JP3125453B2 - プリント配線板の検査治具 - Google Patents

プリント配線板の検査治具

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JP3125453B2
JP3125453B2 JP04199131A JP19913192A JP3125453B2 JP 3125453 B2 JP3125453 B2 JP 3125453B2 JP 04199131 A JP04199131 A JP 04199131A JP 19913192 A JP19913192 A JP 19913192A JP 3125453 B2 JP3125453 B2 JP 3125453B2
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直哉 小林
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Ibiden Co Ltd
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,プリント配線板の検査
治具,特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成,及び検査器との電気的接
続を容易にする端子ボード周りの構造に関する。
【0002】
【従来技術】プリント配線板における配線回路を,電気
導通の有無により検査する方法,及びその装置として
は,種々のものが提案されている(例えば,特公平2−
44035号公報,特開昭56−110060号公
報)。そして,従来用いられている,プリント配線板の
検査治具としては,図13及び図14に示すごとく,プ
リント配線板7の配線回路75に対して,プローブ9の
触針92を当接させることにより,電気導通の有無を検
査するものである。
【0003】該検査治具は,プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板8と,プローブ9を保持する
ためのピンボード88と,両者を貫通させて装着したプ
ローブ9とよりなる。プローブ9は,図14にも示すご
とく,パイプ状のソケット91と触針92とを有する。
ソケット91は,ピンボード88の貫通孔881内に挿
通固定されている。一方,触針92はガイド板8のガイ
ド孔81内に,進退可能に挿通されている。そして,触
針92は,その上部にプランジャー920を有する。該
プランジャー920は,チューブ25の内腔内に,スプ
リングバネ(図示略)を介して,進退可能に装着されて
いる。
【0004】上記プローブ9の上端は,電気導通を検出
するための検査器にリードワイヤーを経由して電気的に
接続されている。この場合,プローブ上端とリードワイ
ヤーとの接続は,半田付によってなされることが多い。
なお,ガイド板8は,ソケット91の下端を配置するた
めの凹部82を有する。また,上記プローブ9は,被検
査体としてのプリント配線板7の配線回路75に対応し
た位置に設けてある。また,ガイド板8とピンボード8
8とは一体的に固定してある。
【0005】そして,配線回路の電気導通の検査に当た
っては,プリント配線板7の上下より,上記ガイド板8
及びピンボード88を下降及び上昇させ,プローブ9の
触針92を配線回路75の触針用パッド(以下省略)に
当接させる。このとき,当該配線回路75が断線又はシ
ョートを生じていない場合には,正常な電気導通が得ら
れる。これにより,各配線回路75の良否が判定でき
る。
【0006】また,上記において触針92の先端921
を配線回路75に当接させた際には,触針92はガイド
板8のガイド孔81に沿ってソケット91側へ後退し,
そのプランジャー920がソケット91内に侵入する。
これは,触針92の先端921を保護するためである。
なお,図13において,符号87,886はノックピン
891の挿入穴,871,885は,位置決めピン89
2の挿入穴である。
【0007】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の検
査治具には,次の問題がある。即ち,近年は,プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み,配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば,このピッチは,従来は0.65mm程度であっ
たが,高密度配線回路においては0.3mmと狭くなっ
ている。
【0008】そこで,これに対応するため,プローブ9
の配列ピッチを狭くする必要があるため,プローブ自体
の大きさ(直径)も小さくする必要がある。そして,現
在使用されているプローブ9においても,そのソケット
91の外径は約1ミリであり,また触針92の直径は
0.5mmと細径である。
