JPH0611462Y2 - 基板検査用コンタクトプローブ - Google Patents

基板検査用コンタクトプローブ

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JPH0611462Y2
JPH0611462Y2 JP12454888U JP12454888U JPH0611462Y2 JP H0611462 Y2 JPH0611462 Y2 JP H0611462Y2 JP 12454888 U JP12454888 U JP 12454888U JP 12454888 U JP12454888 U JP 12454888U JP H0611462 Y2 JPH0611462 Y2 JP H0611462Y2
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秀一 清水
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Hioki EE Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は基板に装着した電気部品のリード穴に対するリ
ード挿入状態の良否を半田付け前に検査するインサーキ
ットテスター等に用いるコンタクトプローブに関する。
従来の技術 従来、実装基板即ち電気部品を装着して半田付けしたプ
リント基板の良否の判定には通常基板に実装された部品
の電気的特性を測定して検査を行なう一般型のインサー
キットテスタを用いている。なお、実装基板を外観から
検査する必要性がある場合にはカメラを備えたビジュア
ル型のインサーキットテスターを使用するか、目視検査
で済ませることなる。しかし、一般型のテスターを備え
た上、更にビジュアル型のテスターを購入すれば経済的
な負担が大きいし、目視検査では人間が目で見て判断す
るため、検査のスピード化が計れず、判定結果も不安定
である。この一般型のテスターを用いて測定を行なうに
は、最初に実装基板を検査治具たる複数のコンタクトプ
ローブを立設したフィクスチャー上に載せ、そこに実装
基板をプレスして、或いは吸引により固定する。その
際、実装基板の配線パターンは複数の独立パターンから
構成されており、独立パターンはつながっているので、
それらの独立パターン毎に1箇所例えばその一端又は中
間にあるリード穴とその周囲のパターンとから成る測定
ランドを検査ポイントに決定し、そこだけに独立パター
ンと適切な圧力で接触するコンタクトプローブを1本立
てればよい。このようにしてテスターの本体に備えた計
測部からマルチプレクサーを介し、各チャンネルより各
コンタクトプローブを経て、各測定ランドから各部品に
それぞれ測定電流を流し、或いは測定電圧を印加する
と、各種の測定を行なうことができる。しかし、このよ
うな測定により、実装基板における各部品のリード挿入
状態のいずれかに不良箇所があることが判明しても、そ
れはリード穴に半田付けされているため、その部品のリ
ードを正しく装着し直し、或いは部品の交換を行なおう
とすると、当然労力等の負担が大きくなる。
このため、基板に装着したI.C(集積回路)等の電気
部品のリード挿入状態の良否をリードの半田付け前に検
査して、その後の処理を行なう必要性が生じる。例えば
両面プリント基板ではその一方の面側に装着した電気部
品のリードが正しくスルーホールに挿入され、その端部
が他面から所定の長さだけ突出していれば良いが、実装
機のマウントミスにより、第4図に示すように部品10
のリード12の端部14が折れ曲って、実装基板16の
スルーホール18に入らず、その端部14がスルーホー
ル18から他面側に出ていない場合等に問題がある。そ
こで、スルーホール18の測定ランドに向け、フィクス
チャー上にコンタクトプローブ20を立て、スルーホー
ル18からリード12の端部14が所定の長さだけ突出
している時だけ、固定した基板16に対するプローブ2
0のストローク(突出長)により、リード12の先端に
プローブ20の先端部22を接触するように配置する。
そして、電気部品10のリード12とプローブ20との
導通状態を測定すると、その導通の有無により、リード
12が正しくスルーホール18に挿入されているか検査
し、電気部品のリード挿入状態の良否を判定することが
できる。
考案が解決しようとする課題 しかしながら、このようにコンタクトプローブ20を用
いて、基板16のスルーホール18に対する電気部品1
0のリード挿入状態の良否を判定する場合、スルーホー
ル18から下方に突出するリード端部14の長さによ
り、プローブ20のストロークを設定しなければならな
いが、そのストロークの設定を長くし過ぎると、測定ラ
ンドにプローブ20の先端部22が接触してしまい、ス
ルーホール18からリード12の基部14が所定の長さ
だけ突出していなくても、リード12とプローブ20が
導通し、基板16に装着した電気部品10のリード挿入
状態が良好と誤って判定されることになる。なお、スト
ロークの設定を短くし過ぎると、スルーホール18から
リード12の端部14が所定の長さだけ突出していて
も、リード12とプローブ20が導通せず、リード挿入
状態が悪いと誤って判定される。
本考案はこのような従来の問題点に着目してなされたも
のであり、ストロークを長めに設定しても、プローブの
先端部が測定ランドに接触せずに、リード挿入状態の良
否を正しく判定することのできる基板検査用コンタクト
プローブを提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 上記目的を達成するための手段を、以下実施例に対応す
る第1図を用いて説明する。
この基板検査用コンタクトプローブ36はその先端部3
8に、電気部品26を装着した基板24のリード穴30
から突出するリード端部32に対応するリード挿入・引
抜き自在穴40を設けた絶縁体42を被覆するものであ
る。そして、その絶縁体42をプローブ先端部38のリ
ード端部32と接触すべき箇所を除き、プローブ先端部
38が基板24に接触しないように被覆する。
又、絶縁体42には樹脂性のスリーブを用いると好まし
くなる。
