JP3134516B2 - プリント配線板の検査治具 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は，プリント配線板の検査
治具，特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成，及び検査器との電気的接
続と取外しとを容易にする端子ボード周りの構造に関す
る。

【０００２】

【従来技術】プリント配線板における配線回路を，電気
導通の有無により検査する方法，及びその装置として
は，種々のものが提案されている（例えば，特公平２−
４４０３５号公報，特開昭５６−１１００６０号公
報）。そして，従来用いられている，プリント配線板の
検査治具としては，図１５及び図１６に示すごとく，プ
リント配線板７の配線回路７５に対して，プローブ９の
触針９２を当接させることにより，電気導通の有無を検
査するものである。

【０００３】該検査治具は，プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板８と，プローブ９を保持する
ためのピンボード８８と，両者を貫通させて装着したプ
ローブ９とよりなる。プローブ９は，図１６にも示すご
とく，パイプ状のソケット９１と触針９２とを有する。
ソケット９１は，ピンボード８８の貫通孔８８１内に挿
通固定されている。一方，触針９２はガイド板８のガイ
ド孔８１内に，進退可能に挿通されている。そして，触
針９２は，その上部にプランジャー９２０を有する。該
プランジャー９２０は，チューブ２５の内腔内に，スプ
リングバネ（図示略）を介して，進退可能に装着されて
いる。

【０００４】上記プローブ９の上端は，電気導通を検出
するための検査器にリードワイヤーを経由して電気的に
接続されている。この場合，プローブ上端とリードワイ
ヤーとの接続は，半田付によることが多い。なお，ガイ
ド板８は，ソケット９１の下端を配置するための凹部８
２を有する。また，上記プローブ９は，被検査体として
のプリント配線板７の配線回路７５に対応した位置に設
けてある。また，ガイド板８とピンボード８８とは一体
的に固定してある。

【０００５】そして，配線回路の電気導通の検査に当た
っては，プリント配線板７の上下より，上記ガイド板８
及びピンボード８８を下降及び上昇させ，プローブ９の
触針９２を配線回路７５の触針用パッド（以下省略）に
当接させる。このとき，当該配線回路７５が断線又はシ
ョートを生じていない場合には，正常な電気導通が得ら
れる。これにより，各配線回路７５の良否が判定でき
る。

【０００６】また，上記において触針９２の先端９２１
を配線回路７５に当接させた際には，触針９２はガイド
板８のガイド孔８１に沿ってソケット９１側へ後退し，
そのプランジャー９２０がソケット９１内に侵入する。
これは，触針９２の先端９２１を保護するためである。
なお，図１５において，符号８７，８８６はノックピン
８９１の挿入穴，８７１，８８５は，位置決めピン８９
２の挿入穴である。

【０００７】

【解決しようとする課題】しかしながち，上記従来の検
査治具には，次の問題がある。即ち，近年は，プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み，配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば，このピッチは，従来は０．６５ｍｍ程度であっ
たが，高密度配線回路においては０．３ｍｍと狭くなっ
ている。

【０００８】そこで，これに対応するため，プローブ９
の配列ピッチを狭くする必要があるため，プローブ自体
の大きさ（直径）も小さくする必要がある。そして，現
在使用されているプローブ９においても，そのソケット
９１の外径は約１ミリであり，また触針９２の直径は
０．５ｍｍと細径である。

【０００９】また，従来の検査治具においては，検査に
当たって，触針９２の先端９２１を直接に配線回路７５
に当接させている。また，その当接の際には，上記のご
とく，触針９２がガイド板８のガイド穴８１内をスライ
ドして後退する。そして，検査後は，触針９２は，ソケ
ット９１内に設けたスプリングバネによって，再び元の
位置へ突出させられる。そのため，触針９２は，検査の
度毎にガイド孔８１内を摺動することになる。

【００１０】それ故，触針９２が摩耗し易い。また，こ
の摩耗を防止するためガイド孔８１の径を大きくする
と，触針９２との間のクリアランスが大きくなり，触針
９２の先端９２１がガタつき，検査不良を生ずることが
ある。また，触針９２は，ピンボード８８に固定された
ソケット９１内に挿入されている。そのため，ソケット
９１と触針９２とガイド孔８１の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故，上記ガイド孔８１は，細径の触針
９２を円滑にスライドさせるために，上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く，穴明けを行う必要がある。

