JPH0340940B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、回路基板に実装されるIC、LSI等の
電子部品の検査方法およびその装置に係り、特に
複数の測定点を有し導電性接着剤により回路基板
上に実装固定される脚のない電子部品（以下チツ
プ部品と称す）を、前記接着剤が固化する前のチ
ツプ部品が取外し可能な状態において検査する装
置に関する。

〔従来技術〕

一般にコンタクトプローブを有する検査装置
は、プリント基板上の回路パターンが設計通りに
でき上がてついるか否かのチエツクや、インサー
キツトテスタとして前記回路に電子部品が取付け
られた実装状態での各所のチエツクを行なうのに
用いられる。特に最近では、実装状態でのチエツ
クが重要視される傾向にあるが、電子部品が小型
化され高密変化されつつある今日では、電子部品
の回路基板への取付けにおいて特に量産を考えた
場合以下の如き問題がある。

すなわち、一般に一枚の基板上には何百という
電子部品が実装されるが、その際、回路基板上に
電子部品の脚を挿通する通孔を予め穿設してお
き、量産の段階で所定の電子部品の脚を前記通孔
に挿通配置し、これを例えば噴流式半田槽に通し
て前記脚の半田付けを行ない、その後脚を切断し
てチエツカにかける方法が採られる。

ところが量産を考えた場合、極小部品になつて
いる電子部品の極細脚部に合う極細の通孔を回路
基板上に正確にかつ多数穿設するのは極めて難し
いという問題がある。

また、極小電子部品の極細かつ曲がり易い多数
の脚を前記極小通孔に挿通することも容易でな
く、このため、従来は手作業で行なつているが、
部品自体も極小化している今日では手作業すら難
しくなつてきている。

また、実装後のチエツクにおいては、半田付け
した部分は球面状に膨らみ、しかも切断後の脚が
突出して残存しその方向性が一様でないため、導
通検査装置にかける場合、プローブ先端が前記球
状面や残存脚によつて邪魔され良好な導通検査が
期待できないという問題もある。

また、この導通検査は半田付け後行なわれるた
め、回路の測定検査にならざるを得ず、電子部品
そのものの検査はできないという問題もある。

そこで一部は、電子部品の極小化に伴ない、従
来の脚付きの電子部品に代えて脚のない、いわゆ
るチツプタイプの電子部品を用い、これを導電性
接着剤により回路基板上に貼着実装する方法が提
案されている。そしてこの方法は、流れ作業によ
る量産自動化に適し極めて好ましい。

ところで、この種のチツプ部品を回路基板上に
実装して検査装置で検査を行なう場合、チツプ部
品自体の検査を行なうためには、チツプ部品を回
路基板に固定している接着剤が乾燥固化する前に
チツプ部品の検査を行ない、不良の場合にはチツ
プ部品を取除いて新たなチツプ部品と交換できる
ようにする必要がある。

ところが、接着剤が乾燥固化する前のチツプ部
品の、いわゆる仮固定の状態で検査を実施する場
合には、検査の際にチツプ部品が位置ずれするお
それがある。

〔発明の目的〕

本発明はかかる現況に鑑みてなされたもので、
電子部品自体の検査を可能とし、しかも検査の際
に電子部品が位置ずれしたり検査が不安定になる
おそれがなく、電子部品の交換に容易に対応する
ことができる電子部品の検査装置を提供すること
を目的とする。