作用 上記のように構成すると、コンタクトプローブ36のス
トロークを長めに設定しても、プローブ36の先端部3
8は基板36の測定ランドに直接接触せず、両者間には
絶縁体42が常に介在する。このため、プローブ36を
測定ランドに向けて近付けると、基板24のリード穴3
0から電気部品26のリード端部32が所定の長さだけ
突出していれば、そのリード端部32は絶縁体42に設
けたリード挿入・引抜き自在穴40に入り、その先端3
2がプローブ36の先端部38と接触する。或いはリー
ド端部32が折れ曲る等して、基板24のリード穴30
から所定の長さだけ突出していなければ、その先端がプ
ローブ36の先端部38と接触することがない。そこ
で、基板24に装着した電気部品26のリード28とコ
ンタクトプローブ36との導通状態を測定し、導通の有
無により、基板24のリード穴30に対するリード挿入
状態の良否を判定する。
又、上記の絶縁体42の樹脂性のスリーブを用いると、
樹脂性のスリーブはある程度伸縮性を有するため、プロ
ーブ36の先端部38に着脱自在に被覆することができ
る。そこで、インサーキットテスターを用い、そこに備
えられているコンタクトプローブ36の先端部38に樹
脂性のスリーブを嵌めてそこを覆うと、半田付け前に、
基板24に装着した電気部品26のリード挿入状態の良
否を判定し、その後にプローブ36からスリーブを外せ
ば、本来の実装基板に対する良否の判定が行なえて好都
合となる。
実施例 以下、添付図面に基づいて、本考案の実施例を説明す
る。
第1図は本考案を適用したインサーキットテスターにお
けるコンタクトプローブの電気部品を装着した半田付け
前の基板に対する測定前の配置関係を示す一部断面図で
ある。図中、24は両面プリント基板、片面プリント基
板等のプリント基板、26はそこに装着しているI・C
等の電気部品である。この基板24はインサーキットテ
スターの装着台から突出する位置決めピンに固定されて
おり、電気部品26の本体はその上面側に配置してい
る。しかも、本体から突出するリード28は正常な状態
では基板24に設けたスルーホール等のリード穴30に
挿入し、その端部32は基板24の下側面に所定の長さ
だけ突出する。又、基板24に対し、フィクスチャー上
に立設したコンタクトプローブ36をその測定ランド
(リード穴30とその周囲にある下面側のパターン3
4)に向って、上述した位置決めピンに沿い、前進、後
退自在に設置し、そのストロークを設定する。その際、
プローブ36の先端部38にはリード穴30から突出す
るリード端部32の径、形状、長さ等に対応するリード
挿入・引抜き自在穴40を設けた絶縁体42をプローブ
先端部38のリード端部32と接触すべき箇所を除き、
プローブ先端部38が基板24に接触しないように被覆
しておく。なお、絶縁体42には樹脂性のスリーブを用
いると、樹脂性のスリーブはある程度伸縮性を有するた
め、プローブ36の先端部38に着脱自在に被覆するこ
とができて好都合となる。
このようなコンタクトプローブ36を用いて、基板24
に装着した電気部品26のリード穴30に対する半田付
け前のリード28の挿入状態の良否を判定するには、第
2図に示すようにプローブ36を前進させ、基板24に
当接させるようにする。しかし、基板24の測定ランド
とプローブ36の先端部38との間には常に絶縁体42
が介在するため、測定ランドにプローブ36の先端部3
8が直接接触することはない。その際、プローブ36を
測定ランドに向けて近付けると、基板24のリード穴3
0から電気部品26のリード端部32が所定の長さだけ
突出しているため、そのリード端部32は絶縁体42に
設けたリード挿入・引抜き自在穴40に入り、その先端
がプローブ36の先端部38と接触する。或いはリード
端部32が第3図に示すように折れ曲る等して、基板2
4のリード穴30から下方に所定の長さだけ突出してい
なければ、その先端がプローブ36の先端部38と接触
することはない。そこで、インサーキットテスターの本
体に備えた計測部からマルチプレクサーを介し、各チャ
ンネルを電気部品26のリード28とコンタクトプロー
ブ36とに接続し、両者間に電圧を印加してその導通状
態を測定し、導通の有無により、基板24のリード穴3
0に対するリード28の挿入状態の良否を判定する。こ
の結果、リード挿入状態が良好であれば、プローブ36
を基板24から離し、リード端部32を絶縁体42の穴
40から引抜き、その挿入状態でリード28を測定ラン
ドに半田付けをする。或いはリード挿入状態が悪ければ
プローブ26を基板24から離し、リード端部32の折
れ曲りを直す等して、基板24のリード穴30に良好な
状態に挿入し直し、半田付けをする。又、絶縁体42に
樹脂性のスリーブを用いる場合には、基板24に装着し
た電気部品26の半田付け前におけるリード挿入状態の
良否を判定した後、プローブ36からスリーブを外せ
ば、本来の実装基板に対する良否の判定が行なえる。
考案の効果 以上説明した本考案によれば、電気部品を装着した基板
とコンタクトプローブ間には常に絶縁体が介在するた
め、プローブの接端部が測定ランドに直接接触すること
なく、基板のリード穴に対するリード挿入状態の良否を
正しく判定することができる。又、絶縁体に樹脂性のス
リーブを用いると、それをインサーキットテスターのコ
ンタクトプローブに簡単に着脱できるため、インサーキ
ットテスターにより半田付け前におけるリード挿入状態
の良否の判定も容易に行なえて好都合となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案を適用したインサーキットテスターにお
けるコンタクトプローブの電気部品を装着した半田付け
前の基板に対する測定前の配置関係を示す一部断面図、
第2図及び第3図はその測定時の配置関係を示す一部断
面図である。 第4図は従来のインサーキットテスターにおけるコンタ
クトプローブの電気部品を装着した半田付け前の基板に
対する測定前の配置関係を示す一部断面図である。 24…基板、26…電気部品、28…リード、30…リ
ード穴、32…リード端部、36…コンタクトプロー
ブ、38…プローブ先端部、40…リード挿入・引抜き
自在穴、42…絶縁体

