JP3125450B2 - プリント配線板の検査治具 - Google Patents

プリント配線板の検査治具

Info

Publication number
JP3125450B2
JP3125450B2 JP04196031A JP19603192A JP3125450B2 JP 3125450 B2 JP3125450 B2 JP 3125450B2 JP 04196031 A JP04196031 A JP 04196031A JP 19603192 A JP19603192 A JP 19603192A JP 3125450 B2 JP3125450 B2 JP 3125450B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
stylus
lead wire
contact
board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP04196031A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0618591A (ja
Inventor
直哉 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP04196031A priority Critical patent/JP3125450B2/ja
Publication of JPH0618591A publication Critical patent/JPH0618591A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3125450B2 publication Critical patent/JP3125450B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,プリント配線板の検査
治具,特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成,及び検査器との電気的接
続と取外しとを容易にする端子ボード周りの構造に関す
る。
【0002】
【従来技術】プリント配線板における配線回路を,電気
導通の有無により検査する方法,及びその装置として
は,種々のものが提案されている(例えば,特公平2−
44035号公報,特開昭56−110060号公
報)。そして,従来用いられている,プリント配線板の
検査治具としては,図12及び図13に示すごとく,プ
リント配線板7の配線回路75に対して,プローブ9の
触針92を当接させることにより,電気導通の有無を検
査するものである。
【0003】該検査治具は,プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板8と,プローブ9を保持する
ためのピンボード88と,両者を貫通させて装着したプ
ローブ9とよりなる。プローブ9は,図13にも示すご
とく,パイプ状のソケット91と触針92とを有する。
ソケット91は,ピンボード88の貫通孔881内に挿
通固定されている。一方,触針92はガイド板8のガイ
ド孔81内に,進退可能に挿通されている。そして,触
針92は,その上部にプランジャー920を有する。該
プランジャー920は,チューブ25の内腔内に,スプ
リングバネ(図示略)を介して,進退可能に装着されて
いる。
【0004】上記プローブ9の上端は,電気導通を検出
するための検査器にリードワイヤーを経由して電気的に
接続されている。この場合,プローブ上端とリードワイ
ヤーとの接続は,半田付によってなされることが多い。
なお,ガイド板8は,ソケット91の下端を配置するた
めの凹部82を有する。また,上記プローブ9は,被検
査体としてのプリント配線板7の配線回路75に対応し
た位置に設けてある。また,ガイド板8とピンボード8
8とは一体的に固定してある。
【0005】そして,配線回路の電気導通の検査に当た
っては,プリント配線板7の上下より,上記ガイド板8
及びピンボード88を下降及び上昇させ,プローブ9の
触針92を配線回路75の触針用パッド(以下省略)に
当接させる。このとき,当該配線回路75が断線又はシ
ョートを生じていない場合には,正常な電気導通が得ら
れる。これにより,各配線回路75の良否が判定でき
る。
【0006】また,上記において触針92の先端921
を配線回路75に当接させた際には,触針92はガイド
板8のガイド孔81に沿ってソケット91側へ後退し,
そのプランジャー920がソケット91内に侵入する。
これは,触針92の先端921を保護するためである。
なお,図12において,符号87,886はノックピン
891の挿入穴,871,885は,位置決めピン89
2の挿入穴である。
【0007】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の検
査治具には,次の問題がある。即ち,近年は,プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み,配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば,このピッチは,従来は0.65mm程度であっ
たが,高密度配線回路においては0.3mmと狭くなっ
ている。
【0008】そこで,これに対応するため,プローブ9
の配列ピッチを狭くする必要があるため,プローブ自体
の大きさ(直径)も小さくする必要がある。そして,現
在使用されているプローブ9においても,そのソケット
91の外径は約1ミリであり,また触針92の直径は
0.5mmと細径である。
【0009】また,従来の検査治具においては,検査に
当たって,触針92の先端921を直接に配線回路75
に当接させている。また,その当接の際には,上記のご
とく,触針92がガイド板8のガイド穴81内をスライ
ドして後退する。そして,検査後は,触針92は,ソケ
ット91内に設けたスプリングバネによって,再び元の
位置へ突出させられる。そのため,触針92は,検査の
