共に、再チェックには１ピンプローバを用いるので
正確な計測判定ができる。

従って、従来の様な誤判定により高価なプリント基板を
不良判定してしまうことは無くなり、チェックの信頼性
の向上が図られ、実用的効果は大である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による一実施例の説明図で、 （ａ）は斜視図、（ｂ）はプローバの側面図、 第２図は従来の説明図で、 （ａ）は斜視図、（ｂ）はプローバの斜視図、（ｃ）は
プローブピンの当接を示す要部側面を示す。 図に示すように、 １は移動機構、1Aはテーブル、1Bはマスト、1Cは水平ガ
イド、1Dは昇降ガイド、1EはＺガイド、2,11は保持部
材、３は支持台、４はプリント基板、4Aはパッド、4Bは
パターン配線、５は電子部品、5Aはリード端子、６は第
１の突出機構、７は多ピンプローバ、7Aはアタチメン
ト、7Bはブロック、7Cはコネクタ、８は１ピンプロー
バ、8Aはガイド、8Bはスプリング、９は第２の突出機
構、10はプローブピン、12はテスター、13は接続ケーブ
ルである。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】電子部品（５）が実装されたプリント基板
   （４）を垂直に定位置に固定し入出力端子と接続も行う
   支持台（３）と、該プリント基板（４）面に圧接させる
   プローブピン（10）を保持する保持部材（２）を有し、
   これをプリント基板（４）面と平行なＸ−Ｙ面及び垂直
   なＺ方向に移動させる移動機構（１）と、を備え、該プ
   ローブピン（10）を該プリント基板（４）の所定パッド
   （4A）に圧接させて該プリント基板（４）の電気特性を
   検出するプロービィング装置において、 第１の突出機構（６）によって突出されプリント基板
   （４）面に圧接する複数個のプローブピン（10）を配列
   した多ピンプローバ（７）と、第２の突出機構（９）に
   よって突出されプリント基板（４）面に圧接する１個の
   プローブピン（10）を配した１ピンプローバ（８）と、
   が保持部材（２）に併設されて成ることを特徴とするプ
   ロービィング装置。