〔目的達成のための手段〕

本発明は、電子部品自体の検査を可能とする手
段として、プローブ保持ボードに取付けられた少
なくとも２本のプローブを用い、電子部品を回路
基板上に固定している導電性接着剤が固化する前
の電子部品が取外し可能な状態で検査を行なうよ
うにし、また電子部品の位置ずれおよび検査の不
安定を解消する手段として、プローブ保持ボード
を回路基板に向かつて相対的に移動させ、各プロ
ーブの先端で電子部品を押さえた状態で検査を行
なうようにし、また電子部品の位置ずれおよび検
査の不安定をより有効に解消する手段として、プ
ローブの中間位置に弾力に抗して後退自在の棒状
電子部品押さえを設け、この電子部品押さえの先
端の平坦面で電子部品を押さえた状態で各プロー
ブ先端を電子部品に接触させて検査を行なうよう
にし、さらに電子部品の変更に容易に対応できる
手段として、プローブ保持ボードに着脱自在なブ
ロツクを取付け、前記各プローブあるいは各プロ
ーブと電子部品押さえとを前記ブロツクに取付け
るようにしたことを特徴とする。

〔実施例〕

以下、本発明を図面を参照して説明する。

第１図において、１はプローブ保持ボードであ
り、このプローブ保持ボード１には例えば方形状
の孔２が穿設され、この孔２には、プローブ保持
ボード１の上面側から電気的絶縁性を有するブロ
ツク３が着脱自在に装着されている。そしてこの
ブロツク３には、上端が導電線８を介して図示し
ない測定検査計器に接続される２本のプローブ１
９が近接状態で貫通配置されているとともに、両
プローブ１９の中間位置には、電子部品押さえ１
５が配設されている。電子部品押さえ１５の先端
は電子部品に接触してそれを押さえるに必要な面
積を有する平坦面となつている。

前記プローブ１９は、その本体をなすチユーブ
２０を備えており、このチユーブ２０の下端に
は、チユーブ２０のブロツク３への挿入限度を定
めるためのフランジ２０ａが形成されている。そ
して、前記導電線８は、このチユーブ２０の上端
に接続されている。

チユーブ２０の下端内部には、下端部が円錐状
をなすコンタクトピン２１の上端部が抜け止めさ
れた状態で軸方向にスライド可能に挿入されてお
り、またチユーブ２０の内部には、一端がボール
２４を介してコンタクトピン２１の内端斜面に接
触する圧縮コイルばね２３が介装されている。そ
して、コンタクトピン２１は、コイルばね２３の
力により外方に弾圧されている。

一方、前記ブロツク３の両プローブ１９間の中
央位置には、上下方向に貫通する孔１６が設けら
れており、この孔１６の下端部からは、基端拡大
部１５ａにより抜け止めされた状態で丸棒状の電
子部品押さえ１５の下半部分が突出している。ま
た、孔１６の上端部には調圧ねじ１７が螺装され
ており、この調圧ねじ１７と前記電子部品押さえ
１５との間には、電子部品押さえ１５を突出側に
弾圧するばね１８が介装されている。そして、こ
のばね１８の弾圧力は、前記調圧ねじ１７の螺進
調節により調整できるようになつている。

前記電子部品押さえ１５の突出先端は、各プロ
ーブ１９のコンタクトピン２１先端よりもチツプ
部品４側に多少長めに突出しており、プローブ保
持ボード１を回路基板６に向かつて相対移動させ
た際に、電子部品押さえ１５は、回路基板６上に
接着剤５により仮固定されているチツプ部品４に
両コンタクトピン２１より先に接触するようにな
つている。

この電子部品押さえ１５の突出先端面は、第２
図ａ，ｂ，ｃに示すように凹入円弧状、凹入した
山形状、あるいは鋸刃状にカツトされており、チ
ツプ部品４に接触した際にその形になじみ位置ず
れを有効に防止できるように考慮されている。

次に、チツプ部品４の測定検査方法を説明す
る。

チツプ部品４の検査方法は、基本的には前記第
１実施例と同様、チツプ部品４を回路基板６に貼
着している接着剤５が乾燥する前に、プローブ保
持ボード１を回路基板６側に相対移動させ、各プ
ローブ１９先端のコンタクトピン２１をチツプ部
品４に接触させて行なう。