度毎にガイド孔81内を摺動することになる。
【0010】それ故,触針92が摩耗し易い。また,こ
の摩耗を防止するためガイド孔81の径を大きくする
と,触針92との間のクリアランスが大きくなり,触針
92の先端921がガタつき,検査不良を生ずることが
ある。また,触針92は,ピンボード88に固定された
ソケット91内に挿入されている。そのため,ソケット
91と触針92とガイド孔81の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故,上記ガイド孔81は,細径の触針
92を円滑にスライドさせるために,上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く,穴明けを行う必要がある。
【0011】また,触針92は,ソケット91内とガイ
ド孔81内を,同軸線状にスライドすると共に,その先
端921が配線回路75と直接に当接するため,上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく,従
来の検査治具においては,配線回路の高密度化に伴っ
て,特にプローブの触針92の細径化と損傷,ガイド孔
81の穴明精度等に問題がある。
【0012】また,プローブの上端は,リードワイヤー
を経由して検査器に電気的に接続され,検査回路が電気
的に閉路される。そして,従来は,数10〜数100本
という多大の数のプローブの上端とリードワイヤーとは
半田付により接続されており,リードワイヤーの他端は
検査器に接続されている。
【0013】一方,プリント配線板が変わる毎にプロー
ブの配列パターンが変わるから,プローブ回りのいわゆ
る検出部はプリント配線板毎に交換する必要がある。そ
のため,この交換時には,プローブとリードワイヤーと
の間の多大の数の上記半田付けを外さなければならず,
その取外し作業は大きな工数を必要とする。また,新し
い検査回路に応じて再び多数のリードワイヤーとプロー
ブとの半田付けをしなければならない。
【0014】また,プローブは上記のごとく,細径部品
であるため,高価な精密加工部品である。そのため,被
検査体の配線回路が変わる毎に新しいプローブを使用す
ることはコスト高となる。そのため,プローブが再利用
可能なことも切望されている。本発明はかかる従来の問
題点に鑑み,プローブの触針の細径化と損傷防止に対応
でき,検査器との電気的接続と取外しも容易で,かつプ
ローブの再利用ができるプリント配線板の検査治具を提
供しようとするものである。
【0015】
【課題の解決手段】本発明は,プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って,該検査治具は,ガイド板と,ピンボードと,上記
配線回路と当接させるためのコンタクトピンと,該コン
タクトピンに当接させるための触針を内蔵したプローブ
とよりなり,かつ上記コンタクトピンは上記ガイド板に
進退可能に装着され,また上記触針はプローブに弾性的
に進退可能に内蔵されており,プローブと検査器との間
には,接続ボードを設けると共に,上記プローブにはリ
ードワイヤーを,一方検査器にはリード線をそれぞれ独
立して接続してなり,また接続ボードにはワイヤ溝を設
けると共に,該ワイヤ溝内にはリードワイヤーの端部と
リード線の端部とを互いに重ねて接触配置し,かつ上記
接続ボードには上記リードワイヤー及びリード線の端部
をワイヤ溝内において圧接するための弾性シートを被覆
してなることを特徴とするプリント配線板の検査治具に
ある。
【0016】本発明において最も注目すべき第1の点
は,上記従来例の前記プローブをいわば2組に分割し,
コンタクトピンとプローブとに構成したこと,該コンタ
クトピンを配線回路に当接させ,一方プローブの触針は
コンタクトピンに当接させるよう構成したことである。
【0017】即ち,プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し,上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。そして,
該プローブには,弾性的に進退可能に触針を内蔵する。
このように,触針を内蔵させる手段としては,触針をチ
ューブ内に弾性的に保持し,これらをソケット内に装着
する手段がある(図4,5参照)。また,プローブ内
に,直接触針を挿入して弾性的に保持させる手段もあ
る。上記弾性的に保持する手段としては,スプリングバ
ネがある。
【0018】また,コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは,配線回路
に当接させる先端を有すると共に,その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は,コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また,該当接部には,触針の当接を確実にする
ために,曲面凹部を設けることが好ましい(図6参
照)。また,本発明の検査治具においては,ガイド板及
びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタクトピ
ン及びプローブを設けると共に,プリント配線板の配線
回路が高密度でない部分を検査するために,上記従来例
と同様の比較的大径のプローブピンを併設することもで
きる。
【0019】また,本発明において他に注目すべきこと
は,プローブと検査器とを電気的に接続する手段とし
て,ピンボードの外部に接続ボードを配設し,プローブ
に接続したリードワイヤーと検査器に接続したリード線
とを,該接続ボードにおいて圧接して接続するようにし
たことである。
【0020】即ち,検査器とプローブ回りのいわゆる検
出部との間に,接続ボードを設ける。一方プローブの上
端にはリードワイヤーを接続し,検査器にはリード線
を,それぞれ独立して接続する。また,上記リードワイ
ヤー及びリード線においては,その互いの接触部分であ
る端末は,導体部を露出させておく。
【0021】また接続ボードには複数のワイヤ溝を設