【００１１】また，触針９２は，ソケット９１内とガイ
ド孔８１内を，同軸線状にスライドすると共に，その先
端９２１が配線回路７５と直接に当接するため，上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく，従
来の検査治具においては，配線回路の高密度化に伴っ
て，特にプローブの触針９２の細径化と損傷，ガイド孔
８１の穴明精度等に問題がある。

【００１２】また，プローブの上端は，リードワイヤー
を経由して検査器に電気的に接続され，検査回路が電気
的に閉路される。そして，従来は，数１０〜数１００本
という多大の数のプローブの上端とリードワイヤーとは
半田付により接続されている。

【００１３】一方，プリント配線板が変わる毎にプロー
ブの配列パターンが変わるから，プローブ回りのいわゆ
る検出部はプリント配線板毎に交換する必要がある。そ
のため，この交換時には，プローブとリードワイヤーと
の間の多大の数の上記半田付けを外さなければならず，
その取付け作業は大きな工数を必要とする。また，新し
い検査回路に応じて再び多数のリードワイヤーとプロー
ブとの半田付けをしなければならない。また，プローブ
は上記のごとく，細径部品であるため，高価な精密部品
である。そのため，被検査体の配線回路が変わる毎に新
たなものを使用することはコスト高となる。そのため，
プローブが再利用可能なことも切望されている。

【００１４】本発明はかかる従来の問題点に鑑み，プロ
ーブの触針の細径化と損傷防止に対応でき，リードワイ
ヤーとの電気的接続も容易で，かつプローブの再利用が
できるプリント配線板の検査治具を提供しようとするも
のである。

【００１５】

【課題の解決手段】本発明は，プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って，該検査治具は，ガイド板と，ピンボードと，上記
配線回路と当接させるためのコンタクトピンと，該コン
タクトピンに当接させるための触針を内蔵したプローブ
とよりなり，かつ上記コンタクトピンは上記ガイド板に
進退可能に装着され，また上記触針はプローブに弾性的
に進退可能に内蔵されており，また，上記ピンボードに
は，端子ボードと変換ボードとを対面配設し，該端子ボ
ードには，リードワイヤーを有する端子ピンが一定間隔
で配置され，一方，変換ボードは端子ボード側に一定間
隔で第１ランドを有し，他方のピンボード側にはプロー
ブのプローブ端子と接触する第２ランドを有し，第１ラ
ンドと第２ランドとの間は変換ボード内に形成した内層
パターンにより接続されていることを特徴とするプリン
ト配線板の検査治具にある。

【００１６】本発明において最も注目すべき第１の点
は，上記従来例の前記プローブをいわば２組に分割し，
コンタクトピンとプローブとに構成したこと，そしてコ
ンタクトピンを配線回路に当接させ，一方プローブの触
針はコンタクトピンに当接させるよう構成したことであ
る。

【００１７】即ち，プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し，上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。そして，
該プローブには，弾性的に進退可能に触針を内蔵する。
このように，触針を内蔵させる手段としては，触針をチ
ューブ内に弾性的に保持し，これらをソケット内に装着
する手段がある（図４，５参照）。また，プローブ内
に，直接触針を挿入して弾性的に保持させる手段もあ
る。上記弾性的に保持する手段としては，スプリングバ
ネがある。

【００１８】また，コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは，配線回路
に当接させる先端を有すると共に，その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は，コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また，該当接部には，触針の当接を確実にする
ために，曲面凹部を設けることが好ましい（図６参
照）。また，本発明の検査治具においては，ガイド板及
びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタクトピ
ン及びプローブを設けると共に，プリント配線板の配線
回路が高密度でない部分を検査するために，上記従来例
と同様の比較的大径のプローブピンを併設することもで
きる。