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】電気部品を装着した基板のリード穴から突
    出するリード端部に対応するリード挿入・引抜き自在穴
    を設けた絶縁体をプローブ先端部に被覆してなる基板検
    査用コンタクトフローブにおいて、上記絶縁体をプロー
    ブ先端部のリード端部と接触すべき箇所を除き、プロー
    ブ先端部が基板に接触しないように被覆することを特徴
    とする基板検査用コンタクトフローブ。
  2. 【請求項2】前記絶縁体が樹脂製のスリーブであること
    を特徴とする第1項記載の基板検査用コンタクトフロー
    ブ。
JP12454888U 1988-09-22 1988-09-22 基板検査用コンタクトプローブ Expired - Lifetime JPH0611462Y2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP12454888U JPH0611462Y2 (ja) 1988-09-22 1988-09-22 基板検査用コンタクトプローブ

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JP12454888U JPH0611462Y2 (ja) 1988-09-22 1988-09-22 基板検査用コンタクトプローブ

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JPH0245466U JPH0245466U (ja) 1990-03-28
JPH0611462Y2 true JPH0611462Y2 (ja) 1994-03-23

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JP12454888U Expired - Lifetime JPH0611462Y2 (ja) 1988-09-22 1988-09-22 基板検査用コンタクトプローブ

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JPH0245466U (ja) 1990-03-28

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