け,該ワイヤ溝に相互に接続すべき一対のリードワイヤ
ーとリード線の上記導体露出部を重ねて接触配置する。
ワイヤ溝の大きさと形状は上記一対のリードワイヤーと
リード線を溝内に配置したときに,それらの全体が溝内
に完全に埋没することなく,その一部が溝から頭出する
ように形成する。また,接続ボードには弾力性と伸縮性
を有する弾性シートを設ける。該弾性シートは,接続ボ
ードのワイヤ溝を被覆し,かつボード面に平行方向の張
力を有するように若干引き伸ばした状態で接続ボードに
繋止する。
【0022】そして,上記のようにワイヤ溝内にリード
ワイヤーとリード線の対を接触配置させた場合には,そ
の一部分がワイヤ溝から頭出する状態となる。従って,
弾性シートはその張力と弾力性とにより,溝から頭出し
た両導線を上から押圧し,リードワイヤーとリード線の
一対を圧接して,両者の電気的接続を確実にする。な
お,弾性シートはできるだけ多数のワイヤ溝を一括して
被覆できるよう,例えば長尺状の粘着テープ,薄いゴム
シート等により形成することが好ましい。
【0023】
【作用及び効果】本発明の検査治具においては,ガイド
板にコンタクトピンを,ピンボードにプローブを設け,
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ,プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち,本発明においては,ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分(コンタクトピ
ン)と,電気導通の検出端であるプローブとを2つに分
けた構成としている。 そのため,コンタクトピンの進
退と,プローブの触針の進退とは独立した状態にある。
【0024】それ故,ピンボードに固定したプローブ
と,その内部に挿入した触針と,コンタクトピンが進退
するガイド板のガイド孔との3つの軸芯を,高精度で一
致させる必要がない。したがって,ガイド孔の軸芯の孔
明けは,プリント配線板の配線回路に一致させて穿設す
れば良く,従来のごとく高精度が要求されず,穿設容易
である。また,ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑ス
ライドを可能とすれば良いので,細径のものを設けるこ
とができ,コンタクトピンのガタつきも小さくすること
ができる。また,コンタクトピンが摩耗した際には,容
易に,しかも安価に交換することができる。
【0025】また,プローブは,直接に配線回路に当接
させないので,従来のごとく損傷を受けることがない。
また,コンタクトピンは,配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが,従来のプローブの触針のごと
く,ガイド孔とプローブのソケット内の両方を直線状に
進退することがないので,軸芯ズレ等により損傷を受け
ることがない。
【0026】また,上記のごとく,コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し,検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので,両者を細径化することも
できる。そのため,高密度配線回路の検査も容易であ
る。また,プローブは,0.1〜0.3mmという細い
内径のソケット内に,弾性的に,進退可能に装着した構
成である。そのため,高価な精密部品であるが,上記の
ごとく損傷がないため,検査治具もコスト安となる。
【0027】また,本発明の検査治具は,検査器とプロ
ーブ回りのいわゆる検出部との電気的接続が容易であ
る。即ち,本発明では,プローブに取付けられたリード
ワイヤーの端部と検査器に接続されたリード線とを,接
続ボードのワイヤ溝に差込み,溝内に並置させることに
より両者を電気的に接続する。また,上記リードワイヤ
ー又はリード線の一方をワイヤ溝から引き抜くことによ
り検査器と検出部の間は電気的に切断される。
【0028】すなわち,接続されるべきリードワイヤー
とリード線の対をワイヤ溝に差し込めば,接続ボードに
設けられた弾性シートが両者を圧接し電気的に導通させ
る。また,弾性シートを外したり,或いはその圧接力に
抗して,リードワイヤー又はリード線をワイヤ溝から引
抜けば両者は容易に電気的に遮断される。
【0029】そのため,検査対象のプリント配線板の変
更に伴う検出部の交換が極めて容易である。また,本発
明では,リードワイヤーはプローブの頂部に半田付け等
によって取付けられ,またリードワイヤーの上記接触用
の他端は,被膜などを除去して,ワイヤが露出した構造
となっている。そのため,リードワイヤーはプローブを
ピンボードのプローブ孔から取外すとき,取外しの障害
になることはない。それ故,プローブはリードワイヤー
を取付けたままの状態で,ピンボードから容易に取外し
が可能である。
【0030】また,前記のようにコンタクトピンの取外
しも容易である。従って精密加工部品であり,高価なプ
ローブ及びコンタクトピンをピンボード及びガイド板よ
り取り外して,他の検出部に取付けて再利用することが
容易である。したがって,本発明によれば,プローブの
触針の細径化と損傷防止に対応でき,また検査器との電
気的接続と取外しが容易で,かつプローブ及びコンタク
トピンの再利用ができる,プリント配線板の検査治具を
提供することができる。
【0031】
【実施例】
実施例1 本発明の実施例にかかる,プリント配線板の検査治具に
つき,図1〜図11を用いて説明する。なお,全体の構
成を,コンタクトピン3をプリント配線板7と当接させ
て,プローブ1の上端に信号を伝える検出部と,プロー
ブ1の上端からリードワイヤー15,接続ボード4,リ
ード線16を経由して検査器18に至る中継部とに分け
て説明する。
【0032】本例の検査治具の検出部は,図1〜図3に
示すごとく,ガイド板8とピンボード88と,配線回路
71と当接させるためのコンタクトピン3と,該コンタ
クトピン3に当接させるための触針2を内蔵したプロー
ブ1とよりなる。また,上記コンタクトピン3は,上記