【0009】また,従来の検査治具においては,検査に
当たって,触針92の先端921を直接に配線回路75
に当接させている。また,その当接の際には,上記のご
とく,触針92がガイド板8のガイド穴81内をスライ
ドして後退する。そして,検査後は,触針92は,ソケ
ット91内に設けたスプリングバネによって,再び元の
位置へ突出させられる。そのため,触針92は,検査の
度毎にガイド孔81内を摺動することになる。
【0010】それ故,触針92が摩耗し易い。また,こ
の摩耗を防止するためガイド孔81の径を大きくする
と,触針92との間のクリアランスが大きくなり,触針
92の先端921がガタつき,検査不良を生ずることが
ある。また,触針92は,ピンボード88に固定された
ソケット91内に挿入されている。そのため,ソケット
91と触針92とガイド孔81の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故,上記ガイド孔81は,細径の触針
92を円滑にスライドさせるために,上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く,穴明けを行う必要がある。
【0011】また,触針92は,ソケット91内とガイ
ド孔81内を,同軸線状にスライドすると共に,その先
端921が配線回路75と直接に当接するため,上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく,従
来の検査治具においては,配線回路の高密度化に伴っ
て,特にプローブの触針92の細径化と損傷,ガイド孔
81の穴明精度等に問題がある。
【0012】また,プローブの上端は,リードワイヤー
を経由して検査器に電気的に接続され,検査回路が電気
的に閉路される。そして,従来は,数10〜数100本
という多大の数のプローブの上端とリードワイヤーとは
半田付により接続されており,リードワイヤー15の他
端は,検査器18に接続されている。
【0013】一方,プリント配線板が変わる毎にプロー
ブの配列パターンが変わるから,プローブ回りのいわゆ
る検出部はプリント配線板毎に交換する必要がある。そ
のため,この交換時には,プローブとリードワイヤーと
の間の多大の数の上記半田付けを外さなければならず,
その取外し作業は大きな工数を必要とする。また,新し
い検査回路に応じて再び多数のリードワイヤーとプロー
ブとの半田付けをしなければならない。
【0014】また,プローブは上記のごとく,細径部品
であるため,高価な精密加工部品である。そのため,被
検査体の配線回路が変わる毎に新たなものを使用するこ
とはコスト高となる。そのため,プローブが再利用可能
なことも切望されている。本発明はかかる従来の問題点
に鑑み,プローブの触針の細径化と損傷防止に対応で
き,検査器との電気的接続及び取外しが容易で,かつプ
ローブの再利用ができるプリント配線板の検査治具を提
供しようとするものである。
【0015】
【課題の解決手段】本発明は,プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って,該検査治具は,ガイド板と,ピンボードと,上記
配線回路と当接させるためのコンタクトピンと,該コン
タクトピンに当接させるための触針を内蔵したプローブ
とよりなり,かつ上記コンタクトピンは上記ガイド板に
進退可能に装着され,また上記触針はプローブに弾性的
に進退可能に内蔵されており,またピンボードの外部に
は,端子ボードを配設し,該端子ボードには一端を検査
器に接続した複数のジャック型端子を配置し,一方,上
記プローブにはリードワイヤーを接続すると共に,該リ
ードワイヤーの先端には上記ジャック型端子に挿入する
ためのプラグを有してなり,該プラグの外径は上記プロ
ーブの外径以下であることを特徴とするプリント配線板
の検査治具にある。
【0016】本発明において最も注目すべき第1の点
は,上記従来例の前記プローブをいわば2組に分割し,
コンタクトピンとプローブとに構成したこと,そしてコ
ンタクトピンを配線回路に当接させ,一方プローブの触
針はコンタクトピンに当接させるよう構成したことであ
る。
【0017】即ち,プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し,上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。そして,
該プローブには,弾性的に進退可能に触針を内蔵する。
このように,触針を内蔵させる手段としては,触針をチ
ューブ内に弾性的に保持し,これらをソケット内に装着
する手段がある(図4,5参照)。また,プローブ内
に,直接触針を挿入して弾性的に保持させる手段もあ
る。上記弾性的に保持する手段としては,スプリングバ
ネがある。
