JPS6140041A - 電子部品の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、回路基板ｔこ実装されるＩＣ，ＬＳＩ等の成
子部品の検査方法およびその装置（こ係り、特に複数の
測定点を有し導電性接着剤により回路基板上に実装固定
される脚のない電子部品（以下チップ部品と称す）を、
前記接着剤が固化する前のチップ部品が取外し可能な状
７７）４１こおいて検査する方法および装置Ｉｔｆこ関
する。

〔従来技術〕

一般にコンタクトプローブを有する検査装置は、プリン
ト基板上の回路パターンが設計通りにでき上がっている
か否かのチェックや、インサーキットテスタとして前記
回路に電子部品が取付けられた実装状態で各所のチェッ
クを行なうのに用いられる。特に最近では、実装状態で
のチェックが重要視される傾向にあるが、電子部品が小
屋化され高密変化されつつある今日では、電子部品の回
路基板への坂付けにふいて特に量産を考えた場合以下の
如き問題がある。

すなわち、一般に一枚の基板上には何百という電子部品
が実装されるが、その際、回路基板上に電子部品の脚を
挿通ずる通孔を予め穿設しておき、量産の段階で所足の
電子部品の脚を前記通孔に挿通配置し、これを例えば噴
流式半田槽に通して前記脚の半田付けを行、ない、その
後脚を切断してチェッカ曇こかける方法が採られる。

ところが量産を考えた場合、極小部品になっている′隠
子部品の極細脚部に合う極細の通、孔を回路基板上番こ
正確にかつ多数穿設するのは極めて―しいといや問題が
ある。

また、極小′隠子部品の極細かつ曲がり易い多数の脚を
前記極小通孔に挿通することも容易でな（、このため、
従来は手作業で行なっているが、部品自体も極小化して
いる今日では手作業すら難しくなってきている。

また、実装後のチェツ幻こおいては、半田付けした部分
は球面状に膨らみ、しかも切断後の脚が突出して残存し
その方向性が一様でないため、導通検査装置にかける場
合、プローブ先端が前記球状面や残存脚によって邪魔さ
れ良好な導通検査が期待できないという間両もある。

また、この導通検査は半田付は後行なわれるため、回路
の測定検査にならざるを得す、′隠子部品そのものの検
査はできないという問題もある。

そこで一部では、電子部品の極小化・こ伴ない、従来の
脚付きの電子部品に代えて脚のない、いわゆるチップタ
イプの電子部品を用い、これを導電性接着剤により回路
基板上に貼７Ｉｔ実装する方法が提案されている。そし
てこの方法は、流れ作業による量産自動化に適し極めて
奸才しい。

ところで、この櫨のチップ部品を回路基板に実装して検
査装置で検査を行なう場合、チップ部品自体の検査を行
なうためには、チップ部品を回路基板に固定している接
着剤が乾燥固化する前にチップ部品の検査を行ない、不
良の場合にはチップ部品を取除いて新たなチップ部品と
交換できるよう（こする必要がある。

ところが、接層剤が乾燥固化する前のチップ部品の、い
わゆる仮固定の状態で検査を実施する場合には、検査の
際ｔこチップ部品が位置ずれするおそれがある。

〔発明の目的〕

本発明はカリ）る現況に罐みなされたもので、電子部品
目体の横置を可能とし、しかも検査の際に電子部品が位
置ずれしたり検査が不安定になるおそれがない・電子部
品の検査方法を提供することを目的とする。

不発明の他の目的は、検査時の鬼子部品の位置ずれおよ
び検査の不安定をより有効に屏泊することができる電子
部品の検査方法を提供するにある。

本＠明の他の目的は、電子部品自体の検査を位置ずれを
伴なうことなく安定して行なうことができ、しかも電子
部品の変更に容易に対応することができる電子部品の検
査装置を提供するにある。