ガイド板8に進退可能に装着され,また上記触針2はプ
ローブ1のソケット11内に弾性的に進退可能に内蔵さ
れている。なお,後述するごとく,プローブ1に接続し
たリードワイヤー15の先端は接続ボードのワイヤ溝に
着脱可能に挿入されている(図10)。
【0033】上記配線回路71は,プリント配線板7に
おいて高密度配置されたものである。上記ガイド板8と
ピンボード88とは,従来と同様にノックピン891に
より,脱着可能に,一体的に結合されている。ガイド板
8は,図1〜3,図7,図8に示すごとく,コンタクト
ピン3を,進退可能に装着するための多数のガイド孔8
5と,開口溝86を有する。また,ピンボード88は,
図2,3に示すごとく,プローブ1のソケット11を挿
通固定するための貫通孔882を有する。
【0034】上記コンタクトピン3は,図2,図3,図
6に示すごとく,配線回路71に当接させるための先端
31と,触針2を当接させるための当接部としての,頭
部32を有する。また,該頭部32は,曲面凹部321
を有する(図6)。また,プローブ1は,図2〜図5に
示すごとく,ソケット11とその中へ進退可能に挿通し
た触針2とからなる。ソケット11は,図4に示すごと
く,中空パイプであり,触針2の挿入側にフランジ11
0を有する。また,プローブ1の上端12にはリードワ
イヤー15を半田付けにより接続している。
【0035】一方,触針2は,図4,図5に示すごと
く,チューブ25内に進退可能に装着されている。即
ち,触針2は,図5に示すごとく,上部に触針2とほぼ
同径のガイド柱22を有し,両者の間には細径の連結部
21を有する。そして,チューブ25の中に,まずスプ
リングバネ23を入れ,次いで上記触針2を挿入した
後,上記触針の連結部21の外側部分において,チュー
ブ25のかしめを行い,かしめ部251を形成する。
【0036】これにより,触針2は,チューブ25内に
おいて,上記スプリングバネ23により弾性的に,進退
可能に装着される。なお,符号252は,チューブ25
の上端部に設けた,スプリングバネ23の上端を当接さ
せるためのかしめ部である。そして,このように構成し
た触針2は,上記図4に示すごとく,ソケット11の中
空部111内へ挿入する。このとき,触針2を保持した
チューブ25の上端は,ソケット11のかしめ部113
に当接する。更に,上記のごとく構成したプローブ1
は,図1〜図3に示すごとく,ピンボード88の貫通孔
882内へ,挿入し,着脱可能に固定する。その他は,
前記従来例と同様である。
【0037】次に,検出部の作用効果につき説明する。
即ち,プリント配線板7における配線回路71の良否を
電気導通により検査するに当たっては,図1〜図3に示
すごとく,各配線回路71に対してガイド板8及びピン
ボード88を,上下方向より接近させ,ガイド板8をプ
リント配線板7に対面させる。
【0038】このとき,両者の当接前においては,コン
タクトピン3は,図2に示すごとく,ガイド板8よりも
突出した状態にある。また,コンタクトピン3の頭部3
2には,プローブ1の触針2の先端21が当接してい
る。そして,ガイド板8がプリント配線板7に当接し,
コンタクトピン3の先端31が配線回路71に当接する
ときには,コンタクトピン3はガイド孔85内をスライ
ド上昇する。そして,図3に示すごとく,コンタクトピ
ンの先端31はガイド板8の下面とほぼ同じ位置に来
る。
【0039】そこで,コンタクトピン3の頭部32は,
触針2をプローブ1の方向に押圧する。そのため,触針
2は,上記スプリングバネ23(図5)の付勢力に抗し
て,チューブ25内に侵入する。このように,コンタク
トピン3の先端31が,配線回路71と当接した後,上
記リードワイヤー15を介して,プローブ1,触針2,
コンタクトピン3に電流を通じ,配線回路71の良否を
従来と同様に判断する(図1)。
【0040】また,検査終了後は,ガイド板8等をプリ
ント配線板7より遠ざける。そのため,コンタクトピン
3は,触針2のスプリングバネ23の付勢力により,図
2に示すごとく突出する。上記のごとく,本例の検査治
具においては,コンタクトピン3をガイド板8に進退可
能に装着し,またプローブ1はピンボード88に固定す
ると共に該プローブ1内に進退可能に触針2を装着して
いる。
【0041】そのため,コンタクトピン3の進退と,触
針の進退とは独立した状態にある。それ故,従来のごと
く,ピンボード88に固定したプローブ1と,その内部
に挿入した触針2と,該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔85との3つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち,本例においては,コンタクトピン3の軸芯と
触針2の軸芯とに位置ずれが生じていても,両者が当接
しておれば支障がない(図2,3)。
【0042】また,そのため,ガイド孔85はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って,ガイド孔85及びピンボード88の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず,穿設容易であ
る。また,ガイド孔85は,コンタクトピン3のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので,細径のものを設け
ることができ,ガタつきもない。
【0043】また,プローブ1は,その触針2を直接に
配線回路71に当接させないので,従来のごとく,損傷
を受けることがない。また,コンタクトピン3は配線回
路71に直接当接し,ガイド孔85内をスライドする
が,従来のプローブの触針のごとく,ガイド孔85内と
プローブのソケット内の両方を直線状に進退することが
ない。そのため,両者間の軸芯ずれ等による損傷を受け
ることもない。
【0044】更に,コンタクトピン3とプローブ1とに