【0018】また,コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは,配線回路
に当接させる先端を有すると共に,その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は,コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また,該当接部には,触針の当接を確実にする
ために,曲面凹部を設けることが好ましい(図6参
照)。また,本発明の検査治具においては,ガイド板及
びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタクトピ
ン及びプローブを設けると共に,プリント配線板の配線
回路が高密度でない部分を検査するために,上記従来例
と同様の比較的大径のプローブピンを併設することもで
きる。
【0019】また,本発明において他に注目すべきこと
は,プローブを検査器と電気的に接続する手段として,
ピンボードの外部に端子ボードを配設し,該端子ボード
には,一端を検査器に接続した複数のジャック型端子を
配置する。一方,プローブの上端にはリードワイヤーを
接続すると共に,該リードワイヤーの先端にはプラグを
接続し,該プラグをジャック型端子に抜き差しする構造
にしたことである。即ち,検査器とプローブ回りのいわ
ゆる検出部との間に,端子ボードを設けて,該端子ボー
ドの一方を検査器と電気的に接続し,他方をプローブに
接続する。前記プローブと端子ボードとの接続及び取外
しは,プローブに接続したリードワイヤーの先端にプラ
グを設け,該プラグを端子ボードのジャック型端子に挿
入又は引き外すことによって行う。なお,上記リードワ
イヤーの一端は半田付け等によりプローブの頂部に予め
接続する。また上記プラグは,その外径寸法が,プロー
ブの外径以下であるものを採用する。
【0020】
【作用及び効果】本発明の検査治具においては,ガイド
板にコンタクトピンを,ピンボードにプローブを設け,
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ,プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち,本発明においては,ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分(コンタクトピ
ン)と,電気導通の検出端であるプローブとを2つに分
けた構成としている。そのため,コンタクトピンの進退
と,プローブの触針の進退とは独立した状態にある。
【0021】それ故,ピンボードに固定したプローブ
と,その内部に挿入した触針と,コンタクトピンが進退
するガイド板のガイド孔との3つの軸芯を,高精度で一
致させる必要がない。したがって,ガイド孔の軸芯の孔
明けは,プリント配線板の配線回路に一致させて穿設す
れば良く,従来のごとく高精度が要求されず,穿設容易
である。また,ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑ス
ライドを可能とすれば良いので,細径のものを設けるこ
とができ,コンタクトピンのガタつきも小さくすること
ができる。また,コンタクトピンが摩耗した際には,容
易に,しかも安価に交換することができる。
【0022】また,プローブは,直接に配線回路に当接
させないので,従来のごとく損傷を受けることがない。
また,コンタクトピンは,配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが,従来のプローブの触針のごと
く,ガイド孔とプローブのソケット内の両方を直線状に
進退することがないので,軸芯ズレ等により損傷を受け
ることがない。
【0023】また,上記のごとく,コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し,検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので,両者を細径化することも
できる。そのため,高密度配線回路の検査も容易であ
る。また,プローブは,0.1〜0.3mmという細い
内径のソケット内に,弾性的に,進退可能に装着した構
成である。そのため,高価な精密部品であるが,上記の
ごとく損傷がないため,検査治具もコスト安となる。
【0024】また,本発明の検査治具は,検査器とプロ
ーブ回りのいわゆる検出部との電気的接続が容易であ
る。即ち,本発明では,プローブに取付けられたリード
ワイヤーのプラグを,端子ボードに設けたジャック型端
子に挿入することにより,検査器と検出部が容易に電気
的に接続される。また上記リードワイヤーのプラグをジ
ャック型端子から引き抜くことにより,検査器から検出
部を容易に切り離すことができる。
【0025】また,本発明では,リードワイヤーの他端
