JPH0648898Y2 - プリント配線基板 - Google Patents

プリント配線基板

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JPH0648898Y2
JPH0648898Y2 JP1987002528U JP252887U JPH0648898Y2 JP H0648898 Y2 JPH0648898 Y2 JP H0648898Y2 JP 1987002528 U JP1987002528 U JP 1987002528U JP 252887 U JP252887 U JP 252887U JP H0648898 Y2 JPH0648898 Y2 JP H0648898Y2
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JP
Japan
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printed wiring
board
wiring board
cut groove
test
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JP1987002528U
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JPS63110062U (ja
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正之 松倉
久 慶林坊
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NEC Corp
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NEC Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、プリント配線基板に関し、特にVカット溝に
てプリント配線回路部基板と捨て部基板とに分割される
プリント配線基板に関する。
[従来の技術] 従来のこの種のプリント配線基板の一例を第4図に示
す。第4図は、電気部品24を実装したプリント配線回路
部基板21と分割用Vカット溝23を介して捨てて部基板22
とからなるプリント配線基板である。ここで、捨て部基
板22は、回路ユニット生産工程時に必要となる為に設け
てある。
[解決すべき問題点] 上述した従来のプリント配線基板から成る回路ユニット
のユニット試験を行なう際の一例を第5図に示す。すな
わち、被試験物となる回路ユニットは試験接触ピン26を
介して試験機27との間で電気信号を入出力する。29は測
定器(コンピュータ等制御器も含む。)であり、ケーブ
ル28にて試験機27に接続されている。25は、回路ユニッ
トに実装されたチップ部品を示す。
上記構成においては、試験接触ピン26は、プリント配線
回路部基板21の信号パターン、又は電気部品のリードに
直接接触することになる。
しかしながら、チップ部品25等が実装された高密度回路
ユニットでは、試験接触ピン26の接触位置誤差により、
チップ部品25の破損を起こし、又、他のパターンやリー
ドとのショートにより、誤試験や回路ユニットの破損を
起こす場合があるという欠点があった。
[問題点の解決手段] 上記従来の問題点を解決する本考案は、分割用のVカッ
ト溝を設け、このVカット溝にて分割される一方をプリ
ント配線回路部基板とし、他方を捨て部基板とするプリ
ント配線基板において、前記プリント配線回路部基板の
電気信号ラインを内層導体ラインにて前記Vカット溝を
通過させ、前記捨て部基板に形成した試験接触ピンが挿
入されるスルーホールにプリント配線する構成を有して
いる。
[実施例] 以下、本考案の実施例について、図面を参照して説明す
る。第1図及び第2図は本考案の1実施例に係るプリン
ト配線基板を示す図であり、第2図は第1図におけるA-
A面の断面図である。
図中、1は電気部品5を実装したプリント配線回路部基
板であり、2は捨て部基板で、電気部品5の電極リード
7用のスルーホール6と導通したスルーホール4を有す
る。プリント配線回路部基板1と捨て部基板2の間に
は、分割用のVカット溝3が設けてある。
電気部品5の電極リード7は、スルーホール6を貫通し
ており、この部分にて半田付けされている。スルーホー
ル6は内層導体ランド8を介して内層導体パターン10と
接続されている。この内層導体パターン10は分割用のV
カット溝3の内部をも通過し、捨て部基板2のスルーホ
ール4と内層導体ランド9を介してプリント配線されて
いる。
このように上記プリント配線基板では、電気部品5の電
極リード7を電気的に捨て部基板2のスルーホール4に
接続している。
このプリント配線基板を用いた回路ユニットを試験する
一例を第3図に示す。13はこの回路ユニットを試験する
試験機であり、この試験機13の試験接触ピン12は、捨て
部基板2側のスルーホール4に接触するよう配置され、
これにて電気的入出力を行なう。また、15は測定器であ
り、ケーブル14にて試験機13と接続されている。なお、
11は回路ユニット側に実装されたチップ部品を示す。
このように、試験接触ピン12は、捨て部基板2を介して
プリント配線回路部基板1と電気的に接触する。すなわ
ち、直接にはプリント配線回路部基板1に接触しない
為、試験接触ピン12の機械的接触によるチップ部品11の
破損を起こさず、また、回路ユニットが高密度実装され
ていても、試験接触ピン12が誤接触することも起こらな
い。
ユニット試験終了後は、Vカット溝3にて捨て部基板2
を分割し、プリント配線回路部基板1のみを装置等へ組
込めばよい。
[考案の効果] 以上説明したように本考案のプリント配線基板は、プリ
ント配線回路部基板の電気信号ラインを内層導体ライン
にてVカット溝を通過させ、捨て部基板に形成した試験
接触ピンが挿入されるスルーホールにプリント配線する
ようにしたので、回路ユニットの試験に際しては、捨て
部基板に形成してスルーホールに試験接触ピンを挿入す
ることによって、試験接触ピンがプリント配線回路部基
板に直接接触することがないため、チップ部品の破損を
起こさず、また、誤接触もなく回路ユニットの実装状態
にかかわらず、破損の心配のない正確なユニット電気試
験ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例に係るプリント配線基板の斜
視図。 第2図は第1図のA-A部の断面図、 第3図は第1図のプリント配線基板の電気試験方法を示
す図、 第4図は従来のプリント配線基板の斜視図、 第5図は第4図のプリント配線基板の電気試験方法を示
す図である。 1:プリント配線回路部基板 2:捨て部基板、3:Vカット溝 4,6:スルーホール 5:電気部品、7:電極リード 8,9:内層導体ランド 10:内層導体パターン 11:チップ部品、12:試験接触ピン 13:試験機、15:測定器

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】分割用のVカット溝を設け、このVカット
    溝にて分割される一方をプリント配線回路部基板とし、
    他方を捨て部基板とするプリント配線基板において、 前記プリント配線回路部基板の電気信号ラインを内層導
    体ラインにて前記Vカット溝を通過させ、前記捨て部基
    板に形成した試験接触ピンが挿入されるスルーホールに
    プリント配線することを特徴とするプリント配線基板。
JP1987002528U 1987-01-12 1987-01-12 プリント配線基板 Expired - Lifetime JPH0648898Y2 (ja)

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JP1987002528U JPH0648898Y2 (ja) 1987-01-12 1987-01-12 プリント配線基板

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JPS63110062U JPS63110062U (ja) 1988-07-15
JPH0648898Y2 true JPH0648898Y2 (ja) 1994-12-12

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5825292A (ja) * 1981-08-08 1983-02-15 松下電器産業株式会社 印刷配線板
JPS6027114Y2 (ja) * 1981-08-12 1985-08-15 本田技研工業株式会社 自動二輪車のクツシヨンア−ム枢着構造
JPS6183071U (ja) * 1984-11-06 1986-06-02

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