本発明のさらに他の目的は、電子部品の位置ずれおよび
回路との接触不良をより有効に防止し、より安定した検
査が可能な電子部品の検査装置を提供するにある。

〔目的達成のための手段〕

本発明は、′電子部品自体の検査を可能とする手段とし
て、プローブ保持ボードに取付けられた少なくとも２本
のプローブを用い、゛電子部品を回路基板６番こ固にし
ている導電性接着剤が固化する前の電子部品か取外しｏ
Ｔ舵な状態で検査を行なうようにし、また゛電子部品の
位置ずれおよび横置の不安定を解消する手段として、プ
ローブ保持ボードを回路基板に回かつて相対的に移動さ
せ、各プローブの先端で電子部品を押さえた状態で検査
を行なうようをこし、また電子部品の位置ずれおよび検
査の不安定をより有効に解消する手段として、プローブ
の中間位置に′電子部品押さえを設け、この電子部品押
さえで電子部品を押さえた状態で各プローブの先端を鬼
子部品に接触させて検査を行なうようにし、さらに電子
部品の変更ζこ容易に対応できる手段として、プローブ
保持ボードに着脱自在なブロックを取付け、前記各プロ
ーブあるいは各プローブと電子部品押さえとを前記ブロ
ックに取付けるよう（こしたことを特徴とする。

〔実施例〕

以下、不発明を図面を参照して説明する。

第１図は本発明の第１実施例を示すもので、同図におい
て、１はプローブ保持ボードである。このプローブ保持
ボード１には、例えば方形状の孔２が穿設されており、
この孔２１こは、プローブ保持ホード１の上面側から、
電気的絶縁性を有しかつ第２図に示す平面形状を有する
ブロック３が着脱自在に装置されている。そして、プロ
ーブ保持ボード１は、第１図および第３１曇こ示すよう
にチップ部品４が導電性接着剤５◆こより上面（こ仮固
定された回路基板６番こ向かって相対的に移動するよう
になっている。

前記ブロック３には、第１図に示すように上端が接続端
子７および導−１１Ｌ−８を介して図示しない測定検査
計器に接続される例えば２本のプローブ９が近接状態で
貫通配置されている。

前記プローブ９は、その本体をなすチューブ１０を備え
ており、このチューブ１００ド端には、チューブｌＯの
ブロック３への下方からの挿入限度を定めるためのフラ
ンジｌＯａが形成されている。

また、このチューブ１０の下端内部には、下端部が円錐
状をなすコンタクトピン１１の上端１部が抜は止めされ
た状態で軸方向にスライドｃｉＴ能に押入されており、
またチューブ１０の上ｙ？ｉｄ　ｍ　ｆこは、棒状の接
続プラグ１２がチューブ１０の外側からのかしめ加工４
Ｇこより固足されている。

チューブｌＯの内部には、弾性部材として圧縮コイルば
ね１３が介装され、コンタクトピン１１はその力により
外方に弾圧されＣいる。また、コンタクトピン１１の糾
めに切った上端面と前記圧縮コイルばね１３の端部との
間には、ボール１４が介装されている。

このように構成されたプローブ９は、プローブ保持ボー
ド１０回路基板６側への相対移動により、第１図に鎖−
で示すように両コンタクトピン１１の下端が前記チップ
部品４上面の各測定ポイントに圧接するようになってい
る。そして、２本のプローブ９ゼチツプ部品４の両端を
り部分を押えた状態でその測定検査が行なわれる。

次に、チップ部品４の測定検査方法について説明する。

検ｉｓこ除しては、まずプローブ保持ボード１を回路基
板６に同かつて相対移動させる。すると、プローブ９’
Ｔ端のコンタクトピン１１はチップ部品４上面のｍｌＪ
定ポインｌ−ｅこ接触するが、その除、コンタクトピン
１１は圧縮コイルばね工３を圧縮しつつチューブ１０円
番こ後退する。これにより、チップ部品４はばね１３の
力で回路基板６側に押圧され、接着剤５による仮固定状
態番こめるチップ部品４の位置ずれが防止ぎれるととも
に、回＠、！１ｉｉａ６との接融が安定したものとなる
。そこで、２本のプローブ９を介し図示しない測定検査
計器によりチップ部品４のみの一気的測定検査を行なう
。そして不良の場合には、その時点で直ちに新たなチッ
プ部品４と交換し、再測定を行なう。

チップ部品４が変更になった場合には、プローブ９を取
付けた状態でブロック３をプローブ保持ボード１から堰
外し、新たなプローブ配列あるいはプローブ本数を有す
るブロック３と交換する。