分割構成し,検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので,両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては,上記コンタクトピン3の直径は
0.27mm,プローブ1のソケットの外径は0.45
mm,内径は0.27mm,触針2の外径は0.15m
mである。また,本例のコンタクトピン3においては,
その頭部32に曲面凹部321を設けたので,該頭部3
2に触針2の先端20を確実に当接させておくことがで
きる。
【0045】次に,本実施例の中継部(プローブの上端
から接続ボードを経由して検査器に至る部分)を図1,
図9〜図11を用いて説明する。本例の中継部において
は図1に示すように,ピンボード88の外部に接続ボー
ド4を配設する。接続ボード4には,図10,図11に
示すように,三角形状のワイヤ溝41を設ける。一方プ
ローブ1には,上端12にリードワイヤー15を接続し
(図4),検査器18にはリード線16を接続する。上
記リードワイヤー15及びリード線16とをワイヤ溝4
1に差込んで両者を接続する。即ち,図9に示すよう
に,ピンボード88の上端面881より頭出したプロー
ブの上端12には,リードワイヤー15を半田付け等に
よって接続してある(図4参照)。同様に検査器18の
端子ボード181の端子182にはリード線16を接続
する。一方,図10に示すように上記リードワイヤーの
端末152とリード線の端末162とは絶縁被膜又はエ
ナメル等の被膜を除去し導体露出部153,163を形
成する。上記リードワイヤーの導体露出部153とリー
ド線の導体露出部163とは一対ずつ,接続ボード4の
ワイヤ溝41に重ねて載置される。ここで対となるべき
リードワイヤーとリード線との組合せは,プローブが接
続されるべき検査器の端子に対応したリードワイヤーと
リード線との組合せである。なおワイヤ溝は弾性シート
42によって被覆するが図1,図9では弾性シートの図
示は省略してある。ワイヤ溝41に重ねて載置されたリ
ードワイヤー15とリード線16とは,図10,図11
に示すように弾性シート42により一括して圧接され,
その接触状態を保持する。この弾性シート42として
は,粘着テープを用いる。このため,図11に示すよう
に,ワイヤ溝41内にリードワイヤー15とリード線1
6とを並置したとき,その一部が溝外に頭出するような
大きさと形状にワイヤ溝を形成する。また,弾性シート
42は適度の弾力性と伸縮性をするゴム材等を用いるこ
ともできる。また,弾性シート42は複数のワイヤ溝4
1を一括して被覆し,かつ適度の張力を有するように,
接続ボード4の両端に繋止する(図11)。弾性シート
42の有する伸縮性及び弾力性と上記張力との相互作用
によって,溝内に並置したリードワイヤーとリード線と
に適度の圧接力を与えるよう,弾性シートの材料を選定
し張力を調整する。次に本例の中継部の作用効果につい
て述べる。本例では,対となるべきリードワイヤーの端
末152とリード線の端末162とをリード線4のワイ
ヤ溝41内に挿入すれば,弾性シート42によって,こ
れらを互いに電気的に接続することができ,検査器と検
出部とを容易に接続することができる。また,リードワ
イヤーの端末152又はリード線の端末162をワイヤ
溝41から引抜くことにより検出部を検査器18から切
り離すことができる。したがって検査器18と検出部と
の接続と切り離しが極めて容易である。それ故,検査対
象のプリント配線板7の変更に伴う検出部の交換が極め
て容易である。
【0046】また本例では,リードワイヤー15の先端
に導体露出部153を形成するだけでよく,その先端に
格別の接続用部品等を取付ける必要がない。従って,リ
ードワイヤー15をプローブ1に取付けたまま,プロー
ブ1をピンボード88から取外すことが容易である。従
ってプローブ1及びコンタクトピン3を取外して,他の
プリント配線板用の検出部に再利用することも容易とな
る。
【0047】このように,本実施例によれば,高密度配
線回路に対しても,プローブ触針の細径化と損傷防止に
対応でき,かつガイド孔の穿設が容易であり,かつ検査
器との電気的接続と取外しが容易な,更にプローブ及び
コンタクトピンの再利用が可能なプリント配線板の検査
治具が提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1における,検査治具の全体説明図。
【図2】実施例1における,検査前の状態の,コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。
【図3】実施例1における,検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。
【図4】実施例1のプローブにおける,ソケット及び触
針の展開正面図。
【図5】実施例1における,プローブの先端部分の断面
図。
【図6】実施例1における,コンタクトピンの正面図。
【図7】実施例1における,ガイド板の平面図。
【図8】図7のA−A線矢視断面図。
【図9】実施例1における,検査器,接続ボード及び検
査治具の関係を示す説明図。
【図10】実施例1における,接続ボードまわりの拡大
斜視図。
【図11】実施例1における,接続ボードのワイヤ接続
状態正面図。
【図12】従来例における,検査治具の全体説明図。
【図13】従来例における検査治具のプローブ周りの説
明図。
【符号の説明】
1...プローブ, 11...ソケット, 15...リードワイヤー, 152...導体露出部, 16...リード線, 18...検査器, 2...触針, 25...チューブ, 3...コンタクトピン, 31...先端, 4...接続ボード, 41...ワイヤ溝, 42...弾性シート, 7...プリント配線板, 71...高密度ピッチの配線回路, 75...通常配線ピッチの配線回路, 8...ガイド板, 85...ガイド孔, 88...ピンボード,
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/02 G01R 31/00 G01R 1/06 - 1/073 H05K 3/00 H01R 4/28