【００１９】また，本発明においては他に注目すべきこ
とは，検査器とプローブとの間を電気的に接続する手段
として，ピンボードの上に，端子ボードと変換ボードと
を設けたことである。該端子ボードは，変換ボードと検
査器との間に配設されるもので，リードワイヤーを有す
る端子ピンが一定間隔でそのピン穴内に配置される。そ
して，上記リードワイヤーの一端は検査器に接続する。
また，端子ピンは，端子ボード面よりその端部を頭出す
るように，端子ボードのピン穴に収納されている。端子
ピンの上記端部は変換ボードの第１ランドと接触する。

【００２０】一方，変換ボードは，プローブと端子ボー
ドとの間に配設されるもので，端子ボード側に端子ピン
と１対１の対向関係にある一定間隔の第１ランドを有す
る。また，変換ボードのピンボード側にはプローブのプ
ローブ端子と接触するよう，プローブ端子と１対１の対
向関係にある第２ランドを有する。また，上記第１ラン
ドと第２ランドとの間には内層パターンを形成し，第１
ランドと第２ランドの間を電気的に接続する。

【００２１】従って，変換ボードの第２ランド面をプロ
ーブ端子面に圧接すれば，全てのプローブ端子と第２ラ
ンドとが一括して接触し電気的に導通する。また，変換
ボードの第１ランド面に対して端子ボードを圧接すれ
ば，全ての第１ランドと端子ピンの端部とが一括して接
触し電気的に導通する。

【００２２】

【作用及び効果】本発明の検査治具においては，ガイド
板にコンタクトピンを，ピンボードにプローブを設け，
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ，プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち，本発明においては，ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分（コンタクトピ
ン）と，電気導通の検出端であるプローブとを２つに分
けた構成としている。 そのため，コンタクトピンの進
退と，プローブの触針の進退とは独立した状態にある。

【００２３】それ故，ピンボードに固定したプローブ
と，その内部に挿入した触針と，該コンタクトピンが進
退するガイド板のガイド孔との３つの軸芯を，高精度で
一致させる必要がない。したがって，ガイド孔の軸芯の
孔明けは，プリント配線板の配線回路に一致させて穿設
すれば良く，従来のごとく高精度が要求されず，穿設容
易である。また，ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑
スライドを可能とすれば良いので，細径のものを設ける
ことができ，コンタクトピンのガタつきも小さくするこ
とができる。また，コンタクトピンが摩耗した際には，
容易に，しかも安価に交換することができる。

【００２４】また，プローブは，直接に配線回路に当接
させないので，従来のごとく損傷を受けることがない。
また，コンタクトピンは，配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが，従来のプローブの触針のごと
く，ガイド孔とプローブのソケット内の両方を直線状に
進退することがないので，軸芯ズレ等により損傷を受け
ることがない。

【００２５】また，上記のごとく，コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し，検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので，両者を細径化することも
できる。そのため，高密度配線回路の検査も容易であ
る。また，プローブは，０．１〜０．３ｍｍという細い
内径のソケット内に，弾性的に，進退可能に装着した構
成である。そのため，高価な精密部品であるが，上記の
ごとく損傷がないため，検査治具もコスト安となる。

【００２６】また，本発明の検査治具は，検査器とプロ
ーブ回りのいわゆる検出部との電気的接続が容易であ
る。即ち，前記のようにピンボードに配設したプローブ
端子面に変換ボードを圧接すればプローブ端子と第２ラ
ンドとが一括して接続される。また，変換ボードの第１
ランド面に端子ボードを圧接すれば第１ランドと端子ピ
ンとが一括して接続される。また第１ランドと第２ラン
ドとは内層パターンによって接続されている。

【００２７】かくして，プローブ端子は第２ランド，内
層パターン，第１ランド，端子ピンを経てリードワイヤ
ーにより検査器に接続される。即ち，ピンボードに変換
ボードを圧接し，更に端子ボードを変換ボードに圧接す
れば，全プローブ端子が一括して検査器に接続される。
それ故，個別端子毎に導通を取る必要がなく，接続作業
が極めて容易である。

