JPH0755505Y2 - インサーキットテスタ - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は実装基板の良否を判定する際に使用するインサ
ーキットテスタに関する。

従来の技術 従来、実装基板、即ち電気部品を半田付けしたプリント
基板の良否の判定にはインサーキットテスタを用いてい
る。このインサーキットテスタは基板に実装された部品
の電気的特性を測定することによって検査を行なうもの
である。しかし、近年ではカメラを備えて実装基板の外
観から部品の有無や半田付部分の形状等を画像により検
査する画像検査装置（ビジュアル型のテスタ）も使用さ
れている。又、インサーキットテスタには測定時におけ
る実装基板のテスタに対する固定方式の違いから、実装
基板を検査治具たるフィクスチャー（ピンボード）上に
乗せ、多数の押え棒を下方に突設したプレス板を上方か
ら下降させて挟持し、固定するプレス式と、実装基板を
フィクスチャー上に吸収し、固定するバキューム式とが
ある。そこで、検査の対象となる実装基板の種類に応
じ、又検査の対象に応じてそれらのテスタを適宜使い分
ければよい。例えば基板に実装したコネクタの有無、そ
の取り付けの方向性の判別、ピン数の違ったコネクタの
付け間違い等は電気的特性に異常が現われない場合が多
く、インサーキットテスタでは検査できないので、ビジ
ュアル型のテスタを使用するか、目視検査で済ませるこ
とになる。尤も、ビジュアル型のテスタでは部品の電気
的特性の検査はできない。

考案が解決しようとする課題 しかしながら、基板に実装された部品の電気的特性を測
定して検査するためには、どうしてもインサーキットテ
スタが必要であり、この外にビジュアル型のテスタが必
要になると、高額となり、負担が大きくなる。又、目視
検査は人間が目で見て判断するため、検査のスピード化
が計れず、判定結果も不安定で、コスト高になる。な
お、検査抜きでは当然製品になってからの修理コストが
増大する。

本考案はこのような従来の問題点に着目してなされたも
のであり、実装基板の外観寸法から部品の有無、取付方
向等を短時間に電気的に検査し、しかも正確に判定する
ことができるインサーキットテスタを提供することを目
的とする。

課題を解決するための手段 上記目的を達成するための手段を、以下実施例に対応す
る第１図を用いて説明する。

このインサーキットテスタは可動支持体14に、それぞれ
ピン16、20を有する第１、第２テストプローブ18、22を
並べて設置し、更にその第１テストプローブピン16の先
端部24に導電性のアタッチメント26を固定してなるプロ
ーブユニット10を少なくとも１個備えている。そして、
可動支持体14はフィクスチャー上に乗せた実装基板12に
対する位置を調整可能にしたものであり、両テストプロ
ーブの各ピン16、20はその支持体14からそれぞれ実装基
板12の方向に常に付勢力を受けて突出しているが、第１
テスタプローブピン16の突出長を第２テストプローブピ
ン20の突出長より長くする。又、導電性のアタッチメン
ト26は実装基板12と反対側にあるその端面30の幅を両テ
ストプローブピン16、20の間の距離よりも大きく形成
し、更にその端面30と第２テストプローブピン20の先端
32との間の距離を基板34に実装した部品36の検査に必要
な距離だけ離す。

上記可動支持体14はプレス板に取り付けたり、可動支持
体14がプレス板であるとよい。

作用 上記のように構成すると、フィクスチャー上に乗せた実
装基板12に対し、可動支持体14を順次移動して近付ける
ことにより、その可動支持体14に設置した第１テストプ
ローブピン16の先端部24にある導電性アタッチメント26
の先端を基板34に実装した部品36に接触させた後、第１
テストプローブピン16に与えられている付勢力に抗し
て、更に可動支持体14を移動してそのピン16を引込め、
突出長を短くして、アタッチメント26の実装基板12と反
対側にある端面30と第２テストプローブピン20の先端32
との間の距離を小さくして行くことができる。すると、
その端面32の幅は両テストプローブピン16、20の間の距
離よりも大きく形成してあるため、ついにはアタッチメ
ント26の端面30と第２テストプローブピン20の先端32と
が接触する。この時、第１テストプローブ18は第２テス
トプローブ22と導電性アタッチメント26を介してショー
ト状態になる。そこで、アタッチメント26の端面30と第
２テストプローブピン20の先端32との間の距離を基板34
に実装した部品の外観寸法に対応する検査に必要な距離
だけ離しておくと、ショート状となるか否かによって部
品36の有無、取付方向等の検査が行なえる。その際、可
動支持体14をプレス板に取り付けたり、可動支持体14が
プレス板であると、プレス板はフィクスチャー上に乗せ
た実装基板12に対し、接近、後退移動（上下動）が可能
に構成されているため、その機構をそのままプローブユ
ニット10の基板34に実装した部品36に対する適切な位置
の調整に使える。