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント配線板における配線回路を電気
    導通の有無により検査する検査治具であって,該検査治
    具は,ガイド板と,ピンボードと,上記配線回路と当接
    させるためのコンタクトピンと,該コンタクトピンに当
    接させるための触針を内蔵したプローブとよりなり,か
    つ上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着
    され,また上記触針はプローブに弾性的に進退可能に内
    蔵されており,プローブと検査器との間には,接続ボー
    ドを設けると共に,上記プローブにはリードワイヤー
    を,一方検査器にはリード線をそれぞれ独立して接続し
    てなり,また接続ボードにはワイヤ溝を設けると共に,
    該ワイヤ溝内にはリードワイヤーの端部とリード線の端
    部とを互いに重ねて接触配置し,かつ上記接続ボードに
    は上記リードワイヤー及びリード線の端部をワイヤ溝内
    において圧接するための弾性シートを被覆してなること
    を特徴とするプリント配線板の検査治具。
JP04196031A 1992-06-30 1992-06-30 プリント配線板の検査治具 Expired - Lifetime JP3125450B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04196031A JP3125450B2 (ja) 1992-06-30 1992-06-30 プリント配線板の検査治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04196031A JP3125450B2 (ja) 1992-06-30 1992-06-30 プリント配線板の検査治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0618591A JPH0618591A (ja) 1994-01-25
JP3125450B2 true JP3125450B2 (ja) 2001-01-15