【００２８】また，本発明ではプローブにはむきだしの
プローブ端子を設けておけばよく，リードワイヤー等の
接続は不要である。そのため，プローブをピンボードか
ら取り外すことが容易である。また，前記のように，コ
ンタクトピンの取り外しも容易である。従って，精密加
工部品で高価なプローブ及びコンタクトピンは，ピンボ
ード，ガイド板より取り外して再利用ができる。したが
って，本発明によれば，プローブの触針の細径化と損傷
防止に対応でき，また検査器との電気的接続と取外しが
容易で，かつプローブ及びコンタクトピンの再利用がで
きる，プリント配線板の検査治具を提供することができ
る。

【００２９】

【実施例】

実施例１ 本発明の実施例にかかる，プリント配線板の検査治具に
つき，図１〜図１０を用いて説明する。なお，全体の構
成を，コンタクトピン３をプリント配線板７と当接させ
て，プローブ１の他端に信号を伝える検出部と，プロー
ブ端子１２から変換ボード５，端子ボード４，リードワ
イヤーを経由して検査器に至る中継部とに分けてそれぞ
れを分説する。

【００３０】本例の検査治具の検出部は，図１〜図３に
示すごとく，ガイド板８とピンボード８８と，配線回路
７１と当接させるためのコンタクトピン３と，該コンタ
クトピン３に当接させるための触針２を内蔵したプロー
ブ１とよりなる。また，上記コンタクトピン３は，上記
ガイド板８に進退可能に装着され，また上記触針２はプ
ローブ１のソケット１１内に弾性的に進退可能に内蔵さ
れている。

【００３１】上記配線回路７１は，プリント配線板７に
おいて高密度配置されたものである。上記ガイド板８と
ピンボード８８とは，従来と同様にノックピン８９１に
より，脱着可能に，一体的に結合されている。ガイド板
８は，図１〜図３，図７，図８に示すごとく，コンタク
トピン３を，進退可能に装着するための多数のガイド孔
８５と，開口溝８６を有する。また，ピンボード８８
は，図２，図３に示すごとく，プローブ１のソケット１
１を挿通固定するための貫通孔８８２を有する。

【００３２】上記コンタクトピン３は，図２，図３，図
６に示すごとく，配線回路７１に当接させるための先端
３１と，触針２を当接させるための当接部としての，頭
部３２を有する。また，該頭部３２は，曲面凹部３２１
を有する（図６）。また，プローブ１は，図２〜図５に
示すごとく，ソケット１１とその中へ進退可能に挿通し
た触針２とからなる。ソケット１１は，図４に示すごと
く，中空パイプであり，触針２の挿入側にフランジ１１
０を有する。また，上部には第２ランド５２１に接続す
るプローブ端子１２を有する。

【００３３】一方，触針２は，図４，図５に示すごと
く，チューブ２５内に進退可能に装着されている。即
ち，触針２は，図５に示すごとく，上部に触針２とほぼ
同径のガイド柱２２を有し，両者の間には細径の連結部
２１を有する。そして，チューブ２５の中に，まずスプ
リングバネ２３を入れ，次いで上記触針２を挿入した
後，上記触針の連結部２１の外側部分において，チュー
ブ２５のかしめを行い，かしめ部２５１を形成する。

【００３４】これにより，触針２は，チューブ２５内に
おいて，上記スプリングバネ２３により弾性的に，進退
可能に装着される。なお，符号２５２は，チューブ２５
の上端部に設けた，スプリングバネ２３の上端を当接さ
せるためのかしめ部である。そして，このように構成し
た触針２は，上記図４に示すごとく，ソケット１１の中
空部１１１内へ挿入する。このとき，触針２を保持した
チューブ２５の上端は，ソケット１１のかしめ部１１３
に当接する。更に，上記のごとく構成したプローブ１
は，図１〜図３に示すごとく，ピンボード８８の貫通孔
８８２内へ，挿入し，着脱可能に固定する。その他は，
前記従来例と同様である。

【００３５】次に，検出部の作用効果につき説明する。
即ち，プリント配線板７における配線回路７１の良否を
電気導通により検査するに当たっては，図１〜図３に示
すごとく，各配線回路７１に対してガイド板８及びピン
ボード８８を，上下方向より接近させ，ガイド板８をプ
リント配線板７に対面させる。