第４図および第５図は本発明の第２実施例を示すもので
、以Ｆこれについて説明する。

第４図において、１はプローブ保持ボードであり、この
プローブ保持ボード１には例えば方形状の孔２が押設さ
れ、この孔２には、プローブ保持ボード１の上面側から
電気的絶縁性を有するブロック３が層脱自在に装着され
ている。そしてこのブロック３番こは、上端が導′＃ｔ
１１８１８を介して図示しない測定検査計器に接続され
る２本のプローブ１９が近接状態で貫通配置されている
とともに、両プローブ１９の中間位置蒼こは、゛電子部
品押さえ１５が配設されている。　　　　、 前記プローブ１９は、その本体をなすチューブ加を備え
ており、このチューブ加の下端には、チューブ加のブロ
ック３への挿入限度を定めるためのフランジ２０ａが形
成されている。そして、前記導電線８は、このチューブ
加の上端に接続されている０ チューブ加の下端内部には、下端部が円錐状をなすコン
タクトピン２１の上端部が抜は止めされた状態で軸方向
にスライド可能に挿入されており、またチューブ加の内
部には、一端がボールあを介してコンタクトピン２１の
内端斜面に接触讐る圧縮コイルばねるが介装されている
。そし′Ｃ１コンタクトピン２１は、コイルはねるの力
により外方に弾圧されている。

一方、前記ブロック３の肉プローブ１９間の中央位置に
は、上下方向に貫通する孔１６が設けられており、この
孔１６の下端部乃）らは、基端拡大部１５ａにより抜は
止めされた状態で丸棒状の電子部品押さえ１５の下半部
分が突出している。また、孔１６の上端部には調圧ねじ
１７が螺装されており、−この−圧ねじ１７と＃配電子
部品押さえ１５との間ｌこは、電子部品押さえ１５を突
出側に弾圧するばね１８が介装されている。そして、こ
のばね１８の弾圧力は、前記調圧ねじ１７の螺進調節に
より調整できるようになっている。

前記゛電子部品押さえ１５の突出先端は、各プローブ１
９のコンタクトピン２１先端よりもチップ部品４側に多
少長めに突出しており、プローブ保持ボード１を回路基
板６に向かって相対移動させた際に、・電子部品押さえ
１５は、回路基板６上に接着剤５（こより仮固定されて
いるチップ部品４に両コンタクトピン２１より先番こ接
触するようになっている。

この・電子部品押さえ１５の突出先端向は、第５図（ａ
）　、　（ｂ）　、　（ｃ）に示すように凹入円弧状、
凹入した山形状、あるいは鋸刃状にカットされており、
チップ部品４に嶺触した際にその形になじみ位置ずれを
有効に防止できるよう考慮されている。

次に、チップ部品４の測定検査方法を説明する。

チップ部品４の雫査方法は、基本的には前記第１実施例
と同様、チップ部品４を回路基板６に貼着している接着
剤５が乾燥する前ζこ、プローブ保持ボード１を回路基
板６１ｇ１Ｊに相対移動させ、各プローブ１９先端のコ
ンタクトピン２１をチップ部品４に接触させて行なう。

ただし、前記第１実施例と異なり、コンタクトピン２１
がチップ部品４に接触する前にまず電子部品押さえ１５
がチップ部品４ｔこ接触して動かないようにし、その後
向コンタクトピン２１がチップ部品４に接触することに
なる。このため、チップ部品４の位置ずれがより有効に
防止されるとともに、チップ部品４と回路基板６との接
触もより充分となり、より安定した測定が可能となる。

第６図ないし第８図は本発明の第３実施例を示すもので
、以下これ曇こついて説明する。

ｍ６図および第７図において、３は、プローブ保持ボー
ド１１こ設けた方形状の孔２内に上面側から着脱自在に
装着される電気的絶縁性を有するブロックであり、この
ブロック３には、図示しない測定検査ｉｔ１′器に接続
される２本のプローブ四が近接状態で貫通配置されてい
るとともに、両プローブ四の中間位置には、電子部品押
さえ１５が配設されている。

前記プローブ四は、電気的絶縁性を有する筒状のホルダ
（９）を備えており、このホルダ（９）の下端部には受
は座部材３２が挿入され、この受は座部材３２には、前
記ブロック３から下半部が突出する角棒状のコンタクト
ピン３１の上端が固設されている。

そして、このコンタクトピン３１は、前記受は座部＃３
２と一体で軸方向ｆこスライド可能となっている。

ホルダ園内すこは、また、受は座部材３２を下方に弾圧
する圧縮コイルばねおが配されており、このばねおの上
端とホルダ上端との間には脱出を防止されたポール凋が
介装されている。そして、コンタクトピン３１は、受は
座部材３２．圧縮コイルばねお、およびホールあを介し
て図示しない測定検査計器に接続されるようになってい
る。また、コンタクトピン３１の先端は、３１ａで示す
ように内側に斜め（こカットされている。