そして、コンタクトピン２１がチツプ部品４に
接触する前にまず電子部品押さえ１５がチツプ部
品４に接触して動かないようにし、その後両コン
タクトピン２１がチツプ部品４に接触することに
なる。このため、チツプ部品４の位置ずれがより
有効に防止されるとともに、チツプ部品４と回路
基板６との接触も充分となり、安定した測定が可
能となる。

第３図ないし第５図は本発明の第２実施例を示
すもので、以下これについて説明する。

第３図および第４図において、３は、プローブ
保持ボード１に設けた方形状の孔２内に上面側か
ら着脱自在に装着される電気的絶縁性を有するブ
ロツクであり、このブロツク３には、図示しない
測定検査計器に接続される２本のプローブ２９が
近接状態で貫通配置されているとともに、両プロ
ーブ２９の中間位置には、電子部品押さえ１５が
配設されている。

前記プローブ２９は、電気的絶縁性を有する筒
状のホルダ３０を備えており、このホルダ３０の
下端部には受け座部材３２が挿入され、この受け
座部材３２には、前記ブロツク３から下半部が突
出する角棒状のコンタクトピン３１の上端が固設
されている。そして、このコンタクトピン３１
は、前記受け座部材３２と一体で軸方向にスライ
ド可能となつている。

ホルダ３０内には、また、受け座部材３２を下
方に弾圧する圧縮コイルばね３３が配されてお
り、このばね３３の上端とホルダ上端との間には
脱出を防止されたボール３４が介装されている。
そして、コンタクトピン３１は、受け座部材３
２、圧縮コイルばね３３、およびボール３４を介
して図示しない測定検査計器に接続されるように
なつている。また、コンタクトピン３１の先端
は、３１ａで示すように内側に斜めにカツトされ
ている。

両プローブ２９間の中央位置には、上下方向に
貫通する孔１６が設けらており、この孔１６内に
は、前記第１実施例と同一構成の電子部品押さえ
１５、調圧ねじ１７、およびばね１８がそれぞれ
配され、電子部品押さえ１５は、その上端の拡大
部１５ａにより孔１６からの抜け止めがなされて
いる。そして、この電子部品押さえ１５の突出先
端部は、前記第１実施例と同様、コンタクトピン
３１よりも多少長めに突出しており、第５図に示
すように両コンタクトピン３１の先端を回路基板
６上に導電性接着剤５により仮固定したチツプ部
品４に接触させる際に、両コンタクトピン３１に
先立つてチツプ部品４に接触するようになつてい
る。

次に、チツプ部品４の測定検査方法について説
明する。

チツプ部品４の測定検査に際しては、前記第１
実施例と同一の方法により行なう。

この際、両コンタクトピン３１の先端は内側に
斜めにカツトされているので、第５図に示すよう
に端部が円弧状をなすまゆ型のチツプ部品４であ
つても、導通接触点を自由にとることができる。
また、チツプ部品４は両コンタクトピン３１によ
り両側から押さえられることになるので、完全な
位置における検査が可能となる。

なお、両コンタクトピン３１の先端は、必ずし
も平坦なカツト面である必要はなく、チツプ部品
４の外面形状に倣つた形状にしてもよい。これに
より、より安定した接触状態が得られる。

第６図および第７図は本発明の第４実施例を示
すもので、以下これについて説明する。

第９図および第１０図において、３は、プロー
ブ保持ボード１に設けた孔２内に下面側から着脱
自在に装着される絶縁性のブロツクであり、この
ブロツク３には、上端が接続端子７および導電線
８を介して図示しない測定検査計器に接続される
２本のプローブ３９が近接状態で貫通配置され、
また両プローブ３９間の中央位置には、電子部品
押さえ１５が配設されている。

前記プローブ３９は、本体をなす角筒状のチユ
ーブ４０を備えており、このチユーブ４０の下端
内部には、４１ａで示すように下端が斜めにカツ
トされた角棒状にコンタクトピン４１の上端が嵌
入され、コンタクトピン４１の上端部には、拡大
した受け座４１ｂが一体に設けられている。そし
て、このコンタクトピン４１は、前記チユーブ４
０の外面側から施される抜け止め４０ａによりコ
ンタクトピン４１からの抜け止めがなされてい
る。