【００３６】このとき，両者の当接前においては，コン
タクトピン３は，図２に示すごとく，ガイド板８よりも
突出した状態にある。また，コンタクトピン３の頭部３
２には，プローブ１の触針２の先端２１が当接してい
る。そして，ガイド板８がプリント配線板７に当接し，
コンタクトピン３の先端３１が配線回路７１に当接する
ときには，コンタクトピン３はガイド孔８５内をスライ
ド上昇する。そして，図３に示すごとく，コンタクトピ
ンの先端３１はガイド板８の下面とほぼ同じ位置に来
る。

【００３７】そこで，コンタクトピン３の頭部３２は，
触針２をプローブ１の方向に押圧する。そのため，触針
２は，上記スプリングバネ２３（図５）の付勢力に抗し
て，チューブ２５内に侵入する。このように，コンタク
トピン３の先端３１が，配線回路７１と当接した後，後
述するリードワイヤー１５，端子ピン４１，変換ボード
５を介して，プローブ１，触針２，コンタクトピン３に
電流を通じ，配線回路７１の良否を従来と同様に判断す
る（図１）。

【００３８】また，検査終了後は，ガイド板８等をプリ
ント配線板７より遠ざける。そのため，コンタクトピン
３は，触針２のスプリングバネ２３の付勢力により，図
２に示すごとく突出する。上記のごとく，本例の検査治
具においては，コンタクトピン３をガイド板８に進退可
能に装着し，またプローブ１はピンボード８８に固定す
ると共に該プローブ１内に進退可能に触針２を装着して
いる。

【００３９】そのため，コンタクトピン３の進退と，触
針の進退とは独立した状態にある。それ故，従来のごと
く，ピンボード８８に固定したプローブ１と，その内部
に挿入した触針２と，該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔８５との３つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち，本例においては，コンタクトピン３の軸芯と
触針２の軸芯とに位置ずれが生じていても，両者が当接
しておれば支障がない（図２，３）。

【００４０】また，そのため，ガイド孔８５はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って，ガイド孔８５及びピンボード８８の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず，穿設容易であ
る。また，ガイド孔８５は，コンタクトピン３のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので，細径のものを設け
ることができ，ガタつきもない。

【００４１】また，プローブ１は，その触針２を直接に
配線回路７１に当接させないので，従来のごとく，損傷
を受けることがない。また，コンタクトピン３は配線回
路７１に直接当接し，ガイド孔８５内をスライドする
が，従来のプローブの触針のごとく，ガイド孔８５内と
プローブのソケット内の両方を直線状に進退することが
ない。そのため，両者間の軸芯ずれ等による損傷を受け
ることもない。

【００４２】更に，コンタクトピン３とプローブ１とに
分割構成し，検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので，両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては，上記コンタクトピン３の直径は
０．２７ｍｍ，プローブ１のソケットの外径は０．４５
ｍｍ，内径は０．２７ｍｍ，触針２の外径は０．１５ｍ
ｍである。また，本例のコンタクトピン３においては，
その頭部３２に曲面凹部３２１を設けたので，該頭部３
２に触針２の先端２０を確実に当接させておくことがで
きる。

【００４３】次に，本実施例の中継部を図１，図９を用
いて説明する。本例の中継部においては，プローブ１の
プローブ端子１２と検査器１８との間に，端子ボード４
と変換ボード５とを配設している。端子ボード４には，
リードワイヤー１５を有する端子ピン４５が等間隔で設
けたピン穴４１内に配置されており，リードワイヤー１
５は検査器１８の端子盤１８１に接続する。

【００４４】図９に示すように，端子ボード４のピン穴
４１は下部孔４１３と上部細孔４１２とよりなる。下部
孔４１３は端子ピン４５の断面より若干大きい断面を有
し，その長さは端子ピン４５の長さより若干短い。一
方，上部細孔４１２はリードワイヤー１５を挿通するこ
とのできる大きさで，かつ端子ピン４５を挿通すること
ができない大きさに穿設してある。