両プローブ四間の中央位置ｌこは、上下方向に貫通ずる
孔１６が設けられており、この孔１６内には、前記第２
実施例と同一構成の・電子部品押さえ１５゜調圧ばね１
７．およびばね１８がそれぞれ配され、・１子部品押さ
え１５は、その上端の拡大部１５ａにより孔１６からの
抜は止めがなされている。そして、この電子部品押さえ
１５の突出先端部は、前記第２実施例と同様、コンタク
トピン３１よりも多少長めに突出しており、第８図に示
すように両コンタクトピン３１の先端を回路基板６上に
導電性接着剤５により仮固定したチップ部品４＃こ接触
させる除に、両コンタクトビン３１・に先立ってチップ
部品４に接触するよう番こなっている＝ 次に、チップ部品４の測定検査方法について説明する。

チップ部品４の測定検査に際しては、前記第２実施例と
同一の方法により？′Ｔなう。

この際、内コンタクトピン３１の先端は内側に斜めにカ
ットされているので、第８図１こ示すように端部が円弧
状をなすまゆ型のチップ部品４であっても、尋通接眉点
を自白にとることができる。また、チップ部品４は両コ
ンタクトピン３１により両側から押ざんられることにな
るので、児全な位置における検査が可能となる。

なお、両コンタクトピン３１の先端は、必ずしも平坦な
カット面である必要はなく、チップ部品４の外面形状に
倣った形状にしてもよい。これによ□す、より安定した
接触状態が得られる。

第９図および第１０図は本発明の第４実施例を示すもの
で、以Ｆこれについて説明する。

第９図および第１０図−こおいて、３は、プローブ保持
ボード１曇こ設けた孔２内に下面側から着脱自在に装着
される絶縁性のブロックであり、このブロック３には、
上端か接続端子７および４″に＃８を介して図示しない
測定検査計器）こ接続される２本のプローブ３９が近接
状態でｘａ配装され、また両プローブ３９間の中央位置
には、′電子部品押さえ１５が配設されている。

前記プローブ３９は、本体をなす角筒状のチューブ旬な
備えており、このチューブ４０の下端内部には、４１ａ
で不Ｔように下端が斜め番こカットされた角棒状のコン
タクトピン４１の上端が恢入され、コンタクトピン４１
の上４部には、拡大した受は座４１ａが一体をこ設けら
れている。そして、このコンタクトピン４１は、前記チ
ューブ旬の外面側から施される抜は止め４０ａによりコ
ンタクトピン４１からの抜は止めがなされている。

前記チューブ４０の上端部曇こは、棒状の接続プラグ４
２がかしめ加工等により固定されている。該た、前記チ
ューブ４０の内部には、弾性部材として圧縮コイルはね
４３が介装され、コンタクトピン４１はその力により外
方に弾圧されている。

−万、両プローブ３９間の中央位置には、上下に貫通す
る孔１６が設けられており、この孔１６内には、前記第
２実施例および第３実施例と同一構成の基端拡大部１５
＆を有する電子部品押さえ１５　、　ｉＪ圧ねじ１７．
およびばね１８がそれぞれ配置されている。

そして、前記′隠子部品押さえ１５の先端部は、−１１
記両フローブ３９のコンタクトピン４１先端よりもやや
長めに突出している。

なお、チップ部品の測定検査方法は、前記第２実施例お
よび第３実施例と同一であり、同様の効果が得られる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は、接着剤が固化する前の
゛電子部品が取外し可能な状態ｌこおいて電子部品のみ
の測定検査を行なうようにしているので、不良部品はそ
の時点で直ちに交換して再測定でキ、量産時に便利であ
る。

また、プローブ先端で°電子部品を押さえたり、あるい
は電子部品押さえで押さえた状態でプローブを電子部品
◆こ接触させて検査を行なうようにしているので、仮固
定状態の不安定な電子部品を位置ずれン伴なうことなく
簀定して測定することがＣきる。