に取り付けられたプラグはその外径がプローブの外径以
下である。それ故,プローブはリードワイヤー及びプラ
グを取付けたままの状態で,ピンボードから容易に取外
しでき,そのまま再利用に供することができる。また,
前記のように,コンタクトピンの取外しも容易である。
従って,精密加工部品であり,高価なプローブ及びコン
タクトピンをピンボード及びガイド板より取り外して,
他の検出部に取付けて再利用することができる。
【0026】したがって,本発明によれば,プローブの
触針の細径化と損傷防止に対応でき,また検査器との電
気的接続及び取外しが容易で,かつプローブ及びコンタ
クトピンの再利用ができる,プリント配線板の検査治具
を提供することができる。
【0027】
【実施例】
実施例1 本発明の実施例にかかる,プリント配線板の検査治具に
つき,図1〜図9を用いて説明する。なお,全体の構成
を,コンタクトピンをプリント配線板と当接させて,プ
ローブの他端に信号を伝える検出部と,プローブの上端
からリードワイヤーを経由して検査器に至る中継部とに
分けてそれぞれを分説する。
【0028】本例の検査治具の検出部は,図1〜図3に
示すごとく,ガイド板8とピンボード88と,配線回路
71と当接させるためのコンタクトピン3と,該コンタ
クトピン3に当接させるための触針2を内蔵したプロー
ブ1とよりなる。また,上記コンタクトピン3は,上記
ガイド板8に進退可能に装着され,また上記触針2はプ
ローブ1のソケット11内に弾性的に進退可能に内蔵さ
れている。
【0029】上記配線回路71は,プリント配線板7に
おいて高密度配置されたものである。上記ガイド板8と
ピンボード88とは,従来と同様にノックピン891に
より,脱着可能に,一体的に結合されている。ガイド板
8は,図1〜3,図7,図8に示すごとく,コンタクト
ピン3を,進退可能に装着するための多数のガイド孔8
5と,開口溝86を有する。また,ピンボード88は,
図2,3に示すごとく,プローブ1のソケット11を挿
通固定するための貫通孔882を有する。
【0030】上記コンタクトピン3は,図2,図3,図
6に示すごとく,配線回路71に当接させるための先端
31と,触針2を当接させるための当接部としての,頭
部32を有する。また,該頭部32は,曲面凹部321
を有する(図6)。また,プローブ1は,図2〜図5に
示すごとく,ソケット11とその中へ進退可能に挿通し
た触針2とからなる。ソケット11は,図4に示すごと
く,中空パイプであり,触針2の挿入側にフランジ11
0を有する。また,上端12には後述するように,リー
ドワイヤーー15を有する。
【0031】一方,触針2は,図4,図5に示すごと
く,チューブ25内に進退可能に装着されている。即
ち,触針2は,図5に示すごとく,上部に触針2とほぼ
同径のガイド柱22を有し,両者の間には細径の連結部
21を有する。そして,チューブ25の中に,まずスプ
リングバネ23を入れ,次いで上記触針2を挿入した
後,上記触針の連結部21の外側部分において,チュー
ブ25のかしめを行い,かしめ部251を形成する。
【0032】これにより,触針2は,チューブ25内に
おいて,上記スプリングバネ23により弾性的に,進退
可能に装着される。なお,符号252は,チューブ25
の上端部に設けた,スプリングバネ23の上端を当接さ
せるためのかしめ部である。そして,このように構成し
た触針2は,上記図4に示すごとく,ソケット11の中
空部111内へ挿入する。このとき,触針2を保持した
チューブ25の上端は,ソケット11のかしめ部113
に当接する。更に,上記のごとく構成したプローブ1
は,図1〜図3に示すごとく,ピンボード88の貫通孔
882内へ,挿入し,着脱可能に固定する。その他は,
前記従来例と同様である。
【0033】次に,検出部の作用効果につき説明する。
即ち,プリント配線板7における配線回路71の良否を
電気導通により検査するに当たっては,図1〜図3に示
すごとく,各配線回路71に対してガイド板8及びピン
ボード88を,上下方向より接近させ,ガイド板8をプ
リント配線板7に対面させる。
【0034】このとき,両者の当接前においては,コン
タクトピン3は,図2に示すごとく,ガイド板8よりも
突出した状態にある。また,コンタクトピン3の頭部3
2には,プローブ1の触針2の先端21が当接してい
る。そして,ガイド板8がプリント配線板7に当接し,
コンタクトピン3の先端31が配線回路71に当接する
ときには,コンタクトピン3はガイド孔85内をスライ
ド上昇する。そして,図3に示すごとく,コンタクトピ
ンの先端31はガイド板8の下面とほぼ同じ位置に来
る。
【0035】そこで,コンタクトピン3の頭部32は,
触針2をプローブ1の方向に押圧する。そのため,触針
2は,上記スプリングバネ23(図5)の付勢力に抗し
て,チューブ25内に侵入する。このように,コンタク
トピン3の先端31が,配線回路71と当接した後,上