【００４５】従って，端子ピン４５はピン穴４１に収納
したとき，その端部が端子ボードの下面より一部頭出
し，リードワイヤー１５はピン穴の上部細孔４１３を挿
通させ引き出すことができる。一方，変換ボード５の端
子ボード側の面（第１ランド面５１）には第１ランド５
１１が形成される。第１ランド５１１は端子ピン４１と
１対１の対向関係を有し，従ってピン穴４１と同様に等
間隔に設けられている。

【００４６】変換ボード５のピンボード側の面（第２ラ
ンド面５２）には第２ランド５２１が形成される。第２
ランド５２１はプローブ１のプローブ端子１２と１対１
の対向関係を有する。プローブ端子１２は検査対象であ
るプリント配線板７の配線回路７１に対応して設けられ
るから，一般に配置間隔は不規則である。従って，それ
に対向する第２ランド５２１の配置も不規則である。

【００４７】内層パターン面５３に設けられた内層パタ
ーン５３１は規則的に配置された第１ランド５１１と不
規則に配置される第２ランド５２１とを接続するように
形成されている。図９においてスルーホール５１２は第
１ランド５１１と内層パターン５３１とを接続するスル
ーホールであり，スルーホール５２２は，第２ランド５
２１と内層パターン５３１とを接続するスルーホールで
ある。図９（ｂ）は変換ボード５を第１ランド面上部よ
り見た図である。なお，本例の端子ピン４５は円柱形状
であり，一端にリードワイヤー１５を半田付等によって
接続してある。

【００４８】次に，本例の中継部の作用効果について説
明する。変換ボード５をピンボード８８に圧接すれば，
対向関係にある全てのプローブ端子１２と第２ランド５
２１とが一括して接続される。また，変換ボード５に端
子ボード４を圧接すれば，対向関係にある全ての第１ラ
ンド５１１と端子ピン４５とが一括して接続される。

【００４９】第１ランド５１１と第２ランド５２１とは
内層パターン５３１により接続されているから，プロー
ブ端子１２と端子ピン４５との間が接続される。更に，
端子ピン４５はリードワイヤー１５を経て，検査器１８
に接続されているから，プローブ端子１２は検査器１８
に接続される。

【００５０】即ち，ピンボード８８に変換ボード５を，
更に変換ボード５に端子ボード４を圧接すれば，全プロ
ーブ１が一括して検査器１８と接続される。このよう
に，本例によれば，従来技術のように，プローブ個別に
リードワイヤーを半田付等によって検査器に接続する必
要がないから，検査器１８との接続は極めて短時間に容
易に行うことができる。また，同様に検査器１８との切
り離しも極めて容易である。

【００５１】また，ピンボード８８上から端子ボード４
及び変換ボード５を除去すればプローブ１及びコンタク
トピン３を容易に取り外すことができ，これらを再利用
に供することができる。

【００５２】このように，本実施例によれば，高密度配
線回路に対しても，プローブ触針の細径化と損傷防止に
対応でき，かつガイド孔の穿設が容易であり，かつ検査
器との電気的接続と取外しが容易な，更にプローブ及び
コンタクトピンの再利用が可能なプリント配線板の検査
治具が提供できる。なお，本例では内層パターン５３１
のパターン面５３を１面で形成する例を説明したが，内
層パターン５３１のパターン面５３は１面である必要は
ない。

【００５３】図１０は，内層パターン５３１，５４１，
５５１を，３面のパターン面５３，５４，５５に形成し
た例を示したものである。同図より知られるごとく，或
る第１ランド５１１と第２ランド５２２とを結ぶスルー
ホール５１２，５２２の位置が，他のそれらと交錯する
場合には，一方の内層パターン５３１（５４１，５５
１）を他方のスルーホールから迂回させる（図１０の右
方）。このように，検査対象のプリント配線板７が高密
度化した場合には，第２ランド５２１と第１ランド５１
１の位置とが交錯して内層パターンのパターン面が１面
で形成できない場合がある。この場合には，図１０に示
すごとく多層化して対応する。なお，図１０では，スル
ーホール５１２，５２２を簡略化してパターンと同様の
二重線で表示してある。