また、プローブ保持ボードに層成自在なブロックを取付
け、プローブあるいはプローブと電子部品とをこのブロ
ックに取付けるようにしているので、各棟の電子部品の
測置の際のプローブの交換を簡単に行なうことができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例を示す断面図、第２図はブ
ロツクケ第１図の下方から見た説明図、４３図は第１図
のｍ−ｐｍｍ＃面図、第４図は本発明の第２実施例を示
す断面図、第５図（ａ）　、　（ｂ）　、　（ｅ）は第
４図のコンタクトピン先端面形状をそれぞれ示す説明図
、第６図は本発明の、第３夾施例を示す部分断面図、＠
７図は第、６図の紙面図、第８図はチップ部品の測定検
査方法を示す説明図、第９図は本発明の第４笑施例を示
す町凹図、第１０図は第９図の底面図である。 １・・・プローブ保持ボード、２・・・孔、３・・・ブ
ロック、４・・・ナツプ部品、５・・・導′咽性接着剤
、６・・・回路基板、９　、１９　、２９　、３９・・
・プロニブ、１１　、２１　、３１　、４１・・・コン
タクトピン、１３　、　ｖ　、　３３　、４３・・・圧
縮コイルばね、】５・・・電子部品押さえ、１ｂ・・・
孔、１７・・・調圧ねじ、１８・・・ばね。 Ｍ 第　Ｏ図 第　７　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）プローブ保持ボードに、基端が測定検査計器と電気
   的に接続される少なくとも２本のプローブを近接状態で
   貫通配置するとともに、回路基板上に、脚がない電子部
   品を導電性接着剤で固定し、この接着剤が固化する前の
   電子部品が取外し可能な状態において、前記プローブ保
   持ボードを前記回路基板に向かつて相対的に移動させ、
   前記各プローブ先端で電子部品を押さえた状態で電子部
   品の測定検査を行なうことを特徴とする電子部品の検査
   方法。 ２）プローブ保持ボードに、基端が測定検査計器と電気
   的に接続される少なくとも２本のプローブを近接状態で
   貫通配置するとともに、それらの中間位置に電子部品押
   さえを設け、かつ回路基板上に、脚がない電子部品を導
   電性接着剤で固定し、この接着剤が固化する前の電子部
   品が取外し可能な状態において、前記プローブ保持ボー
   ドを前記回路基板に向かつて相対的に移動させ、前記電
   子部品押さえでまず電子部品を押さえた状態で各プロー
   ブ先端を電子部品に接触させて電子部品の測定検査を行
   なうことを特徴とする電子部品の検査方法。 ３）プローブ保持ボードに、基端が測定検査計器と電気
   的に接続される少なくとも２本のプローブを近接状態で
   取付けるとともに、回路基板上に、脚がない電子部品を
   導電性接着剤で固定し、この接着剤が固化する前の電子
   部品が取外し可能な状態において、前記プローブ保持ボ
   ードを前記回路基板に向かつて相対的に移動させ、前記
   各プローブ先端で電子部品を押えた状態で電子部品の測
   定検査を行なう電子部品の検査装置であつて、前記プロ
   ーブ保持ボードに設けた貫通孔内に着脱自在にブロック
   をはめ込み、前記各プローブをこのブロックに挿通しか
   つ弾力に抗して後退自在としたことを特徴とする電子部
   品の検査装置。 ４）各プローブの先端面を電子部品の外面を抱える形状
   とした特許請求の範囲第３項記載の電子部品の検査装置
   。 ５）プローブ保持ボードに、基端が測定検査計器と電気
   的に接続される少なくとも２本のプローブを近接状態で
   取付けるとともに、回路基板上に、脚がない電子部品を
   導電性接層剤で固定し、この接着剤が固化する前の電子
   部品が取外し可能な状態において、前記プローブ保持ボ
   ードを前記回路基板に向かつて相対的に移動させ、各プ
   ローブ先端を電子部品に接触させて電子部品の測定検査
   を行なう電子部品の検査装置であつて、前記プローブ保
   持ボードに設けた貫通孔内に着脱自在にブロックをはめ
   込み、このブロックに各プローブを挿通し、プローブの
   中間位置にプローブより先端部が突出する電子部品押さ
   えを設けたことを特徴とする電子部品の検査装置。 ６）プローブの先端面を内側に向く斜面とした特許請求
   の範囲第５項記載の電子部品の検査装置。 ７）電子部品押さえを弾力に抗して後退自在にブロック
   に設けた特許請求の範囲第５項または第６項記載の電子
   部品の検査装置。