実施例 以下、添付図面に基づいて、本考案の実施例を説明す
る。

第１図は本考案を適用したインサーキットテスタの要部
を示す部分縦断面図である。図中、10はプローブユニッ
ト、12はフィクスチャー（図示なし）の上に乗せた実装
基板である。このプローブユニット10はフィクスチャー
上に乗せた実装基板12に対する位置を調整可能なアクリ
ル板等から成る可動支持体14に、実装基板12の方向に常
に付勢力を受けてそれぞれ突出している突出長の長いピ
ン16を有する第１テストプローブ18と突出長の短いピン
20を有する第２テストプローブ22とを至近距離に並べて
設置し、その第１テストプローブピン16の先端部24には
導電性のアタッチメント26をねじ28等を用いて固定し、
そのアタッチメント26の実装基板12と反対側にある端面
30の幅を両テストプローブピン16、20の間の距離よりも
大きく成形し、その端面30と第２テストプローブピン20
の先端32との間の距離を基板34に実装した部品の外観寸
法に対応する検査に必要な距離だけ離したものである。
上記可動支持体14はプレス式では多数の押え棒を下方に
突出させた既存のプレス板（図示なし）の下面にねじ止
め等により取り付けたり、それ自体をプレス板に兼用す
るとよい。何故なら、プレス板はフィクスチャー上に乗
せた実装基板12に対し、接近、後退移動（上下動）が可
能に構成されているため、その機構をそのままプローブ
ユニット10の基板34に実装した部品36に対する適切な位
置の調整に使うと好適になるからである。なお、バキュ
ーム式ではプレス板はないので当然可動支持体14を新た
に設けなければならない。

又、テストプローブ18、22には市販のものが簡単に手に
入るので、第１テストプローブ18として引張りばね38を
外付けした外ばね型を、又第２テストプローブ22として
圧縮ばねを内付けした内ばね型を使用するとよい。な
お、それらの各上端部に接続する信号線40、42はマルチ
プレクサを経て、計測部（図示なし）に入る。

又、導電性のアタッチメント26にはピン挿入穴とねじ止
め穴を設けた先端部44を細身とした金属円柱体を用いる
とよい。何故なら、先細にすると、部品36のプロービン
グポイントに接近し易いからである。尤も、アタッチメ
ントの形状等は検査すべき部品の形状等に応じて適宜変
えられる。

次に、このようなインサーキットテスタを用い、プリン
ト基板34に実装した部品36が第２図に示すコネクタであ
る場合に付き、実装基板12の良否の判定方法を説明す
る。先ず、コネクタ36の切欠き46のない一側壁48の上面
にある切欠き46に対応する黒丸50で示した位置をプロー
ビングポイントに決定する。通常、コネクタの雄側には
雌側の突起が入る切欠きが予め設けられている。しか
も、大きなものでは切欠きが複数個ある。なお、コネク
タ36の内部に１列に並んだ多数の突起52は端子ピンであ
る。次に、フィクスチャー上に乗せた実装基板12に対
し、第１図に示す位置から可動支持体14を順次移動して
近付けることにより、その可動支持体14に設置した第１
テストプローブピン16の先端部24にある導電性アタッチ
メント26の先端を基板34に実装したコネクタ36のプロー
ビングポイント50に接触させた後、第１テストプローブ
ピン16に与えられている付勢力に抗して、更に可動支持
体14を移動してそのピン16を引込め、突出長を短くし
て、アタッチメント26の実装基板12と反対側にある端面
30と第２テストプローブピン20の先端32との間の距離を
小さくして行く。すると、その端面30の幅は両テストプ
ローブピン16、20の間の距離よりも大きく形成してある
ため、ついにはアタッチメント26の端面30と第２テスト
プローブピン20の先端32とが接触する。この時、第３図
に示すように第１テストプローブ18は第２テストプロー
ブ22と導電性アタッチメント26を介してショート状態に
なる。そこで、ショート状態を示す検出信号はライン4
0、42からマルチプレクサを経て、計測部に入り、基板3
4に対するコネクタ36の取付方向が正常であるという検
査結果が得られる。ところが、コネクタ36の取付方向を
誤って逆にすると、第４図に示すように実装基板12に可
動支持体14を近付けても、アタッチメント26の先端部44
は切欠き46の空間内に入るため、その端面30と第２テス
トプローブピン20の先端32との間は離れたままであり、
その検出信号からコネクタ36の取付方向が誤りであると
いう検査結果が得られ、実装基板12が否と判定される。
又、コネクタ無しの場合も、第５図に示すように単にア
タッチメント26が基板34に近付くだけであり、その端面
30と第２テストプローブピン20の先端32との間は離れた
ままであるため、同様に判定される。