記リードワイヤー15を介して,プローブ1,触針2,
コンタクトピン3に電流を通じ,配線回路71の良否を
従来と同様に判断する(図1)。
【0036】また,検査終了後は,ガイド板8等をプリ
ント配線板7より遠ざける。そのため,コンタクトピン
3は,触針2のスプリングバネ23の付勢力により,図
2に示すごとく突出する。上記のごとく,本例の検査治
具においては,コンタクトピン3をガイド板8に進退可
能に装着し,またプローブ1はピンボード88に固定す
ると共に該プローブ1内に進退可能に触針2を装着して
いる。
【0037】そのため,コンタクトピン3の進退と,触
針の進退とは独立した状態にある。それ故,従来のごと
く,ピンボード88に固定したプローブ1と,その内部
に挿入した触針2と,該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔85との3つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち,本例においては,コンタクトピン3の軸芯と
触針2の軸芯とに位置ずれが生じていても,両者が当接
しておれば支障がない(図2,3)。
【0038】また,そのため,ガイド孔85はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って,ガイド孔85及びピンボード88の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず,穿設容易であ
る。また,ガイド孔85は,コンタクトピン3のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので,細径のものを設け
ることができ,ガタつきもない。
【0039】また,プローブ1は,その触針2を直接に
配線回路71に当接させないので,従来のごとく,損傷
を受けることがない。また,コンタクトピン3は配線回
路71に直接当接し,ガイド孔85内をスライドする
が,従来のプローブの触針のごとく,ガイド孔85内と
プローブのソケット内の両方を直線状に進退することが
ない。そのため,両者間の軸芯ずれ等による損傷を受け
ることもない。
【0040】更に,コンタクトピン3とプローブ1とに
分割構成し,検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので,両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては,上記コンタクトピン3の直径は
0.27mm,プローブ1のソケットの外径は0.45
mm,内径は0.27mm,触針2の外径は0.15m
mである。また,本例のコンタクトピン3においては,
その頭部32に曲面凹部321を設けたので,該頭部3
2に触針2の先端20を確実に当接させておくことがで
きる。
【0041】次に,本実施例の中継部(プローブの上端
から,リードワイヤーを経由して検査器に至る部分)を
図1,図4,図9,図10を用いて説明する。本例の中
継部は,図1に示すようにピンボード88の外部に,端
子ボード4を配設し,該端子ボード4には,複数のジャ
ック型端子41を配置する。検査器18と端子ボード4
とは,リード線16によって接続される。一方,プロー
ブ1の上端12には,図4に示すように,リードワイヤ
ー15を半田付けによって接続する。また,該リードワ
イヤー15の他端152には,図9に示すように,上記
ジャック型端子41に挿入するためのプラグ153を取
り付ける。該プラグ153は,端子ボード4のジャック
型端子41と対になって,雄雌関係を形成しており,そ
の着脱は極めて容易な構造となっている。
【0042】端子ボード4は図9に示すようにプリント
配線技術によって作られた配線板42と補強板45によ
り構成される。端子ボード4は上記配線板42をコネク
タ43と嵌合接続し,リード線16を経由して検査器と
接続する。補強板45は配線板42を構造的に補強する
と共に,ジャック型端子41を支持する。リード線16
はケーブル構造のものを用いる。
【0043】図10は,配線板42を拡大図示したもの
である。配線板42には,ジャック型端子41を取付け
るスルーホール423と,コネクタ43に嵌合接続する
端末部421と,両者の間を接続する配線パターン42
2とが形成されている。配線板42の端末部421は,
コネクタ43に嵌合したとき,コネクタ43の導電部と
接触し,両者の間が電気的に接続されるよう配置され
る。
【0044】次に,本例の中継部の作用効果について述
べる。本例ではプラグ153をジャック型端子41に着
脱することにより,プローブ1と検査器18との間が電
気的に接続し遮断される。すなわち,プラグ153をジ
ャック型端子41に挿入すれば,プローブ1はリードワ
イヤー15,プラグ153,ジャック型端子41,リー