Family

ID=16351062

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04196031A Expired - Lifetime JP3125450B2 (ja) 1992-06-30 1992-06-30 プリント配線板の検査治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3125450B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101930045A (zh) * 2010-08-19 2010-12-29 黄道铭 汽车窗控开关接插端子板专用通断检测设备

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101981121B1 (ko) * 2014-12-01 2019-05-22 주식회사 루버텍코리아 다기능 전동 셔터시스템

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101930045A (zh) * 2010-08-19 2010-12-29 黄道铭 汽车窗控开关接插端子板专用通断检测设备

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0618591A (ja) 1994-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS63304180A (ja) 印刷回路板テスト装置
JP3125450B2 (ja) プリント配線板の検査治具
JPH05302938A (ja) プリント配線板の検査治具
JP3134518B2 (ja) プリント配線板の検査治具
US5823818A (en) Test probe for computer circuit board test fixture
JP3127588B2 (ja) プリント配線板の検査治具
JP3125453B2 (ja) プリント配線板の検査治具
JP3134516B2 (ja) プリント配線板の検査治具
JPH06180328A (ja) プリント配線板の検査治具
JPH06138146A (ja) プリント配線板の検査治具
JP2814869B2 (ja) 回路基板検査方法および回路基板
JP3397130B2 (ja) 導通検査装置
JPH05307058A (ja) プリント配線板の検査治具
JPH05297019A (ja) プリント配線板の検査治具
JPH05215802A (ja) プリント配線板の検査治具
JP2004140009A (ja) プリント配線板の検査治具
JP3570206B2 (ja) 導通検査装置
JP3594139B2 (ja) 半導体テスタ装置
JPS59206776A (ja) プリント配線板の検査装置
JPH0329175B2 (ja)
JP3583390B2 (ja) 回路基板の検査装置
JPH10190181A (ja) プリント基板及びその検査方法
JPH088000A (ja) コネクタ
JPH04110667A (ja) コンタクトプローブ
JPH07104383B2 (ja) プリント配線板のパターン検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081102

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081102

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091102

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091102

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102

Year of fee payment: 12