しかし、このような１個所のプロービングポイントの検
査だけではコネクタの取付方向の逆と、コネクタ無しと
の区別ができない。そこで、コネクタ36の切欠き46のな
い一側壁48の上面に、更に切欠き46に対応しない位置に
プロービングポイントを１個所追加し、合せてプローブ
ユニット10を２個使用する。すると、プロービングポイ
ントが２個所でショート状態になったときにコネクタ36
の取付方向が正常、１個所だけショート状態になると
逆、ショート状態が全くないとコネクタ無しと判定でき
る。

又、このような２個所だけのプローピングポイントの検
査だけでは、例えば20ピン用のコネクタの取付個所に30
ピン用のコネクタは取り付けられないが、逆は可能であ
るため、ピン数の違ったコネクタの付け間違いを検査で
きない。そこで、第６図に示すようにコネクタ36の切欠
き46のない一側壁48の上面の両端にプロービングポイン
ト54、56を追加し、合せてプローブユニット10を３個使
用する。この場合には２箇所でショート状態になると、
付け間違いだと判定できる。因みに、付け間違いの場合
には切欠きは中央のプロービングポイント50の対応した
位置にはなく、左方か右方にずれる。

なお、このようなインサーキットテスタは当然コネクタ
ばかりでなく基板に実装したあらゆる部品の有無や、外
見上明らかな形状の差がある部品の方向性の判別に使用
できる。

考案の効果 以上説明した本考案によれば、基板に実装された部品の
電気的特性の検査から実装基板の良否を判定するインサ
ーキットテスタにプローブユニットを備えることによ
り、実装基板の外観寸法から部品の有無、取付方向等を
電気的に検出して検査が行なえるため、目視に比べ、大
幅に検査のスペード化が達成でき、検査を安価に行え
る。しかも、人間の判断と異なり、不安定な要素がない
ため、正確な判定ができる。

又、可動支持体をプレス板に取り付けるものでは、必要
に応じ適宜プレス板にプローブユニットを着脱でき、し
かもプレス板の駆動源でプローブユニットを作動できる
ため好都合である。

更に、可動支持体がプレス板であるものはプレス板をプ
ローブユニットの可動支持体に兼用するため、可動支持
体を別個に備える必要がなく、プレス板の駆動源を同様
に利用できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案を適用したプローブユニット付きインサ
ーキットテスタの要部を示す部分縦断面図である。 第２図は基板に実装した検査の対象となる部品例を示す
コネクタの斜視図である。 第３図、第４図及び第５図は第１図に示したプローブユ
ニット付きインサーキットテスタによるコネクタの各検
査状態を示す部分縦断面図である。 第６図は第２図のコネクタに更にプロービングポイント
を追加して示す平面図である。 10…プローブユニット、12…実装基板、14…可動支持
体、16、20…ピン、18、22…第１、第２テストプロー
ブ、26…導電性アタッチメント、30…端面、32…第２テ
ストプローブピンの先端、34…基板、36…部品（コネク
タ）、46…切欠き、50、54、56…プロービングポイン
ト、52…端子ピン

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】フィクスチャー上に乗せた実装基板に対す
   る位置を調整可能な可動支持体に、実装基板の方向に常
   に付勢力を受けてそれぞれ突出している突出長の長いピ
   ンを有する第１テストプローブと突出長の短いピンを有
   する第２テストプローブとを並べて設置し、その第１テ
   ストプローブピンの先端部には導電性のアタッチメント
   を固定し、そのアタッチメントの実装基板と反対側にあ
   る端面の幅を両テストプローブピンの間の距離よりも大
   きく形成し、その端面と第２テストプローブピンの先端
   との間の距離を基板に実装した部品の検査に必要な距離
   だけ離してなるプローブユニットを少なくとも１個備え
   たインサーキットテスタ。
2. 【請求項２】可動支持体をプレス板に取り付ける第１項
   記載のインサーキットテスタ。
3. 【請求項３】可動支持体がプレス板である第１項記載の
   インサーキットテスタ。