ド線16を経由して検査器18に接続される。また,プ
ラグ153をジャック型端子41から引抜くことによ
り,プローブ1と検査器18との間の回路は遮断され
る。
【0045】このように,本例ではプラグ153の着脱
により極めて容易に検出部と検査器18との間を接続,
遮断することができる。従って,検出部の交換が容易で
ある。検査対象のプリント配線板を交換する場合には,
検出部を交換しなければならないから,このことは検査
治具にとって大いなる利点である。
【0046】また本例では,リードワイヤー15に設け
たプラグ153の外径は,プローブ1の外径以下であ
り,リードワイヤー自体も小径である。そのため,これ
らは,プローブ1をピンボード88から取り外す場合,
障害にならない。従って,プローブ1は,そのリードワ
イヤー15及びプラグ153を取付けたまま,ピンボー
ド88から取り外すことが容易である。また,前記のよ
うに,コンタクトピン3の取外しも同様に容易である。
従ってプローブ1及びコンタクトピン3を検出部から取
外して,他のプリント配線板用の検出部に再利用するこ
とができる。
【0047】このように,本実施例によれば,高密度配
線回路に対しても,プローブ触針の細径化と損傷防止に
対応でき,かつガイド孔の穿設が容易であり,かつ検査
器との電気的接続及び取外しが容易な,更にプローブ及
びコンタクトピンの再利用が可能なプリント配線板の検
査治具が提供できる。
【0048】なお,本例において,ジャック型端子41
を省き,プラグ153を配線板42のスルーホール42
3に直接着脱するように構成することもできる。また,
本例では,端子ボード4は配線板42を用いて,リード
線16との接続が容易であるような構造とした。しか
し,配線板42を用いないで単なる端子取付盤とし,リ
ード線16をジャック型端子41に直接接続する構造と
することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1における,検査治具の全体説明図。
【図2】実施例1における,検査前の状態の,コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。
【図3】実施例1における,検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。
【図4】実施例1のプローブにおける,ソケット及び触
針の展開正面図。
【図5】実施例1における,プローブの先端部分の断面
図。
【図6】実施例1における,コンタクトピンの正面図。
【図7】実施例1における,ガイド板の平面図。
【図8】図7のA−A線矢視断面図。
【図9】実施例1における,中継部の説明図。
【図10】実施例1における,配線板とコネクタとの接
続部拡大図。
【図11】従来例における,検査治具の全体説明図。
【図12】従来例における,検査治具のプローブ周りの
説明図。
【符号の説明】
1...プローブ, 11...ソケット, 12...プローブ端子, 15,16...リードワイヤー, 153...プラグ, 18...検査器, 2...触針, 25...チューブ, 3...コンタクトピン, 31...先端, 4...端子ボード, 41...ジャック型端子, 42...配線板, 43...コネクタ, 7...プリント配線板, 71...高密度ピッチの配線回路, 8...ガイド板, 85...ガイド孔, 88...ピンボード,
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/02 G01R 31/00 G01R 1/06 - 1/073 H05K 3/00

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント配線板における配線回路を電気
    導通の有無により検査する検査治具であって,該検査治
    具は,ガイド板と,ピンボードと,上記配線回路と当接
    させるためのコンタクトピンと,該コンタクトピンに当
    接させるための触針を内蔵したプローブとよりなり,か
    つ上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着
    され,また上記触針はプローブに弾性的に進退可能に内
    蔵されており,またピンボードの外部には端子ボードを
    配設し,該端子ボードには一端を検査器に接続した複数
    のジャック型端子を配置し,一方,上記プローブにはリ
    ードワイヤーを接続すると共に,該リードワイヤーの先
    端には上記ジャック型端子に挿入するためのプラグを有
    してなり,該プラグの外径は上記プローブの外径以下で
    あることを特徴とするプリント配線板の検査治具。
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