前記チユーブ４０の上端部には、棒状の接続プ
ラグ４２がかしめ加工等により固定されている。
また、前記チユーブ４０の内部には、弾圧部材と
して圧縮コイルばね４３が介装され、コンタクト
ピン４１はその力により外方に弾圧されている。

一方、両プローブ３９間の中央位置には、上下
に貫通する孔１６が設けられており、この孔１６
内には、前記第１実施例および第２実施例と同一
構成の基端拡大部１５ａを有する電子部品押さえ
１５、調圧ねじ１７、およびばね１８がそれぞれ
配置されている。そして、前記電子部品押さえ１
５の先端部は、前記両プローブ３９のコンタクト
ピン４１先端よりもやや長めに突出している。

なお、チツプ部品の測定検査方法は、前記第１
実施例および第２実施例と同一であり、同様の効
果が得られる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は、接着剤が固化
する前の電子部品が取外し可能な状態において電
子部品の測定検査を行なうにあたり、棒状の電子
部品押さえの先端の平坦面で電子部品を押さえた
状態でプローブを電子部品に接触させて検査を行
なうようにしているので、仮固定状態の不安定な
電子部品を位置ずれを伴なうことなく安定して測
定することができる。そして、電子部品押さえは
弾性に抗して後退するようになつているので、電
子部品は電子部品押さえにより無理な押圧力を与
えられて移動することなく、確実に不動状態に維
持される。

また、プローブ保持ボードに着脱自在なブロツ
クを取付け、プローブと電子部品とをこのブロツ
クに取付けるようにしているので、各種の電子部
品の測定の際のプローブの交換を簡単に行なうこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例を示す断面図、第
２図ａ，ｂ，ｃは第１図のコンタクトピン先端面
形状をそれぞれ示す説明図、第３図は本発明の第
２実施例を示す部分断面図、第４図は第３図の底
面図、第５図はチツプ部品の測定検査方法を示す
説明図、第６図は本発明の第３実施例を示す断面
図、第７図は第６図の底面図である。 １……プローブ保持ボード、２……孔、３……
ブロツク、４……チツプ部品、５……導電性接着
剤、６……回路基板、１９，２９，３９……プロ
ーブ、２１，３１，４１……コンタクトピン、２
３，３３，４３……圧縮コイルばね、１５……電
子部品押さえ、１６……孔、１７……調圧ねじ、
１８……ばね。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ プローブ保持ボードに、基端が測定検査計器
   と電気的に接続される複数のプローブを近接状態
   で取付けるとともに、回路基板上に、脚がない電
   子部品を導電性接着剤で固定し、この接着剤が固
   化する前の電子部品が取外し可能な状態におい
   て、前記プローブ保持ボードを前記回路基板に向
   かつて相対的に移動させ、各プローブ先端を電子
   部品に接触させて電子部品の測定検査を行なう電
   子部品の検査装置であつて、前記プローブ保持ボ
   ードに設けた貫通孔内に着脱自在にブロツクをは
   め込み、このブロツクに各プローブを挿通し、複
   数のプローブの中間位置に、プローブ先端より先
   端部が突出する棒状電子部品押さえを設け、この
   電子部品押さえは、ばねの力に抗してブロツク内
   部に後退可能にブロツクに支持し、電子部品押さ
   えの先端は、電子部品を押さえるのに必要な面積
   を有する平坦面としたことを特徴とする電子部品
   の検査装置。 ２ 各プローブの先端面を電子部品の外面を抱え
   る凹入形状とした特許請求の範囲第１項記載の電
   子部品の検査装置。 ３ プローブの先端面を内側に向く斜面とした特
   許請求の範囲第１項記載の電子部品の検査装置。