【００５４】実施例２ 本例は実施例１において，端子ピン４５の形状を変更し
たものである。本例の端子ピン４６は図１１に示すよう
にリードワイヤー１５の先端に半田メッキによって球状
塊を形成したものである。その他は実施例１と同様であ
る。

【００５５】実施例３ 本例は実施例１において，端子ピン４５の形状をを変更
したもう１つの実施例である。 即ち，本例の端子ピン
４７は図１２，図１３に示すように，十字形の断面形状
を有する棒状体である。このような棒状体を形成する方
法としては，例えばエナメル線その他の線材を，金型を
用いて４方向からプレスする方法がある。また，実施例
２のようにリードワイヤー１５の先端に半田ナッキ塊を
形成し，その後それを４方向からプレスすることによっ
て形成することもできる。その他は実施例１と同様であ
る。

【００５６】実施例４ 本例は実施例１において，端子ピン４５の形状を変更し
た他の実施例である。本例の端子ピン４８は，図１４
（ｂ）に示すように，リードワイヤー１５の先端に導体
塊を形成したものである。該導体塊は，図１４（ａ）に
示すように，線材の先端を所定回数だけ折り曲げて屈曲
部４８１を設け，これをかしめることにより形成するこ
とができる。その他は，実施例１と同様である。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例１における，検査治具の全体説明図。

【図２】実施例１における，検査前の状態の，コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。

【図３】実施例１における，検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。

【図４】実施例１のプローブにおける，ソケット及び触
針の展開正面図。

【図５】実施例１における，プローブの先端部分の断面
図。

【図６】実施例１における，コンタクトピンの正面図。

【図７】実施例１における，ガイド板の平面図。

【図８】図７のＡ−Ａ線矢視断面図。

【図９】実施例１における中継部の説明部。

【図１０】実施例１における他の変換ボードの縦断面
図。

【図１１】実施例２における端子ボードと変換ボードと
の接続部断面図。

【図１２】実施例３における端子ボードと変換ボードと
の接続部断面図。

【図１３】実施例３における端子ピンの拡大斜視図。

【図１４】実施例４における端子ピンの作製過程を示す
拡大斜視図。

【図１５】従来例における検査治具の全体説明図。

【図１６】従来例における検査治具のプローブ周りの説
明図。

【符号の説明】

１．．．プローブ， １２．．．プローブ端子， １５．．．リードワイヤー， １８．．．検査器， ２．．．触針， ２５．．．チューブ， ３．．．コンタクトピン， ３１．．．先端， ４．．．端子ボード， ４１．．．ピン穴， ４５，４６，４７，４８．．．端子ピン， ５．．．変換ボード， ５１１．．．第１ランド， ５２１．．．第２ランド， ５３１．．．内層パターン， ５１２，５２２．．．スルーホール， ７．．．プリント配線板， ７１．．．高密度ピッチの配線回路， ８．．．ガイド板， ８５．．．ガイド孔， ８８．．．ピンボード，

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−300978（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−200865（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−2943（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−130483（ＪＰ，Ａ) 実開 昭60−92176（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭61−119777（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭58−134776（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 1/06 - 1/073 G01R 31/00 G01R 31/02 G01R 31/28 H05K 3/00

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プリント配線板における配線回路を電気
   導通の有無により検査する検査治具であって，該検査治
   具は，ガイド板と，ピンボードと，上記配線回路と当接
   させるためのコンタクトピンと，該コンタクトピンに当
   接させるための触針を内蔵したプローブとよりなり，か
   つ上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着
   され，また上記触針はプローブに弾性的に進退可能に内
   蔵されており，また，上記ピンボードには，端子ボード
   と変換ボードとを対面配設し，該端子ボードには，リー
   ドワイヤーを有する端子ピンが一定間隔で配置され，一
   方，変換ボードは端子ボード側に一定間隔で第１ランド
   を有し，ピンボード側にはプローブのプローブ端子と接
   触する第２ランドを有し，第１ランドと第２ランドとの
   間は変換ボード内に形成した内層パターンにより接続さ
   れていることを特徴とするプリント配線板の検査治具。